JPS6110056A - ムライト・コージーライト複合セラミツク - Google Patents
ムライト・コージーライト複合セラミツクInfo
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- JPS6110056A JPS6110056A JP60118986A JP11898685A JPS6110056A JP S6110056 A JPS6110056 A JP S6110056A JP 60118986 A JP60118986 A JP 60118986A JP 11898685 A JP11898685 A JP 11898685A JP S6110056 A JPS6110056 A JP S6110056A
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- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
- C04B35/00—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
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- C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
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- C04B35/01—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics
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- C04B35/18—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on oxide ceramics based on silicates other than clay rich in aluminium oxide
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- Ceramic Engineering (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、ムライh相および丁1−ジーライl−相から
成る多結晶1”′1物体(llなわら、複合しラミック
)の製造に関づるものである。好適な実施の態様に従え
ば本発明は、シリコンの熱膨張率と同省または近似の熱
膨張率をイjづるシリニ1ン用もt仮としてイj用な、
ムライ1へおJ、びコージーシイ1〜から成る多結晶質
物体の製造に関する。
成る多結晶1”′1物体(llなわら、複合しラミック
)の製造に関づるものである。好適な実施の態様に従え
ば本発明は、シリコンの熱膨張率と同省または近似の熱
膨張率をイjづるシリニ1ン用もt仮としてイj用な、
ムライ1へおJ、びコージーシイ1〜から成る多結晶質
物体の製造に関する。
1([子の動作に際してシリコン−3,4tN 11面
に生じる応力を低減させるため、基板材料はシリコンの
熱膨張率にできるだり良く整合した熱膨張率を有するこ
とが望ましい。かかる整合は、素子の動作時における加
熱および冷却サイクルの結果としてシリ」ンー基板界面
が現行の素子において見られるよりも厳しい熱応力を受
けるものと予想される現在計画中の入電ツノ用半導体素
子においては特に重量であると考えられる。現行の技術
に従えば、基板材料としてα−アルミナが使用されてい
る。しかるに、アルミナとシリコンとの間における熱膨
張率の不整合は非常に大きいため、この材料は将来の用
途にとって満足すべきものではないと判断される。更に
よl〔、高速集積回路においては誘電率の小さい基板材
料が要求される。別画中の高速素子用にアルミナを使う
には、誘電率が高1ざると考えられる。このように、ア
ルミナと交換づべき基板材料として、シリコンの熱膨張
率に一層良く整合した熱膨張率を有しかつアルミナの誘
電率より小さい誘電率を有するような基板材料が要望さ
れているのである。
に生じる応力を低減させるため、基板材料はシリコンの
熱膨張率にできるだり良く整合した熱膨張率を有するこ
とが望ましい。かかる整合は、素子の動作時における加
熱および冷却サイクルの結果としてシリ」ンー基板界面
が現行の素子において見られるよりも厳しい熱応力を受
けるものと予想される現在計画中の入電ツノ用半導体素
子においては特に重量であると考えられる。現行の技術
に従えば、基板材料としてα−アルミナが使用されてい
る。しかるに、アルミナとシリコンとの間における熱膨
張率の不整合は非常に大きいため、この材料は将来の用
途にとって満足すべきものではないと判断される。更に
よl〔、高速集積回路においては誘電率の小さい基板材
料が要求される。別画中の高速素子用にアルミナを使う
には、誘電率が高1ざると考えられる。このように、ア
ルミナと交換づべき基板材料として、シリコンの熱膨張
率に一層良く整合した熱膨張率を有しかつアルミナの誘
電率より小さい誘電率を有するような基板材料が要望さ
れているのである。
従来、ムライト複合基板材料が研究されてきた。
レイボルドおよびシボルド(L eipold& S
1bold )の論文[ジャーナル・オブ・アメリカン
・セラミック・ソサイエティ(J 、 Avaer 、
Ceran+、 3oc。
1bold )の論文[ジャーナル・オブ・アメリカン
・セラミック・ソサイエティ(J 、 Avaer 、
Ceran+、 3oc。
)、第65巻、C147肩(1982年)1の中には、
シリカに富むムライト組成物を調整することにより、ム
ライ1へを基板としか′)シリコンの熱膨張率に近似し
た熱膨張率を右りる二゛相しラミックを製造する方法が
報告されている。この場合、焼成後には、ムライトとシ
リカに富むガラスとから成りかつ約50%のガラスを含
有づる物体が得られた。フィオリおよびビンブlンツィ
ーニ(「1ori&■1ncer+zini )の論文
[]ロローフインターナショナル・スール・し・ヌーベ
ル・Aリエンタシオーン・デ・コンボザーン・ボシフ(
cOIIOque l nternationale
sur Ies Nouvelles 0rient
ations des Composants Po5
sHs) 、 1982年3月29日〜4月1日、20
3頁1中にもまた、シリコンの熱膨張率に整合した熱膨
張率を有する基板+41として使用するための同様のム
ライト・シリカガラス組成物の製造方法が報告されてい
る。
シリカに富むムライト組成物を調整することにより、ム
ライ1へを基板としか′)シリコンの熱膨張率に近似し
た熱膨張率を右りる二゛相しラミックを製造する方法が
報告されている。この場合、焼成後には、ムライトとシ
リカに富むガラスとから成りかつ約50%のガラスを含
有づる物体が得られた。フィオリおよびビンブlンツィ
ーニ(「1ori&■1ncer+zini )の論文
[]ロローフインターナショナル・スール・し・ヌーベ
ル・Aリエンタシオーン・デ・コンボザーン・ボシフ(
cOIIOque l nternationale
sur Ies Nouvelles 0rient
ations des Composants Po5
sHs) 、 1982年3月29日〜4月1日、20
3頁1中にもまた、シリコンの熱膨張率に整合した熱膨
張率を有する基板+41として使用するための同様のム
ライト・シリカガラス組成物の製造方法が報告されてい
る。
ムライトとは、3A#208・2 SLo、の近似化学
式を有する結晶質ケイ酸アルミニウム相である。これは
、シリコンの熱膨張率(300’にで2.5X10−6
/’K)にかなり良く整合した熱膨張率(3006にで
3.3X 10−6 / ’K)を有するため、基板材
料として有望である。しかしながら、上記の通り、現在
計画中の大電力用素子の基板に対しては一層高度の整合
が所望されるのである。
式を有する結晶質ケイ酸アルミニウム相である。これは
、シリコンの熱膨張率(300’にで2.5X10−6
/’K)にかなり良く整合した熱膨張率(3006にで
3.3X 10−6 / ’K)を有するため、基板材
料として有望である。しかしながら、上記の通り、現在
計画中の大電力用素子の基板に対しては一層高度の整合
が所望されるのである。
それ故、本発明の特徴の1つに従えば、ムライトの熱膨
張率を低下させてシリコンの熱膨張率に整合させるため
に熱膨張率の小さい第2の相が添加される。詳しく述べ
れば、本発明においては]−ジ−ライト(ケイ酸アルミ
ニウムマグネシウム)が添加される。コージーライトは
、300 ”Kで0、9X 10−6 / ’にの熱膨
張率を有するものである。
張率を低下させてシリコンの熱膨張率に整合させるため
に熱膨張率の小さい第2の相が添加される。詳しく述べ
れば、本発明においては]−ジ−ライト(ケイ酸アルミ
ニウムマグネシウム)が添加される。コージーライトは
、300 ”Kで0、9X 10−6 / ’にの熱膨
張率を有するものである。
本明細書の一部を成す添付の図面を参照しながら以下の
詳細な記載を読めば、当業者には本発明が一層良く理解
されよう。
詳細な記載を読めば、当業者には本発明が一層良く理解
されよう。
本発明に従えば、シリコンの熱膨張率に整合するような
ムライト・コージーライトセラミックを製造することが
出来る。また、ムライト・ガラスセラミックに対する本
発明のムライト・=1−ジ−ライトヒラミックの利点の
1つとして、ガラスよりも結晶質セラミックの方が熱伝
導率が高いことにより、本発明のセラミックはより^い
熱伝導率を有するとも考えられる。
ムライト・コージーライトセラミックを製造することが
出来る。また、ムライト・ガラスセラミックに対する本
発明のムライト・=1−ジ−ライトヒラミックの利点の
1つとして、ガラスよりも結晶質セラミックの方が熱伝
導率が高いことにより、本発明のセラミックはより^い
熱伝導率を有するとも考えられる。
本発明に従って簡単に述べれば、約50〜約95 (J
ifi)%のムライトおよび約5〜約50(重量)%の
コージーライ1−から成る多結晶質物体の製造方法にお
いて、(a )前記多結晶質物体を製造するのに必要な
mのN2O3、−0およびSiOPど核生成剤との混合
物を用意し、(b)前記混合物を成形して圧縮体とし、
(e)前記圧縮体を液相焼結して約10〈体積)%未満
の気孔率を有する緻密体を製造するのに十分な液相を生
成させるが前記圧縮体または得られる焼結体に顕著な悪
影響を及ぼさない約1290〜約1550℃の範囲内の
温度下で前記圧縮体を焼結することにより、ムライト相
およびガラス状:I−ジーライト相を含イjする焼結体
を得、((1)約600〜約800℃の範囲内の温度下
で前記焼結体に核1.1:成アニールを施して前記ガラ
ス状]−ジーライト相中に核生成をもたらし、次いで(
e)約1200℃より高くかつ前記焼結体中に液体が生
成する温度より低い範囲内の温度下で核生成済みの前記
焼結体に結晶化アニールを施すことによって前記多結晶
質物体を得る諸工程を含んでいて、前記核生成剤は前記
ガラス状コージーライト相中に核生成をもたらすための
物質であり、前記核生成剤は前記ガラス状コージーライ
ト相中に核生成をもたらして前記多結晶質物体を得るの
に十分な量で使用され、かつ前記焼結工程、前記核生成
アニール工程および前記結晶化アニール工程は前記圧縮
体または前記焼結体に顕著な悪影響を及ぼさない雰囲気
または真空中において実施されることを特徴とする方法
が提供される。
ifi)%のムライトおよび約5〜約50(重量)%の
コージーライ1−から成る多結晶質物体の製造方法にお
いて、(a )前記多結晶質物体を製造するのに必要な
mのN2O3、−0およびSiOPど核生成剤との混合
物を用意し、(b)前記混合物を成形して圧縮体とし、
(e)前記圧縮体を液相焼結して約10〈体積)%未満
の気孔率を有する緻密体を製造するのに十分な液相を生
成させるが前記圧縮体または得られる焼結体に顕著な悪
影響を及ぼさない約1290〜約1550℃の範囲内の
温度下で前記圧縮体を焼結することにより、ムライト相
およびガラス状:I−ジーライト相を含イjする焼結体
を得、((1)約600〜約800℃の範囲内の温度下
で前記焼結体に核1.1:成アニールを施して前記ガラ
ス状]−ジーライト相中に核生成をもたらし、次いで(
e)約1200℃より高くかつ前記焼結体中に液体が生
成する温度より低い範囲内の温度下で核生成済みの前記
焼結体に結晶化アニールを施すことによって前記多結晶
質物体を得る諸工程を含んでいて、前記核生成剤は前記
ガラス状コージーライト相中に核生成をもたらすための
物質であり、前記核生成剤は前記ガラス状コージーライ
ト相中に核生成をもたらして前記多結晶質物体を得るの
に十分な量で使用され、かつ前記焼結工程、前記核生成
アニール工程および前記結晶化アニール工程は前記圧縮
体または前記焼結体に顕著な悪影響を及ぼさない雰囲気
または真空中において実施されることを特徴とする方法
が提供される。
本発明においては、ムライト相の組成はツージ−ライ1
〜相と熱平衡状態で存在し得るようなものである。同様
に、コージーライト相の組成はムライト相と熱平衡状態
で存在し得るようなものである。それ故に本発明の多結
晶質物体は、(a )約71.8〜約73.3 (型部
)%のN2O3および残部のS、0.から成るムライト
相並びに210・2N203・5 Sj Opまたはそ
れに近似した化学式をイj%のN2O3および約51.
4(重伊)%の5jOt)から成るコージーライト相を
含/Vでいる。
〜相と熱平衡状態で存在し得るようなものである。同様
に、コージーライト相の組成はムライト相と熱平衡状態
で存在し得るようなものである。それ故に本発明の多結
晶質物体は、(a )約71.8〜約73.3 (型部
)%のN2O3および残部のS、0.から成るムライト
相並びに210・2N203・5 Sj Opまたはそ
れに近似した化学式をイj%のN2O3および約51.
4(重伊)%の5jOt)から成るコージーライト相を
含/Vでいる。
本発明の多結晶質物体の相組成は、それの最終用途に大
きく依存げろ。本発明の実施の一態様に従えば、本発明
の多結晶質物体の相組成は3000Kにお1ノるシリ1
ンの熱膨張率に整合りるJ、うに調整される。
きく依存げろ。本発明の実施の一態様に従えば、本発明
の多結晶質物体の相組成は3000Kにお1ノるシリ1
ンの熱膨張率に整合りるJ、うに調整される。
本発明yJ法の実施に当つ(は、所リン成分11イ)わ
らfiJ203、$ O、Si Op J7 J、び核
生成〜1の均71.J、たは少なくどb実質的に均71
な粒状混合物あるいは分散物が調整される。かかる混合
物の調整に際して使用されるN2O3、r OJjよび
SLO?のfい【、1、多結晶質物体における所望の相
組成によって決定される。なお本発明り法においては、
ムライト相およびコージーライト相を生成Jる反応物質
(Jなわち、N2O3、−〇およびSiO2)の顕著な
損失は生じない。
らfiJ203、$ O、Si Op J7 J、び核
生成〜1の均71.J、たは少なくどb実質的に均71
な粒状混合物あるいは分散物が調整される。かかる混合
物の調整に際して使用されるN2O3、r OJjよび
SLO?のfい【、1、多結晶質物体における所望の相
組成によって決定される。なお本発明り法においては、
ムライト相およびコージーライト相を生成Jる反応物質
(Jなわち、N2O3、−〇およびSiO2)の顕著な
損失は生じない。
本発明の核生成剤は、本発明方法においてガラス状コー
ジーライ1〜相中に核生成をbたらし、しかも多結晶質
物体に顕Piな悪影響を及ぼさないようなものである。
ジーライ1〜相中に核生成をbたらし、しかも多結晶質
物体に顕Piな悪影響を及ぼさないようなものである。
かかる核生成剤の代表例としては、二酸化チタン、チタ
ンイソプロポキシド、フッ化リチウム、フッ化マグネシ
ウムおよびそれらの混合物が挙げられる。なおチタンイ
ソプロポキシドは、本発明の焼結温度以下で熱分解して
二酸化チタンおよび揮発性の副生ガスを生成する。
ンイソプロポキシド、フッ化リチウム、フッ化マグネシ
ウムおよびそれらの混合物が挙げられる。なおチタンイ
ソプロポキシドは、本発明の焼結温度以下で熱分解して
二酸化チタンおよび揮発性の副生ガスを生成する。
核生成剤の使用mは実験的に決定し得るが、それは存在
するガラス状コージーライト相の量に大ぎく依存する。
するガラス状コージーライト相の量に大ぎく依存する。
かかる核生成剤は、少なくとも、ガラス状コージーライ
ト相の結晶化を可能にして本発明の多結晶質物体を生成
させるのに十分なだけの核生成をガラス状コージーライ
ト相中にもたらすような陽で存在しなければならない。
ト相の結晶化を可能にして本発明の多結晶質物体を生成
させるのに十分なだけの核生成をガラス状コージーライ
ト相中にもたらすような陽で存在しなければならない。
本発明力試においては、核生成剤はガラス状コージーラ
イト相の全重量を基準として一般に約5〜約10(千か
)%、好ましくは約6〜・約8(重ω)%、そして更に
りfましくは約7.5(小ω)%のril c使用され
る。約5(車量)96末楡1の核佳成剤1史川mは有効
とハλ<<い場合がある /J、約10 (ff”m)
%を越える使用IJlは最終製品の性質(特に熱的およ
び電気的117″()にqa費を及ぼすことがある。
イト相の全重量を基準として一般に約5〜約10(千か
)%、好ましくは約6〜・約8(重ω)%、そして更に
りfましくは約7.5(小ω)%のril c使用され
る。約5(車量)96末楡1の核佳成剤1史川mは有効
とハλ<<い場合がある /J、約10 (ff”m)
%を越える使用IJlは最終製品の性質(特に熱的およ
び電気的117″()にqa費を及ぼすことがある。
づなわfコ、核生成剤は本発明の多結晶質物体に顕著な
悪影響を及ばηようなr【1て゛使用リベさでは4jい
のである。
悪影響を及ばηようなr【1て゛使用リベさでは4jい
のである。
上記混合物の諸成分1.11lli寡川J2kGEL
]業用の5のであればよい。詳しく述べれ(、【、ぞれ
ら1.1 t!−?られる多結晶質物体のf1質に顕?
!’+ 4i悪影習を及ばすような不純物を含有してい
てはならない。なJj、原料物質中に存在づ−る不純物
のr−が多くなるはと、最終製品中に存在するガラス相
の早し多くなる。
]業用の5のであればよい。詳しく述べれ(、【、ぞれ
ら1.1 t!−?られる多結晶質物体のf1質に顕?
!’+ 4i悪影習を及ばすような不純物を含有してい
てはならない。なJj、原料物質中に存在づ−る不純物
のr−が多くなるはと、最終製品中に存在するガラス相
の早し多くなる。
上記混合物は、たとえばボールミル処理やジfットミル
処理のごとき各種の常用技術によって調整することがで
きる。かかる混合技術の代表例はボールミル処理であっ
て、王の場合には摩耗が少なくか′つ最終製品において
所望される性質に顕著な悪影響を及ぼさない材料(たと
えばα−/V 20g )から成るボールを使用するこ
とが好ましい。好ましくは、ボールミル処理は混合物の
諸成分に対して不活性な液体混合tjJA質中において
行われる。代表的な液体混合触媒どしては、ベンゼンの
ごとき炭化水素および塩素化炭化水素が挙げられる。か
かる湿式摩砕によって得られた分散物を各種の常用技術
によって乾燥づれば、それから液体混合媒質を除去する
ことができる。そのためには、液体混合媒質の沸点にり
僅かに低い温度にN持された炉内において分散物を乾燥
することが好ましい。
処理のごとき各種の常用技術によって調整することがで
きる。かかる混合技術の代表例はボールミル処理であっ
て、王の場合には摩耗が少なくか′つ最終製品において
所望される性質に顕著な悪影響を及ぼさない材料(たと
えばα−/V 20g )から成るボールを使用するこ
とが好ましい。好ましくは、ボールミル処理は混合物の
諸成分に対して不活性な液体混合tjJA質中において
行われる。代表的な液体混合触媒どしては、ベンゼンの
ごとき炭化水素および塩素化炭化水素が挙げられる。か
かる湿式摩砕によって得られた分散物を各種の常用技術
によって乾燥づれば、それから液体混合媒質を除去する
ことができる。そのためには、液体混合媒質の沸点にり
僅かに低い温度にN持された炉内において分散物を乾燥
することが好ましい。
上記混合物の粒状成分は、本発明の反応(すなわち、ム
ライト相およびコージーライト相の生成)が起こり得る
ような粒度を有する必要がある。なお、原料として使用
される諸成分またはそれらの混合物はサブミクロンの平
均粒度を有することが好ましい。
ライト相およびコージーライト相の生成)が起こり得る
ような粒度を有する必要がある。なお、原料として使用
される諸成分またはそれらの混合物はサブミクロンの平
均粒度を有することが好ましい。
粒状混合物を成形して圧縮体とするためには、各種の技
術を使用することができる。たとえば、押出し、射出成
形、金型圧縮、等圧圧縮、スリップ鋳込よkt、i j
−f流延にJ、っ(沢n物がIう所望形状の圧縮体を形
成することが【゛きる9、混合物の成形に際して消削、
結合剤また1よ類似の物71が使用される場合、ぞれら
は圧縮体J: 1.:、 G、L 1!7られる多結晶
質物体に顕へな悪影響を及ぽりものぐあってはならない
。かかる物質は、本発明の焼結温度より低い温度(好ま
しくは200℃より低い温度)に加熱されると揮光浦失
し、ぞれにより有意の残留物や実質的な汚染物を1−し
ないようなものである。
術を使用することができる。たとえば、押出し、射出成
形、金型圧縮、等圧圧縮、スリップ鋳込よkt、i j
−f流延にJ、っ(沢n物がIう所望形状の圧縮体を形
成することが【゛きる9、混合物の成形に際して消削、
結合剤また1よ類似の物71が使用される場合、ぞれら
は圧縮体J: 1.:、 G、L 1!7られる多結晶
質物体に顕へな悪影響を及ぽりものぐあってはならない
。かかる物質は、本発明の焼結温度より低い温度(好ま
しくは200℃より低い温度)に加熱されると揮光浦失
し、ぞれにより有意の残留物や実質的な汚染物を1−し
ないようなものである。
成形流みの圧縮体は任意所望の形状を右しくツる。
たとえば、イれは単純な形状、中空の形状Jjよび(ま
たは)複nな形状のい1fれかを有していてbよい。な
お、基板として使用覆るためには、それはテープ状を成
していることが好ましい。
たは)複nな形状のい1fれかを有していてbよい。な
お、基板として使用覆るためには、それはテープ状を成
していることが好ましい。
上記の圧縮体は、液相焼結を達成づるのに十分な液相が
生成されるような温度下で焼結される。
生成されるような温度下で焼結される。
かかる焼結温度は約1290〜約1550℃の範囲内の
ものであり4!Iるが、圧縮体または焼結体に顕著な悪
影響を及ぼすようなものであってはならない。すなわち
、かかる焼結温度は圧縮体または焼結体のスランプを引
起こすほどに多mの液相を生成づるらのであってはなら
ないのである。詳しく述べれば、使用する焼結湿度はか
がる温度下で生成される液相の量に大きく依存するので
あって、それは圧縮体の実際の組成に応じて変化する。
ものであり4!Iるが、圧縮体または焼結体に顕著な悪
影響を及ぼすようなものであってはならない。すなわち
、かかる焼結温度は圧縮体または焼結体のスランプを引
起こすほどに多mの液相を生成づるらのであってはなら
ないのである。詳しく述べれば、使用する焼結湿度はか
がる温度下で生成される液相の量に大きく依存するので
あって、それは圧縮体の実際の組成に応じて変化する。
本発明の組成物に関して言えば、核生成剤が焼結温度に
全く影響を及ぼさない場合、焼結温度はガラス状コージ
ーライトを溶融状態にするような温度である。こような
場合、焼結温度は約1465〜1550℃の範囲内にあ
る。約1550℃より高い温度は、圧縮体または焼結体
のスランプを引起こすほどに多量の液相を生成するから
使用できない。温度が上昇するほど溶融コージーライト
中に溶解するムライトの量も増加するから、焼結温度が
高くなるほど多mの液相が生成することになる。
全く影響を及ぼさない場合、焼結温度はガラス状コージ
ーライトを溶融状態にするような温度である。こような
場合、焼結温度は約1465〜1550℃の範囲内にあ
る。約1550℃より高い温度は、圧縮体または焼結体
のスランプを引起こすほどに多量の液相を生成するから
使用できない。温度が上昇するほど溶融コージーライト
中に溶解するムライトの量も増加するから、焼結温度が
高くなるほど多mの液相が生成することになる。
しかしながら、本発明の焼結温度は核生成剤の存在によ
って低下するのが普通である。たとえば、本発明の核生
成剤として二酸化チタンまたはチタンイソプロポキシド
が使用される場合、本発明の焼結温度は約1450〜約
1490”Cの範囲内にあるのであって、約1490℃
より高い温度下では圧縮体または焼結体のスランプを引
起こ1ノはどに多量の液相が生成する。他方、核生成剤
としてフッ化リチウムが使用される場合、本発明の焼結
温度は約1290〜約1340℃の範囲内にあるのであ
って、約1340℃より高い温度下ではル縮体または焼
結体のスランプを引起こづほどに多mの液相が生成する
。また、核生成剤としてフッ化マグネシウムが使用され
る場合、本発明の焼結温度は約1390〜約1490℃
の範囲内にあるのであって、約1490℃より高い温度
下では圧縮体または焼結体のスランプを引起こずほどに
多量の液相が生成する。なお、各種核生成剤の混合物を
使用すれば所望の焼結温度を得ることができる。焼結に
際して生成される液相は、主として溶融した=1−ジ−
ライトとその中に溶解した少量のムライトおよび核生成
剤とから成っている。
って低下するのが普通である。たとえば、本発明の核生
成剤として二酸化チタンまたはチタンイソプロポキシド
が使用される場合、本発明の焼結温度は約1450〜約
1490”Cの範囲内にあるのであって、約1490℃
より高い温度下では圧縮体または焼結体のスランプを引
起こ1ノはどに多量の液相が生成する。他方、核生成剤
としてフッ化リチウムが使用される場合、本発明の焼結
温度は約1290〜約1340℃の範囲内にあるのであ
って、約1340℃より高い温度下ではル縮体または焼
結体のスランプを引起こづほどに多mの液相が生成する
。また、核生成剤としてフッ化マグネシウムが使用され
る場合、本発明の焼結温度は約1390〜約1490℃
の範囲内にあるのであって、約1490℃より高い温度
下では圧縮体または焼結体のスランプを引起こずほどに
多量の液相が生成する。なお、各種核生成剤の混合物を
使用すれば所望の焼結温度を得ることができる。焼結に
際して生成される液相は、主として溶融した=1−ジ−
ライトとその中に溶解した少量のムライトおよび核生成
剤とから成っている。
上記のごとき焼結]程の結束、全体積を基準として約1
0(体積)%未満、好ましくは約5(体積)%未満、そ
して更に好ましくは約2(体積)%未満の気孔率を有す
る焼結体が冑られる。焼結時間は実験的に決定すること
ができる。なお、約2〜10時間の焼結時間が一般に適
当である。
0(体積)%未満、好ましくは約5(体積)%未満、そ
して更に好ましくは約2(体積)%未満の気孔率を有す
る焼結体が冑られる。焼結時間は実験的に決定すること
ができる。なお、約2〜10時間の焼結時間が一般に適
当である。
こうして得られた、結晶質ムライト相およびガラス状コ
ージーライト相から成る焼結体に対し、ガラス状コージ
ーライ]・相の結晶化を可能にして本発明の多結晶質物
体を生成するのに十分なだけの核生成をガラス状コージ
ーライト相中にもたらすための核生成アニールが施され
る。詳しく述べれば、約600〜約800℃、好ましく
は約650〜約750℃、そして最も好ましくは約70
0℃の温度下で焼結体のアニールが行われる。約600
℃より低い温度下では核生成の速度が遅過ぎて実用的と
言えず、また約800℃より高い温度は本発明方法にお
いて使用不可能である。
ージーライト相から成る焼結体に対し、ガラス状コージ
ーライ]・相の結晶化を可能にして本発明の多結晶質物
体を生成するのに十分なだけの核生成をガラス状コージ
ーライト相中にもたらすための核生成アニールが施され
る。詳しく述べれば、約600〜約800℃、好ましく
は約650〜約750℃、そして最も好ましくは約70
0℃の温度下で焼結体のアニールが行われる。約600
℃より低い温度下では核生成の速度が遅過ぎて実用的と
言えず、また約800℃より高い温度は本発明方法にお
いて使用不可能である。
核生成アニール時間は、たとえば、最終製品の結晶化度
の観測のごとき標準技術によって実験的に決定づること
ができる。なお、約700℃で約2時間の核生成アニー
ル時間が一般に適当である。
の観測のごとき標準技術によって実験的に決定づること
ができる。なお、約700℃で約2時間の核生成アニー
ル時間が一般に適当である。
次に、核(し成アニール済みの焼結体に対し、核生成後
のガラス状コージーライト相を結晶化して本発明の多結
晶質物体を生成するための結晶化アニールが施される。
のガラス状コージーライト相を結晶化して本発明の多結
晶質物体を生成するための結晶化アニールが施される。
詳しく述べれば、約1200℃より高くかつ焼結体が完
全に固体の状態に保たれるような温度下で核生成アニー
ル済み焼結体の結晶化アニールが行われる。更に訂しく
述べれば、本発明の結晶化アニールは約1200℃より
高くかつ焼結体中に液体が1する湿L(tより低い温度
(すなわち、約1200℃から液体生成温度未満までの
温度)下で行われるのであって、かかる最高結晶化アニ
ール温度はアニールを施すべき焼結体の組成に応じて変
化する。たとえば、焼結体中に液体が生成する温度に対
し核生成剤が全く影響を及ぼさない場合、結晶化アニー
ル温度は約1200℃から純粋な二1−ジ−ライトの融
点(すなわら、約1460℃)未満まぐの範囲内にある
。しかるに、焼結体中に液体が1〜成づる温度に女・1
し核生成剤が影響を及ぼす場合には、結晶化アニール温
度は約1200℃から実際の組成物の液体生成温度未満
までの範囲内にある。たとえば、本発明の核生成剤とし
て二酸化チタンが使用される場合、最高結品化アニール
温度は約1450℃未満である。また、本発明の核生成
剤としてフッ化リチウムが使用される場合、最高結晶化
アニール温度は約1290℃未満である。更にまた、核
生成剤としてフッ化マグネシウムが使用される場合、最
高結晶化アニール温度は約1390℃未満である。
全に固体の状態に保たれるような温度下で核生成アニー
ル済み焼結体の結晶化アニールが行われる。更に訂しく
述べれば、本発明の結晶化アニールは約1200℃より
高くかつ焼結体中に液体が1する湿L(tより低い温度
(すなわち、約1200℃から液体生成温度未満までの
温度)下で行われるのであって、かかる最高結晶化アニ
ール温度はアニールを施すべき焼結体の組成に応じて変
化する。たとえば、焼結体中に液体が生成する温度に対
し核生成剤が全く影響を及ぼさない場合、結晶化アニー
ル温度は約1200℃から純粋な二1−ジ−ライトの融
点(すなわら、約1460℃)未満まぐの範囲内にある
。しかるに、焼結体中に液体が1〜成づる温度に女・1
し核生成剤が影響を及ぼす場合には、結晶化アニール温
度は約1200℃から実際の組成物の液体生成温度未満
までの範囲内にある。たとえば、本発明の核生成剤とし
て二酸化チタンが使用される場合、最高結品化アニール
温度は約1450℃未満である。また、本発明の核生成
剤としてフッ化リチウムが使用される場合、最高結晶化
アニール温度は約1290℃未満である。更にまた、核
生成剤としてフッ化マグネシウムが使用される場合、最
高結晶化アニール温度は約1390℃未満である。
なお、約1200℃より低い温度下では結晶化速度が遅
過ぎて実用的でない。
過ぎて実用的でない。
結晶化アニール時間は、たとえば最終製品の結晶化度の
観測のごとき標準技術によって実験的に決定することが
できる。なお、約2時間の結晶化アニール時間が一般に
適当である。
観測のごとき標準技術によって実験的に決定することが
できる。なお、約2時間の結晶化アニール時間が一般に
適当である。
本発明の焼結工程、核生成アニール工程および結晶化ア
ニール■稈は、圧縮体または焼結体に顕著な悪影響を及
ぼさない雰囲気または真空中において実施される。有用
な雰囲気の代表例としては、空気、水素、湿潤水素、窒
素、アルゴンおよびそれらの混合物が挙げられる。焼結
雰囲気を使用する場合、それ七L 7i! JTである
ことが好ましい。なぜイ【ら、常圧より高いぼ力を使用
づることに何の利益し無いからで・ある1、イ肖13.
31、り高密娘の焼れ13体を1qるI、二めに(ま、
水銀柱約200ミク日ン未届の真空中にa3いて焼結を
行うことがりIましい。
ニール■稈は、圧縮体または焼結体に顕著な悪影響を及
ぼさない雰囲気または真空中において実施される。有用
な雰囲気の代表例としては、空気、水素、湿潤水素、窒
素、アルゴンおよびそれらの混合物が挙げられる。焼結
雰囲気を使用する場合、それ七L 7i! JTである
ことが好ましい。なぜイ【ら、常圧より高いぼ力を使用
づることに何の利益し無いからで・ある1、イ肖13.
31、り高密娘の焼れ13体を1qるI、二めに(ま、
水銀柱約200ミク日ン未届の真空中にa3いて焼結を
行うことがりIましい。
好適7z実施の一態様に従λば、本発明の焼結−1稈、
Mに[成77二−ルーに稈おJ、び結晶化アニール工稈
は同じ雰囲気ま/jは3空を使用した一連の1や作とし
て実施される。
Mに[成77二−ルーに稈おJ、び結晶化アニール工稈
は同じ雰囲気ま/jは3空を使用した一連の1や作とし
て実施される。
本発明の多結晶質物体はムノr1・相おJ、び−1−ジ
−ライ1〜相から成るものrあ・、)て、更に訂しく述
べれば、それは仝重Ii)を塁11’(としく約50〜
約95(重ff1)%の多結晶質ムライトおよび全車f
Oを基準として約5〜約50<中Gl )%の多結晶質
コージーライトから成る相組成を右している。
−ライ1〜相から成るものrあ・、)て、更に訂しく述
べれば、それは仝重Ii)を塁11’(としく約50〜
約95(重ff1)%の多結晶質ムライトおよび全車f
Oを基準として約5〜約50<中Gl )%の多結晶質
コージーライトから成る相組成を右している。
本発明の多結晶質物体はまた、全体積を基tI’として
約10(体積)%未満、好ましくは約5(体積)%未満
、イして更に好ましくは約2(体積)%未満の気孔率を
有している。
約10(体積)%未満、好ましくは約5(体積)%未満
、イして更に好ましくは約2(体積)%未満の気孔率を
有している。
好適な実施の態様に従えば、本発明の多結晶質物体は全
車悄を基準として約60〜約70(重11)%の多結晶
質ムライ]・および全@mを基準として約30〜約40
(111i%)%の多結晶質コージーライトから成る相
組成を右し、かつ300 ’Kにお()るシリコンの熱
膨張率に比べて差が約10%以内の熱膨張率を右してい
る。更に好適な実施の態様に従えば、約64(重量)%
の多結晶質ムライ1−J3よび約36(小舟)%の多結
晶質コージーライトから成る相組成を有し、かつ300
6Kにおけるシリコンの熱膨張率に比べて差が約5%以
内の熱膨張率を有している。
車悄を基準として約60〜約70(重11)%の多結晶
質ムライ]・および全@mを基準として約30〜約40
(111i%)%の多結晶質コージーライトから成る相
組成を右し、かつ300 ’Kにお()るシリコンの熱
膨張率に比べて差が約10%以内の熱膨張率を右してい
る。更に好適な実施の態様に従えば、約64(重量)%
の多結晶質ムライ1−J3よび約36(小舟)%の多結
晶質コージーライトから成る相組成を有し、かつ300
6Kにおけるシリコンの熱膨張率に比べて差が約5%以
内の熱膨張率を有している。
本発明の多結晶質物体は、全体積を基準として約5(体
積)%未満、好ましくは約2く体積)%未満、そして更
に好ましくは約1(体積)%未満のガラス相を含有して
いてもよい。なお、本発明の多結晶質物体が検出可能に
すぎない量のガラス相を含有していれば一層好ましい。
積)%未満、好ましくは約2く体積)%未満、そして更
に好ましくは約1(体積)%未満のガラス相を含有して
いてもよい。なお、本発明の多結晶質物体が検出可能に
すぎない量のガラス相を含有していれば一層好ましい。
それ故、本発明の多結晶質物体、中に存在するガラス相
の偽は検出可能な程度から全体積を基準として約5(体
積)%までの範囲内にあればよいわけである。なお、本
発明の多結品質物体中に存在Jるガラス相のlβは原料
物質中の不純物に大きく依qする。
の偽は検出可能な程度から全体積を基準として約5(体
積)%までの範囲内にあればよいわけである。なお、本
発明の多結品質物体中に存在Jるガラス相のlβは原料
物質中の不純物に大きく依qする。
本発明の多結晶質物体は核1−成剤から成る少聞の相を
含有することもあれば含有しないこともある。かかる相
の存在は、使用りる根引:成剤の秤類、すなわち本発明
方法の過程にa3いて核生成剤が揮発消失づる程度に大
きく依存する。詳しく述べれば、本発明の多結晶質物体
は全中c〜を基準とじCO〜約5(!f?吊)%の核生
成剤相を含有づる。実施の一態様に従えば、本発明の多
結品質物体は約0.5〜約5(fn吊)%の核生成剤相
を含有する。
含有することもあれば含有しないこともある。かかる相
の存在は、使用りる根引:成剤の秤類、すなわち本発明
方法の過程にa3いて核生成剤が揮発消失づる程度に大
きく依存する。詳しく述べれば、本発明の多結晶質物体
は全中c〜を基準とじCO〜約5(!f?吊)%の核生
成剤相を含有づる。実施の一態様に従えば、本発明の多
結品質物体は約0.5〜約5(fn吊)%の核生成剤相
を含有する。
別の実施の態様に従えば、本発明の多結晶質物体は約0
.6〜約4(重量)%の核り成剤相を含有する。更に別
の実施の態様に従えば、本発明の多結晶質物体は約0.
75〜約3.25(重量)%の核生成剤相を含有する。
.6〜約4(重量)%の核り成剤相を含有する。更に別
の実施の態様に従えば、本発明の多結晶質物体は約0.
75〜約3.25(重量)%の核生成剤相を含有する。
たとえば、フッ化物核生成剤は本発明方法の過程におい
て顕著に揮発消失するのであって、/=とえばX線回折
分析または顕微鏡組織の光学的検査のごとさ標fp技術
を用いて調べた場合、それが本発明の多結晶質物体中に
相として検出されることはない。他方、二酸化チタンの
ごとき核生成剤は本発明方法において有意に揮発消失す
るとは思えないのであって、焼結前に存在した量のTl
O2に相当または実質的に相当づるT+ o□相が最終
製品中に残留する。かかるTi Ot相はX線回折パタ
ーン中に辛うじて検出し得るのであって、その但は最終
製品(すなわち、本発明の多結晶質物体)の全重量を基
準として約0.5〜約5〈重量)%の範囲内にある。
て顕著に揮発消失するのであって、/=とえばX線回折
分析または顕微鏡組織の光学的検査のごとさ標fp技術
を用いて調べた場合、それが本発明の多結晶質物体中に
相として検出されることはない。他方、二酸化チタンの
ごとき核生成剤は本発明方法において有意に揮発消失す
るとは思えないのであって、焼結前に存在した量のTl
O2に相当または実質的に相当づるT+ o□相が最終
製品中に残留する。かかるTi Ot相はX線回折パタ
ーン中に辛うじて検出し得るのであって、その但は最終
製品(すなわち、本発明の多結晶質物体)の全重量を基
準として約0.5〜約5〈重量)%の範囲内にある。
本発明の多結晶質物体に33いては、各相は一様、実質
的に一様あるいは少なくとも顕著に一様に分布している
。また、本発明の多結晶質物体は均質、実質的に均質あ
るいは少なくとも顕著に均質な顕微鏡組織を有している
。
的に一様あるいは少なくとも顕著に一様に分布している
。また、本発明の多結晶質物体は均質、実質的に均質あ
るいは少なくとも顕著に均質な顕微鏡組織を有している
。
本発明の多結晶質物体中の]−ジーライト相は不連続相
を成すこともあれば連続相を成すこともある。詳しく述
べれば、本発明の多結晶質物体中に存在するコージーラ
イト相の量が約5〜約10(重量)%の範囲内にある場
合、それは不連続相を成す。コージーライト相の串が1
0(Iり%より多くなるとそれは多少の連続性を承りよ
うになり、そして約15(Φ吊)%では相りに連絡した
連続相を成す傾向が生じる。コージーライト相のMが1
5(重Φ)%を越えて約50(重量)%に至るまでの範
囲内にある場合には、それは相互に連絡した連続相を成
し、そして小島状のムライト相を包囲する。
を成すこともあれば連続相を成すこともある。詳しく述
べれば、本発明の多結晶質物体中に存在するコージーラ
イト相の量が約5〜約10(重量)%の範囲内にある場
合、それは不連続相を成す。コージーライト相の串が1
0(Iり%より多くなるとそれは多少の連続性を承りよ
うになり、そして約15(Φ吊)%では相りに連絡した
連続相を成す傾向が生じる。コージーライト相のMが1
5(重Φ)%を越えて約50(重量)%に至るまでの範
囲内にある場合には、それは相互に連絡した連続相を成
し、そして小島状のムライト相を包囲する。
本発明の多結晶質物体は各種の用途を右するが、それの
熱膨張率および誘゛市串が比較的小さいことを考えると
、基板材料とりわ(プコンピュータのごとき情報処II
N!装置における単心体用の支持基板として特に有用で
ある。訂しく述べれば、本発明の多結晶質物体は300
’Kにおいて3 :3×10−6/’に未満の熱膨張率
を右していで、その熱膨張率は]−ジーライl−aイー
iの増大に伴−)で低下する。このことは第2図のグラ
フの110ンシ゛−タによって示される。η〈kわら、
約5(j’I′1fi)%のコージーライ1−を含有J
ろ本発明の多結晶71物体は3006KにJ3い−(約
3.2X 10−6 / ’にの熱膨張率を41し、ま
I;−約50(重量)%の−」1−ジ−ライトを含有す
る本発明の多結晶質物体は300°Kにおいて約2X1
0−6/″にの熱膨張率を有するのである。
熱膨張率および誘゛市串が比較的小さいことを考えると
、基板材料とりわ(プコンピュータのごとき情報処II
N!装置における単心体用の支持基板として特に有用で
ある。訂しく述べれば、本発明の多結晶質物体は300
’Kにおいて3 :3×10−6/’に未満の熱膨張率
を右していで、その熱膨張率は]−ジーライl−aイー
iの増大に伴−)で低下する。このことは第2図のグラ
フの110ンシ゛−タによって示される。η〈kわら、
約5(j’I′1fi)%のコージーライ1−を含有J
ろ本発明の多結晶71物体は3006KにJ3い−(約
3.2X 10−6 / ’にの熱膨張率を41し、ま
I;−約50(重量)%の−」1−ジ−ライトを含有す
る本発明の多結晶質物体は300°Kにおいて約2X1
0−6/″にの熱膨張率を有するのである。
本発明の多結晶質物体は、300 ’Kにおいて5より
大きくかつ7より小さい誘電率を有する。
大きくかつ7より小さい誘電率を有する。
それの誘電率は存在するコージーライトの偵の関数であ
る。すなわち、存在するコージーライトの塁が多くなる
ほど、本発明の多結晶質物体の誘電率は小さくなる。
る。すなわち、存在するコージーライトの塁が多くなる
ほど、本発明の多結晶質物体の誘電率は小さくなる。
本発明の多結晶質物体は任意所望の形状を有しく7る。
たとえば、それは単純な形状、中空の形状および(また
は)複雑な形状のいずれを有していてもにい。なお、基
板として使用するためには、それはテープ状を成してい
ることが好ましい。
は)複雑な形状のいずれを有していてもにい。なお、基
板として使用するためには、それはテープ状を成してい
ることが好ましい。
以下の実施例によって本発明が一層詳しく説明される。
これらの実施例においては、特に記載の無い鳴り、下記
の操作手順が使用された。
の操作手順が使用された。
圧縮体または焼結体の焼成処理は、いずれも二ケイ化モ
リブデン製の抵抗炉内において行った。
リブデン製の抵抗炉内において行った。
各回の操作の終了後には、電力を遮断し、そして得られ
た多結晶質物体を♀潟にまで炉内冷141シた。
た多結晶質物体を♀潟にまで炉内冷141シた。
得られた多結晶71物体の気孔率は、標卑技1+iに基
づく光学的顕微鏡検査によって測定した。
づく光学的顕微鏡検査によって測定した。
最終製品の相組成は、光学的顕微鏡検査および(または
)X線回折分析のごとき金属組織学士の標準技術によっ
て決定した1゜ 熱膨張率は、6英PA3張ii1を用いて300 ’に
で測定した。
)X線回折分析のごとき金属組織学士の標準技術によっ
て決定した1゜ 熱膨張率は、6英PA3張ii1を用いて300 ’に
で測定した。
実施例1
酸化アルミニウム、酸化ケイ系および酸化マグネシウム
の、!’II純麿〈111i度99%以上)酸化物わ)
末から、(i4(甲Flり1%の11う、イトおよび3
(3(申m)%の凹−ジー−2ノイドの相組成に相当り
る原t’+粉末混合物を調整した。また、核/l成剤と
しU TiO2を使用しIC0訂しり)41べれば、約
0.15μの平均粒度を有する57.0(壬ri1)
% f7) A# 20x、約1.0μの平均粒度を有
する35.6(重量)%のSL Ot、約0.5μの平
均粒度をイjする4、8(IIHIll)%の−O1お
よび約0.1μの平均粒度を有する2、6(重φ)%の
Tie(純度99%)をボールミル内で処理した。かか
るボールミル処理は、分散剤としてポリアクリル酸を添
加したアレトン中においてアルミナ媒体を使用しながら
行った。3時間にわたる処理の後、約40℃の空気中で
乾燥することによって媒質を除去した。こうして得られ
た粉末混合物は実質的に均質であり、そして約0.5μ
の平均粒度を有していた。
の、!’II純麿〈111i度99%以上)酸化物わ)
末から、(i4(甲Flり1%の11う、イトおよび3
(3(申m)%の凹−ジー−2ノイドの相組成に相当り
る原t’+粉末混合物を調整した。また、核/l成剤と
しU TiO2を使用しIC0訂しり)41べれば、約
0.15μの平均粒度を有する57.0(壬ri1)
% f7) A# 20x、約1.0μの平均粒度を有
する35.6(重量)%のSL Ot、約0.5μの平
均粒度をイjする4、8(IIHIll)%の−O1お
よび約0.1μの平均粒度を有する2、6(重φ)%の
Tie(純度99%)をボールミル内で処理した。かか
るボールミル処理は、分散剤としてポリアクリル酸を添
加したアレトン中においてアルミナ媒体を使用しながら
行った。3時間にわたる処理の後、約40℃の空気中で
乾燥することによって媒質を除去した。こうして得られ
た粉末混合物は実質的に均質であり、そして約0.5μ
の平均粒度を有していた。
常温および約20.0OOpsiの圧力の下で、十ンの
粉末混合物を加圧成形してベレットを得た。
粉末混合物を加圧成形してベレットを得た。
各ペレットは、直径約1/2インチかつ厚さ約1/8イ
ンチの実質的に同じ寸法を有する円板状を成していた。
ンチの実質的に同じ寸法を有する円板状を成していた。
1個の円板を1490℃で2時間にわたり焼結した。次
いで、温度を700℃に低下させてから2時間にわたり
その温度を保つことにより、ガラス状コージーライト相
中に核生成をもたらした。
いで、温度を700℃に低下させてから2時間にわたり
その温度を保つことにより、ガラス状コージーライト相
中に核生成をもたらした。
次いで、濃度を1300℃に上昇させてから2時間にわ
たりその温度を保つことにより、コージーライト相を結
晶化させた。その後、円板を常温にまで炉内冷ノ41シ
た。仝(の焼成処理(81なわち、焼結、咳([成アニ
ールIIj 、1、び結晶化j′ニール)は常1[の空
気中に、13い((jわれ、そしく焼成演みの円板は同
じ雰囲気中にJ3いC炉内冷IJ1された。
たりその温度を保つことにより、コージーライト相を結
晶化させた。その後、円板を常温にまで炉内冷ノ41シ
た。仝(の焼成処理(81なわち、焼結、咳([成アニ
ールIIj 、1、び結晶化j′ニール)は常1[の空
気中に、13い((jわれ、そしく焼成演みの円板は同
じ雰囲気中にJ3いC炉内冷IJ1された。
こうしU 1!fられIこ焼成円板(リイ1わI)、木
光1111の多結晶71物体)のtill 19断面を
第1図に承り。第1図は、かかる円板がムノイト相(淡
色の領域)、コージーライト相(暗色のダ1lIi)お
よび少111のT。
光1111の多結晶71物体)のtill 19断面を
第1図に承り。第1図は、かかる円板がムノイト相(淡
色の領域)、コージーライト相(暗色のダ1lIi)お
よび少111のT。
Ot相〈小球)から成ることを示している。
第1図を見れば、このような組成を(i ’Iる本発明
の多結晶質物体においC1相互に連絡し/、:ll−ジ
−ライトの連続相が小島状のムライト相を包囲している
ことがわかる。
の多結晶質物体においC1相互に連絡し/、:ll−ジ
−ライトの連続相が小島状のムライト相を包囲している
ことがわかる。
焼成円板は約5.3(体積)%の気孔率を有していた。
それは、約62.3 (重量)%の結晶質ムライト、約
35.1 (重fl)%の結晶質コージーライトおよび
約2.6(中小)%の結晶vqT+ Otから成ってい
た。ムライトは約71.8(ill)%のN2O3およ
び残部のS、02から成る組成を有し、またコージーラ
イトは約13.7 (mill)%のMgO1約34.
.9(Φ準)%(DAJ20sおよび約51.4(Φ量
)%のSi、0□から成る組成を有していた。かかる円
板は3006Kにおいて2.5±0゜1X10−6/6
にの熱膨張率を有していて、これは300 ’KにJり
するシリコンの熱膨張率に整合しくいた。
35.1 (重fl)%の結晶質コージーライトおよび
約2.6(中小)%の結晶vqT+ Otから成ってい
た。ムライトは約71.8(ill)%のN2O3およ
び残部のS、02から成る組成を有し、またコージーラ
イトは約13.7 (mill)%のMgO1約34.
.9(Φ準)%(DAJ20sおよび約51.4(Φ量
)%のSi、0□から成る組成を有していた。かかる円
板は3006Kにおいて2.5±0゜1X10−6/6
にの熱膨張率を有していて、これは300 ’KにJり
するシリコンの熱膨張率に整合しくいた。
かかる円板は、コンピュータ用のセラミックパッケージ
において使用づべきシリコンチップの支持基板どして有
用なものである。
において使用づべきシリコンチップの支持基板どして有
用なものである。
なお、この実施例は下記第1表中に要約して示されてい
る。
る。
ユニL1
−」虹1−宏m≧k
Allot 5lot MeOTIO+ LIF
MIF+ IEIIfl 峙悶敞
−悶熊例ユ 上肚且丘立肚且 」弘L flL (朋)
1(朋)1 st、@3hJ 1.a
2.l+ −−29ks1テff111+
190 2 700 22 ST、O
15,64,82,6−−m+1rlE11490
2 700 23 51.0 易
、s 4.8 2J −−漁5lr
ffll+490 2 7oo 24
ST、0 3s、6 4.8 −
2.6 − mslテlI纏12
9+ 2 1o025 510 3
SJ 4.@ −−2,8mxlテf
f1lFlo 2 7@ 26
5+、OXl、@ 4.8 2J
−−9−プI1M 1490 2 T
Oo 27 ST、0 351
4.1 2.6 − −
nsiテ1IIII+490” + 700
28 M、l 易、5 1J
2.G O,3−20kllt”圧檜
1490” 2 100 29 SF
、O35,64,@ 2.6 −
− 20kSlt’1I111190 2
− −10 51.5 36.6
4.9 − − − 20k
siで圧検 1490 2 7XI 21
111空中において1480℃で15j>爵の予l誠戚
を含む。
MIF+ IEIIfl 峙悶敞
−悶熊例ユ 上肚且丘立肚且 」弘L flL (朋)
1(朋)1 st、@3hJ 1.a
2.l+ −−29ks1テff111+
190 2 700 22 ST、O
15,64,82,6−−m+1rlE11490
2 700 23 51.0 易
、s 4.8 2J −−漁5lr
ffll+490 2 7oo 24
ST、0 3s、6 4.8 −
2.6 − mslテlI纏12
9+ 2 1o025 510 3
SJ 4.@ −−2,8mxlテf
f1lFlo 2 7@ 26
5+、OXl、@ 4.8 2J
−−9−プI1M 1490 2 T
Oo 27 ST、0 351
4.1 2.6 − −
nsiテ1IIII+490” + 700
28 M、l 易、5 1J
2.G O,3−20kllt”圧檜
1490” 2 100 29 SF
、O35,64,@ 2.6 −
− 20kSlt’1I111190 2
− −10 51.5 36.6
4.9 − − − 20k
siで圧検 1490 2 7XI 21
111空中において1480℃で15j>爵の予l誠戚
を含む。
1′空気中において1300℃で54四の予−焼成を含
む。
む。
四 2 !2気 #
6・31増 7
Hl #
a112oo2 空気 〜U
+−蔦+200 2交jll ’
Ila 2 9% 〜Q、3 −35
j −2JfTlOIl 10
6213@? 空気 #
1コ13
00 2 2% 、
2.31メぬ 2
!2気 〜−−〜36(メJラス)1300
2 2% −JA −−36(jj
クラス第1表中の実施例2〜10は、第1表中および下
記に特に記載した点以外は実施例1とほぼ同様にして実
施された。詳しく述べれば、実I例4においては二酸化
チタンの代りにフッ化リチウムを使用し、実施例5に3
3いては二酸化チタンの代りにフッ化マグネシウムを使
用し、また実施例8においては二酸化チタン単独の代り
に二酸化チタンとフッ化リチウムとの混合物を使用した
。それらのフッ化リチウムおJ、びフッ化ングネシウム
は、約1.0μの平均粒度および99%以上の純麿を有
していた。
6・31増 7
Hl #
a112oo2 空気 〜U
+−蔦+200 2交jll ’
Ila 2 9% 〜Q、3 −35
j −2JfTlOIl 10
6213@? 空気 #
1コ13
00 2 2% 、
2.31メぬ 2
!2気 〜−−〜36(メJラス)1300
2 2% −JA −−36(jj
クラス第1表中の実施例2〜10は、第1表中および下
記に特に記載した点以外は実施例1とほぼ同様にして実
施された。詳しく述べれば、実I例4においては二酸化
チタンの代りにフッ化リチウムを使用し、実施例5に3
3いては二酸化チタンの代りにフッ化マグネシウムを使
用し、また実施例8においては二酸化チタン単独の代り
に二酸化チタンとフッ化リチウムとの混合物を使用した
。それらのフッ化リチウムおJ、びフッ化ングネシウム
は、約1.0μの平均粒度および99%以上の純麿を有
していた。
実施例6においては、i−ブ流延用のスリップ組成物を
調整した。かかるスリップ組成物は、57gのN2O3
,35,6(IのSL 02.4.81のtbO12,
6gのTi O2,5,00のポリビニルブタノール、
4.Qccのポリエチレングリコール、5Qccのグリ
セリントリAレエー1〜.1.Qccのジオクチルフタ
レートおよび60CCの1〜゛ル土ンから成っていた。
調整した。かかるスリップ組成物は、57gのN2O3
,35,6(IのSL 02.4.81のtbO12,
6gのTi O2,5,00のポリビニルブタノール、
4.Qccのポリエチレングリコール、5Qccのグリ
セリントリAレエー1〜.1.Qccのジオクチルフタ
レートおよび60CCの1〜゛ル土ンから成っていた。
室温において実質的に固体であるがトルエンには可溶の
ポリビニルブタノールは、結合剤として役立った。ポリ
エチレングリコール、グリセリントリオレエートおよび
ジオクチルフタレートは可塑剤として使用された。
ポリビニルブタノールは、結合剤として役立った。ポリ
エチレングリコール、グリセリントリオレエートおよび
ジオクチルフタレートは可塑剤として使用された。
上記のスリップ組成物を常温下でガラス支持体の表面に
流した後、乾燥させて溶剤を除去した。
流した後、乾燥させて溶剤を除去した。
こうして得られlζ乾燥済みの生テープは約0.019
インチの実質的に一様な厚さを有し、またそれの大きさ
は1フイート平方であった。かかる生テープをガラス支
持体から引剥がし、そして第1表中に示されるような焼
成処理を施した。それの有機成分は、焼結温度に達する
前に揮発消失した。
インチの実質的に一様な厚さを有し、またそれの大きさ
は1フイート平方であった。かかる生テープをガラス支
持体から引剥がし、そして第1表中に示されるような焼
成処理を施した。それの有機成分は、焼結温度に達する
前に揮発消失した。
最終的に得られた焼成テープ(すなわち、本発明の多結
晶質物体)は0.009インチの厚さを有していた。
晶質物体)は0.009インチの厚さを有していた。
実施例7においては、先ず圧縮体を水銀柱約10ミクロ
ンの真空中において1480℃で15分間焼成した。次
いで、焼成雰囲気を常圧の空気に変え、温度を1490
℃に上昇させ、それから第1表中に示されるような焼成
処理を施した。
ンの真空中において1480℃で15分間焼成した。次
いで、焼成雰囲気を常圧の空気に変え、温度を1490
℃に上昇させ、それから第1表中に示されるような焼成
処理を施した。
実施例8においては、常圧の空気中において1300℃
で5時間にわたり圧縮体を予備焼成した。次いで、温度
を1490℃に4−71さ口、それから第1表中に示さ
れる1J、うな焼成処理を施した。
で5時間にわたり圧縮体を予備焼成した。次いで、温度
を1490℃に4−71さ口、それから第1表中に示さ
れる1J、うな焼成処理を施した。
第1表中の実施例1〜8は本発明を例示づるものである
。実施例1〜8の最終焼成物体(すなわら、本発明の多
結晶質物体)は、bz+rれもシリコンチップのごどぎ
半導体の遍1を板としてイj用に【ものである。別の研
究れ11!!にJ、tづりば、実施例4および5の多結
晶質物体し約10(体積)%未満の気孔率を右するもの
と考えられる。
。実施例1〜8の最終焼成物体(すなわら、本発明の多
結晶質物体)は、bz+rれもシリコンチップのごどぎ
半導体の遍1を板としてイj用に【ものである。別の研
究れ11!!にJ、tづりば、実施例4および5の多結
晶質物体し約10(体積)%未満の気孔率を右するもの
と考えられる。
実施例9は、本発明の核生成アニール工程の中敷性を証
明している。すなわlう、実施例9においては焼結体に
核生成アニールを施さなかったところ、得られた最終焼
成物体は結晶質−」−ジーライト相を含有していなかっ
た。
明している。すなわlう、実施例9においては焼結体に
核生成アニールを施さなかったところ、得られた最終焼
成物体は結晶質−」−ジーライト相を含有していなかっ
た。
実施例10においては核生成剤を使用しなかった。その
結果、本発明の多結晶質物体は得られなかった。
結果、本発明の多結晶質物体は得られなかった。
実施例11
実施例1の手順に従い、本発明に基づく2個のベレット
〈すなわら、未焼結円板)を作製した。
〈すなわら、未焼結円板)を作製した。
各円板は実施例1の場合と同じ組成を有していた。
一方の円板の一面上に、タングステンインクをX字形に
刷毛塗りした。タングステンインクをはさむようにして
2個の円板を重ね合わせ、そしてかかる集合体を149
0℃で2時間にわたり焼結しl〔。次いぐ、温度を70
0℃に低下させてから2時間にわたりその温度を保つこ
とにより、ガラス状」−ジ−ライト相中に核生成をもた
らした。
刷毛塗りした。タングステンインクをはさむようにして
2個の円板を重ね合わせ、そしてかかる集合体を149
0℃で2時間にわたり焼結しl〔。次いぐ、温度を70
0℃に低下させてから2時間にわたりその温度を保つこ
とにより、ガラス状」−ジ−ライト相中に核生成をもた
らした。
次いで、温度を1300℃に上昇させてから2時間にわ
たりその温度を保つことにより、コージーライト相を結
晶化させた。その後、得られた焼成物体を常温にまで炉
内冷却した。全ての焼成処理(すなわち、焼結、核生成
アニールおよび結晶化アニール)は25℃の露点を有す
る常圧の湿潤水素中において行われ、そして焼成物体は
同じ雰囲気中において冷却された。
たりその温度を保つことにより、コージーライト相を結
晶化させた。その後、得られた焼成物体を常温にまで炉
内冷却した。全ての焼成処理(すなわち、焼結、核生成
アニールおよび結晶化アニール)は25℃の露点を有す
る常圧の湿潤水素中において行われ、そして焼成物体は
同じ雰囲気中において冷却された。
こうして得られた製品(すなわち、焼成物体)は理論値
の96%より高い密度を有していた。換言すれば、それ
の気孔率は全体積を基準として5(体積)%未満であっ
た。
の96%より高い密度を有していた。換言すれば、それ
の気孔率は全体積を基準として5(体積)%未満であっ
た。
タングステンの酸化を防11〕るために酸系分圧を低く
する必要があった結果、物体の表面から多少のSLOが
揮発した。しかしながら、X線回折分析によって示され
る通り、もっばら表面領域にJ3いてコージーライトの
僅かな欠乏が生じただ1ノであって、重大な影響がある
とは思われなかった。
する必要があった結果、物体の表面から多少のSLOが
揮発した。しかしながら、X線回折分析によって示され
る通り、もっばら表面領域にJ3いてコージーライトの
僅かな欠乏が生じただ1ノであって、重大な影響がある
とは思われなかった。
こうして冑られた焼成セラミック製品は、25℃におい
て1013オーム程度の抵抗率を有していた。タングス
テンインクは、集合体中に連続した導電路を提供するの
に十分な密度にまで焼結していた。このようにセラミッ
ク製品の高い抵抗率およびタングステンの電気的連続性
を考え合わせると、本発明の多結晶質物体が半導体のセ
ラミックパッケージにおいて有用であることがわかる。
て1013オーム程度の抵抗率を有していた。タングス
テンインクは、集合体中に連続した導電路を提供するの
に十分な密度にまで焼結していた。このようにセラミッ
ク製品の高い抵抗率およびタングステンの電気的連続性
を考え合わせると、本発明の多結晶質物体が半導体のセ
ラミックパッケージにおいて有用であることがわかる。
焼成済みの多結晶質物体は、約62.3 (重量)%の
ムライト、約35.1 (重量)%のコージーライトお
よび約2.6(f2fn、)%のTt 02から成って
いた。
ムライト、約35.1 (重量)%のコージーライトお
よび約2.6(f2fn、)%のTt 02から成って
いた。
実施例12
6/I(千岳)%のムライトおよび36(重量)%のコ
ージーライトの相組成に相当する原料粉末混合物を調整
した。
ージーライトの相組成に相当する原料粉末混合物を調整
した。
本実施例においては、コロイド状−水酸化アルミニウム
Lカタバル(cA丁APAL)SBI、コロイド状シリ
カ[キャブ・オ・シル(cab −0Sji’)]およ
びコロイド状水酸化マグネシウム(硝酸マグネシウム溶
液を濃アンモニア溶液で沈澱させて得られたもの)が、
上記のごとき原料粉末混合物を調整するのに適した比率
で使用された。
Lカタバル(cA丁APAL)SBI、コロイド状シリ
カ[キャブ・オ・シル(cab −0Sji’)]およ
びコロイド状水酸化マグネシウム(硝酸マグネシウム溶
液を濃アンモニア溶液で沈澱させて得られたもの)が、
上記のごとき原料粉末混合物を調整するのに適した比率
で使用された。
約3のpHを有する111酸溶液中にこれらの材料を分
散させた後、濃アンモニア溶液の添加によってゲル化さ
せた。かかるゲルを凍結し、次いで融解させた。この工
程は、次に行われるゲルの濾過を容易にするために役立
った。融解後のゲルの濾過に際しては、乾燥に先立って
水を完全に除去するために濾塊をアセトンで洗った。次
いで、濾塊を室温下で乾燥させ、た。乾燥後、得られた
粉末を常圧の空気中において500℃で約10時間にわ
たり燻焼することによって水酸化物を分解した。
散させた後、濃アンモニア溶液の添加によってゲル化さ
せた。かかるゲルを凍結し、次いで融解させた。この工
程は、次に行われるゲルの濾過を容易にするために役立
った。融解後のゲルの濾過に際しては、乾燥に先立って
水を完全に除去するために濾塊をアセトンで洗った。次
いで、濾塊を室温下で乾燥させ、た。乾燥後、得られた
粉末を常圧の空気中において500℃で約10時間にわ
たり燻焼することによって水酸化物を分解した。
規模、20071ングスト1」−ム程度の平均粒度を右
づる粉末を100.ooopsiの圧力Jj J:び常
温の下で加11−成形してベレットを得た。各ベレット
は、口径約1/2インチかつ厚さ約1/8インチの実質
的に同じ1法を有する円板状を成していた。
づる粉末を100.ooopsiの圧力Jj J:び常
温の下で加11−成形してベレットを得た。各ベレット
は、口径約1/2インチかつ厚さ約1/8インチの実質
的に同じ1法を有する円板状を成していた。
1個の円板を1490℃で2時間にわたり焼結した。次
いで、温度を700℃に低下させてから2時間にわたり
その温度を保つことにより、ガラス状コージーライト相
中に核生成をもたらした。
いで、温度を700℃に低下させてから2時間にわたり
その温度を保つことにより、ガラス状コージーライト相
中に核生成をもたらした。
次いで、温度を1300℃に」胃さUてから2時間にわ
たりその温度を保つことにより、コージーライト相を結
晶化させた。その後1円板を常温にまで炉内冷却した。
たりその温度を保つことにより、コージーライト相を結
晶化させた。その後1円板を常温にまで炉内冷却した。
全ての焼成処理(すなわら、焼結、核生成アニールおよ
び村、晶化アニール)は常圧の空気中にJiいて行われ
、そし焼成流みの円板は同じ雰囲気中においC炉内冷却
された。
び村、晶化アニール)は常圧の空気中にJiいて行われ
、そし焼成流みの円板は同じ雰囲気中においC炉内冷却
された。
こうして得られた焼成円板(TJなわlう、本発明の多
結晶質物体)は約5.3(体積)%の気孔率を有してい
た。ぞれは、約62.3 (千吊)%の結晶質ムライト
、約35.1 <重11K)%の結晶質コージーンイ1
〜J3よび約2.6(重ω)%の結晶質TlO2から成
っていた。この焼成円板は、実施例1において得られた
ものと同じであるように思われた。
結晶質物体)は約5.3(体積)%の気孔率を有してい
た。ぞれは、約62.3 (千吊)%の結晶質ムライト
、約35.1 <重11K)%の結晶質コージーンイ1
〜J3よび約2.6(重ω)%の結晶質TlO2から成
っていた。この焼成円板は、実施例1において得られた
ものと同じであるように思われた。
かかる円板は、コンピュータ用のセラミックパッケージ
において使用すべきシリコンチップの支持基板として有
用なものである。
において使用すべきシリコンチップの支持基板として有
用なものである。
実施例13
本実施例においては、ゾ級焼済みの粉末を50゜000
psiの圧力下で加圧成形してベレットを得たこと以
外は実施例12と同じ手順が繰返された。
psiの圧力下で加圧成形してベレットを得たこと以
外は実施例12と同じ手順が繰返された。
こうして(qられた焼成円板(すなわち、本発明の多結
晶質物体)は、実施例1において得られたものとほとん
ど追わなかった。
晶質物体)は、実施例1において得られたものとほとん
ど追わなかった。
第1図は、本発明に従って!ll造された複合セラミッ
クの研摩断面の金属組織を示す顕微鏡写真(倍率150
0X)である。この複合セラミックは、約62.3 (
fful)%のムライト相(淡色の領域)、約35.1
(重量)%の]−ジーライト相(明色の領域)Jiよび
約2.6(重量)%のT。 02相〈小球づなわちT+ 02粒−r)がら成ってい
る。 第2図は、本発明の多結晶質物体の熱膨張率をコージー
ライト含1′!1のry+数として計9)シたil++
宋を示づグラフである。詳しく述べれば、第2図におい
ては、ターナ−(Turner )にJ、って最初に導
き出された多相物体の熱膨張率の公式[ジ(・−ナル・
Aブ・リリーブ・Aブ・ノショノール・どコーロ−・7
1ブ・スタンダード(J、 Res、NBS)、第37
巻、239頁(1946年)]を使用づることにより、
3006Kにお1ノるムライト・〕−〕ジーライしラミ
ックの熱膨張率が九1停された。 第2図中にtJ 、 Ji) カルitt f?’ (
’)結束が300″Kにお(プるシリ−コンの熱膨張率
と比較し・(示されている。それにJ、れぼ、本発明の
複合廿)ミックがシリコンの熱蘇張宇に整合しlc熱膨
張・↑ζを右1するl〔めには、それの−1−ジ−ライ
1〜含憤が約36(東m)%ぐなければならないことが
わかる。 I上方Al コーリ°−ライト含量(k忙%)
クの研摩断面の金属組織を示す顕微鏡写真(倍率150
0X)である。この複合セラミックは、約62.3 (
fful)%のムライト相(淡色の領域)、約35.1
(重量)%の]−ジーライト相(明色の領域)Jiよび
約2.6(重量)%のT。 02相〈小球づなわちT+ 02粒−r)がら成ってい
る。 第2図は、本発明の多結晶質物体の熱膨張率をコージー
ライト含1′!1のry+数として計9)シたil++
宋を示づグラフである。詳しく述べれば、第2図におい
ては、ターナ−(Turner )にJ、って最初に導
き出された多相物体の熱膨張率の公式[ジ(・−ナル・
Aブ・リリーブ・Aブ・ノショノール・どコーロ−・7
1ブ・スタンダード(J、 Res、NBS)、第37
巻、239頁(1946年)]を使用づることにより、
3006Kにお1ノるムライト・〕−〕ジーライしラミ
ックの熱膨張率が九1停された。 第2図中にtJ 、 Ji) カルitt f?’ (
’)結束が300″Kにお(プるシリ−コンの熱膨張率
と比較し・(示されている。それにJ、れぼ、本発明の
複合廿)ミックがシリコンの熱蘇張宇に整合しlc熱膨
張・↑ζを右1するl〔めには、それの−1−ジ−ライ
1〜含憤が約36(東m)%ぐなければならないことが
わかる。 I上方Al コーリ°−ライト含量(k忙%)
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、約50〜約95(重量)%の結晶質ムライトおよび
約5〜約50(重量)%の結晶質コージーライトから成
る多結晶質物体の製造方法において、(a)前記多結晶
質物体を製造するのに必要な量のAl_2O_3、Mg
OおよびSiO_2と核生成剤との混合物を用意し、(
b)前記混合物を成形して圧縮体とし、(c)前記圧縮
体を液相焼結して約10(体積)%未満の気孔率を有す
る緻密体を製造するのに十分な液相を生成させるが前記
圧縮体または得られる焼結体に顕著な悪影響を及ぼさな
い約1290〜約1550℃の範囲内の温度下で前記圧
縮体を焼結することにより、ムライト相およびガラス状
コージーライト相を含有する焼結体を得、(d)約60
0〜約800℃の範囲内の温度下で前記焼結体に核生成
アニールを施して前記ガラス状コージーライト相中に核
生成をもたらし、次いで(e)約1200℃より高くか
つ前記焼結体中に液体が生成する温度より低い範囲内の
温度下で、核生成済みの前記焼結体に結晶化アニールを
施すことによって前記多結晶質物体を得る諸工程を含ん
でいて、前記核生成剤は前記ガラス状コージーライト相
中に核生成をもたらすための物質であり、前記核生成剤
は前記ガラス状コージーライト相中に核生成をもたらし
て前記多結晶質物体を得るのに十分な量で使用され、か
つ前記焼結工程、前記核生成アニール工程および前記結
晶化アニール工程は前記圧縮体または前記焼結体に顕著
な悪影響を及ぼさない雰囲気または真空中において実施
されることを特徴とする方法。 2、前記核生成アニール工程が約650〜約750℃の
範囲内の温度下で実施される特許請求の範囲第1項記載
の方法。 3、前記雰囲気が空気、水素、湿潤水素、窒素、アルゴ
ンおよびそれらの混合物から成る群より選ばれる特許請
求の範囲第1項記載の方法。 4、前記圧縮体がテープ状を成す特許請求の範囲第1項
記載の方法。 5、前記多結晶質物体が約60〜約70(重量)%の前
記ムライトおよび約30〜約40(重量)%の前記コー
ジーライトから成る特許請求の範囲第1項記載の方法。 6、前記多結晶質物体が約64(重量)%の前記ムライ
トおよび約36(重量)%の前記コージーライトから成
る特許請求の範囲第1項記載の方法。 7、前記核生成剤が二酸化チタン、チタンイソプロポキ
シド、フッ化リチウム、フッ化マグネシウムおよびそれ
らの混合物から成る群より選ばれ、前記圧縮体の焼結温
度が約1290〜約1490℃の範囲内にあることを特
徴とする特許請求の範囲第1乃至6項のいずれかに記載
の方法。 8、全重量を基準として約50〜約95(重量)%の結
晶質ムライトおよび全重量を基準として約5〜約50(
重量)%の結晶質コージーライトから成り、かつ全体積
を基準として約10(体積)%未満の気孔率を有する多
結晶質物体。 9、テープ状を成す特許請求の範囲第8項記載の多結晶
質物体。 10、全重量を基準として約60〜約70(重量)%の
結晶質ムライトおよび全重量を基準として約30〜約4
0(重量)%の結晶質コージーライトから成り、かつ全
体積を基準として約10(体積)%未満の気孔率を有す
る特許請求の範囲第8項または9項記載の多結晶質物体
。 11、前記ムライト相が約71.8〜約73.3(重量
)%のAl_2O_3および残部のSiO_2から成り
かつ前記コージーライト相が約13.7(重量)%のM
gO、約34.9(重量)%のAl_2O_3および約
51.4(重量)%のSiO_2から成ることを特徴と
する特許請求の範囲第8項記載の多結晶質物体。 12、(a)全重量を基準として約50〜約95(重量
)%の結晶質ムライト、(b)全重量を基準として約5
〜約50(重量)%の結晶質コージーライト、(c)ガ
ラス状コージーライト相中に核生成をもたらすために役
立つ核生成剤から主として成る、全重量を基準として約
5(重量)%までの核生成剤相、および(d)全体積を
基準として約5(体積)%までの検出可能な量のガラス
相から成る多結晶質物体。 13、テープ状を成す特許請求の範囲第12項記載の多
結晶質物体。 14、前記核生成剤相がTiO_2である特許請求の範
囲第12項記載の多結晶質物体。
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