JPS6042421B2 - パルス列発生装置 - Google Patents
パルス列発生装置Info
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- JPS6042421B2 JPS6042421B2 JP53117544A JP11754478A JPS6042421B2 JP S6042421 B2 JPS6042421 B2 JP S6042421B2 JP 53117544 A JP53117544 A JP 53117544A JP 11754478 A JP11754478 A JP 11754478A JP S6042421 B2 JPS6042421 B2 JP S6042421B2
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- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
- G01R31/31919—Storing and outputting test patterns
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- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/04—Detection or location of defective memory elements, e.g. cell constructio details, timing of test signals
- G11C29/08—Functional testing, e.g. testing during refresh, power-on self testing [POST] or distributed testing
- G11C29/10—Test algorithms, e.g. memory scan [MScan] algorithms; Test patterns, e.g. checkerboard patterns
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- G—PHYSICS
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- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
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- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- For Increasing The Reliability Of Semiconductor Memories (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は間隔を置かず相互につながつたパルス。
列を発生する装置に係る。このようなパルス列はストレ
ージ製品(バッファを付帯したストレージ)を試験する
為に特に必要とされる。ストレージ製品の試験ではいろ
いろなパルスパターンがストレージに印加される(第3
図、第4図参照)。
ージ製品(バッファを付帯したストレージ)を試験する
為に特に必要とされる。ストレージ製品の試験ではいろ
いろなパルスパターンがストレージに印加される(第3
図、第4図参照)。
上記パルスパターンに関するストレージ製品の反応が記
録され且つ達成されるべき理論値と比較される。これら
の2つの値の比較によつて、ストレージ製品は要求され
るが如く動作するかどうかすなわち何らかの欠陥がある
かどうかが決定される。最初、発生されるパルス列がス
トレージ製品の仕様によつて理論的に与えられる。
録され且つ達成されるべき理論値と比較される。これら
の2つの値の比較によつて、ストレージ製品は要求され
るが如く動作するかどうかすなわち何らかの欠陥がある
かどうかが決定される。最初、発生されるパルス列がス
トレージ製品の仕様によつて理論的に与えられる。
これらの理論J値を生じさせる場合、具体的にはパルス
列がパルスパターン発生装置によつて発生されなければ
ならない。現在まで、ストレージ製品はこの特定な製品
の為に特に設計されたハードウェア試験装置で試験され
ている。
列がパルスパターン発生装置によつて発生されなければ
ならない。現在まで、ストレージ製品はこの特定な製品
の為に特に設計されたハードウェア試験装置で試験され
ている。
しかしながら、このようなハードウェア試験装置はある
特定なストレージ製品だけにしか用いることができない
という欠点を有する。更に、上記ハードウェア試験装置
は持ち時間と称されるものを許容しているという欠点を
有する。これらの持ち時間の間に、試験されるストレー
ジ製品はたとえばキャパシタ−の放電すなわちチャージ
シフト等の如きある変化を受ける。ストレージ製品に関
連する事象が生じた場合、あるパルス列が別のパルス列
によつて解放されなければならず、即ち、もとのパルス
列が新しいパルス列によつて交換されるべきであること
が最適な試験の為に考慮されなければならない。
特定なストレージ製品だけにしか用いることができない
という欠点を有する。更に、上記ハードウェア試験装置
は持ち時間と称されるものを許容しているという欠点を
有する。これらの持ち時間の間に、試験されるストレー
ジ製品はたとえばキャパシタ−の放電すなわちチャージ
シフト等の如きある変化を受ける。ストレージ製品に関
連する事象が生じた場合、あるパルス列が別のパルス列
によつて解放されなければならず、即ち、もとのパルス
列が新しいパルス列によつて交換されるべきであること
が最適な試験の為に考慮されなければならない。
通常のハードウェア試験装置ではあるパルス列から別の
パルス列への切り換えに特定な時間間隔を要した。間隔
を置かずに切換えることは、過渡的切り換え動作が減衰
した後でなければ切り換えが実行されないという技術上
の理由から可能でなかつた。しかしながら、持ち時間中
に、新しい状態が、試験されるストレージ製品に生じう
るという欠点が存在する。これらの欠点を除く為に、本
発明の目的は間隔を置かず相互につながつたパルス列を
発生する装置を提供することてある。
パルス列への切り換えに特定な時間間隔を要した。間隔
を置かずに切換えることは、過渡的切り換え動作が減衰
した後でなければ切り換えが実行されないという技術上
の理由から可能でなかつた。しかしながら、持ち時間中
に、新しい状態が、試験されるストレージ製品に生じう
るという欠点が存在する。これらの欠点を除く為に、本
発明の目的は間隔を置かず相互につながつたパルス列を
発生する装置を提供することてある。
更に本発明の目的は試験されるストレージ製品に対し汎
用的に用いることができる装置を提供することである。
用的に用いることができる装置を提供することである。
第4図は試験目的の為にストレージ製品21に印加され
るパルスパターン、すなわちプログラム可能なパルスパ
ターンの発生装置によつて発生されたパルスパターンを
非常に概略的な形式で示している。連続的なパルス列が
1本あるいは複数本の線でストレージに印加される。パ
ルスパターン発生装置はプログラム可能であるから、異
なるストレージに対し、汎用的に用いられる。下記で詳
細に参照されるが、使用されたプログラム言語は夫々の
命令に時間標識を含ませることを許容する。上記時間は
、起りうるブランチ操作を有した上記命令(1プロダク
トサイクル)が実行される間の全時間を示している。言
い換えれば、上記時間は次の命令開始までの間隔を示し
ている。第5図は間隔を置かず相互につながつたパルス
列の発生を説明する為に、異なる時間でのパルスを概略
的にあられしている。第5図に示されたパルス11と1
2がストレージ製品に印加される。プロダクトサイクル
と称される時間Tvはたとえばあるパルスの後縁から次
のパルスの後縁までの時間から成る。プロダクトサイク
ルの特定な条件の基に、あるパルス列から次のパルス列
への切り換えが間隔を置かずに成されると仮定しよう。
しかしながら、このような条件がプロダクトサイクル終
了前の時間TcOnですでに出現する。上記プロダクト
サイクルは別のプロダクトサイクルにより間隔を置かず
に続けられなければならない。従つて、時間Tc.r.
で次のパルス列の発生がすでに用意されていなければな
らない。第6図力材既略的図で更に詳細に示している。
るパルスパターン、すなわちプログラム可能なパルスパ
ターンの発生装置によつて発生されたパルスパターンを
非常に概略的な形式で示している。連続的なパルス列が
1本あるいは複数本の線でストレージに印加される。パ
ルスパターン発生装置はプログラム可能であるから、異
なるストレージに対し、汎用的に用いられる。下記で詳
細に参照されるが、使用されたプログラム言語は夫々の
命令に時間標識を含ませることを許容する。上記時間は
、起りうるブランチ操作を有した上記命令(1プロダク
トサイクル)が実行される間の全時間を示している。言
い換えれば、上記時間は次の命令開始までの間隔を示し
ている。第5図は間隔を置かず相互につながつたパルス
列の発生を説明する為に、異なる時間でのパルスを概略
的にあられしている。第5図に示されたパルス11と1
2がストレージ製品に印加される。プロダクトサイクル
と称される時間Tvはたとえばあるパルスの後縁から次
のパルスの後縁までの時間から成る。プロダクトサイク
ルの特定な条件の基に、あるパルス列から次のパルス列
への切り換えが間隔を置かずに成されると仮定しよう。
しかしながら、このような条件がプロダクトサイクル終
了前の時間TcOnですでに出現する。上記プロダクト
サイクルは別のプロダクトサイクルにより間隔を置かず
に続けられなければならない。従つて、時間Tc.r.
で次のパルス列の発生がすでに用意されていなければな
らない。第6図力材既略的図で更に詳細に示している。
夫々のパルス列が特定なプログラム部分たとえばコンピ
ュータストレージ1の異なる位置に記憶されるプログラ
ム部分Pl,P2によつて発生されると仮定しよう。も
しもパルス列の発生がたとえばプログラム部分P1によ
り発生されたパルス列がプログラム部分P2により発生
された次のパルス列に直接的に続けられるならば、プロ
グラムはプログラム部分P1からプログラム部分P2へ
ブランチしなければならない。上記ブランチはブランチ
操作と称されるものによつて実行される。それ故に、時
間T。Onで、もしも次のパルス列がたとえばプログラ
ム部分P2によつて発生されなければならない条件が存
在するならば、プログラム部分P2へのブランチ操作は
すでにこの時間TcO。で実行される。そこで、次の2
つの操作が時間T.x,nで動くように平行的に実行さ
れる。1更にパルス12の実行。
ュータストレージ1の異なる位置に記憶されるプログラ
ム部分Pl,P2によつて発生されると仮定しよう。も
しもパルス列の発生がたとえばプログラム部分P1によ
り発生されたパルス列がプログラム部分P2により発生
された次のパルス列に直接的に続けられるならば、プロ
グラムはプログラム部分P1からプログラム部分P2へ
ブランチしなければならない。上記ブランチはブランチ
操作と称されるものによつて実行される。それ故に、時
間T。Onで、もしも次のパルス列がたとえばプログラ
ム部分P2によつて発生されなければならない条件が存
在するならば、プログラム部分P2へのブランチ操作は
すでにこの時間TcO。で実行される。そこで、次の2
つの操作が時間T.x,nで動くように平行的に実行さ
れる。1更にパルス12の実行。
2プログラム部分P2へのブランチ命令の実行。
下記で詳細に記述されるが如く、パルス12の終了後、
時間TOからプログラム部分P2により発生される新し
いパルス列が間隔を置かずに続くように、ブランチ命令
がすでに実行されていると仮定しよう。
時間TOからプログラム部分P2により発生される新し
いパルス列が間隔を置かずに続くように、ブランチ命令
がすでに実行されていると仮定しよう。
言い換えれば、ブランチ操作の実行中に、この古いプロ
ダクトサイクルがその終端へ向つて実行を続ける。第7
図の簡略図で示すように、発振器22及び23は先行技
術に従い、2つの連続的パルス列を発生させる為に用い
られる。
ダクトサイクルがその終端へ向つて実行を続ける。第7
図の簡略図で示すように、発振器22及び23は先行技
術に従い、2つの連続的パルス列を発生させる為に用い
られる。
両方の発振器がスイッチ24によつて接続出力線に選択
的に接続されてると仮定しよう。しかしながら、発振器
22によつて発生されるパルス列が発振器23によつて
発生されるパルス列に切り換えられる場合に、通常過渡
的切り換え動作が生じる。常に生じる過渡的切り換え動
作の減衰後に切り換え瞬時のある特定な正確な時間を定
めることは不可能である。上記不利な点は本発明によつ
て開示され且つ第8図で非常に簡略化して示されている
ようなシステムには観察されない。第3図は3つの連続
的パルス列すなわちパルス列1,2及び3を示している
。
的に接続されてると仮定しよう。しかしながら、発振器
22によつて発生されるパルス列が発振器23によつて
発生されるパルス列に切り換えられる場合に、通常過渡
的切り換え動作が生じる。常に生じる過渡的切り換え動
作の減衰後に切り換え瞬時のある特定な正確な時間を定
めることは不可能である。上記不利な点は本発明によつ
て開示され且つ第8図で非常に簡略化して示されている
ようなシステムには観察されない。第3図は3つの連続
的パルス列すなわちパルス列1,2及び3を示している
。
パルス列のそれぞれのプログラムサイクルは同じ長さで
ある。
ある。
1プログラムサイクルは下方向に沿つて時間軸上に完全
に整列されたあるマークから次のマークへと延びている
。
に整列されたあるマークから次のマークへと延びている
。
第3図では、たとえはプログラム部分P1 (第6図)
によつて発生されたパルス列1が全部で3つの80ナノ
秒のプログラムサイクルから成り、プログラム部分P2
(第6図)によつて発生されたパルス列2が全部で17
0ナノ秒の2つのプログラムサイクルから成り、パルス
列3が50ナノ秒の2つのプログラムサイクルから成つ
ている。同一パルス列内の夫々のプログラムサイクルに
パルスが生じる。上記パルスの開始は上記サイクルの開
始と一致させることができるが、前もつて定めたデータ
に依存して上記パルスの開始は上記サイクル開始から所
定期間後にはじめて出現することも可能である。上記パ
ルスの長さは前もつて定めたデータに基き変更できるが
、全てのパルスはあるパルス列及び同じパルス列の全て
のプログラムサイクルで同じ関係にある。より良く理解
してもらう為に、第1図及び第8図の夫々の回路がプロ
グラムサイクルの開始を発生させる為に用いられるのに
対し、プログラムサイクルのパルスは下記に参照される
通常の手段で発生されることを述べておく。
によつて発生されたパルス列1が全部で3つの80ナノ
秒のプログラムサイクルから成り、プログラム部分P2
(第6図)によつて発生されたパルス列2が全部で17
0ナノ秒の2つのプログラムサイクルから成り、パルス
列3が50ナノ秒の2つのプログラムサイクルから成つ
ている。同一パルス列内の夫々のプログラムサイクルに
パルスが生じる。上記パルスの開始は上記サイクルの開
始と一致させることができるが、前もつて定めたデータ
に依存して上記パルスの開始は上記サイクル開始から所
定期間後にはじめて出現することも可能である。上記パ
ルスの長さは前もつて定めたデータに基き変更できるが
、全てのパルスはあるパルス列及び同じパルス列の全て
のプログラムサイクルで同じ関係にある。より良く理解
してもらう為に、第1図及び第8図の夫々の回路がプロ
グラムサイクルの開始を発生させる為に用いられるのに
対し、プログラムサイクルのパルスは下記に参照される
通常の手段で発生されることを述べておく。
本発明によつて開示されるような回路は主に発振器19
と、ダウン・カウンタ3と、ストレージ1とから成る。
と、ダウン・カウンタ3と、ストレージ1とから成る。
この接続では、ダウン・カウンタ3にただ1つの発振器
を接続するだけでよい。ダウン・カウンタ3はストレー
ジ1のアドレスされ.た場所からこのカウンタに読み出
される開始カウントで動き始める。上記開始カウントは
プログラムされた命令に与えられた夫々の時間に相当す
る。ダウン・カウンテイングがたとえば100メガサイ
クル/秒の周波数で実行される。上記カウン.トパルス
は10ナノ秒に間隔づけられている。ダウン・カウンテ
イングの際、カウントゼロに達する前に、特定な措置が
とられる。例えば、カウントゼロに至るカウンテイング
終了の20ナノ秒前に、新しい開始カウントをダウン・
カウンタヘロードする準備がなされる。新しい開始カウ
ントは、もしも古いカウンテイング動作が続けられるな
らば、カウントゼロに達すると同時にダウン・カウンタ
にロードされる。それ故に、新しい開始カウントを受け
入れる為の何らの持ち時間も要することなしに、新しい
ダウン・カウンテイング動作がギャップレス的に古いダ
ウン・カウンテイング動作に続けられることが保証され
ている。たとえば上記古いダウン●カウンテイング動作
がカウントゼロに向つて続けられる時に、そしてもしも
次に新しい開始カウントがこのカウンタにロードされる
ならば、上記古い動作の後に続く新しいダウン・カウン
テイング動作に、このような持ち時間゛が生じる。時間
のかかるブランチ動作を考慮して、ブランチ条件がある
かどうかを見つけ出す為に、例えばカウンテイング動作
終了の50ナノ秒前に検査が行われる。
を接続するだけでよい。ダウン・カウンタ3はストレー
ジ1のアドレスされ.た場所からこのカウンタに読み出
される開始カウントで動き始める。上記開始カウントは
プログラムされた命令に与えられた夫々の時間に相当す
る。ダウン・カウンテイングがたとえば100メガサイ
クル/秒の周波数で実行される。上記カウン.トパルス
は10ナノ秒に間隔づけられている。ダウン・カウンテ
イングの際、カウントゼロに達する前に、特定な措置が
とられる。例えば、カウントゼロに至るカウンテイング
終了の20ナノ秒前に、新しい開始カウントをダウン・
カウンタヘロードする準備がなされる。新しい開始カウ
ントは、もしも古いカウンテイング動作が続けられるな
らば、カウントゼロに達すると同時にダウン・カウンタ
にロードされる。それ故に、新しい開始カウントを受け
入れる為の何らの持ち時間も要することなしに、新しい
ダウン・カウンテイング動作がギャップレス的に古いダ
ウン・カウンテイング動作に続けられることが保証され
ている。たとえば上記古いダウン●カウンテイング動作
がカウントゼロに向つて続けられる時に、そしてもしも
次に新しい開始カウントがこのカウンタにロードされる
ならば、上記古い動作の後に続く新しいダウン・カウン
テイング動作に、このような持ち時間゛が生じる。時間
のかかるブランチ動作を考慮して、ブランチ条件がある
かどうかを見つけ出す為に、例えばカウンテイング動作
終了の50ナノ秒前に検査が行われる。
もしブランチ条件があるなら、このブランチ動作がこの
時既に開始され古いカウンテイング動作終了前の時間に
新しい開始カウントを与え、新しい開始カウントは古い
ダウン・カウントサイクルの最後の時刻にカウンタにロ
ードされる。この回路の詳細が第1図に示され且つ下記
で詳細に述べられよう。サイクル開始の為のパルスはダ
ウン・カウンタから供給される。さしあたり、サイクル
開始を固定する為に、急転的サイクル開始パルスが線1
5に発生されることだけをここで指摘しておこう。
時既に開始され古いカウンテイング動作終了前の時間に
新しい開始カウントを与え、新しい開始カウントは古い
ダウン・カウントサイクルの最後の時刻にカウンタにロ
ードされる。この回路の詳細が第1図に示され且つ下記
で詳細に述べられよう。サイクル開始の為のパルスはダ
ウン・カウンタから供給される。さしあたり、サイクル
開始を固定する為に、急転的サイクル開始パルスが線1
5に発生されることだけをここで指摘しておこう。
1サイクルの実行後、新しいサイクル開始パルスが再び
発生され、全てのサイクルが間隔を置かず続けられる。
発生され、全てのサイクルが間隔を置かず続けられる。
サイクル開始パルスの前縁から開始する場合に、前もつ
て定めた時間関係にあるパルスがたとえば第3図で示す
ように通常の手段によつて1サイクル中に発生される。
第1図はアドレス可能なストレージ1から開始カウント
をダウン・カウンタ3にロードする回路と、特定なりウ
ントを決定する検出回路とを概略的に示している。上記
検出回路は又ストレージ1から新しい開始カウントをダ
ウン・カウンタ3にロードする準備を行う為に用いられ
る。この再ロードはカウンタ3をダウン・カウンテイン
グする際、カウントゼロに成ると同時に実行される。ク
ロック・ライン9及びライン10によつて、カウンタ3
は、たとえば100メガサイクル/秒のパルスを受ける
。上記カウンタは、たとえば8ビットの2進カウンタて
構成できる。力うンタはカウント1,2,3,4,5,
6,7,8の為の出力線4を有している。カウント2の
出力部を除き、カウンタ3の全ての出力部がアンドゲー
ト5に接続されている。そこに次の相関関係、すなわち
2進の0=アンド回路に対し負の入力信号;2進の1=
アンド回路に対して正の入力信号がある。アンドゲート
5は全部の信号入力線が負である場合にオンであり、且
つその動作中に、カウンタ3が2のカウントに達したも
のとする。
て定めた時間関係にあるパルスがたとえば第3図で示す
ように通常の手段によつて1サイクル中に発生される。
第1図はアドレス可能なストレージ1から開始カウント
をダウン・カウンタ3にロードする回路と、特定なりウ
ントを決定する検出回路とを概略的に示している。上記
検出回路は又ストレージ1から新しい開始カウントをダ
ウン・カウンタ3にロードする準備を行う為に用いられ
る。この再ロードはカウンタ3をダウン・カウンテイン
グする際、カウントゼロに成ると同時に実行される。ク
ロック・ライン9及びライン10によつて、カウンタ3
は、たとえば100メガサイクル/秒のパルスを受ける
。上記カウンタは、たとえば8ビットの2進カウンタて
構成できる。力うンタはカウント1,2,3,4,5,
6,7,8の為の出力線4を有している。カウント2の
出力部を除き、カウンタ3の全ての出力部がアンドゲー
ト5に接続されている。そこに次の相関関係、すなわち
2進の0=アンド回路に対し負の入力信号;2進の1=
アンド回路に対して正の入力信号がある。アンドゲート
5は全部の信号入力線が負である場合にオンであり、且
つその動作中に、カウンタ3が2のカウントに達したも
のとする。
このカウント2で、アンドゲート5は出力信号を供給す
る。なぜならばアンドゲート5の全ての入力線が負てあ
り且つカウント2の出力線がアンドゲートに接続されて
ないからである。この時、線8も又負であると仮定しよ
う。その時、アンドゲートの出力線6にあられれた信号
がフリップフロップ7を準備する。フリップフロップ7
は、クロック線9に次のカウンテイングパルスの正の前
縁があられれると線8の出力部Qに出力信号を供給し、
あるいは線12の出力部互にこの出力信号の反転信号を
供給する。線8の信号に基いて、アンドゲート5は非導
通にされるのに対し、線12の信号が線9,10にあら
れれた次のクロック信号で、ストレージ1から新しい開
始カウントをダウン・カウンタに受けとらせる。
る。なぜならばアンドゲート5の全ての入力線が負てあ
り且つカウント2の出力線がアンドゲートに接続されて
ないからである。この時、線8も又負であると仮定しよ
う。その時、アンドゲートの出力線6にあられれた信号
がフリップフロップ7を準備する。フリップフロップ7
は、クロック線9に次のカウンテイングパルスの正の前
縁があられれると線8の出力部Qに出力信号を供給し、
あるいは線12の出力部互にこの出力信号の反転信号を
供給する。線8の信号に基いて、アンドゲート5は非導
通にされるのに対し、線12の信号が線9,10にあら
れれた次のクロック信号で、ストレージ1から新しい開
始カウントをダウン・カウンタに受けとらせる。
このロード操作は現カウントパルスによつてカウンタ3
の古い内容が値ゼロにカウントダウンされると同時に実
行される。新しい出力値をロードした後、そこで再び新
しいダウン・カウンテイング動作が始まる。
の古い内容が値ゼロにカウントダウンされると同時に実
行される。新しい出力値をロードした後、そこで再び新
しいダウン・カウンテイング動作が始まる。
線8の信号は線6に出力信号があるかぎり保持されてい
る。しかしながら、この状態はカウント2についてだけ
満足される。パルス列を開始する実際の時間はフリップ
フロップ7のO一出力部から12へ供給される。
る。しかしながら、この状態はカウント2についてだけ
満足される。パルス列を開始する実際の時間はフリップ
フロップ7のO一出力部から12へ供給される。
接続線13が線12からフリップフロップ14へ接続さ
れている。線13に信号があられれるとフリップフロッ
プ14の出力は(電圧ステップで)作動される。この電
圧ステップは線15が再び不動作にされるように線16
、遅延装置17及び線18を経てフィードバックされる
。このように、遅延装置17により生じた短時間のサイ
クル開始パルスは線15で用いられる。
れている。線13に信号があられれるとフリップフロッ
プ14の出力は(電圧ステップで)作動される。この電
圧ステップは線15が再び不動作にされるように線16
、遅延装置17及び線18を経てフィードバックされる
。このように、遅延装置17により生じた短時間のサイ
クル開始パルスは線15で用いられる。
(1サイクル中のパルスの発生に関しては第9図参照。
)1サイクルの終了後、新しいサイクル開始パルスの発
生が間隔を置かずに続く。
)1サイクルの終了後、新しいサイクル開始パルスの発
生が間隔を置かずに続く。
サイクルの接続期間はプログラム命令によつて前もつて
定められ、開始カウントとしてストレージ1で利用可能
である。これらの回路動作によつて、カウンタの古い内
容が値ゼロに成ると同時に新しい開始カウントがカウン
タ3にロードされることが確実に行われる。
定められ、開始カウントとしてストレージ1で利用可能
である。これらの回路動作によつて、カウンタの古い内
容が値ゼロに成ると同時に新しい開始カウントがカウン
タ3にロードされることが確実に行われる。
パルス発生装置の具体的な実施例ではたとえば100メ
ガサイクル/秒の発振器が10ナノ秒の夫々のパルス間
隔をもたらす。それ故に、カウント2に対する検査はカ
ウンタが新しいロード動作を開始する為に、ダウン・カ
ウンテイング動作実行の20ナノ秒前にこのカウンタが
検査されることを意味する。
ガサイクル/秒の発振器が10ナノ秒の夫々のパルス間
隔をもたらす。それ故に、カウント2に対する検査はカ
ウンタが新しいロード動作を開始する為に、ダウン・カ
ウンテイング動作実行の20ナノ秒前にこのカウンタが
検査されることを意味する。
ストレージ1でブランチ操作(プログラムのブランチ)
がある場合、このプラン操作実行の為にたとえば50ナ
ノ秒の期間が必要であるという考慮がされなければなら
ない。
がある場合、このプラン操作実行の為にたとえば50ナ
ノ秒の期間が必要であるという考慮がされなければなら
ない。
このことは、ダウン・カウンテイング動作の約50ナノ
秒前にこのようなブランチ条件が現実に存在するかどう
かを見つけ出されなければならないことを意味する。も
しそうなら、このブランチ操作はこの時にもう開始され
、ブランチ操作の結果カウンタに供給される新しい開始
カウントが古いダウン・カウンテイング動作実行前に利
用可能であり、次いでカウンタにロードされるようにし
なければならない。従つて、検査が前もつて設定された
時間に成されなければならず、ブランチ条件を満たす必
要があるか否かを見出すために上記検出回路に類似した
いろいろな検出器回路(図示せず)によつて、たとえば
ダウン◆カウンテイング実行の50ナノ秒前すなわち本
例ては5カウントに相当する時間前に検査がなされなけ
ればならない。
秒前にこのようなブランチ条件が現実に存在するかどう
かを見つけ出されなければならないことを意味する。も
しそうなら、このブランチ操作はこの時にもう開始され
、ブランチ操作の結果カウンタに供給される新しい開始
カウントが古いダウン・カウンテイング動作実行前に利
用可能であり、次いでカウンタにロードされるようにし
なければならない。従つて、検査が前もつて設定された
時間に成されなければならず、ブランチ条件を満たす必
要があるか否かを見出すために上記検出回路に類似した
いろいろな検出器回路(図示せず)によつて、たとえば
ダウン◆カウンテイング実行の50ナノ秒前すなわち本
例ては5カウントに相当する時間前に検査がなされなけ
ればならない。
この特定な時間はシステムのハードウェアにより前もつ
て定められる。これにより、ダウン・カウンテイング動
作終了までの残りの時間にブランチ操作が実行されるこ
とが保証される。直列に並べられたバッファを有したス
トレージから成る装置が試験されると仮定しよう。
て定められる。これにより、ダウン・カウンテイング動
作終了までの残りの時間にブランチ操作が実行されるこ
とが保証される。直列に並べられたバッファを有したス
トレージから成る装置が試験されると仮定しよう。
この装・置(以下製品と称す)は前もつて定められたサ
イクル時間の異なるパルス列あるいはパルスそれぞれで
試験されなければならない。上記異なるパルス列は間隔
を置かず相互に続けられなければならない。上記製品試
験の際、上記バッファは間隔を置かず相互に続けられた
パルス列で連続してロードされる。
イクル時間の異なるパルス列あるいはパルスそれぞれで
試験されなければならない。上記異なるパルス列は間隔
を置かず相互に続けられなければならない。上記製品試
験の際、上記バッファは間隔を置かず相互に続けられた
パルス列で連続してロードされる。
次いで、上記バッファ情報はストレージの前もつて定め
た特定なアドレスに並列的に書き込まれる。続いて、上
記バッファは再びロードされ且つバッファの内容はその
時までに変更されているストレージアドレスに書き込ま
れる。これらの2つの動作の間に、上記バッファあるい
はストレージの内容は上記製品が最小値と比較して正し
く動作しているかどうかを見つけ出す為に読み出される
。異なる連続的パルス列の周期的列を発生させる為にプ
ログラムが用いられている。
た特定なアドレスに並列的に書き込まれる。続いて、上
記バッファは再びロードされ且つバッファの内容はその
時までに変更されているストレージアドレスに書き込ま
れる。これらの2つの動作の間に、上記バッファあるい
はストレージの内容は上記製品が最小値と比較して正し
く動作しているかどうかを見つけ出す為に読み出される
。異なる連続的パルス列の周期的列を発生させる為にプ
ログラムが用いられている。
この目的の為にきわめて良好に用いられるプログラム言
語は種々のステートメントから成る。プログラム●ステ
ートメントは次の概略的構成している。1・・・・・ア
ドレス ■◆◆●◆◆◆オペレiシヨンコ「ド ■・・・・・・コンデイシヨン ■・・・・・・サイクル時間 ■・・・・・・アドレス修正 ■・・・・・・コントロールビット ■・・・・・・データ ■・・・・・・タイミング アドレスI:上記アドレスはプログラムのブラ
ンチを示している。
語は種々のステートメントから成る。プログラム●ステ
ートメントは次の概略的構成している。1・・・・・ア
ドレス ■◆◆●◆◆◆オペレiシヨンコ「ド ■・・・・・・コンデイシヨン ■・・・・・・サイクル時間 ■・・・・・・アドレス修正 ■・・・・・・コントロールビット ■・・・・・・データ ■・・・・・・タイミング アドレスI:上記アドレスはプログラムのブラ
ンチを示している。
このアドレスの 基に、特定なパルス列を発生さ
せる パートプログラムがストアされてい
る。アドレス■:上記オペレーションコードはとり
わけプログラムがストレージで直接 的に
続くアドレスで実行されるかど うか、あるいは
ブランチ動作がされ るかどうかを示している。
せる パートプログラムがストアされてい
る。アドレス■:上記オペレーションコードはとり
わけプログラムがストレージで直接 的に
続くアドレスで実行されるかど うか、あるいは
ブランチ動作がされ るかどうかを示している。
アドレス■:上記コンデイシヨンはオペレーシ.
ヨンコードが実行される場合、たと えば特定
なストレージアドレスに達 した場合、たとえば
特定なエラーが 試験されるストレージにあられ
れた 場合に指示する。
ヨンコードが実行される場合、たと えば特定
なストレージアドレスに達 した場合、たとえば
特定なエラーが 試験されるストレージにあられ
れた 場合に指示する。
アドレス■:上記サイクル時間はパルスサイク
ルの期間を指示する。
ルの期間を指示する。
(これらのデ ータは具体的な製品によつて与え
ら れる。)アドレス■:上記アドレス修正はた
とえば1周 期ごとにバッファアドレスあるいは
ストレージアドレスを増加させるデ ー
タを与える。
ら れる。)アドレス■:上記アドレス修正はた
とえば1周 期ごとにバッファアドレスあるいは
ストレージアドレスを増加させるデ ー
タを与える。
アドレス■:上記コントロールビットはたとえ
ばバッファあるいはストレージへの 書き込み又
はバッファあるいはスト レージからの読み出し
をそれぞれ制 御する。
ばバッファあるいはストレージへの 書き込み又
はバッファあるいはスト レージからの読み出し
をそれぞれ制 御する。
アドレス■:上記データはサイクル中に書き込
むデータパターンの情報をあられ す。
むデータパターンの情報をあられ す。
アドレス■:上記“゜タイミング゛は製品にかけ
られるパルスの長さとパルス間隔の 情報を与
える。
られるパルスの長さとパルス間隔の 情報を与
える。
線15の開始パルスはパルスパターンを開始させ、その
パルスパターンのデータは具体的な製品によつて前もつ
て定められ且つパルス幅及びパルス間隔に従うパルスパ
ターンのパルス傾向はサイクル時間の間にこれらのデー
タに従つて発生される。
パルスパターンのデータは具体的な製品によつて前もつ
て定められ且つパルス幅及びパルス間隔に従うパルスパ
ターンのパルス傾向はサイクル時間の間にこれらのデー
タに従つて発生される。
更に詳細が第9図に関連して与えられている。言い換え
れば、発生されるサイクル開始パルスはフリップフロッ
プ14の線15にかけられる。
れば、発生されるサイクル開始パルスはフリップフロッ
プ14の線15にかけられる。
サイクル開始パルスはプログラムされた命令に従い、第
1図に関連して記述された回路によつて発生される。夫
々のパルス列の傾向は試験されるストレージ製品によつ
て前もつて定められ、夫々のプログラム命令で考慮され
なければならない。第2図は概略的に多数のカウントパ
ルスを示している。カウントパルス上に付された数字は
夫々のカウントパルスによつてもたらされたカウントに
与える。ダウン●カウンタ動作に従つて左にある3つの
パルスが3,2,1のカウントを生じる。更に右への次
のパルスカ幼ウントゼロを生じる。しかしながら、第1
図の回路はその時に新しい開始カウントがダウン・カウ
ンタに既にロードされるので実際にはゼロ・カウントに
達しないように設計されている。第2図のパルスを表示
した横座標は時間を示している。この図で与えられた時
間Tl,t2,t3,t4及びT5は第1図に従つた回
路の具体的な実施例に関連して考慮されなければならな
い。それ故に、カウント3からカウント2をもたらすカ
ウンテイングパルスがタウン・カウンタに印加される時
が時間t1である。カウンタ自身によつてもたらされる
遅延の為に、カウント2は時間T2でカウンタ出力に生
じる。時間T3で、信号はアンドゲート自身の遅延によ
りアンドゲート5の出力に生じ、カウント2に達したこ
とを示す。
1図に関連して記述された回路によつて発生される。夫
々のパルス列の傾向は試験されるストレージ製品によつ
て前もつて定められ、夫々のプログラム命令で考慮され
なければならない。第2図は概略的に多数のカウントパ
ルスを示している。カウントパルス上に付された数字は
夫々のカウントパルスによつてもたらされたカウントに
与える。ダウン●カウンタ動作に従つて左にある3つの
パルスが3,2,1のカウントを生じる。更に右への次
のパルスカ幼ウントゼロを生じる。しかしながら、第1
図の回路はその時に新しい開始カウントがダウン・カウ
ンタに既にロードされるので実際にはゼロ・カウントに
達しないように設計されている。第2図のパルスを表示
した横座標は時間を示している。この図で与えられた時
間Tl,t2,t3,t4及びT5は第1図に従つた回
路の具体的な実施例に関連して考慮されなければならな
い。それ故に、カウント3からカウント2をもたらすカ
ウンテイングパルスがタウン・カウンタに印加される時
が時間t1である。カウンタ自身によつてもたらされる
遅延の為に、カウント2は時間T2でカウンタ出力に生
じる。時間T3で、信号はアンドゲート自身の遅延によ
りアンドゲート5の出力に生じ、カウント2に達したこ
とを示す。
時間T4で、カウント信号とアンドゲート5の出力信号
の両方がフリップフロップ7に生じる。
の両方がフリップフロップ7に生じる。
それ故に、フリップフロップが出力部に信号を供給する
ための条件が満足される。上記フリップフロップ7の出
力は時間T5で有効となる。
ための条件が満足される。上記フリップフロップ7の出
力は時間T5で有効となる。
T4とT5の間の時間誤差はフリップフロップ7自身に
よつてもたらされる遅延によるものである。このフリッ
プフロップ7の出力信号は新しい開始カウントを再びロ
ードする為にカウンタを準備する為に用いられる。第9
図はサイクル開始パルスの発生後、パルスを発生する回
路を示している。
よつてもたらされる遅延によるものである。このフリッ
プフロップ7の出力信号は新しい開始カウントを再びロ
ードする為にカウンタを準備する為に用いられる。第9
図はサイクル開始パルスの発生後、パルスを発生する回
路を示している。
第1図の線15に発生されたサイクル開始パルスは現サ
イクルの際、その前縁と時間的に関連して前もつて定め
た幅とサイクル開始パルスの前縁から前もつて定めた距
離とを有したパルスを発生させる為に用いられる。この
作業は新規でなく、本問題を解決する為に用いられた手
段も又通常のことであるから本発明の目的でもない。し
かし十分理解してもらう為に、第9図の実施例は1プロ
グラムサイクル内に1パルスを発生させる方法を示して
いる。サイクル開始パルスの前縁がサイクル開始をあら
れすと仮定しよう。サイクル開始パルスが遅延装置25
への線15に印加される。
イクルの際、その前縁と時間的に関連して前もつて定め
た幅とサイクル開始パルスの前縁から前もつて定めた距
離とを有したパルスを発生させる為に用いられる。この
作業は新規でなく、本問題を解決する為に用いられた手
段も又通常のことであるから本発明の目的でもない。し
かし十分理解してもらう為に、第9図の実施例は1プロ
グラムサイクル内に1パルスを発生させる方法を示して
いる。サイクル開始パルスの前縁がサイクル開始をあら
れすと仮定しよう。サイクル開始パルスが遅延装置25
への線15に印加される。
上記遅延装置はその出力部で複数本の出力線32aから
32nを有している。これらの出力線の1本づつが特定
な遅延時間を付帯している。複数本のこれらの出力線3
2aから32nのマルチプレクサー回路27につながれ
ている。上記マルチプレクサー回路27は遅延装置25
の出力線が特定な遅延時間の為に選択されるところの命
令をプログラム可能なストレージ30から線38によつ
て受けとる。選択された上記遅延時間の線がマルチプレ
クサー回路からその出力部33へ切換えられ、しかもフ
リップフロップ29に印加される。サイクル開始パルス
の遅延された前縁の出現によつて、フリップフロップ2
9はその出力部37で電圧ステップを存在させる為に切
りかわる。この電圧ステップが1サイクルでのパルスの
出発点をあられす。線37のパルス終了は次の動作で決
定される。マルチプレクサー27の出力部33から線3
4が第2の遅延装置26につながれている。
32nを有している。これらの出力線の1本づつが特定
な遅延時間を付帯している。複数本のこれらの出力線3
2aから32nのマルチプレクサー回路27につながれ
ている。上記マルチプレクサー回路27は遅延装置25
の出力線が特定な遅延時間の為に選択されるところの命
令をプログラム可能なストレージ30から線38によつ
て受けとる。選択された上記遅延時間の線がマルチプレ
クサー回路からその出力部33へ切換えられ、しかもフ
リップフロップ29に印加される。サイクル開始パルス
の遅延された前縁の出現によつて、フリップフロップ2
9はその出力部37で電圧ステップを存在させる為に切
りかわる。この電圧ステップが1サイクルでのパルスの
出発点をあられす。線37のパルス終了は次の動作で決
定される。マルチプレクサー27の出力部33から線3
4が第2の遅延装置26につながれている。
上記遅延装置26は異なる遅延時間を付帯される複数本
の出力線35aから35nを有している。これらの線は
線39によつてプログラム可能なストレーJジ30に相
互接続される第2のマルチプレクサー回路28につなが
れる。線33のサイクル開始パルスの遅延された前縁の
出現によつて、この前縁は線34を通り、遅延装置26
を経て、線39によつてマルチプレクサー回路28のプ
ログラム可・能なストレージ30によつて前もつて定め
られた値へ導かれる。マルチプレクサー回路28の出力
部で、サイクル開始パルスの更に遅延された前縁が線3
6にかけられる。サイクル開始パルスのこの前縁は次に
線37の出力部で、電圧ステップを”消し、且つそれ故
にあるサイクル時間の間にパルスの発生を終了させるフ
リップフロップ29の線36に印加される。要約するに
、ストレージ30によつて■1及びV2の遅延時間のそ
れぞれ選択をプログラム化した為にパルスは前もつて定
めた幅とサイクル開始パルスの前縁から前もつて定めた
距離で発生される。
の出力線35aから35nを有している。これらの線は
線39によつてプログラム可能なストレーJジ30に相
互接続される第2のマルチプレクサー回路28につなが
れる。線33のサイクル開始パルスの遅延された前縁の
出現によつて、この前縁は線34を通り、遅延装置26
を経て、線39によつてマルチプレクサー回路28のプ
ログラム可・能なストレージ30によつて前もつて定め
られた値へ導かれる。マルチプレクサー回路28の出力
部で、サイクル開始パルスの更に遅延された前縁が線3
6にかけられる。サイクル開始パルスのこの前縁は次に
線37の出力部で、電圧ステップを”消し、且つそれ故
にあるサイクル時間の間にパルスの発生を終了させるフ
リップフロップ29の線36に印加される。要約するに
、ストレージ30によつて■1及びV2の遅延時間のそ
れぞれ選択をプログラム化した為にパルスは前もつて定
めた幅とサイクル開始パルスの前縁から前もつて定めた
距離で発生される。
ストレージ1(第1図参照)のプログラムと並列的に実
行されるこのプログラム可能なストレージ30は、パル
スの発生が常にサイクル開始パルスを基準にしているの
で、夫々のパルス列と完全な時間的同期をとるうえで絶
対必要と成る。ストレージ1のこのデータによつて、サ
イクル開始時間が決定され且つストレージ30のデータ
によつて夫々のサイクルで発生されるパルスの値が決定
される。これらの値はパルスの幅とサイクル開始パルス
からのパルスの距離とに関して変えることができる。
行されるこのプログラム可能なストレージ30は、パル
スの発生が常にサイクル開始パルスを基準にしているの
で、夫々のパルス列と完全な時間的同期をとるうえで絶
対必要と成る。ストレージ1のこのデータによつて、サ
イクル開始時間が決定され且つストレージ30のデータ
によつて夫々のサイクルで発生されるパルスの値が決定
される。これらの値はパルスの幅とサイクル開始パルス
からのパルスの距離とに関して変えることができる。
第1図は間隔を置かず相互につながつたパルス列を発生
する概略的回路図。 第2図は第1図に従つた回路動作に関連づけた特定な時
間でのカウントパルスを示す概略的図。第3図は連続な
パルス列を示す概略的図。第4図はパルスパターン発生
装置とストレージ製品を示す概略的図。第5図は間隔を
置かず相互につながつたパルス列の発生を理解できるよ
うに夫々の時間でのパルス傾向を示す概略的図。第6図
は異なるパルス列を発生するプログラム部分を有したス
トレージを示す概略的図。第7図は2つの発振器を用い
てパルス列を発生する回路を示す概略的図。第8図はダ
ウン・カウンタによつて間隔を置かず相互につながつた
パルス列を発生する原理を示す非常に簡略化した回路図
。第9図はサイクル開始パルスの出現後にパルスを発生
する概略的回路図。1・・・・・ストレージ、3・・・
・・・ダウン◆カウンタ、5・・・・・・アンドゲート
、7,14・・・・フリップフロップ、17・・・・・
遅延装置、9A・・・・・・クロック。
する概略的回路図。 第2図は第1図に従つた回路動作に関連づけた特定な時
間でのカウントパルスを示す概略的図。第3図は連続な
パルス列を示す概略的図。第4図はパルスパターン発生
装置とストレージ製品を示す概略的図。第5図は間隔を
置かず相互につながつたパルス列の発生を理解できるよ
うに夫々の時間でのパルス傾向を示す概略的図。第6図
は異なるパルス列を発生するプログラム部分を有したス
トレージを示す概略的図。第7図は2つの発振器を用い
てパルス列を発生する回路を示す概略的図。第8図はダ
ウン・カウンタによつて間隔を置かず相互につながつた
パルス列を発生する原理を示す非常に簡略化した回路図
。第9図はサイクル開始パルスの出現後にパルスを発生
する概略的回路図。1・・・・・ストレージ、3・・・
・・・ダウン◆カウンタ、5・・・・・・アンドゲート
、7,14・・・・フリップフロップ、17・・・・・
遅延装置、9A・・・・・・クロック。
Claims (1)
- 1 パルス列のサイクルを決める開始カウントを記憶す
るストレージと、所定の周波数を有するクロックを発生
する発振器と、前記クロックによつてカウントダウンさ
れ、第1の特定カウントに達すると同時に前記ストレー
ジから選択された開始カウントをロードされるカウンタ
と、前記カウンタの内容が前記第1の特定カウントより
も大きい第2の特定カウントに達したことを検出して、
前記選択された開始カウントをロードするための信号を
発生すると共に、サイクル開始パルスを発生する手段と
、前記サイクル開始パルスが発生される度に所定の幅を
持つたパルスを発生するプログラム可能手段と、を具備
するパルス列発生装置。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE2746743A DE2746743C2 (de) | 1977-10-18 | 1977-10-18 | Verfahren und Anordnung zur computergesteuerten Erzeugung von Impulsintervallen |
DE2746743.2 | 1977-10-18 | ||
DE2829709A DE2829709C2 (de) | 1978-07-06 | 1978-07-06 | Verfahren und Anordnung zur Erzeugung zeitlich unmittelbar aufeinanderfolgender Impulszyklen |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5465463A JPS5465463A (en) | 1979-05-26 |
JPS6042421B2 true JPS6042421B2 (ja) | 1985-09-21 |
Family
ID=25772918
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP53117544A Expired JPS6042421B2 (ja) | 1977-10-18 | 1978-09-26 | パルス列発生装置 |
JP54081578A Expired JPS6042422B2 (ja) | 1977-10-18 | 1979-06-29 | パルス・サイクル発生装置 |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP54081578A Expired JPS6042422B2 (ja) | 1977-10-18 | 1979-06-29 | パルス・サイクル発生装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
JP (2) | JPS6042421B2 (ja) |
FR (1) | FR2406912A1 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63145529U (ja) * | 1987-03-17 | 1988-09-26 |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3023699A1 (de) * | 1980-06-25 | 1982-01-14 | Ibm Deutschland Gmbh, 7000 Stuttgart | Verfahren und anordnung zur erzeugung von impulsen vorgegebener zeitrelation innerhalb vorgegebener impulsintervalle mit hoher zeitlicher aufloesung |
JPS61172431A (ja) * | 1985-01-28 | 1986-08-04 | Fujisoku:Kk | サンプリング信号発生回路 |
-
1978
- 1978-09-26 JP JP53117544A patent/JPS6042421B2/ja not_active Expired
- 1978-10-09 FR FR7829353A patent/FR2406912A1/fr active Granted
-
1979
- 1979-06-29 JP JP54081578A patent/JPS6042422B2/ja not_active Expired
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63145529U (ja) * | 1987-03-17 | 1988-09-26 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6042422B2 (ja) | 1985-09-21 |
JPS5465463A (en) | 1979-05-26 |
JPS5511693A (en) | 1980-01-26 |
FR2406912B1 (ja) | 1982-06-04 |
FR2406912A1 (fr) | 1979-05-18 |
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