JPS60251275A - フツ素化シリコン薄膜の製法 - Google Patents

フツ素化シリコン薄膜の製法

Info

Publication number
JPS60251275A
JPS60251275A JP10744584A JP10744584A JPS60251275A JP S60251275 A JPS60251275 A JP S60251275A JP 10744584 A JP10744584 A JP 10744584A JP 10744584 A JP10744584 A JP 10744584A JP S60251275 A JPS60251275 A JP S60251275A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
glow discharge
substrate
silicon fluoride
film
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP10744584A
Other languages
English (en)
Inventor
Hideomi Koinuma
秀臣 鯉沼
Kazuyoshi Isotani
磯谷 計嘉
Yorihisa Kitagawa
北川 順久
Nobuhiro Fukuda
福田 信弘
Kensaku Maruyama
丸山 謙作
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsui Toatsu Chemicals Inc
Original Assignee
Mitsui Toatsu Chemicals Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsui Toatsu Chemicals Inc filed Critical Mitsui Toatsu Chemicals Inc
Priority to JP10744584A priority Critical patent/JPS60251275A/ja
Publication of JPS60251275A publication Critical patent/JPS60251275A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/44Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
    • C23C16/50Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23CCOATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
    • C23C16/00Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
    • C23C16/22Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Plasma & Fusion (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • Silicon Compounds (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (1)技術分野 本発明はフッ素化シリコン薄膜の製造方法に関し特に単
一原料ガスを用いる該薄膜の製造方法である。
シリコン薄膜は太陽電池、感光体ドラム、画像読取装置
、画像表示用デバイス等多用途に使用されているが、な
かでもフッ素化シリコン薄膜は、光照射による劣化がな
いという性質を有するため最近とくに注目を集めている
(2)従来技術 フッ素化シリコン薄膜は、モノシラン(S、H) 4 をグロー放電分解して、水素化アモルファスシリコンを
作成するようにS、F’4(S、T(4、Fnで表わさ
れる一般式においてn = 4の場合)をグロー放電す
ることによっては形成されないことが知られていた。(
例えば A、Matsuda 、 K、Tanaka 
Th1n 5olid Films 、 92,171
〜187(1982)参照) そのために81F4にモノシランや水素(H2)を混合
した原料ガスを用いて、はじめてフッ素化シリコン薄膜
を形成することが可能であった。
(3)発明が解決しようとする問題点 従来の方法ではフッ素化シリコン薄膜を単一の原料で形
成できないので、薄膜形成工程が複雑になる。さらに、
S、H4やH2との組成比の変動に伴い該薄膜の特性が
変動したり、条件によっては薄膜が形成されなかったり
形成された薄膜が剥離したりする。それ故薄膜形成条件
の選択範囲が狭められ、デバイスを形成するにしばしば
最適な条件範囲を見出すことができなかった。
それ故、51H4やH2との混合ガスを用いずとも、単
独に該薄膜を形成できる原料および作成条件を検討した
(4)問題点を解決するための手段 本発明者らは51F4とSiH4やI]2のグロー放電
によるフッ素化シリコン薄膜の形成方法について鋭意検
討を加えた結果、SiF4単独で該薄膜形成が行なわれ
ないのは成膜速度よりもエツチング速度の方が太きいた
めであることを発見した。この結果、エツチング速度を
和げる原料を探索すればよいことがわかり、本発明を完
成した。
即ち本発明は一般式S、H4、F、(n−t、2.3)
で表わされるフッ素化シリコンをグロー放電分解して、
基板上に形成せしめることを特徴とするものである。
本発明で用いうるフッ化シランは一般式S11]4−n
Fnであるフッ化シランテ、n−1〜3なる整数である
。n = 1はスパッタリング速度が小さく、7ノ素化
シリコン薄膜形成速度はもつとも太きい。n = 3は
スパッタリング速度がやや大きく薄膜形成速度はや〜小
さくなる。 しかしn=1もしくはn = 2のものが
可燃性のガスであるのに対し、n=3は不燃性でしかも
安定性が高いのでハンドリングの面からはより好ましい
ところが実施例に示すようにn = 4である81F4
が、n = 1〜3の原料中に混合している場合にも、
S、F4の混合割合が20 vol %以下であれば、
本発明の原料として支障なく用いることができる。
原料ガス中のフッ素含有量はフッ素化シリコン薄膜中の
フッ素含有量に影響を与え、前者が多い程、膜中に存在
するフッ素の量が多くなる。しかるに膜中のフッ素含有
量は、グロー放電による薄膜作成条件によっても変化す
るものである。膜中のフッ素含有量の制御は原料や、製
造条件を適切に調整することにより容易に行なわれる。
本発明のグロー放電分解操作はそれ自体公知のグロー放
電分解法をそのまま適用すればよい。
すなわち、グロー放電可能な反応室中にフッ素化シリコ
ン薄膜を形成すべきシリコン単結晶ウーハ−、カラス、
ステンレススチール、セラミックス等の基板を配置する
3一 ついでn = n=3で表わされるところのS、I(3
F’。
SiH2F2やSiHF3が該反応室中へ導入される。
そして、これらの原料ガスの減圧雰囲気において、加熱
された基板上にグロー放電により、フッ素化シリコン薄
膜が堆積形成される。
基板は加熱されるが、その温度範囲は室温から400℃
の温度範囲においてフッ素化シリコン薄膜の形成が行わ
れる。室温においても薄膜形成は可能であるが、基板の
温度を上昇させると該基板の光導電度が良好になる。
また、グロー放電分解装置中の圧力は通常のグロー放電
分解と同様であり、10mTorr 〜1QTorrで
ある。
本発明においては放電電力は特に制限されず電力密度0
.01〜1w/、7の範囲の値を採用すればよいが、ガ
ス流量を増加する場合は、放電電力をも増加せしめるこ
とが膜形成条件を良好に保持するために好ましい。
(5)作用 8、HやHの混合なしで、光導電度が10−614 2 4− (Ω・cIrL)″ を越える、光電変換素子や光導電
材料に適するフッ素化シリコン薄膜を形成可能になった
本発明の薄膜の光学的バンドギャップは約2.OeVで
あり、屈折率は2.0〜2.3であった。水素化アモル
ファスシリコン薄膜の光学的ハンドギャップおよび屈折
率がそれぞれ1.6〜1,8 eV、3.2〜3.5で
あることを考えると、太陽電池においては光入射側に用
いる窓材料としても有用であるところの特性を有してい
る。
以下実施例により本発明をより具体的に説明する。
(6)実施例 基板加熱手段、真空排気手段、ガス導入手段、および基
板を設置することの出来る平行平板電極を有するRF容
量結合型高周波プラズマCVD(chemical v
apor deposition )の該基板設置部に
FZ精製のシリコン単結晶ウエノ・−およびコーンニン
グ社製7059ガラス基板を設置し、油拡散ポンプによ
り1O−7T’orr以下に真空排気した。
ついで、原料ガスを10 cc/minの流険でグロー
放電室に導入し、該放電室内圧力を0.3Torrに保
持しつつ、基板の温度を250℃において13.56M
Hzの放電周波数で60分間放電し膜厚を測定した。こ
の膜厚を第1表に示す。表の中でSiF4は比較のため
の例である。
第1表 60分放電後の膜厚(A) 第1表で8.F’4の場合の(−)符号はエツチングさ
れて膜厚が逆に減少したことをあられしている。
5IHF3.51H2F2.51H3Fについても放電
電力が高いところでは膜厚の増加割合が減少しており、
一部エツチングが生じていることがわかる。
これらの膜厚を放電時間で除して成膜速度を算出し、第
1図に示した。
実施例1における放電電力40W、実施例2にて同20
W1実施例3にて同20Wのそれぞれの条件で得られた
薄膜の光導重度をAMl 100mW照射下で調べそれ
ぞれ10−6〜10−5(に”?・Cm) −’の値を
得た。
(7)発明の効果 S、HF のグロー放電においては51H4や1 4−
n n H2の混合なしでフッ素化シリコン薄膜を1λ/sec
を越える堆積速度で形成することができ、極めて有用で
あることを明らかにした。これに対し比較例が示すよう
にSiF4のグロー放電は、エツチングが生じるのみで
薄膜形成はできなかった。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の効果を示すグラフである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)一般式 S + H4n F n (’ n−1
    ,2または3なる整数)で表わされるフッ素化シリコン
    をグロー放電分解して、基板上に形成せしめることを特
    徴とするフッ素化シリコン薄膜の製造方法
JP10744584A 1984-05-29 1984-05-29 フツ素化シリコン薄膜の製法 Pending JPS60251275A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10744584A JPS60251275A (ja) 1984-05-29 1984-05-29 フツ素化シリコン薄膜の製法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP10744584A JPS60251275A (ja) 1984-05-29 1984-05-29 フツ素化シリコン薄膜の製法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60251275A true JPS60251275A (ja) 1985-12-11

Family

ID=14459327

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP10744584A Pending JPS60251275A (ja) 1984-05-29 1984-05-29 フツ素化シリコン薄膜の製法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS60251275A (ja)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57126175A (en) * 1981-01-29 1982-08-05 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd Amorphous silicon carbide/amorophous silicon hetero junction optoelectric element
JPS60200523A (ja) * 1984-03-26 1985-10-11 Agency Of Ind Science & Technol シリコン薄膜の製造法

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS57126175A (en) * 1981-01-29 1982-08-05 Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd Amorphous silicon carbide/amorophous silicon hetero junction optoelectric element
JPS60200523A (ja) * 1984-03-26 1985-10-11 Agency Of Ind Science & Technol シリコン薄膜の製造法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS61234534A (ja) 窒化珪素被膜作成方法
JPH02155225A (ja) 非晶質半導体薄膜の形成方法
JPH0653151A (ja) アモルファスシリコン薄膜およびそれを応用した太陽電池
JPS60251275A (ja) フツ素化シリコン薄膜の製法
JPH0477281B2 (ja)
JP2002261312A (ja) ハイブリッド型薄膜光電変換装置の製造方法
JPH0276266A (ja) 光電変換素子
JPS60142575A (ja) 光起電力素子
JPH04188879A (ja) 光電変換素子およびその製法
JPS5916326A (ja) 薄膜の製造方法
JP2966909B2 (ja) 非晶質半導体薄膜
JPH01280365A (ja) 光電変換素子
JPS59227712A (ja) 新規なフツ素化シリコン薄膜の製造方法
JPH01278782A (ja) 光起電力素子の製造方法
JPH06275538A (ja) 非晶質シリコン合金膜の形成方法
JPS63283119A (ja) 非晶質半導体、非晶質半導体装置およびそれらの製法
JPS62116773A (ja) 透明導電膜
JPS59227713A (ja) フツ素化シリコン薄膜の新規な製造方法
JPS59161079A (ja) 光電変換素子の製造法
JPS59161880A (ja) 非晶質太陽電池の製法
JPS62151570A (ja) 堆積膜形成装置
JPH03217014A (ja) 非晶質半導体薄膜
JPS639116A (ja) 膜形成方法
JPS5913617A (ja) 微結晶シリコンを含むシリコン薄膜の製造法
JPS59147427A (ja) シリコン半導体の製法