JPS60251275A - フツ素化シリコン薄膜の製法 - Google Patents
フツ素化シリコン薄膜の製法Info
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- JPS60251275A JPS60251275A JP10744584A JP10744584A JPS60251275A JP S60251275 A JPS60251275 A JP S60251275A JP 10744584 A JP10744584 A JP 10744584A JP 10744584 A JP10744584 A JP 10744584A JP S60251275 A JPS60251275 A JP S60251275A
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- Japan
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- thin film
- glow discharge
- substrate
- silicon fluoride
- film
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-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/50—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
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- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(1)技術分野
本発明はフッ素化シリコン薄膜の製造方法に関し特に単
一原料ガスを用いる該薄膜の製造方法である。
一原料ガスを用いる該薄膜の製造方法である。
シリコン薄膜は太陽電池、感光体ドラム、画像読取装置
、画像表示用デバイス等多用途に使用されているが、な
かでもフッ素化シリコン薄膜は、光照射による劣化がな
いという性質を有するため最近とくに注目を集めている
。
、画像表示用デバイス等多用途に使用されているが、な
かでもフッ素化シリコン薄膜は、光照射による劣化がな
いという性質を有するため最近とくに注目を集めている
。
(2)従来技術
フッ素化シリコン薄膜は、モノシラン(S、H) 4
をグロー放電分解して、水素化アモルファスシリコンを
作成するようにS、F’4(S、T(4、Fnで表わさ
れる一般式においてn = 4の場合)をグロー放電す
ることによっては形成されないことが知られていた。(
例えば A、Matsuda 、 K、Tanaka
。
作成するようにS、F’4(S、T(4、Fnで表わさ
れる一般式においてn = 4の場合)をグロー放電す
ることによっては形成されないことが知られていた。(
例えば A、Matsuda 、 K、Tanaka
。
Th1n 5olid Films 、 92,171
〜187(1982)参照) そのために81F4にモノシランや水素(H2)を混合
した原料ガスを用いて、はじめてフッ素化シリコン薄膜
を形成することが可能であった。
〜187(1982)参照) そのために81F4にモノシランや水素(H2)を混合
した原料ガスを用いて、はじめてフッ素化シリコン薄膜
を形成することが可能であった。
(3)発明が解決しようとする問題点
従来の方法ではフッ素化シリコン薄膜を単一の原料で形
成できないので、薄膜形成工程が複雑になる。さらに、
S、H4やH2との組成比の変動に伴い該薄膜の特性が
変動したり、条件によっては薄膜が形成されなかったり
形成された薄膜が剥離したりする。それ故薄膜形成条件
の選択範囲が狭められ、デバイスを形成するにしばしば
最適な条件範囲を見出すことができなかった。
成できないので、薄膜形成工程が複雑になる。さらに、
S、H4やH2との組成比の変動に伴い該薄膜の特性が
変動したり、条件によっては薄膜が形成されなかったり
形成された薄膜が剥離したりする。それ故薄膜形成条件
の選択範囲が狭められ、デバイスを形成するにしばしば
最適な条件範囲を見出すことができなかった。
それ故、51H4やH2との混合ガスを用いずとも、単
独に該薄膜を形成できる原料および作成条件を検討した
。
独に該薄膜を形成できる原料および作成条件を検討した
。
(4)問題点を解決するための手段
本発明者らは51F4とSiH4やI]2のグロー放電
によるフッ素化シリコン薄膜の形成方法について鋭意検
討を加えた結果、SiF4単独で該薄膜形成が行なわれ
ないのは成膜速度よりもエツチング速度の方が太きいた
めであることを発見した。この結果、エツチング速度を
和げる原料を探索すればよいことがわかり、本発明を完
成した。
によるフッ素化シリコン薄膜の形成方法について鋭意検
討を加えた結果、SiF4単独で該薄膜形成が行なわれ
ないのは成膜速度よりもエツチング速度の方が太きいた
めであることを発見した。この結果、エツチング速度を
和げる原料を探索すればよいことがわかり、本発明を完
成した。
即ち本発明は一般式S、H4、F、(n−t、2.3)
で表わされるフッ素化シリコンをグロー放電分解して、
基板上に形成せしめることを特徴とするものである。
で表わされるフッ素化シリコンをグロー放電分解して、
基板上に形成せしめることを特徴とするものである。
本発明で用いうるフッ化シランは一般式S11]4−n
Fnであるフッ化シランテ、n−1〜3なる整数である
。n = 1はスパッタリング速度が小さく、7ノ素化
シリコン薄膜形成速度はもつとも太きい。n = 3は
スパッタリング速度がやや大きく薄膜形成速度はや〜小
さくなる。 しかしn=1もしくはn = 2のものが
可燃性のガスであるのに対し、n=3は不燃性でしかも
安定性が高いのでハンドリングの面からはより好ましい
。
Fnであるフッ化シランテ、n−1〜3なる整数である
。n = 1はスパッタリング速度が小さく、7ノ素化
シリコン薄膜形成速度はもつとも太きい。n = 3は
スパッタリング速度がやや大きく薄膜形成速度はや〜小
さくなる。 しかしn=1もしくはn = 2のものが
可燃性のガスであるのに対し、n=3は不燃性でしかも
安定性が高いのでハンドリングの面からはより好ましい
。
ところが実施例に示すようにn = 4である81F4
が、n = 1〜3の原料中に混合している場合にも、
S、F4の混合割合が20 vol %以下であれば、
本発明の原料として支障なく用いることができる。
が、n = 1〜3の原料中に混合している場合にも、
S、F4の混合割合が20 vol %以下であれば、
本発明の原料として支障なく用いることができる。
原料ガス中のフッ素含有量はフッ素化シリコン薄膜中の
フッ素含有量に影響を与え、前者が多い程、膜中に存在
するフッ素の量が多くなる。しかるに膜中のフッ素含有
量は、グロー放電による薄膜作成条件によっても変化す
るものである。膜中のフッ素含有量の制御は原料や、製
造条件を適切に調整することにより容易に行なわれる。
フッ素含有量に影響を与え、前者が多い程、膜中に存在
するフッ素の量が多くなる。しかるに膜中のフッ素含有
量は、グロー放電による薄膜作成条件によっても変化す
るものである。膜中のフッ素含有量の制御は原料や、製
造条件を適切に調整することにより容易に行なわれる。
本発明のグロー放電分解操作はそれ自体公知のグロー放
電分解法をそのまま適用すればよい。
電分解法をそのまま適用すればよい。
すなわち、グロー放電可能な反応室中にフッ素化シリコ
ン薄膜を形成すべきシリコン単結晶ウーハ−、カラス、
ステンレススチール、セラミックス等の基板を配置する
。
ン薄膜を形成すべきシリコン単結晶ウーハ−、カラス、
ステンレススチール、セラミックス等の基板を配置する
。
3一
ついでn = n=3で表わされるところのS、I(3
F’。
F’。
SiH2F2やSiHF3が該反応室中へ導入される。
そして、これらの原料ガスの減圧雰囲気において、加熱
された基板上にグロー放電により、フッ素化シリコン薄
膜が堆積形成される。
された基板上にグロー放電により、フッ素化シリコン薄
膜が堆積形成される。
基板は加熱されるが、その温度範囲は室温から400℃
の温度範囲においてフッ素化シリコン薄膜の形成が行わ
れる。室温においても薄膜形成は可能であるが、基板の
温度を上昇させると該基板の光導電度が良好になる。
の温度範囲においてフッ素化シリコン薄膜の形成が行わ
れる。室温においても薄膜形成は可能であるが、基板の
温度を上昇させると該基板の光導電度が良好になる。
また、グロー放電分解装置中の圧力は通常のグロー放電
分解と同様であり、10mTorr 〜1QTorrで
ある。
分解と同様であり、10mTorr 〜1QTorrで
ある。
本発明においては放電電力は特に制限されず電力密度0
.01〜1w/、7の範囲の値を採用すればよいが、ガ
ス流量を増加する場合は、放電電力をも増加せしめるこ
とが膜形成条件を良好に保持するために好ましい。
.01〜1w/、7の範囲の値を採用すればよいが、ガ
ス流量を増加する場合は、放電電力をも増加せしめるこ
とが膜形成条件を良好に保持するために好ましい。
(5)作用
8、HやHの混合なしで、光導電度が10−614 2
4−
(Ω・cIrL)″ を越える、光電変換素子や光導電
材料に適するフッ素化シリコン薄膜を形成可能になった
。
材料に適するフッ素化シリコン薄膜を形成可能になった
。
本発明の薄膜の光学的バンドギャップは約2.OeVで
あり、屈折率は2.0〜2.3であった。水素化アモル
ファスシリコン薄膜の光学的ハンドギャップおよび屈折
率がそれぞれ1.6〜1,8 eV、3.2〜3.5で
あることを考えると、太陽電池においては光入射側に用
いる窓材料としても有用であるところの特性を有してい
る。
あり、屈折率は2.0〜2.3であった。水素化アモル
ファスシリコン薄膜の光学的ハンドギャップおよび屈折
率がそれぞれ1.6〜1,8 eV、3.2〜3.5で
あることを考えると、太陽電池においては光入射側に用
いる窓材料としても有用であるところの特性を有してい
る。
以下実施例により本発明をより具体的に説明する。
(6)実施例
基板加熱手段、真空排気手段、ガス導入手段、および基
板を設置することの出来る平行平板電極を有するRF容
量結合型高周波プラズマCVD(chemical v
apor deposition )の該基板設置部に
FZ精製のシリコン単結晶ウエノ・−およびコーンニン
グ社製7059ガラス基板を設置し、油拡散ポンプによ
り1O−7T’orr以下に真空排気した。
板を設置することの出来る平行平板電極を有するRF容
量結合型高周波プラズマCVD(chemical v
apor deposition )の該基板設置部に
FZ精製のシリコン単結晶ウエノ・−およびコーンニン
グ社製7059ガラス基板を設置し、油拡散ポンプによ
り1O−7T’orr以下に真空排気した。
ついで、原料ガスを10 cc/minの流険でグロー
放電室に導入し、該放電室内圧力を0.3Torrに保
持しつつ、基板の温度を250℃において13.56M
Hzの放電周波数で60分間放電し膜厚を測定した。こ
の膜厚を第1表に示す。表の中でSiF4は比較のため
の例である。
放電室に導入し、該放電室内圧力を0.3Torrに保
持しつつ、基板の温度を250℃において13.56M
Hzの放電周波数で60分間放電し膜厚を測定した。こ
の膜厚を第1表に示す。表の中でSiF4は比較のため
の例である。
第1表
60分放電後の膜厚(A)
第1表で8.F’4の場合の(−)符号はエツチングさ
れて膜厚が逆に減少したことをあられしている。
れて膜厚が逆に減少したことをあられしている。
5IHF3.51H2F2.51H3Fについても放電
電力が高いところでは膜厚の増加割合が減少しており、
一部エツチングが生じていることがわかる。
電力が高いところでは膜厚の増加割合が減少しており、
一部エツチングが生じていることがわかる。
これらの膜厚を放電時間で除して成膜速度を算出し、第
1図に示した。
1図に示した。
実施例1における放電電力40W、実施例2にて同20
W1実施例3にて同20Wのそれぞれの条件で得られた
薄膜の光導重度をAMl 100mW照射下で調べそれ
ぞれ10−6〜10−5(に”?・Cm) −’の値を
得た。
W1実施例3にて同20Wのそれぞれの条件で得られた
薄膜の光導重度をAMl 100mW照射下で調べそれ
ぞれ10−6〜10−5(に”?・Cm) −’の値を
得た。
(7)発明の効果
S、HF のグロー放電においては51H4や1 4−
n n H2の混合なしでフッ素化シリコン薄膜を1λ/sec
を越える堆積速度で形成することができ、極めて有用で
あることを明らかにした。これに対し比較例が示すよう
にSiF4のグロー放電は、エツチングが生じるのみで
薄膜形成はできなかった。
n n H2の混合なしでフッ素化シリコン薄膜を1λ/sec
を越える堆積速度で形成することができ、極めて有用で
あることを明らかにした。これに対し比較例が示すよう
にSiF4のグロー放電は、エツチングが生じるのみで
薄膜形成はできなかった。
第1図は本発明の効果を示すグラフである。
Claims (1)
- (1)一般式 S + H4n F n (’ n−1
,2または3なる整数)で表わされるフッ素化シリコン
をグロー放電分解して、基板上に形成せしめることを特
徴とするフッ素化シリコン薄膜の製造方法
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10744584A JPS60251275A (ja) | 1984-05-29 | 1984-05-29 | フツ素化シリコン薄膜の製法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10744584A JPS60251275A (ja) | 1984-05-29 | 1984-05-29 | フツ素化シリコン薄膜の製法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS60251275A true JPS60251275A (ja) | 1985-12-11 |
Family
ID=14459327
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10744584A Pending JPS60251275A (ja) | 1984-05-29 | 1984-05-29 | フツ素化シリコン薄膜の製法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS60251275A (ja) |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57126175A (en) * | 1981-01-29 | 1982-08-05 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | Amorphous silicon carbide/amorophous silicon hetero junction optoelectric element |
JPS60200523A (ja) * | 1984-03-26 | 1985-10-11 | Agency Of Ind Science & Technol | シリコン薄膜の製造法 |
-
1984
- 1984-05-29 JP JP10744584A patent/JPS60251275A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS57126175A (en) * | 1981-01-29 | 1982-08-05 | Kanegafuchi Chem Ind Co Ltd | Amorphous silicon carbide/amorophous silicon hetero junction optoelectric element |
JPS60200523A (ja) * | 1984-03-26 | 1985-10-11 | Agency Of Ind Science & Technol | シリコン薄膜の製造法 |
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