JPS60200543A - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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Publication number
JPS60200543A
JPS60200543A JP5610984A JP5610984A JPS60200543A JP S60200543 A JPS60200543 A JP S60200543A JP 5610984 A JP5610984 A JP 5610984A JP 5610984 A JP5610984 A JP 5610984A JP S60200543 A JPS60200543 A JP S60200543A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
gas
slot
cavity
base
semiconductor device
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP5610984A
Other languages
English (en)
Inventor
Atsushi Honda
厚 本多
Takashi Miwa
孝志 三輪
Toshihiro Tsuboi
敏宏 坪井
Tadaaki Oota
太田 忠明
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Microcomputer System Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
Hitachi Microcomputer Engineering Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd, Hitachi Microcomputer Engineering Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP5610984A priority Critical patent/JPS60200543A/ja
Publication of JPS60200543A publication Critical patent/JPS60200543A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/10Containers; Seals characterised by the material or arrangement of seals between parts, e.g. between cap and base of the container or between leads and walls of the container
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔技術分野〕 本発明は、半導体装置に係り、特にパッケージベースと
パッケージキャップを用いた半導体装置の封止技術に適
用して有効な技術に関するものである。
〔背景技術〕
パッケージベースとパッケージキャップをガラス等を用
いて封止した半導体装置の一例として第1図に示す形状
のものが考えられる。すなわち、半導体素子(以下、ベ
レットという)1をパッケージベース2とパッケージキ
ャップ3からなるキャビティ4に設け、ガラス、樹脂等
からなる封止材5によって封止をしたものである。図中
、6はボンディングワイヤであり、ペレット1とリード
7とを電気的に接続するものである。
この半導体装置では、パッケージベース2とパッケージ
キャップ3で形成される内部キャビティ4の気体が封止
熱処理時の熱により膨張して外部へ噴出しようとするた
め、封止材5に気泡8や貫通した穴9があき、封止が完
全に行えない欠点があることが1本発明者の検討により
明らかとなった。
〔目的] 本発明の目的は、半導体装置のパッケージベースとパッ
ケージキャップによって形成される内部キャビティの気
体の熱膨張による封止不良を除去することにより、半導
体装置の信頼性と歩留を向上させる技術を提供すること
にある。 本発明の前記ならびにその他の目的と新規な
特徴は、本明細書の記述および添付した図面によって明
らかになるであろう。
〔発明の概要〕
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、下記のとおりである。
すなわち、半導体装置の封止を行う際に、内部キャビテ
ィの気体を装置外へ逃がしてやるための溝をパッケージ
ベース上に設けることにより、封止部に気泡や貫通した
穴(ボイド)が発生ずるのを防止するようにしたもので
ある。
〔実施例〕
第2図は、本発明の一実施例の構成を示す一部欠き斜視
図であり、第1図と同一機能を右するものは同一符号を
イ」けて、その繰り返しの説明は省1171する。
本実施例は、第2図に示すように、第1図のパッケージ
ベース2に内部キャビティ4の気体を装置外へ逃がすた
めの排気溝lOを設けたものである。この排気溝lOの
溝幅、深さ等は内部キャビティ4の気体の容量9種類及
び封止部の状態等によって適宜決定される。
前記パッケージベース2とパッケージキャップ3を封止
材5で封止する場合は、前記排気溝lOを埋めないよう
に封止材5をパッケージベース2の上に配置し、その上
にパッケージキャップ3を配置した後、これに熱処理を
施して封止材5を溶着して封止する。このとき、熱処理
時の熱によって内部キャビティ4の気体が熱膨張して、
前記排気溝10を通って装置外に噴出した後に、第2図
に示すように、封止材5が溶けて前記排気溝IOに嵌り
込むと同時にパッケージキャップ3がパッケージベース
2に溶着されて封止される。このように、内部キャビテ
ィ4の気体は無理なく装置外へ排出され、封止部に気泡
、ボイド等による封止不良の発生を防止できる。
〔効果〕
以上説明したように、本願によって開示された新規な技
術手段によれば、次のような効果を得ることができる。
(1)パッケージベース上に内部キャビティから装置外
へ通じる排気溝を設けることにより、封止熱処理時にお
ける内部キャビティの気体を無理なく装置外に排出させ
ることができ、封止部に気泡や貫通性ボイドが発生する
のを防止することができる。
(2)パッケージベースに排気溝を設けたことにより、
排気)16!は封止材の自重によって充填され気密性を
保つことができるので、ペレッ1〜を14着した後のパ
ッケージベースをピー1〜ブロツク」二に載置し、−L
方よりパッケージキャップを押圧するのみで封止作業を
行いつる。
(3)前記(])、(2)により封止型半導体装置のイ
IJ頼性と歩留りを向」二させることができる。
なお、本発明は、前記実施例に限定されることなく、そ
の要旨を逸脱しない範囲において種々変更可能であるこ
とは言うまでもない。
【図面の簡単な説明】
第1図は、封止型半導体装置の封止部の問題点を説明す
るための図、 第2図は、本発明の封止型半導体装置の一実施例の構成
を示す一部欠き斜視図である。 図中、l・・・ペレット、2・・・パッケージベース、
3・・・パッケージキャップ、4・・・内部キャビティ
、5・・・封止材、6・・・ボンデインクワイヤ、7・
・・リード、8・・・気泡、9・・・穴、lO・・・排
気溝。 第1頁の続き @発明者坪井 敏宏 @発明者太1)忠明 小平市上水木町147幡地 日立マイクロコンピュータ
エンジニアリング株式会社内 小平市上水木町147幡地 日立マイクロコンピュータ
エンジニアリング株式会社内

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. パッケージベースとパッケージキャップを用いて半導体
    素子等を封止材で封止した半導体装置において、前記パ
    ッケージベースにキャビティから装置外へ通じる溝を設
    けたことを特徴とする半導体装置。
JP5610984A 1984-03-26 1984-03-26 半導体装置 Pending JPS60200543A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5610984A JPS60200543A (ja) 1984-03-26 1984-03-26 半導体装置

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JP5610984A JPS60200543A (ja) 1984-03-26 1984-03-26 半導体装置

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Publication Number Publication Date
JPS60200543A true JPS60200543A (ja) 1985-10-11

Family

ID=13017919

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JP5610984A Pending JPS60200543A (ja) 1984-03-26 1984-03-26 半導体装置

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108074884A (zh) * 2016-11-14 2018-05-25 日月光半导体制造股份有限公司 半导体器件封装结构

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108074884A (zh) * 2016-11-14 2018-05-25 日月光半导体制造股份有限公司 半导体器件封装结构
CN108074884B (zh) * 2016-11-14 2021-06-04 日月光半导体制造股份有限公司 半导体器件封装结构

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