JPS60129846A - 検査装置 - Google Patents

検査装置

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JPS60129846A
JPS60129846A JP58238197A JP23819783A JPS60129846A JP S60129846 A JPS60129846 A JP S60129846A JP 58238197 A JP58238197 A JP 58238197A JP 23819783 A JP23819783 A JP 23819783A JP S60129846 A JPS60129846 A JP S60129846A
Authority
JP
Japan
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signal
address
control information
write
area
Prior art date
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Pending
Application number
JP58238197A
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English (en)
Inventor
Kazuyasu Nagatomi
永富 和保
Tatsuya Okada
岡田 辰也
Sumio Ozawa
小澤 純雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP58238197A priority Critical patent/JPS60129846A/ja
Publication of JPS60129846A publication Critical patent/JPS60129846A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/0703Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
    • G06F11/0706Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation the processing taking place on a specific hardware platform or in a specific software environment
    • G06F11/0745Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation the processing taking place on a specific hardware platform or in a specific software environment in an input/output transactions management context
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野 本発明は、新たに開発されるマイクロコンピュータや周
辺チップなどの論理検証のために、動作確認の際に任意
アドレス実行中を検出し中断する機能や割込み機能など
を持った検査装置に関するものである。 従来例の構成とその問題点 近年、マイクロコンピュータ(以下マイコンと略す)や
、DMAコントローラやCRTコントローラなどの周辺
チップの開発にはめざましいものかあシ、その開発チッ
プの論理検証や開発したチップの実装検査に検査装置は
不可欠なものである。 以下に従来の検査装置について説明する。 第1図は従来の検査装置の構成図を示すものである。1
は検査装置の核となるHO8T cpu 、2はHO8
T cpu 1が実行するプログラムやデータが格納さ
れているHO8T主記憶部、3はフロッピーディスクな
どの補助記憶部、4は0ftT・キーボードやプリンタ
ーなどが接続される入出力部、6は開発される被検査チ
ップ、6は被検査チップ5の実行プログラムやデータが
格納される主記憶部、7はHO3T cpu 1からの
命令により被検査チップ6や主記憶部6をアクセスする
ときの検査装置インターンェイス部、8は検査装置Bu
g 、 9は検査装置 Bull 8のアドレスを決定
するアドレス制御部、10は検査装置Bus8のデータ
を決定するデータアクセス部、11は任意アドレス実行
中を検出し、実行中断する機能や割込み機能などの制御
を行なうコントロール部、12はHO8T apu 1
が検査装置インターフェイス部7をアクセスするための
HO8T (7タ一フエイス部、13はHO8T Bu
gである・ 第2図は従来の検査装置のコントローラ部11の構成図
である。21はアドレス情報すのデコーダで、ラッチ回
路22が選択されるべくアドレス情報のときにはストロ
ーブ信号dのタイミングでラッチ信号eを出力する。2
2はData cの内容を保持するラッチ回路で、ラッ
チ情報fを出力する。ラッチ回路22のアドレスはAd
d、(A)番地に割付けられている。23はアドレス情
報すとランチ情報fとの比較器で、両者の値が一致すれ
ば一致信号qを出力する。24は一致信号qが出力され
、かつRead/Write信号dがH(Write)
のときWrite中信号iを出力するゲートである・2
6は一致信号qが出力され、かツRead/Write
信号aが’L’ (Read )のときRead中信号
りを出力するゲートである。 任意アドレスをDataとしてラッチ回路22に保持し
ておき、その任意アドレスをアクセスすると、Read
中信号りかWrite中信号iが出される。この信号を
被検査チップ6のストップ信号や割込み信号にすれば良
い。任意アドレスをWriteしたときにストップさせ
たければ、Write 中信号iを被検査チップ(例え
ばマイコン)のストップ信号にすれば良い。また任意ア
ドレスをReadしたときストップさせたければ、Re
ad中信号りを割込み信号にすれば良い。 以上のように構成された従来の検査装置について以下そ
の動作について説明する。 HO8T c、pu 1は検査装置Bus 8をアクセ
スするとき、まずアドレス制御部9にアドレス内容を設
定し、データアクセス部1oでデータのRead/Wr
iteを行なう。被検査チップ6が実行するプログラム
やデータを主記憶部6に転送するとき、HO3T C1
)u 1は、HO5Tイアター7.1イス部12と検査
装置インターフェイス部7を介してアクセスすることに
なる。 第3図にコントロール部11の信号波形図を示す。被検
査チップ6が任意アドレスAdd、 (B)番地をRe
ad l、たときにストップ信号を発生させたい例を説
明する。 被検査チップ5の検査を始める前にHO8T apul
は、まずストップさせたい任意アドレスadd。 CB)をラッチ回路22に設定する。アドレスadd。 (A)番地(ラッチ回路22の割付けられているアドレ
ス)にadd、 (B)をWriteする。第3図のA
区間に示すようにアドレス情報すはラッチ回路22が割
付けられているアドレスadd、 (A)番地が出力さ
れているので、デコーダ21はストローブ信号fと同タ
イミングにラッチ信号eを出力する。ラッチ回路22は
ラッチ信号eの立上りのタイミングでData cの内
容をadd、 (B)を保持され、ラッチ情報fにはa
dd、 CB、IIが出力される。 被検査チップ6を実行させ、被検査チップ6がアドレス
add、 (B)番地をReadl、たときは、第3図
のB区間に示すようにアドレス情報すとラッチ情報すの
内容が一致するので、比較器23は一致信号qを出力す
る。ゲート25はRead中信号りを出力する。このR
ead中信号りを被検査チップ5のストップ信号とすれ
ば良い。 また任意アドレスadd、 (B)にWriteしたと
き、割込みをかけたい例について説明する。 前記例と同様にラッチ情報fにはadd、 (B〕 が
設定されている。被検査チップ5がアドレスadd。 (B)にWrite l、たとき、比較器23は一致信
号qを出力する。ゲート25からはWrite中信号i
が出力され、このWrite中信号iを被検査チップの
割込み信号とすれば良い。 しかしながら上記のような構成では、任意アドレスの設
定が1アドレスのみで1回の検査の中に任意アドレス実
行中のストップ機能や割込み機能を使用したい場合や、
異なるアドレスに設定したい場合が多々発生し、いたつ
て不便である。 また、複数の任意アドレス設定を行なうには、コントロ
ール部11が複数分必要となり、非経済的でもあり、実
装スペースを限られる場合などにはむかない構成である
という問題点を有していた。 発明の目的 本発明は上記従来例の問題点を解消するもので、複数個
の任意アドレスの設定が可能で、拡張性の高いストップ
機能、割込み機能などを備えたコントローラ部を持つ検
査装置を提供することを目的とする。 発明の構成 本発明は、任意アドレス実行中に実行を中断するか否か
、割込みを発生するか否かなどを決定するコントロール
情報を蓄える主記憶領域のアドレス割付けと上記主記憶
領域のアドレスに存在するコントロール情@領域と、上
記コントロール情報の内容によシ中所信号や割込み信号
などを作り出すコントロール部と、上記コントロール情
報領域をアクセスするコントロール情報アクセス部を備
えた検査装置であシ、コントロール情報を設定すること
により任意アドレス実行中を検出し、中断信号や割込み
信号などの発生を複数アドレス箇所設定することのでき
るものである。 実施例の説明 第4図に本発明の検査装置の構成図を示す。 31は第1図に示した検査装置インターフェイス部7と
同様にHO5Tapu 1からの命令にょシ被検査チッ
プ32や主記憶部33をアクセスするときの検査装置ア
クセス部、34は検査装置Bus、36は検査装置Bu
s34のアドレス情報を検定するアドレス制御部、36
は検査装置Bug 34のデータを決定するデータアク
セス部、37は被検査チップ32の実行プログラムやデ
ータが格納される主記憶領域、38は任意アドレス実行
中に実行を中断するか否か、割込みを発生するが否かな
どを決定するコントロール情報を蓄えるコントロール情
報領域で、主記憶領域37の割付けられているアドレス
と同アドレスに存在し数ビツト構成のメモリで構成され
る。39は第1図に示したコントo −ル部11と同機
能のコントロール部テある。 4 o ハ:yントロール情報Bu Bテ、コントロー
ル情報トコントロール部39が出力するストップ信)や
割込み信号などが出力される。 第6図にコントロール情報領域38を4ビツト構成のメ
モリを用い、主記憶領域37に対応させた例を示す。 第6図にはコントロール情報のビット定義の一例を示す
。ビット0は任意アドレスをWrite Lだときに実
行中断信号を出力するか否かを決定するビットである。 同様にビット1はRead したとき、ビット2は任意
アドレスをアクセスした際に割込みを発生するか否かを
決定するビットである。 ビット3は拡張のためのビットとする。いずれも1 の
場合アクティブになるものとする。 第7図にコントローラ部39の構成図を示す。 61は主記憶領域37と共通のアドレスデコーダで、主
記憶領域37が割付けられているアドレス情報kが入力
されると、主記憶領域の選択信号となるデコード信号m
を出力する。52はゲート回路で、デコード信号mがア
クティブでかつRead/Write信号jがH(Wr
ite中)で2あシ、かつコントロール情報nがアクテ
ィブのときWrite中信号rをアクティブにし出力す
る。このWrite中信号rを被検査チップ32のスト
ップ信号にすれば、コントロール情報のビット0が′1
′に設定されたアトイスをWrite したとき、被検
査チップ32の実行を中断させることができる。63も
ゲート回路で、ゲート回路62同様にコントロール情報
のビット1が′1′に設定されたアドレスをRead 
[、たとき、I’!ead中信号Bをアクティブにして
出力する。54もゲート回路で、コントロール情報のビ
ット2が1 に設定されたアドレスをアクセスしたとき
、割込み信号tを出力する。 54も同様に動作をするゲート回路であυ、予備信号U
を出力する。 以上のように構成された本実施例の検査装置について、
以下その動作を説明する。 コントロール情報は被検査チップ32を実行させる前に
あらかじめ設定しておく。HO8T cpu 1は主記
憶領域37にプログラムやデータを設定するときと同様
に、まずアドレス制御部35にコントロール情報を設定
するアドレスをセットし、次にコントロール情報アクセ
ス部を介してデータを転送する。検査装置Bus34と
コントロール情報Bus 40は別々になっているので
主記憶領域37とコントロール情報領域38のデータが
衝突することはない。 今コントロール情報領域38には次のようなデータが格
納されているとする。Address 0001番地に
は、ooooが、CM)番地には1000が、(N)番
地には0100が、
〔0〕番地には0o10が格納され
ている。 第8図はコントロール部39の信号波形図である。被検
査チップ32が実行を開始し、address0001
番地をアクセスしたとき、第8図のA区間に示すように
コントロール情報領域38がらは0000が出力される
。デコーダ51はストローブ信号pと同タイミングにデ
コード信号mを出力スル。コントロール情報n −qは
0′なのでゲート52〜56はアクティブにはならない
。 address (M)番地をWiite L、たとき
、第8図のB区間に示すようにコントロール情報n−q
は1000が出力される。ビット○が′1′(コントロ
ール情報nが′H′)なので、ゲート回路52はWri
te中信号rをアクティブにする。このWrite中信
号rを被検査チップの実行中断信号とすれば、任意アド
レスWrite したときに実行中断することができる
。 次にaddress (N)番地をRead シたとき
、第8図のC区間に示すようにコントロール情報n〜q
はolooが出力される。ビット1が1(コントロール
情報0がH)なので、ゲート回路63はRead中信号
Bをアクティブにする。このRead中信号8を被検査
チップ32の実行中断信号にすれば、任意アドレスをR
ead L、たときに実行中断することができる・ 同様にaddress (0)番地をアクセスしたとき
、第8図のD区間に示すようにゲート回路54は割込み
信号tをアクティブにする。任意アドレスをアクセスし
た際に被検査チップ32に対して割込みを発生すること
ができるのである。 以上のように本実施例によれば、コントロールX報領域
38を設け、コントロール情報を設定することにより、
被検査チップ32が任意のアドレスをチクセスした際に
被検査チップに対し、実行中断や割込みなどを発生する
ことができる。しかも任意アドレスは複数箇所の検出が
可能で、実行中断や割込みなどを複合して設定すること
ができる。 また本実施例では、コントロール情報11−qをビット
対応にしてゲート回路52〜55で各々の信号を作った
。4ビツトの情報のそのまま使うのでなく、一旦デコー
ドすれば16の機能を実現することができる。 なお、コントロール情報領域38のメモリ構成として4
ビツトで説明したが何ビット構成でも可能であることは
言うまでもない。 また主記憶部33はメモリ空間だけでなくi/。 空間であっても別にさしつかえない。 発明の効果 本発明の検査装置は、コントロール情報領域は主記憶領
域のアドレス配置と同じなので、そのアドレスについて
各々のコントロール情報ができる。 すなわち複数箇所のアドレスについて、アクセスの際の
実行中断や割込み発生などの機能を実現することができ
る。また機能を複合して用いることもできる。コントロ
ール情報領域をメモリで構成するので構成やコントロー
ル情報の転送が簡単で、従来例で同等機能を実現した場
合より非常に経済的で、実装スペースも極めて少なくて
良い。コントロール情報のビット数を増やせば拡張も容
易に行え、その実用的効果は大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の検査装置の構成図、第2図は従来のコン
トロール部の構成図、第3図は従来例の信号波形図、第
4図は本発明の一実施例における構成図、第6図はその
主記憶領域とコントロール情報領域の対応図、第6図は
そのコントロール情報のビット定義の一例を示す図、第
7図は本発明の一実施例におけるコントロール部の構成
図、第8図はその信号波形図である。 38・・・・・・コントロール情報領域、 s 9・・
・・・・コントロール部、41・・・・・・コントロー
ル情報アクセス部・ 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 はが1名第2
図 第 第3図 4図 第5図 第 6 図 第7図 第8図 Read。 フ2);レス1 1田−

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 任意アドレス実行中に実行を中断するか否か、割込みを
    発生するか否かなどを決定するコントロール情報を格納
    する主記憶領域のアドレス割付けと上記主記憶領域のア
    ドレスに存在するコントロール情報領域と上記コントロ
    ール情報の内容により実行中断信号や割込み信号などを
    作り出すコントロール部と、上記コントロール情報領域
    をアクセスするコントロール情報アクセス部を備えたこ
    とを特徴とする検査装置。
JP58238197A 1983-12-16 1983-12-16 検査装置 Pending JPS60129846A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58238197A JPS60129846A (ja) 1983-12-16 1983-12-16 検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58238197A JPS60129846A (ja) 1983-12-16 1983-12-16 検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS60129846A true JPS60129846A (ja) 1985-07-11

Family

ID=17026597

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP58238197A Pending JPS60129846A (ja) 1983-12-16 1983-12-16 検査装置

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JP (1) JPS60129846A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6290734A (ja) * 1985-10-17 1987-04-25 Sanyo Electric Co Ltd デバツグ装置
JPH0273434A (ja) * 1988-09-09 1990-03-13 Fujitsu Ltd 補助記憶装置からのデータ読み取り方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6290734A (ja) * 1985-10-17 1987-04-25 Sanyo Electric Co Ltd デバツグ装置
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