JPS5998709A - 粒子凝集パタ−ン判定方法 - Google Patents

粒子凝集パタ−ン判定方法

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JPS5998709A
JPS5998709A JP57209147A JP20914782A JPS5998709A JP S5998709 A JPS5998709 A JP S5998709A JP 57209147 A JP57209147 A JP 57209147A JP 20914782 A JP20914782 A JP 20914782A JP S5998709 A JPS5998709 A JP S5998709A
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JP
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particle
determining
determination
particles
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JP57209147A
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Tokio Kano
時男 嘉納
Akira Tamagawa
玉川 彰
Katsunobu Doi
土井 勝宣
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Original Assignee
Olympus Corp
Olympus Optical Co Ltd
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Publication date
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/75Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated
    • G01N21/77Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator
    • G01N21/82Systems in which material is subjected to a chemical reaction, the progress or the result of the reaction being investigated by observing the effect on a chemical indicator producing a precipitate or turbidity
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、免疫学的凝集反応による粒子凝集パターンの
判定方法に関するものである。
かかる粒子凝集パターンの判定方法として、例えば底面
が逆円錐状に形成された反応容器を用い、底面の中央部
の像と周辺部の像とを分N1 L、た2つの受光素子上
に結像させて、それらの出力の差に基いて凝集パターン
を判定するようにしたものがある。このように、底面が
逆円錐状に形成された反応容器を用いる場合には、収容
した粒子を含む反応溶液が凝集反応を起すと、沈降した
粒子が凝集結合して逆円錐形底面に一様に堆積する一様
堆積パターンが形成され、また凝集反応が起らないと粒
子は離散したまま沈降し、底面に到達するとその斜面を
転がり落ちて中央の最下点部分に集合する集積パターン
が形成されるから、底面中央部の像を受光、する受光素
子の出力をE+、周辺部の像を受光する受光素子の出力
をE2とすると、それらの差ΔE= l E2−E+ 
 lは凝集パターンに応じて変化する。すなわち、凝集
パターンが第1図AおよびBに平面図および断面図を、
第1図Cに粒子量の分布をそれぞれ示すような一様堆積
パターンの場合には、ΔFは小さく、また第2図A。
BおよびCに示すような集積パターンの場合にはΔFは
大きくなる。したがって、実験的に定めた2つの基準値
V+ 、V2 (Vl >V2 ) とΔEとを比較す
ることにより、△E<V2のとき(第1図)は[凝集(
+)J、ΔE>Vlのとき(第2図)は「比凝集(−)
」と判定することができると共に、第3図A、Bおよび
Cに示すように粒子の集積度が中間的な場合、すなわち
■2≦ΔE≦V1のときは再検査の対象として「?」と
判定することができる。
しかしながら、かかる従来の判定方法においては次のよ
うな不具合がある。すなわち、反応容器内に分注された
反応溶液中の粒子量が少なくて第4図A、BおよびCに
示すように集積パターンが形成された場合には、本来第
2図の場合と同様「=」と判定されるべきものが、中央
部に集まる粒子の量が少いために八E <、 V 1と
なって第3図と同様に1?」と判定されたり、極端な場
合には八E<V2となって第1図の場合と同様に「+」
と判定されることがある。また、分注された反応溶液中
の粒子量が多く、しかも凝集反応が起っている場合には
、その凝集反応が第1図の場合と同等か、それ以上に起
っても反応の相手成分より余乗の粒子は結合せず、傾斜
底面を転がり落ちて中心部に集まり、第5図A、Bおよ
びCに示すよう’rK凝集パターンを形成する。この場
合には、通常の′ml集反応が起っているのであるから
本来「+jと判定されるべきであるが、ΔEは必ずしも
△Eとv2とはならず、ΔE>V2あるいは八E〉Vl
と41って1−?」または「−」と誤って判定されるこ
とがある。更に、第6図A、BおよびCtこ示すように
、粒子ωが多く、しかもわずかに凝集反応が起っ゛C中
央部のまわりがわずかにボケた不明瞭な凝集パターンが
形成された場合には、木来第3図と同様[?、1と判定
されるべきであるがΔFが第2図の場合と同じようにな
るためr−Jと判定されて、中央部のまわりのわずかな
粒子結合反応が見逃されてしまう。
本発明の目的は上述した種々の不具合を解決し、凝集パ
ターンを常に正確に判定できる粒子凝集パターン判定方
法を提供しようとするものである。
本発明は、底面の少く共一部を傾斜面とした反応容器に
収容した反応溶液中の粒子が沈降して底面に形成される
粒子凝集パターンを光電的に検出して判定するにあたり
、前記反応容器の底面に形成される凝集パターンを走査
し、この除骨られる出力信号を複数サンプリングしてこ
れらサンプリング点における複数の測定値に基いて少く
共2段の判定工程を経て前記凝集パターンを判定するこ
とを特徴どするものである。
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第7図は本発明を実施する粒子凝集パターン判定装置の
一例の構成を示す線図である。本例では、底面が逆円錐
形の反応容器を透光性のプラスチック等より成る基板に
複数個マトリックス状に形成したマイクロプレート1を
用いる。このマイクロプレート1は、その底面を光源2
から放射される光により照明用レンズ3および拡散板4
を経て一様に照明し、各反応容器1aの逆円錐形底面1
bの像を結像用レンズ5により受光索子6の受光面上結
像させる。受光素子6は、送り用ねじ7に螺合され、ガ
イド8に沿って移動可能な取付は金具9に取付け、モー
タ10の駆動によりギア11および12を介して送り用
ねじ7を回転させることにより、受光素子6の受光面が
反応容器1aの底・而1hの中心(最ド点)を通り直線
状に移動するJ−うにし、これにより底面1bの像を走
査するようにする。本例では、結像用レンズ5により底
面1bの2fSの像(直径約12睡)を結像させると共
に、受光索子6の受光面の大きさを約0.5mmX0.
5mmとする。このようにすれば、受光索子6は底面1
1)の像の一部の軸度をスポット状に測定することがで
き、これを送り用ねじ7の回転にJ:って移動させるこ
とにより、底面像の濃度分布を測定することがrきる。
受光素子6の出力は増幅器13おJ、びA−Dコンバー
タ14を経て演紳装置15に供給し、ここで後述する演
算を行なって凝集パターンを判定し、その結果を表示装
置16に供給して表示する。
本例では、底面1bの走査開始点および走査終了点との
間をほぼ等間隔に分割して、これら開始点および終了点
を含む25個の測定点X + 、 X、 2 。
・・・、×2.を設定し、これら測定点に対応する出力
e+、e2・・・、e25をサンプリングする。ここで
、各測定点の粒子層の平均的な透過率をkl、に2゜・
・・、に25とし、粒子層以外の光路的物質(サンプル
液、反応容器材料等)の総合的透過率をに′ 1゜k′
 2.・・・、に’25、各測定点における入躬光樋を
ほぼ等しいものとして10、増幅器13の1jl幅度を
△、受光素子6の変換効率をKとすると、et=に−A
−k i  ・k’ i  −(。(i =) 、 2
 。
・・・、25〉となる。今、反応容器1aに粒子を含ま
ない反応溶液を収容したとき、すなわちki=1のとき
の出力が100mVとなるように、増幅度Aを調整する
と、粒子を含む反応溶液を収容したときの各測定点にお
番ブる出力eiは、−ei= 100ki どなり、例えば第8図Aに示すような分布となる。
ここでρ1=1−kiを新しく定義すると、これは各測
定点において散乱や吸収によって光が透過していかない
度合を表わすことになる。このρiを100倍したφρ
′iは、ρiのパーセント表示量であり、 p’ i = 100ρi =  100−100k 
i =  100−eiとなる。すなわち、このρ′i
は粒子を含まない反応溶液を収容したときの出力100
mVから、粒子を含む反応溶液を収容したときの出力e
iを差し引いた値で、粒子による出力値の減少分をパー
セン1〜で表わしたものであり、粒子層の厚さによって
定まるものである。したがって、第8図Aに示すような
elの分布に対応するρ′iの分布は第8図Bに示すよ
うになり、第8図AおよびBにおいて斜線を施して示す
面積は等しく、これは粒子総量に対応することになる。
本例では、このρ′1を用いて以下の3つの判定工程を
行なって凝集パターンを判定する。
(1)先ず、ρ′1の総和s=、Σ ρ′1を求め1+
+す る。この総和Sは、ρ′iが各測定点における粒子層の
厚みに対応するものであるから、粒子総量に対応するも
のとなる。次にこの総和Sと適当な基準値S+ 、82
  (31>82 、’とを比較して粒子の濃度領域を
判定する。すなわち何らかの理由で粒子が殆どあるいは
全熱分注されなかったり、過剰に分注された場合には正
しい凝集パターンが形成されないため、そのような粒子
量に対応してSl、S2を設定し、これらとSとを比較
して以下のように粒子の濃度領域を判別する。
S>St :D (lい) S1≧S≧S2;N(ノーマル) S<82;T(薄い) 本例では、濃度領域がDおよびTど判別されたときは、
異常あるいは疑問「?Jの判定をし、Nと判別されたど
きのみ次の判定工程に進む。なお、第1図〜第6図はN
の濃度領域に入るものとする。
(2)次に、底面1bの最下点(中心点)に対応する測
定点×18を含み、その近傍の測定点×11. X1j
l 、 X14 、 X15の5点に対応するρ′iの
平均値、すなわち底面中央部の粒子)  層の厚さの平
均値ρ′Cと、周辺部の測定点X5.X6.X7および
×□9− X20.×2□の6点に対応するρ′iの平
均値、すなわち周辺部の粒子層の厚さの平均値ρ′pと
を求めて、r=ρ’c/ρ′pを演算し、この比rど所
定の基準値 R+ 、R2(R1>R2)とを比較する
。すなわち、第1図および第5図に示したように強い粒
子結合があり、周辺部に粒子が多く残つCいるパターン
では、中央部の粒子層の平均的厚みの周辺部のそれに対
する比rは小さく、第2図、第4図および第6図に示し
たように、粒子結合の殆どないパターンではその比rは
大きい。また、第3図に示したように、粒子結合が中間
的なパターンではその化rは中間の大きさとなる。そこ
で、この比rと実験的に定めた2つの基準値R1,R2
とを比較することにより、r>R+:r−J R1≧r≧R2;「?」 r <R2: r+J と判定する。
しかしながら、上記<1>、(2)の判定工程では、第
2図および第6図のパターンの区別ができないので、更
に次の判定工程を行なう。
(3)第2図および第6図のパターンでは、第2図Cお
よび第6図Cから明らかなように、粒子量の分布すなわ
ちρ′1の変化の仕方が異なり、第2図の方が第6図に
比べてρ′iの変化が急峻である。そこで、本例では先
ず隣接する測定点におけるρ′iの差Δρi=1ρ′1
−ρ’i++lすなわち勾配を求め、この差Δρiの中
央の測定点×18を境とする両側でのそれぞれの最大値
、すなわち測定点×1〜X18間での最大値Δρ11と
、測定点×、8〜×25間での最大値Δρ12とを選択
して、その平均値すなわち最大勾配の平均値Δρim=
 (Δρ11+Δρi 2)/2を求める。このΔρi
mは第1図〜第6図に示した各パターンで異なり、第3
図、第5図および第6図に示したように、粒子結合がわ
ずかでもあるパターンの場合には、第2図および第4図
に示したように、粒子結合のないパターンに比べ小さく
なり、第1図に示したように、粒子結合の強いパターン
では更に小さくなる。
そこで、この平均値Δρimと実験的に定めた2の基t
4偵H+ 、R2(Hl >R2)とを比較し、 △ρin>Hl:rJ 1」1zΔρim>1−12: r?J△ ρ im<
  ト12   :   r+Jと判定する。
本例においては、上記(1)、(2>および(3)の各
判定工程を行ない、次表に示すように(1)の判定工程
において温度領域がDおよび王と判別されたときは、そ
の反応溶液については(2)および(3)の判定工程を
行なわずに只常「?」と判定し、濃酸領域がNと判別さ
れた反応溶液については(2)および(3)の判定工程
を行ない、これら(2)および(3)の判定工程におい
て両者の結果が一致したとき、その判定を正しいものと
し、それ以外は具常として「?」を表示する。このよう
にすれば、上記(2)の判定工程においては「−」と判
定される第6図に示すようなパターンも、上記(3)の
判定工程では「+」あるには「?」と判定され、最終的
判定結果どして「?」が表示されることになる。このよ
うにして、不正確なパターンを全て「?」として表示し
て再検査の対象とすることにより、「+」を「−1に、
あるいは「−」を1+」に判定するような不正確な判定
を有効に防止できる。
−− なJ3、本発明は上述した例にのみ限定されるものでは
なく、幾多の変更または変形が可能である。
例えば上述した例では底面が逆円錐形の反応容器を、基
板に複数個マトリックス状に形成したマイクロプレート
を用いたが個々に分離された反応容器を用いることもで
きると共に、底面の形状も片流れ屋根形、切妻屋根形、
ピラミッド形等種々のものを用いることができる。また
、上述した例では反応容器底面を一様照明してその像を
結像させ、その像面において微小な受光面を有する受光
素子を移動させることにより底面を走査するようにした
が、点光源により底面をスポット照明してその像を受光
素子上に結像させるようにして、点光源により光スポッ
トを底面に対して移動させて走査したり、その他の種々
の走査方法を採用することができる。更に、上記(2)
の判定工程においては中央部および周辺部の粒子層の厚
さの平均値をそれぞれ求めるようにしたが、中央部およ
び周辺部のそれぞれ1つの測定点にaBブる粒子層の厚
さから、凝集パターンを判定するようにしてもよい。
い。史にまた、上記(3)の判定工程においては、隣接
する測定点における粒子層の厚さにより勾配を求めるよ
うにしたが、この勾配は1個あるいは複数個おきの測定
点間の粒子層の厚さにより求めでちにい。また、」上述
した例では3つの判定工程を行なったが、これらの判定
工程のうち任意の1つを除いてもよい。更に、1つの判
定工程として従来提案され(いる底面最下点を含む部分
と、この部分から閤れた周辺部との光電出力の差をとる
判定法を取り入れることもできる。また上述した例では
サンプリング点を25点としたが、この数は任意に設定
することができる。
以上述べたように本発明においては反応容器底面の像を
走査してその光電出力を複数サンプリングし、これらサ
ンプリングした複数の光電出力に基いて少く共2段の判
定工程を経て、底面に形成される凝集パターンを判定す
るようにしたから、常に正確な判定ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図A、B、C−第6図A、B、Cは凝集パターンの
6つの態様を示す線図、 第7図は本発明を実施する粒子凝集パターン判定装置の
一例の構成を示す線図、 第8図AおよびBは第7図に示す判定装置による判定法
を説明するための線図である。 1・・・マイクロプレート 1a・・・反応容器   1b・・・底面2・・・光源
      3・・・照明用レンズ4・・・拡散板  
   5・・・結像用レンズ6・・・受光素子    
7・・・送り用ねじ8・・・ガイド     9・・・
取付(プ金具10・・・モータ    11.12・・
・ギア13・・・増幅器    14・・・A−D]ン
バータ15・・・演算装置   16・・・表示装置第
7図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、底面の少く共一部を傾斜面とした反応容器に収容し
    た反応溶液中の粒子が沈降して底面に形成される粒子凝
    集パターンを光電的に検出して判定するにあたり、前記
    反応容器の底面に形成される凝集パターンを走査し、こ
    の際得られる出力信号を複数サンプリングしてこれらサ
    ンプリング点における複数の測定値に基いて少く共2段
    の判定工程を経て前記凝集パターンを判定することを特
    徴する粒子凝集パターン判定方法。 2、前記判定工程として、前記凝集パターンを形成する
    粒子総量を求め、この粒子総量が所定の範囲にあるか否
    かを判定する工程を含むことを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の粒子凝集パターン判定方法。 3、前記判定工程として、前記凝集パターンの前記反応
    容器底面の最下点を含む部分の少く共一つのサンプリン
    グ点における粒子層の厚さと、この部分から離れた周辺
    部分の少く共一つのサンプリング点における粒子層の厚
    さとの比を求め、この比と所定の基準値とを比較する工
    程を含むことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
    粒子凝集パターン判定方法。 4、前記判定工程として、所定のサンプリング点におけ
    る測定値の勾配を求め、この勾配と所定の基準値とを比
    較する工程を含むことを特徴とする特許請求の範囲第1
    項記載の粒子凝集パターン判定方法。
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