JPS5990277A - カセツト式記憶装置 - Google Patents

カセツト式記憶装置

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JPS5990277A
JPS5990277A JP57197716A JP19771682A JPS5990277A JP S5990277 A JPS5990277 A JP S5990277A JP 57197716 A JP57197716 A JP 57197716A JP 19771682 A JP19771682 A JP 19771682A JP S5990277 A JPS5990277 A JP S5990277A
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memory
capacitor
line
pull
voltage
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石井 孝寿
Noboru Yamaguchi
登 山口
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Toshiba Corp
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    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/141Battery and back-up supplies

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は活線挿抜が要求されるカセット式記憶装置に関
する。
〔発明の技術的背景とその問題点J パーソナルコンピュータ等の小形1′に@処理装置にお
いて、外部記憶装置として、あるいは主記憶装置の拡張
用記憶装置としてカセット式の記憶装置(以下、メモリ
バンクと称する)が頻繁に用いられるようになってきた
。このメモリバンクはコネクタを介して本体の接にある
いは取りはすしができる様に構成される。
ところで、従来、本体にメモリパックを活線挿抜(本体
の電源をONにした筐までメモリバンクをコネクタに挿
入したり抜いたりする)する場合)電源を投入したまま
の状態でメモリパンクを抜き差しする状態ではコ坏りタ
ビンの接触状態をあてにすることはできない。即ち、活
線挿抜時の本体インターフェースとのコイ・フタビンの
接続状態(j−序)は、メモリパンクの挿入時の傾き、
あるいは早さによりランダムとなってし筐う。
ところで上記メモリパンクはバノテリバノクアノグ手段
を備えておシ、この電源回路のコンデンサとして相当容
危の大きなものを用いている。これにより長時間電源電
圧を保持し急激な電圧変化を与えない様に設計されてい
る。従ってパンク抜去時、本体から受けている電圧を急
激に下げる国難であった。このため、バノクテータは本
体電源の影:#全党け、活線挿抜時におけるデータ保護
制御を確実に行なうことはできなかった。
〔発明の目的〕
本発明は上記欠点に鑑みてなされたものであり、平滑コ
ンデンサと並列にプルダウン抵抗を挿入することによp
、挿抜状態を電源電圧として短時間のうちに反映させ、
これにより活線挿抜時におけるデータの保護制御を確実
に行い得るカセット式記憶装置を提供することを目的と
する。
〔発明の概要〕
本発明は)活線挿抜が侠求され、パンテリバックアップ
を備えたカセット式記憶装置であって、平滑コンデンサ
に並列にプルダウン抵抗を挿入することにより、カセッ
ト式記憶装置の抜云時、コンデンサに残る電荷を速やか
に放電し、コンデンサ両端の電圧を短時間のうちに0ボ
ルトに近ずけることを特徴としたものである。
このことにより、挿抜状態を電源電圧として短時間のう
ちに反映させ、活線挿抜時におけるデータの保岐制御を
確実に行うものである。
(発明の実施例〕 以下、図面を使用して本発明に関し詳述する。
第1図は本発明が実現されるメモリバンクの内部構成を
機能ブロックにて示したものである。
図において、1はメモリ部でありパンテリバックアップ
を行なう関係上、消費電力の少ないCMO3か使用され
る。2はこのメモリs1をコントロールするメモリ制御
回路であって、データ・アトレアドレスライト・チップ
イネーブル(CE)等各棟メモリコントロール信号生成
のための回路が含まれる。
3は電源気圧監視回路である。上述した様に活線挿抜を
行なう場合、本体′gL源を投入したままの状態でメモ
リバンクを抜き差しする途中ではコネクタピンの接触状
態をあてにすることはできない。
従がって、電源監視回路3はメモリパックの挿入が完了
してから一定時間待った後動作許可される様にして誤動
作を防ぎ、抜去が始まったら直ちに動作を禁止し誤動作
を防ぐと共に内部状態・記憶の保護を行なう。詳細は後
述する。
4はスイッチ回路である。スイッチ回864は本体側か
ら電源ライン10を介して伝達きれる電源とバックアッ
プ用電池6による電源の切替えを行なうだめの回路であ
る。5は電源ライン10への電流の廻り込みを防ぐため
に設けられる逆流防止回路である。7idゲ一ト回路で
ある。ゲート回路7は電源電圧監視回路3から得らする
信号(ライン12)により、メモリ部1に供給される制
御信号の一部をゲートする。
尚、ライン11はメモリ部1の電源ライン、ライン12
は本体とのインターフェースラインであって詳しくはデ
ータ及び制御ラインから成る。又、メモリ制御部2はラ
イン]1を介して供給される電源によシ動作する様に構
成される。これについても詳細は後述する。
第2図は第1図に示した各機能ブロックの具体的回路構
成を示す図である。
図において、41・42はダイオードである。ダイオー
ド41・42は電源ライン10を介して供給されるVc
cとバックアップ用電池61出力との切替えを自動的に
行なうものであり、メモリバンクが本体に挿入されてい
るときには夕′イス・−ド41が、本体と切離さ?して
いるときにはダイスート42がそれぞれONとなり、電
源Vcc及びVDDをメモリ1ならびにメモリ制御部8
621へ供給している。電源VDDはライン11を介し
てメモリ制御回路21、メモリ1へ供給される。この電
圧はメモi) ハックを本体へ挿入したとき、はぼVc
cと同じ′電圧(+5V)となり、その他はバノクアノ
ノ用′亀池61の待つ電圧(2〜3V)  と等しくな
る。
本発明実施例では、パンテリバックアップの範囲を広く
しメモリ1のみならずメモリ制御回路21も含めている
。メモリ制御回路21はCIV10Sg子テ構成すれ、
バッチIJ 、p<ツクアップ時これらの素子はスタン
バイ状態となって0N10FFが固足されることにより
非常に少ないリーク電流が流れる。
従がってバッテリの寿命にはほとんど影4Iを与えるこ
とをなくすることができる。
このとぎ、CMO8素子はスタンバイされているが、素
子内部はGND又は電源のどちらかと低インピーダンス
にス1ノチングされているので回路自体は低インピーダ
ンスに保たれる。
メモリ制御回路21はアドレスのデコード、ライト・イ
イ・−プル信号の発生、データの切替え等メモリ制御に
必要な信号の発生・処理を行なう。
22はメモリ1へ送出されるCEを制御する信号を反転
する1ンバータである。インバータ22出力はナンドケ
ート71の一入力端子へ供給される。
ナントゲート71の他方の入力端子へはメモリ制御回路
21出力及び後述する電源電圧監視回路3より出力され
る動作計可信号(ライン12)が供給されておシ、この
ゲート71によりメモリ1に対し供給されるCE倍信号
制御する。ライン12を伝播する信号は電源電圧監視回
路3の出力であり、Vccが正常(+5V)のときには
”)IIGH”レベル、その他の時にはLOW”レベル
となる。ライン13を伝播する16号はメモリ制御回路
21の出力でアドレスをデコードしたもので66゜又、
ライン14を伝播する信号は同じくメモリrb:Ju回
路21から出力される信号で、データ・ライトイネーブ
ル・アドレス等CE信号を除く、メモリ制御のために必
要な信号を全て含む。ライン16・18も同様である。
ライン17はCSイお号が伝播し、メモリlのREAD
/WRITE時のみ“’LOW”レベルとなり、その他
の場会(活線挿抜時も含む)は“RIG)l”レベルか
70−ティングの状態にある。ライン19も同様である
。ライン15を伝播する1に号はその信号を反転させた
もので、メモリ1のREAIJ/WRI−TE時にはバ
ンクアップ用電池61としては本体電源Vccより低電
圧で且つメモリデータを保持するのに最小限の電圧値の
ものが使用される。不発明実施例ではメモリバンクを挿
入している以外の時はメモリ制御回路21にも電源を供
給している。
そのため、メモリ制御回路21は静的消費電流が少ない
CMO8素子で構成されるのが望ましいし1又、電池で
動作させる関係からも低電圧で動作し得る0MO8が適
しているヶ 尚、メモリ1のCE大入力“’HIGH’”レベルでス
タンバイ状態となりデータの保持を行ない、”LOW’
”レベルでメモリ1のREAD/WRl ’l’E ′
l)i可能となる。
ところで、活?fM挿抜される信号線は抜去される前は
非選択状態になっている。その後抜去されるとその信号
ラインは開放状態となるから、その代りとしてツルアソ
ゲあるいはプルダウン抵抗により非選択状態全女足に継
続する様にしてやる必要がある。ツルアソゲすべき信号
はノくソテリノくツクアップ電圧により竹ない、フルダ
ウンすべきものは本体から供給さgる電圧で行なうこと
により自然に成される。
図中、53・54は正常動作時のHIGH”レベルを保
証するツルアノブ抵抗、55はプルダウン抵抗である。
抵抗55はVccが本体から供給されていないとき電W
ライン10を充分低い値に保つために用いられる。メモ
リバンクを本体へ挿入時、電源(Vcc;十5V)は%
i、源ライン10を介して本体から供給される。本体の
電源がOFFのとき、あるいはメモリバンクを本体へ挿
入していないときに(は抵抗55の存仕により、はぼO
ボッ7トに保たれる。このことにより、挿抜状態を電源
電圧として短時間のうちに反映させ、これにより、活線
挿抜時のデータ保欣・制御を確実に行なう。
一般的TYarとしてメモリパンク等篭諒回路のコンデ
ンサは容量の太きいものとしておき、なるべく長時間電
源電圧を保持し、急奴な電圧震化を与えない様に設計さ
れていたものである。本発明実施例ではこの常識の逆を
行なっており、非常にユニークな力式となっている。
即ち、本体から供給される電源電圧を平滑する目的で設
けらnるコンチンv81 (第4図)に並列にプルタウ
ン抵抗55を挿入し、これにより、抜去時コンデンサ8
1に残る電荷を速やかに放電しコンデンサ81両端の電
圧を短詩…」の内にOボルトに近すけている。
このプルダウン抵抗55により、挿抜状態を電源電圧と
して短時間のうちに反映させ・これにより活線挿抜時の
テータ保畿制御を確実に行って1ハる。
第4図(a)・(b)にはそれぞれ従来、本発明におけ
る電源回路の例が示されている。
図中、81はjl′−滑コンテンサであり、・1世、第
3図と1O1一番号の付されであるブロック乃至記号が
示すものは第3図のそれと同様であるとする。
51・52は逆流防止のために設けられるダイオードで
ある。ダイオード51・52は活線挿抜時、イア5’−
フェース信号ライン16・17にょシミ伽Vccが持ち
上けられるのを防ぐ。
活線挿抜時、本体から供給式れる信号のうち、″か71
め″となる選択信号(デバイスセレクト)は不カティブ
(無化号)状態となっている。した踵信号線のうちの何
本が、例えはデータライン、アドンスライン、REAL
)/WRI TE :フイン(インターンエースジイン
16・17)r、Iアクティブ状態の筐ま出力きれでい
るものかめる。−カ、活線挿抜時、本体1ンターンエー
スとのコネクタビン゛の接わ°ε状態は装置の挿入時の
傾き、年忌によりランダムになってしまうことは上述し
たとおりでめり、従かって電源やグランドの接続が確保
ざ扛ないため異弗現象が起こることは目に見えて明らか
である。こnに対処するため本発明実施例では流入電流
防止用として外向きにダイオード51・52を挿入して
いる。これらダイオード51・52を挿入することによ
り、止′吊動作時、入力信号が’LOW”レベルから’
)JIGM”レベルになる吻合、グイ7−ト51・52
か逆バイアスとなり、ライン18・19がカットオフさ
れてし嫌うが、各々のグルアノグ抵抗53・54にょシ
ミ圧は上昇するため、問題は発生じない。
次に電源電圧監視回路見にっき肝細に説明する。
第3図は電源電圧監仇回路見による7u圧監視のイ求子
をタイミングチャートにて示し7こものでろる。
図中、第2図と回一番号あるいはSl−記号の付されで
あるものは第2図のそれと同(求のものであるとする。
活線挿抜を行疫う場合、電源を投入した壕まり状態でメ
モリパックを抜き挿しする途中ではコネクタビンの接触
状態をあてにすることはできない。
従がって内部回路はメモリパンクの挿入が′i、−了し
てから一定時間待った後動作許可される様にして誤動作
kV5さ′、抜去か始lったら直ちに動作4県止し、誤
動作を防ぐと共に内部状態・記憶の保護を行なう必要が
ある。このため、本発明実施例ではコンデンサ302と
抵抗303で構成される時定数回路によりメモリパンク
挿入時の遅れ時間全作り、抵抗306と307の分圧に
よりメモリパックの抜去を検出し、これら信号をトラン
ジスタ310と311で構成されるアンド回路により動
作禁止信号を作っている。
ダイオード301はメモリパックの再投入に備え、上記
コンデンサ302と抵抗303により決定される時定数
を早期に回復させるため、コンデンサ302に残った電
荷を放電するために設けられる。
尚、本発明実施例では、トランジスタ310・311と
トランジスタ312の様に相補型のトランジスタ(PN
Pに対するNPU、NPNに対するPNP)でインーハ
ータを構成しているが、これは同−型トランジスタでイ
ンバータを組む場合における電源電圧の過渡期における
不安定出力(ハサート)が出ない様にするだめのもので
ある。
い1、メモリバンクを本体から外しであるとすればVc
cはほぼOボルトであり、トランジスタ310・313
は全てQFFとなっている。従って、ライン12を伝播
する信号は抵抗314の存在により”LOW”レベルで
ある。C8(Chip 5elect )信号ライン1
7はそのときフローティングの状態にあジ、ライン19
を伝播する信号は抵抗54と電源VDDによυ“’HI
GH”レベルとなり、従がってインバータ22を介しラ
イン15を伝播する信号は’LOW”レベルとなる。ゲ
ート71はナンドケートで構成されるため、その入力の
うち1つ以上が”LOW”レベルであると、その出力は
HI GH’″レベルなり、従がってメモリ部1はスタ
ンバイ状態に保たれデータは保持される。
本体にメモリバンクを差し込むときには信号線16・1
7電源ライン10及びGNDライン20のどれが最初に
本体に接続され、又どれが最後に接続されるかは上述し
た如く不明である。活線挿抜時、本体側から送出される
C8信号は”HIGH”レベルになっている。
電源・GNDが接続されるとVccラインの電位が上昇
し、トランジスタ310はVccがある設定点に達する
とONし、その後遅れて(この遅れ時間は抵抗303・
304・305、コンデンサ302により決定)トラン
ジスタ311かONする。トランジスタ310・311
の両刀がONするとトランジスタ313がONし、トラ
ンジスタ313のコレクタ出力(ライン12)はほぼV
ccの電圧と等しくなり、ゲート71を介して本体から
のメモリアクセスが可能になる。
本体からメモリバックを抜くときにはVccの下降につ
れてトランジスタ310のベース電位も下降し、これに
よってトランジスタ310をOFFさせる。トランジス
タ310のOFFにより同じトランジスタ313も0F
FL、従がってライン12を”LOW”レベルにしてゲ
ート71を閉じる。Vccの下降に伴ないコンデンサ3
02の電荷はダイオード301によ5Vccに放電て扛
る。
尚、電源電圧監視回路3はvCCの上昇時C8佃号ライ
ン19が追従しないとき、ライン21に正の短かい信号
が出るb」能性があるのでその不要信号の除去にも役立
つ。
〔発明の効果〕
以上説明の如く本発明によれは本体側に特別な回路を持
つことなく又、%!Aな接続構造を狩たずに活線挿抜が
行なえ、確実にデータ保持が可能である。本発明によれ
ば他に以下に列挙する効果を有する。
(1)  メモリハックを活線挿抜する際%、諒状態を
監視することにより確実に有効信号を構成することがで
き従って誤動作防止かはか扛る。
(2)  メモリ素子のみならずメモリ周辺の制御回路
もバソテリバソクアンプすることによシ装置を低インピ
ーダンス状態に保ち、靜電劇圧を増すことができる。
(3)逆流防止のだめのダイオードを外方向に挿入する
ことでメモリパックを活線挿抜する際、抜き差しした場
合に発生する異常電流の蜘り込みを防止できる。
(4)プルダウン抵抗の挿入により、活線挿抜の際本体
から受けている電圧を直ちに下げ内部回路及びデータの
保睡を確実に行ない得る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明が実現されるメモリノよツクの内部構成
を機能的に示したブロック図、第2図は第1図に示した
各機能ブロックの具体的回路構成を示す図、第3図は本
発明の動作を示すタイミングチャート、第4図(a)・
(b)はそれぞれ従来・本発明における電源l!ll!
回路の例を示す。 1 メモ1ハ2・21 メモリ制御部、3 電源電圧監
視回路) 302・303 時定数回路、 4 電源切替回路、4
1・42 電源切替ダイオード、 5・逆流防止回路、 51・52 逆流防止ダイオード、 53・54・プルアンプ抵抗、 55 プルダウン抵抗、6・61 電池、7 ・71 
 ゲート。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. バノテリバノクアノプ手段ヲ術えたメモリを内蔵するカ
    セット式記憶装置において、本体との接続は活剥挿抜が
    安来される場合、本体から供給される電源電圧を平清す
    るコンデンサにプルダウン抵抗を並列に挿入し、抜去時
    該抵抗を介してコンデンサに残る電荷を放電し、コンテ
    ンサ両端の電圧を短時間のうちにOボルトに近ずけるこ
    とを特徴とするカセット代配1.は装置。
JP57197716A 1982-11-12 1982-11-12 カセツト式記憶装置 Granted JPS5990277A (ja)

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