JPS5966339A - 真空装置 - Google Patents

真空装置

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JPS5966339A
JPS5966339A JP17452182A JP17452182A JPS5966339A JP S5966339 A JPS5966339 A JP S5966339A JP 17452182 A JP17452182 A JP 17452182A JP 17452182 A JP17452182 A JP 17452182A JP S5966339 A JPS5966339 A JP S5966339A
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JP
Japan
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valve
pressure
vacuum chamber
vacuum
leak
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JP17452182A
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JPS6236737B2 (ja
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Hideki Tateishi
秀樹 立石
Hide Kobayashi
秀 小林
Tamotsu Shimizu
保 清水
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Hitachi Ltd
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Hitachi Ltd
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B01PHYSICAL OR CHEMICAL PROCESSES OR APPARATUS IN GENERAL
    • B01JCHEMICAL OR PHYSICAL PROCESSES, e.g. CATALYSIS OR COLLOID CHEMISTRY; THEIR RELEVANT APPARATUS
    • B01J3/00Processes of utilising sub-atmospheric or super-atmospheric pressure to effect chemical or physical change of matter; Apparatus therefor
    • B01J3/006Processes utilising sub-atmospheric pressure; Apparatus therefor

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)
  • Chemical Vapour Deposition (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、例えば半導体製品などの真空中処理に用いら
れるところの、真空室とJij空ポンプとを備えた真空
装置に関するものである。
第1(9)は基板の貞、空中処理のために構成された従
来形の貞空装慣を示す。
1け真空室で、配管2を介して真空ポンプ7に接続され
、上記の配管2の途中にバルブ6が設けられている。
説明の便宜上、前記の配管2の内でバルブ6よりも真空
室側の部分全真空室側配管2aと呼び、バルブ3よりも
真空ポンプ側の部分をポンプ側配管2hと呼ぶ。
上記のバルブ6と並列にバイパス配管4が設けられ、こ
のバイパス配管4の途中にバイパスバルブ5およびmL
t 調節バルブ6が設けられて−る。
また、前記の真空室1はリーク配管8全介してリークガ
ス源13に接続され、該リーク配管8の途中にリークバ
ルブ9が設けられている。そして、上記のリークバルブ
9と並列にバイパスリーク配管10が設けられると共に
該バイパスリーク配管10の途中にバイパスリークバル
ブ11および流量調節バルブ12が設けられている。
真空室1にはwi閉扉全備えた基板挿入口(共に図示せ
ず)が設けられていて基板14の挿入。
取出しが可能なよ・うになっている。  :以上′、説
艷−i ・*、7iO真空装憶、を・使、用テ乞際ハ、
バルブ3、バイパスバルブ5、リークバルブ9J及びバ
官バス□す□−多□バルブ11を閉り、て真空ポンプ7
を作動させ、ボ、ンプ側配管2h、並びにバイパス配管
4のポンプ側□内を真空にすると共に、真空室1内に基
板14を挿入する。次い □でバイパスバルブ5を開き
、流量調節バルブ6で流量を制限しつつ真空室1内の空
気を排出する・この門?−蝉り制限、する理由は真空室
1内の排気を徐々に行って該真空:室1内の異物(たと
えば塵埃など)の舞、い上がシに防止する、     
 ′ ためである。    、  ・  。
前記のように操作した場合の真空室1内の圧力降下状態
全第2図に示す。ぞ。は大気圧、toはバイパスバルブ
5の開弁、時点である。真空室1内の圧力降下は流量調
節バルブ乙によって適宜に抑制され、tlの時点でPl
□どなる。63時点でバルブ6を開くと圧力降下が促進
され、62時点でほとんど圧力Oとなる。このようにし
て真空室−内・1をX窒にI−て基板14の処理4を行
なり、処理・!終ぞと″ケア”3及びパイ、、+< 2
 /< At ’7−を閉じた′複パイシ(玉リークバ
ルブ11を開き、流量調節弁1′12によって流量を1
m1j限しつつリークガス源13の1)ニクガスを真空
室1内に逸文し、門々に圧力を上昇させた後さらにリー
クバルブ9金開き大気圧に復元させて1サイクメノを完
了:ず乏。
・以上VC説明した従来形の真空装置においては、1c
空室1内の降圧、昇圧スビー・ド全流量調節弁で制御し
て徐′に行なわせるが・欠配? 、、、、、+″うな不
具合がある。
第2図において、to時点アバブバスバ、ルイ゛5を開
弁じた瞬間の産力降下率(イ配角θ、ソ表わされる)は
かなり大きい値へな骨。たとえば、真窒寧1および真空
冷側配管2aとの合計容積が5t、バイパスバ、ルブ5
4通しての排気速度がAt/S’(D時、バイパスバル
ブ57開いた胆、間の圧力降下曲線の微係数は610′
TOγτ/3という太・きい値と外る。   −′  
  − この結果負窒室1内は衝撃的にわ1.気され、激しいガ
ス流が発生し、真空室1内にあるゴミ。
ホコリなどの異物を舞い上げ、その一部は基板14に付
着する。その結果異物に原因する不良が増加し、基板1
4の歩留υを低下させる。
こうした不具合を避けるために流量調節バルブ乙の開度
全極度に小さくすると、降圧カーブは緩やかに寿るが所
定圧力1で降下するに要する時間が著しく長くなるとい
う不具合を生じる。
真空室を大気圧リークさせる場合も同様である。
本発明は上述の事情に鑑みて為され、真空室内の真空排
気開始時や大気圧リーク開始時における圧力変化率を小
さくして異物の舞い上がりを防止するとともに、真空排
気所要時間や大気圧リーク所要時間を短縮し得る真空装
置″ff:提供することを目的とするものであ、る。 
 □上記の目的を達成するため1本発明の真空装置は、
真空室と真空ポンプとを管路によって接続すると共に、
上記の管路中にバルブを介装してなる真空装置において
、上記の真空室とバルブとの間に紋り手段を設、け、該
絞り手段とバルブとの間にバッファ室を構成したことを
特徴と    :する。
次に本発明の一実施例を第3図及びq 、、4.図に 
  □2いて説明する。           、  
   ′真空室1を、紋り15、バッファ室161.バ
ルブ3、及びポンプ側配管2bヲ介して、X、 をポン
プ7   :に接続する。    、    、   
 ・      □上記のバッファ室16は従来装置(
第1図)における真空室側配管2αに押当す否位を欝に
設けるが、真空室側配管2aに比して適宜に内安積を大
きく設定しである。従来装置(第1図)において必須の
構成部材アあったバイパス配管う、バ   □イパスバ
ルブ5及Q ’Mf量−節バルブ6.は設ける必要が無
い。
本実施例においてはリークガス源13を11.−クバル
ブ9及びν−り配管8全介して前記の、バッファ室16
に接続する。従来装置(第1 II )、において必須
の構成部材であったバイパスリーク配管10、バイパス
リークバノーブ11、及び流量調節弁12け設ける必要
が無い。
以上のように構成した真空装置全使用する際はバルブ3
及びリークバルブ9全閉じ、真空ポンプ7全運転してポ
ンプ側配管2b内を真空排気する。そして真空室1内に
基板14を挿入した後、バルブ3全關〈。すると第4図
に示すごとくバッファ室16内の圧力Aυ、比較的急速
に下降するが、真空室1内の圧力Bは絞り15の作用に
よシバソファ室内圧力A、l:#)も遅れて緩やかに下
降する。所定圧力せで陸下した後基板14の処理を行な
う。
基板14の処理完了後、バルブ3を閉じ、IJ−クバル
ブ9を開くとバッファ室16内の圧力は比較的急激に上
昇するが、真空排気の時と同様に紋り150作用により
真空室1内は緩やかに圧力上昇する。所定の圧力に達し
た後リークバルブ9全閉じ、負空室1から基板14全取
り出して1ザイクルの操作を完了する。
以上説明したように、降圧時も昇圧時も、その最初にお
ける真空室1内の圧力の急変が緩和されるので同真空室
1内で異物が舞い上がる虞れが無く、異物何着による歩
留丑υ低下が未然に防止される。
本実施例(第3図)のように、負空室内にリークカスを
送入するリーク配管8をバッファ室16に接続しておく
と、該バッファ室8及び紋り15による圧力急変緩和機
能が真空排気の除にも大気圧リークの際にも有効に作用
゛ノーる。
また、本実施例(第6図)と従来形装置第1図と全比較
I〜で容易に理解されるように1本発明の適用によって
バイパス配管およびこれに何滴するバルブ類を設置する
必要が無いので、構成が著しく簡単に々る。従って製造
コストの低減、操作の容易化、点検整っ1hI数の低減
に関しても有効である。
また、本発明によると真空ポンプ7の排気速度、真空室
1の容積、配管2および紋り15の排気抵抗の値を適宜
に選ぶことにより頁?ン室1内の降圧、外圧時の最初に
おける圧力急変全緩和 、しつつ、降圧期間中並びに昇
圧期間中の圧力の時間変化率全任意に設定できる結果、
異物舞い上がりを防止1一つつ、しかも降圧所要時間、
昇圧所要時間を短縮して作業能率を向上させることがで
きる。
第5図に上記と異なる実施例を示す。真空室1、バルブ
3、真空ポンプ7、ポンプ側配管2z及びリークガス源
13は前述の実施例(第6図)におけると同様の構成部
材である。また、従来装置(第1図)と同一の図面参照
番−号を付したバイパス配管4、バイパスバルブ5、リ
ークバルブ9、及びバイパスリークバルブ11は従来装
置におけると類似の構成部材である。
本実施例(第5図)においては、バイパス配管4の途中
にバイパスバルブ5を設けるとともに、該バイパス配管
4と真空室側配管2aとの間に絞り15を設けて、該紋
如15とバイパスバルブ5との間にバッファ室16ヲ形
成しである。そして、リークガス源13はバイパスリー
クバルブ11を介してバッファ室16に、リークバルブ
9全介して真空室1にそれぞれ接続しである。
本実施例の装置全使用するには、バルブ6、バイパスバ
ルブ5、リークバルブ9、及びバイパスリークバルブ1
1を閉じて真空ポンプ7全運転し、ポンプ側配管2h、
並びに、バイパスバルブ5よりも真空ポンプ寄りのバイ
パス配管4内を真空排気すると共に、真空室1内に基板
14を挿入した後、バイパスバルブ5を開く。この場合
の真空室内の圧力変化を第6図に示す。
本実施例の装置(第5図)における圧力変化(第6図)
を、前記実施例(第3図)における圧力変化(第4図)
のBカーブに比・咬すると開弁時点t。からt9時点捷
での出力降下状態はほぼ等しい。真空室1内が所定の圧
力P、になった時点t、になったとき、本実施例のバル
ブ3を開くと、その後の圧力降下は前例におけるよりも
速やかと寿り、t4時点でほぼ0になる。
同様に、本実施例の装置(第5図)におしてはバイパス
リークバルブ11ヲ開いてリークガスを真空室1内に送
入し、該真空室1内の圧力全綴やかに上昇させて所定圧
力に達したときリ−クバルブ9全開いてリークガスを直
接的に(紋シ15を介せずに)真空室1内に送入すると
、その後の昇圧が比較的速やかに行ガわれる。
上記の所定圧力とは、真空室1内を□直接的に(絞り1
5を介せずに)X空排気若しくは大気圧リークしても異
物の舞い上がシを生じない圧力。
を意味し、設計的に若しくは実験的に予め設定しておく
次に、本発明の応用例について第:5図を参照して説明
乎る。この応用例(図示せず)は、第5図の実施例から
バイパスリークバルブ11並びに該バイパスリークバル
ブの接続配管を省略した構成とする。
例えば基板14を真空中処理した後、該基板14を真壁
室1に隣接する他の真壁室(図示せず)に搬送するよう
な場合は、真空室1内に大気圧リークする際、該真空室
1内に基板14が無いから大気圧リークを急激に行なっ
て真空室1内の塵埃金舞い上がらせても、実用上の不具
合を生じない。このよう外場合はリークガス源13のり
一りガスを、バイパスリー・久バ□ルブ・11及び紋・
シ15を介せず:直接的にリーク:バ:ルブ9金通過さ
せて真空室1内に送入・す・る。これによシ犬気す−ク
□所要時間が短縮・される。
以上□詳述したよβう・にン本・発明を・適用すると、
真空装置の真空排□気・□開始時、及び大気リーク開始
時における真空室□内の□圧:力の・急変を緩和して異
物の′舞い上がりで防止す、ることかでき、真空・排気
操作所要時間および大□気リーク操作所要時間を短縮す
・ることかできる゛と・匹う優れた実用的効果金臭する
4、図面の簡単な説明   □      ・    
 □第1図及び第2′図は従来形のlJc空装謂ン:示
し、第1図はブロック図、第2図は圧力変化の・図表ア
あえ。第311’2tヶ第4iS、lゆ本発明。真ゆ装
置  □の一実施例を示し、□第3図はブロック図;第
4図は圧力変化の図表である。第5図及び第6図は上記
と異なる実施例を示し、第・5図はブロック図、第6図
は圧力変化の図表である。
1・・・真空室  □   、2:・・配管2α・・・
真空室側配管   2h・・・ポンプ側配管310.バ
ヤブ      4.1.バイパ虫配管5・・・バイパ
スバルブ  6・・・流t u 節’ ルア”7・・・
真空ポンプ    8・・・リーク配管、。、、 IJ
 −l ’% A/”7’    10゜0.具イ2<
’ 7 ’IJ −7゜11・・・バlfバスリークバ
ルブ 12・・・流址調節バルブ  13・・・リークガス源
14・・・基板       15・・・紋シ16・・
・バッファ室 峙間         。
to     f、3t4 時間 229−

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、 真空室と真空ポンプとを管路によって接トすると
    共に、上記の管路中にバルブを介装してなる真空装置に
    おいて、上記の真空室とバルブとの間に絞り手段を設け
    、該紋シ手段とバルブとの間にバッファ室を構成したこ
    とを特徴とする真空装置。 2、 前記のバッファ室は、真空室内を大気圧にり元せ
    しめるためのリークガスを送入する手段をaiiiえた
    ものであることk %徴とする慣許精求の範囲第1項に
    記載の真空装置。
JP17452182A 1982-10-06 1982-10-06 真空装置 Granted JPS5966339A (ja)

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JPS6236737B2 JPS6236737B2 (ja) 1987-08-08

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS59232269A (ja) * 1983-06-14 1984-12-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd 真空装置
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JPS6236737B2 (ja) 1987-08-08

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