JPS59596B2 - 酸性銅メツキ浴 - Google Patents
酸性銅メツキ浴Info
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- JPS59596B2 JPS59596B2 JP53126287A JP12628778A JPS59596B2 JP S59596 B2 JPS59596 B2 JP S59596B2 JP 53126287 A JP53126287 A JP 53126287A JP 12628778 A JP12628778 A JP 12628778A JP S59596 B2 JPS59596 B2 JP S59596B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- acid
- alkali
- copper plating
- plating bath
- acidic copper
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C25—ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PROCESSES; APPARATUS THEREFOR
- C25D—PROCESSES FOR THE ELECTROLYTIC OR ELECTROPHORETIC PRODUCTION OF COATINGS; ELECTROFORMING; APPARATUS THEREFOR
- C25D3/00—Electroplating: Baths therefor
- C25D3/02—Electroplating: Baths therefor from solutions
- C25D3/38—Electroplating: Baths therefor from solutions of copper
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/22—Secondary treatment of printed circuits
- H05K3/24—Reinforcing the conductive pattern
- H05K3/244—Finish plating of conductors, especially of copper conductors, e.g. for pads or lands
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Materials Engineering (AREA)
- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Electroplating And Plating Baths Therefor (AREA)
- Lubricants (AREA)
- Detergent Compositions (AREA)
- Manufacturing Of Printed Wiring (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、殊にプリント配線の導電路を補強するのに適
した光沢銅被膜を析出させるための酸性銅メツキ浴に関
する。
した光沢銅被膜を析出させるための酸性銅メツキ浴に関
する。
銅メツキ浴に、光沢析出を達成するために、特定の有機
物質を添加することは久しく周知である。
物質を添加することは久しく周知である。
しかし、屡々添加物は、機械的特性殊に硬度及び破壊伸
びの低下ならびに不働体化現象を惹起し、次の処理のた
めには引続き活件化することが必要となる。更に、多数
の抑制剤は金属拡散を劣化すするので、殊に銅層に熱処
理を施した場合、例えばプリント配線にはんだ付けする
場合に穿孔や縁に亀裂が生じる。しかしながらこの目的
に既に公知の多数の化合物、例えばチオ尿素、チオヒダ
ントイン、チオカ1ルバミン酸エステル又はチオ燐酸エ
ステルはそれを用いて得られる銅被膜の質、殊に硬度及
び破壊伸びが極めて悪いので、実用的重要件を有しない
。
びの低下ならびに不働体化現象を惹起し、次の処理のた
めには引続き活件化することが必要となる。更に、多数
の抑制剤は金属拡散を劣化すするので、殊に銅層に熱処
理を施した場合、例えばプリント配線にはんだ付けする
場合に穿孔や縁に亀裂が生じる。しかしながらこの目的
に既に公知の多数の化合物、例えばチオ尿素、チオヒダ
ントイン、チオカ1ルバミン酸エステル又はチオ燐酸エ
ステルはそれを用いて得られる銅被膜の質、殊に硬度及
び破壊伸びが極めて悪いので、実用的重要件を有しない
。
これらの化合物と他の添加物、例えばエチレンオキシド
付加化合物又はポリアミンとの組合せも満2足な結果を
生じない。それ故、本発明の課題は、光沢銅被膜の析出
のためび亀裂形成なしにかつすぐれた破壊伸びを以て、
プリント配線の導電路の補強のために適する酸性銅メツ
キ浴を提供することである。
付加化合物又はポリアミンとの組合せも満2足な結果を
生じない。それ故、本発明の課題は、光沢銅被膜の析出
のためび亀裂形成なしにかつすぐれた破壊伸びを以て、
プリント配線の導電路の補強のために適する酸性銅メツ
キ浴を提供することである。
〉この課題は、本発明によれば、次の成分:
幻 アセトアミド、プロピオン酸アミド、アクリル酸ア
ミド、安息香酸アミド及び式:〔式中、nはO又は1〜
40の整数を表わす〕で示される分子量73〜1600
を有するポリアクリル酸アミドからなる群から選択され
た酸,−アミド0.001〜209/j1特に0.01
〜19/1,B)ポリビニルアルコール、カルボキシメ
チルセルロース、ポリエチレングリコール、ポリプロピ
レングリコール、ステアリン酸−ポリグリコ″ールエス
テル、オレイン酸−ポリグリコールエステル、ステアリ
ルアルコール−ポリグリコールエーテル、ノニルフエニ
ルーポリグリコールエーテル、オクタノール−ポリアル
キレングリコールエーテル、オクタンジオールビス(ポ
リアルキレングリコールエーテル)又はポリオキシプロ
ピレングリコールからなる群から選択された酸素含有高
分子化合物0.0・05〜209/1,特に0.02〜
5.09/11C) N,N−ジエチルージチオカルバ
ミン酸一(ω−スルホプロピルノーエステル(アルカリ
塩)、メルカプトベンズチアゾール−S−プロパンスル
ホン酸アルカリ、3−メルカペトプロパン一1−スルホ
ン酸アルカリ、チオ燐酸−0−エチル−ビス−(ω−ス
ルホプロピル)一エステル(アルカリ塩)、チオ燐酸−
トリス−(ω−スルホプロピル)一エステル(アルカリ
塩)、イソチオシアノプロピルスルホン酸アルカリ、チ
オグリコール酸、エチレンジチオジプロピルスルホン酸
アルカリ、チオアセトアミド−S−プロピルスルホン酸
アルカリ又はジ一n−プロピルチオエーテルージ一ωス
ルホン酸アルカリ塩からなる群から選択された水溶性化
基を有するチオ化合物0.0005〜209/11特に
0.005〜1.09/lを含有することを特徴とする
酸性銅メツキ浴により解決される。
ミド、安息香酸アミド及び式:〔式中、nはO又は1〜
40の整数を表わす〕で示される分子量73〜1600
を有するポリアクリル酸アミドからなる群から選択され
た酸,−アミド0.001〜209/j1特に0.01
〜19/1,B)ポリビニルアルコール、カルボキシメ
チルセルロース、ポリエチレングリコール、ポリプロピ
レングリコール、ステアリン酸−ポリグリコ″ールエス
テル、オレイン酸−ポリグリコールエステル、ステアリ
ルアルコール−ポリグリコールエーテル、ノニルフエニ
ルーポリグリコールエーテル、オクタノール−ポリアル
キレングリコールエーテル、オクタンジオールビス(ポ
リアルキレングリコールエーテル)又はポリオキシプロ
ピレングリコールからなる群から選択された酸素含有高
分子化合物0.0・05〜209/1,特に0.02〜
5.09/11C) N,N−ジエチルージチオカルバ
ミン酸一(ω−スルホプロピルノーエステル(アルカリ
塩)、メルカプトベンズチアゾール−S−プロパンスル
ホン酸アルカリ、3−メルカペトプロパン一1−スルホ
ン酸アルカリ、チオ燐酸−0−エチル−ビス−(ω−ス
ルホプロピル)一エステル(アルカリ塩)、チオ燐酸−
トリス−(ω−スルホプロピル)一エステル(アルカリ
塩)、イソチオシアノプロピルスルホン酸アルカリ、チ
オグリコール酸、エチレンジチオジプロピルスルホン酸
アルカリ、チオアセトアミド−S−プロピルスルホン酸
アルカリ又はジ一n−プロピルチオエーテルージ一ωス
ルホン酸アルカリ塩からなる群から選択された水溶性化
基を有するチオ化合物0.0005〜209/11特に
0.005〜1.09/lを含有することを特徴とする
酸性銅メツキ浴により解決される。
本発明による浴は有利に、特に均一な光沢を有し、更に
良好な金属拡散及びすぐれた破壊伸びの驚異的利点を有
する銅被膜をメツキにより析出させることが可能である
。
良好な金属拡散及びすぐれた破壊伸びの驚異的利点を有
する銅被膜をメツキにより析出させることが可能である
。
それ故、本発明による浴を使用して析出させた被膜は、
殊にプリント配線の導電路の補強に適する。本発明によ
る浴に含有されている個々゛の成分は、それを単独で使
用する場合に満足な結果をもたらさないので、それらを
一緒に使用する場合にその作用を所望の方向に強化する
ものと思われる。
殊にプリント配線の導電路の補強に適する。本発明によ
る浴に含有されている個々゛の成分は、それを単独で使
用する場合に満足な結果をもたらさないので、それらを
一緒に使用する場合にその作用を所望の方向に強化する
ものと思われる。
本発明による浴に含有されている個々の成分は自体公知
であり、自体公知の方法で製造することができる。次の
表1には、成分A)として使用することのできる酸アミ
ドの化合物のすぐれた使用濃度を示す。
であり、自体公知の方法で製造することができる。次の
表1には、成分A)として使用することのできる酸アミ
ドの化合物のすぐれた使用濃度を示す。
ポリアクリル酸アミドは一般式:
〔式中、nはO又は1〜40の整数、特にO又は1〜1
6の整数を表わす〕に一致し73〜1600,特に60
0〜1000の分子量を有する。
6の整数を表わす〕に一致し73〜1600,特に60
0〜1000の分子量を有する。
次の表は、成分B)として使用する酸素含有高分子化合
物のすぐれた使用濃度を示す。
物のすぐれた使用濃度を示す。
次の表1は、成分C)として使用する、水溶性基を有す
る有機チオ化合物のすぐれた使用濃度を示す。
る有機チオ化合物のすぐれた使用濃度を示す。
本発明による銅浴の個々の成分は、一般に有利に、使用
状態の浴中に次の濃度範囲内で含有されていてもよい。
状態の浴中に次の濃度範囲内で含有されていてもよい。
酸アミド(成分A):
0.001〜20f!/l
特に0.01〜 19/l
酸素含有、高分子化合物(成分B):
0.05〜209/l
特に0.02〜 59/l
水溶性化基を有するチオ化合物(成分C):0.000
5〜0.21/l特に0.005〜0.19/1 本発明による浴の基本組成は広い範囲内で変更しうる。
5〜0.21/l特に0.005〜0.19/1 本発明による浴の基本組成は広い範囲内で変更しうる。
一般に、次の組成の水溶液が使用される:硫酸銅(Cu
SO45H2O)50〜2509/l 硫酸銅の代りに、少なくとも部分的に他の銅塩も使用で
きる。
SO45H2O)50〜2509/l 硫酸銅の代りに、少なくとも部分的に他の銅塩も使用で
きる。
硫酸も部分的か又は完全に、フルオロ硼酸、燐酸又は他
の酸に代えることができる。この浴は、塩化物不含に製
造することもできる。更に、浴中に付加的に常用の光沢
剤及び/又は湿潤剤も含有されていてよい。本発明によ
る浴を製造するためには、基本組成の個々の成分A,B
及びCを添加rる。
の酸に代えることができる。この浴は、塩化物不含に製
造することもできる。更に、浴中に付加的に常用の光沢
剤及び/又は湿潤剤も含有されていてよい。本発明によ
る浴を製造するためには、基本組成の個々の成分A,B
及びCを添加rる。
浴の使用条件は次のものである:
電解液運動はきれいな空気を吹込むことにより、電解液
表面が強く波立つている程度に強く行なう。
表面が強く波立つている程度に強く行なう。
次例により本発明を詳述する。例1
次の組成:
硫酸銅(CuSO45H2O) 809/l濃硫
酸 1809/l塩化ナトリウム
0.089/lの銅浴に、光沢剤Vして
ポリプロピレングリコール 0.69/l及び 3−メルカプトプロパン−1−スルホン酸ナトリウム
0.021/lを添加する。
酸 1809/l塩化ナトリウム
0.089/lの銅浴に、光沢剤Vして
ポリプロピレングリコール 0.69/l及び 3−メルカプトプロパン−1−スルホン酸ナトリウム
0.021/lを添加する。
電解液温度30℃でハルセル法において電流密度0.8
A/Dm2以上で光沢析出物が得られ、これに反して電
流密度0.8A/D2以下で無光沢析出物が得られる。
浴に、 プロピオン酸アミド0.19/l又は アクリル酸アミド 0.029/l又は 安息香酸アミド 0.049/l又は アセトアミド 0.089/l を添加する場合、ハルセル試験鈑上の全電流密度範囲が
光沢を有している。
A/Dm2以上で光沢析出物が得られ、これに反して電
流密度0.8A/D2以下で無光沢析出物が得られる。
浴に、 プロピオン酸アミド0.19/l又は アクリル酸アミド 0.029/l又は 安息香酸アミド 0.049/l又は アセトアミド 0.089/l を添加する場合、ハルセル試験鈑上の全電流密度範囲が
光沢を有している。
例2
次の組成:
硫酸銅(CuSO45H2O) 609/11濃硫酸
220f!/l塩化ナトリウム
0.19/1の銅浴に、 ノニルフエノールーポリ グリコールエーテル 4.09/l及び N,Nジエチルージチオ カルバミン酸−(ω−ス ルホプロピル)一エステ ル、ナトリウム塩 0.029/l を添加する。
220f!/l塩化ナトリウム
0.19/1の銅浴に、 ノニルフエノールーポリ グリコールエーテル 4.09/l及び N,Nジエチルージチオ カルバミン酸−(ω−ス ルホプロピル)一エステ ル、ナトリウム塩 0.029/l を添加する。
平均電流密度2A/Dm2において、添加法により銅メ
ツキしたプリント配線を60分間補強する。
ツキしたプリント配線を60分間補強する。
この際、中ぐり孔のまわりに無光沢の傾斜部が現われ、
傾斜部は錫メツキ後に同時に亀裂を示す。該浴に更K,
平均分子量660を有するポリアクリル酸アミド20η
/lを添加すれば、中ぐり孔は錫メツキ後も満足である
。例3 次の浴: 硫酸銅(CuSO4・5H20) 809/l濃硫酸
2009/l塩化ナトリウム
0.069/l及びオクタノールポリアルキー ゛
0.49/l レンエーアノレ ジ一n−プロピルチオエ ーテルージースルホン酸、0.019/lジナトリウム
塩 から析出させた40μmの銅箔は、1801)の破壊伸
びを示した。
傾斜部は錫メツキ後に同時に亀裂を示す。該浴に更K,
平均分子量660を有するポリアクリル酸アミド20η
/lを添加すれば、中ぐり孔は錫メツキ後も満足である
。例3 次の浴: 硫酸銅(CuSO4・5H20) 809/l濃硫酸
2009/l塩化ナトリウム
0.069/l及びオクタノールポリアルキー ゛
0.49/l レンエーアノレ ジ一n−プロピルチオエ ーテルージースルホン酸、0.019/lジナトリウム
塩 から析出させた40μmの銅箔は、1801)の破壊伸
びを示した。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 次の成分: A)アセトアミド、プロピオン酸アミド、アクリル酸ア
ミド、安息香酸アミド及び式:▲数式、化学式、表等が
あります▼ 〔式中、nは0又は1〜40の整数を表わす〕で示され
る分子量73〜1600を有するポリアクリル酸アミド
からなる群から選択された酸アミド0.001〜20g
/l、B)ポリビニルアルコール、カルボキシメチルセ
ルロース、ポリエチレングリコール、ポリプロピレング
リコール、ステアリン酸−ポリグリコールエステル、オ
レイン酸−ポリグリコールエステル、ステアリルアルコ
ール−ポリグリコールエーテル、ノニルフェニル−ポリ
グリコールエーテル、オクタノール−ポリアルキレング
リコールエーテル、オクタンジオールビス(ポリアルキ
レングリコールエーテル)又はポリオキシプロピレング
リコールからなる群から選択された酸素含有高分子化合
物0.005〜20g/l、C)N,N−ジエチル−ジ
チオカルバミン酸−(ω−スルホプロピル)−エステル
(アルカリ塩)、メルカプトベンズチアゾール−S−プ
ロパンスルホン酸アルカリ、3−メルカプトプロパン−
1−スルホン酸アルカリ、チオ燐酸−O−エチル−ビス
−(ω−スルホプロピル)−エステル(アルカリ塩)、
チオ燐酸−トリス−(ω−スルホプロピル)−エステル
(アルカリ塩)、イソチオシアノプロピルスルホン酸ア
ルカリ、チオグリコール酸、エチレンジチオジプロピル
スルホン酸アルカリ、チオアセトアミド−S−プロピル
スルホン酸アルカリ又はジ−n−プロピルチオエーテル
−ジ−ωスルホン酸アルカリ塩からなる群から選択され
た水溶性化基を有するチオ化合物0.0005〜20g
/lを含有することを特徴とする酸性銅メッキ浴。 2 成分A)を0.01〜1g/l、成分B)を0.0
2〜5.0g/l及び成分C)を0.005〜1.0g
/l含有する、特許請求の範囲第1項記載の酸性銅メッ
キ浴。 3 付加的に、常用の光沢剤及び/又は湿潤剤を含有す
る、特許請求の範囲第1項又は第2項記載の酸性銅メッ
キ浴。 4 光沢のある銅被膜を析出させるため、特にプリント
配線の導電路を補強するために使用する、特許請求の範
囲第1項〜第3項のいずれか1項記載の酸性銅メッキ浴
。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19772746938 DE2746938A1 (de) | 1977-10-17 | 1977-10-17 | Saures galvanisches kupferbad |
DE000P27469381 | 1977-10-17 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5464025A JPS5464025A (en) | 1979-05-23 |
JPS59596B2 true JPS59596B2 (ja) | 1984-01-07 |
Family
ID=6021780
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP53126287A Expired JPS59596B2 (ja) | 1977-10-17 | 1978-10-16 | 酸性銅メツキ浴 |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4181582A (ja) |
JP (1) | JPS59596B2 (ja) |
CH (1) | CH642686A5 (ja) |
DE (1) | DE2746938A1 (ja) |
FR (1) | FR2406009A1 (ja) |
GB (1) | GB2009238B (ja) |
IT (1) | IT1099997B (ja) |
SE (1) | SE447275B (ja) |
Families Citing this family (27)
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