JPS5956745A - 電子部品 - Google Patents
電子部品Info
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- JPS5956745A JPS5956745A JP16685482A JP16685482A JPS5956745A JP S5956745 A JPS5956745 A JP S5956745A JP 16685482 A JP16685482 A JP 16685482A JP 16685482 A JP16685482 A JP 16685482A JP S5956745 A JPS5956745 A JP S5956745A
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- electronic component
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
- H01L23/31—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
- H01L23/3157—Partial encapsulation or coating
- H01L23/3164—Partial encapsulation or coating the coating being a foil
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- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16225—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
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- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
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- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
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- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48225—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation
- H01L2224/48227—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being non-metallic, e.g. insulating substrate with or without metallisation connecting the wire to a bond pad of the item
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
く技術分野〉
不発I刀は基板配線−1−にボンディングしたL S
Iチップ等の電子部品のコーティングに関するものであ
る。
Iチップ等の電子部品のコーティングに関するものであ
る。
〈従来技術〉
従来のコーティング法による電r−i’fls品の構成
は第1図(イ)及び(0)に示す様に、L S Iチッ
プクを基板/の配線ノにワイヤー3にて所謂ワイヤポン
チングするか、或いはハンダバンプ2を介してフリップ
チップボンディングして、その−にを樹脂jによりモー
ルドしている。このモールドによれは゛耐湿性及び耐衝
撃性に優れており、電子部品の品質向上に大いに寄与し
ている。
は第1図(イ)及び(0)に示す様に、L S Iチッ
プクを基板/の配線ノにワイヤー3にて所謂ワイヤポン
チングするか、或いはハンダバンプ2を介してフリップ
チップボンディングして、その−にを樹脂jによりモー
ルドしている。このモールドによれは゛耐湿性及び耐衝
撃性に優れており、電子部品の品質向上に大いに寄与し
ている。
しかしながら、−基モールドすれば樹脂か強固に固着す
るために、そのL S Iチップの交換はほとんど不可
能に近く、特にマルチチップのように複数のLSIチッ
プを一緒に樹脂モールドした場合、そのうちの一つのL
S Iチップに不良か発生ずると、それを交換してi
lj: l重用することができないという大きな問題か
あった。
るために、そのL S Iチップの交換はほとんど不可
能に近く、特にマルチチップのように複数のLSIチッ
プを一緒に樹脂モールドした場合、そのうちの一つのL
S Iチップに不良か発生ずると、それを交換してi
lj: l重用することができないという大きな問題か
あった。
〈目 r白〉
不発「刀はかかる従来の問題【、Kに鑑み、基板−1−
のLSIチップにコーチインクを施したのちも、きわめ
て容易にそのコーティ7りを除去して内:jIXO)L
S +チップを交換することか111冒1!:るよう
にした電子)11X品を提供するものである。
のLSIチップにコーチインクを施したのちも、きわめ
て容易にそのコーティ7りを除去して内:jIXO)L
S +チップを交換することか111冒1!:るよう
にした電子)11X品を提供するものである。
〈実施例〉
以ト木発明を図にもとついて詳細)こ説明する。
第一図は不発ヴjに係る電f r’d1品の・1と面図
、第3図は第一図の縦断面図である。図において、/は
基板、−は配線を示し、この配線に゛h111ハ/ブに
を介、シてLSIチソプクが、1妾続されている。7は
予め基板上にコーティングされているオーバコート剤で
ある。
、第3図は第一図の縦断面図である。図において、/は
基板、−は配線を示し、この配線に゛h111ハ/ブに
を介、シてLSIチソプクが、1妾続されている。7は
予め基板上にコーティングされているオーバコート剤で
ある。
このような電子部品に対して、不発[νIlよポリエチ
レン等の熱収縮叶チュー ブgを被諏し、このチューブ
に熱を加えて収縮密閉している。
レン等の熱収縮叶チュー ブgを被諏し、このチューブ
に熱を加えて収縮密閉している。
この様に、熱収縮性、チューブどてL S Iチップク
をコーティングすることにより、該チップの耐湿性を改
催しこの種電頂部品の品質を自毛さぜることかてきると
ともに、仮りにチップに故障が生してもカッターでコー
ティング祠である熱収縮性チューブどを簡単に除去して
チップを交換したのち、11ひ該チューブを被醍して元
に戻すことができる。
をコーティングすることにより、該チップの耐湿性を改
催しこの種電頂部品の品質を自毛さぜることかてきると
ともに、仮りにチップに故障が生してもカッターでコー
ティング祠である熱収縮性チューブどを簡単に除去して
チップを交換したのち、11ひ該チューブを被醍して元
に戻すことができる。
@り図は基板/上に複、改個のLSIチップグを搭載し
たものに上記熱収縮外チューブ♂をコーチインクした例
であり、この場合、LSIチップ7つだけ故障しても、
そのチップ交換を行なって再ひこの病根を使用すること
かできる。
たものに上記熱収縮外チューブ♂をコーチインクした例
であり、この場合、LSIチップ7つだけ故障しても、
そのチップ交換を行なって再ひこの病根を使用すること
かできる。
〈効 宋〉
以−にの1筆に本発明の電子部品は基板配線11うボン
ブイノブしたI、S1チツプ(こ熱収縮性フィルムを被
覆するものであるから、コーティング処理かきわめて簡
素化し生産外をバしく向りさせることかできるとともに
、コーチ、fフグ後もそのチ・ノブの交換が容易となる
等、多大な効果を奏することか出来る。
ブイノブしたI、S1チツプ(こ熱収縮性フィルムを被
覆するものであるから、コーティング処理かきわめて簡
素化し生産外をバしく向りさせることかできるとともに
、コーチ、fフグ後もそのチ・ノブの交換が容易となる
等、多大な効果を奏することか出来る。
第1図ヒ)、(ロ)は従来の電T−jη1−品の構造を
示す。 第3図は不発りjに係る電子−1111品の51/、面
図、第3図は回続1折而図、第7図は他の実施例を示す
図である。 /は基板、コは配線、りはl、S1チツプ、にはハンタ
バンブ、7はオ−ノ−コ−ト樹脂、gはS;(〜収縮1
生フィルム。 代理人 弁理士 福 1− 愛 彦(曲−名)(イ)
(ロ) 第1図 / 第2図 / 第3図 μ 第η図
示す。 第3図は不発りjに係る電子−1111品の51/、面
図、第3図は回続1折而図、第7図は他の実施例を示す
図である。 /は基板、コは配線、りはl、S1チツプ、にはハンタ
バンブ、7はオ−ノ−コ−ト樹脂、gはS;(〜収縮1
生フィルム。 代理人 弁理士 福 1− 愛 彦(曲−名)(イ)
(ロ) 第1図 / 第2図 / 第3図 μ 第η図
Claims (1)
- 1 基板配線−1−にボンディングしたLSIチップに
熱収縮性フィルムを被覆してなることを特徴とする電子
部品。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16685482A JPS5956745A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 電子部品 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16685482A JPS5956745A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 電子部品 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5956745A true JPS5956745A (ja) | 1984-04-02 |
Family
ID=15838875
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16685482A Pending JPS5956745A (ja) | 1982-09-24 | 1982-09-24 | 電子部品 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5956745A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002003460A2 (de) * | 2000-07-03 | 2002-01-10 | Infineon Technologies Ag | Halbleiterchip-modul mit schutzfolie |
WO2003092347A1 (fr) * | 2002-04-23 | 2003-11-06 | Nec Corporation | Dispositif de circuit a blindage electromagnetique et procede de blindage associe |
DE102006045895A1 (de) * | 2006-09-28 | 2008-04-10 | Siemens Ag | Elektronikbaugruppe sowie Verfahren zur Herstellung einer Elektronikbaugruppe zur Verwendung in der Automobilelektronik |
EP2061071A3 (de) * | 2007-11-16 | 2014-09-03 | SEMIKRON Elektronik GmbH & Co. KG | Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterbaugruppe |
JP2016219701A (ja) * | 2015-05-25 | 2016-12-22 | アズビル株式会社 | プリント基板および電子機器 |
-
1982
- 1982-09-24 JP JP16685482A patent/JPS5956745A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002003460A2 (de) * | 2000-07-03 | 2002-01-10 | Infineon Technologies Ag | Halbleiterchip-modul mit schutzfolie |
WO2002003460A3 (de) * | 2000-07-03 | 2002-07-18 | Infineon Technologies Ag | Halbleiterchip-modul mit schutzfolie |
WO2003092347A1 (fr) * | 2002-04-23 | 2003-11-06 | Nec Corporation | Dispositif de circuit a blindage electromagnetique et procede de blindage associe |
DE102006045895A1 (de) * | 2006-09-28 | 2008-04-10 | Siemens Ag | Elektronikbaugruppe sowie Verfahren zur Herstellung einer Elektronikbaugruppe zur Verwendung in der Automobilelektronik |
EP2061071A3 (de) * | 2007-11-16 | 2014-09-03 | SEMIKRON Elektronik GmbH & Co. KG | Verfahren zur Herstellung einer Halbleiterbaugruppe |
JP2016219701A (ja) * | 2015-05-25 | 2016-12-22 | アズビル株式会社 | プリント基板および電子機器 |
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