JPS5955038A - 多層配線形成方法 - Google Patents

多層配線形成方法

Info

Publication number
JPS5955038A
JPS5955038A JP16566382A JP16566382A JPS5955038A JP S5955038 A JPS5955038 A JP S5955038A JP 16566382 A JP16566382 A JP 16566382A JP 16566382 A JP16566382 A JP 16566382A JP S5955038 A JPS5955038 A JP S5955038A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring
film
layer
layer wiring
polyimide
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP16566382A
Other languages
English (en)
Inventor
Saburo Tsukada
塚田 三郎
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP16566382A priority Critical patent/JPS5955038A/ja
Publication of JPS5955038A publication Critical patent/JPS5955038A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Local Oxidation Of Silicon (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (′1)発明め技術分郵  □ 本発明は多層配線形成方法、詳しくは基板の上に微細パ
ターンで多層配線を靜成す葛際に、□有機物と無機物と
の複MiiR造iもつ眉間絶縁膜をi成しそれにスルー
ホールを設ける方法に関する。
(2)技術の背景  ′− (]) 例えば半導体装置において、集積−を高めるために配置
を2層、3層19.と多層に加酸する技術が准め5れて
いる。2層蘭線を例にとらで第1図を参照己で説明する
:と、基i1上にアルミニろム(An!>:の第11i
l配線含をi成し、全面に眉間絶縁膜として例えば嶋ん
□;シリ□ケート・ガラス(PSG )′膜3を化学気
相成長法で成長し、第2層配線との接続をとるん9にP
’SG膜3にスルーホール4を開口し:1ξ次いで例え
LjAmの第2N配置5をところで、スルーホール4を
形□成ず慕工iを第2−を参″照して説明す名と、PS
(、膜3の上にホトレジスト膜d4塗布−一し、□マス
ク番□用いる露光、’*nr:”’mによ我侭ターユ、
グしエボトいシスト膜6に窓7を窓開けする(第2図(
a))。灰いで、未トルシスト膜6をマス多にしてPS
G膜3をエッ≠ジグ:してスルー基−ル4を形成口、次
いモ1第2膚配置線らを形成する(第2図(b))。
(ai従来技術と薗題点 上記の従来技術において、スルーホール4め(2) 形成におけるマス冬の位置合せに位置ずれρ即題、、、
中      11.:、・ ・  ′:′:、、−□
がある。スルーホール4が第1図に示される如く第1・
―配、―:、2.の中央、にイ宴碑するところ←設け、
’、I←、、・ −。
ると問題はないが、第2図(b)に示されるようにマス
クの位置オれが・あ1′っtスルニ゛永ニル4が第1M
   □配線2からずれるこ碍、すな、、わ、塾、、第
1層配線2の縁部分2aがスノに一ホール4内、に出る
ことがある。
そのとき、図に58で示す如<  lの不連続面が形成
され、そこに亀裂が生じることがある。バイポニラIC
においては第1層配線上にかな炉の電流が   1流れ
・るためミ使用においで第1層配線2は不連続面5aで
断線することが、あ岐、□:バイボーラICの信頼性を
損なう。それ防・止する。た、め、□第1図に示す第 
1層配線2′を広、り1−ることか提案され、第3図の
平面図に示される如く、・1第1層配線2の接碑をとる
部分は接続パッドとして寸法を大に形成し、このパッド
の部分で眉間接続をとることによってマスク合せの位置
ずれに対応している。
現在の技術では、一般に第1N配線は1゜0μmの厚さ
、2〜3μmの幅に、またパッドの部(3) 1  分は4〜5μm角に形成する。そうなると、第1
層配線2の集積度を決定する要素はその幅2〜3、、I
I、、 、Ill、、■々:、f:寸□はなくて、パッ
ドの1辺の長さ4〜5μmであり、このパッドの寸法が
第1層配線の集積度・を決定する要素であ”ネ。
:′□■  また、前記した第1層配線′□!の断線は
″承2層””*線5の不連続面でのエレクトロマイグレ
ーション(electromigratlon)によっ
て発生するものであるが、それは第1層配線上の眉間絶
縁膜の段差、□すなわ□ち第2図(11)に□示される
如く眉間絶□縁膜””)i<乎−坦でないところでも発
生ずる□ものであり′:、・l”’IIA<勢<2”□
不連続面5bの発生防止のための眉間絶縁膜の平坦化カ
ー要望されている:。 ・:    1・ 、□、  
   ′□′(4)発明の目的・l  :l”l””、
 、、  ”’l ’l ”l  1lll’ll” 
II I・:、、・本発明は上記従来e問題・点に鑑み
、多層配線の形成において、それを、集積度を高め、か
つ、配線層の断線を防止する如くに形成する方法を提供
するにある。
(5)発明の構成 そしてこの目的は本発明によれば、基板」二に(4) 互いに接続奪とられ力??層間聞納!葵で絶縁膜れた炙
層配碑を形成する方法において、¥栂害に型底された第
1層−線李厚って耐讐性有機l!A9!年縁!蓼を形成
シ、該!搬物や膜9表甲!i−第遍層配郷の老面が露出
するまで呻去する1些、全面に無、載物の絶縁膜を形感
し、Hμ無機搬物輯膜に第1シ配線【こ達する不ルーホ
ニ、 /L/を、形感大る1隼、該スルーホールを埋め
て第2!配線をhhする。工程を含むことを特徴とする
冬!配線形成方法を提供大やこ生によって達成される。
            。
(6)発明の実施、例      。
、 以下、±発明、実施例を図面G÷よっ、7.4¥述
烹、る。
第4.、図に本発明の査侍、を実施する。工程における
第1!と第2層の配線の響続部分、、が:、断興甲、で
示される。、、、、、、:、。
先ず、第4.図+alに示さ1れる。、如く、基板11
(それは半導体44であっても、末、た璧絶、、縁性基
板であってもよい)、上に、1.通常9辣術で例、え1
ば、アルミニウム(八1)の層をスパッタ法または蒸箸
法で成長し、それをバターニングして早さ1.0..8
.m、(5) 幅2〜3μmの第1層配線12を形成する。
次いで、同図fb)に示される如く1.全面に有機物、
例えばポリイミドの如き耐熱性高置、子樹脂映13を1
.2μmの膜厚に塗布する。:、、、、、。
盗、に、同図(C1に示される如く酸素(92)プラズ
マを用いるエッチ、ングで、、第1層配線12の表面が
鱒出するま、でポリ、イミド膜13を灰化する。任の工
程によ、、て、竿、1.rp配線120?表面とボリイ
3゜ド膜13Φ表面とは平坦イリれる。、。
次りで1.同図+d)にヂされる坤く、無機:物、すな
わちP、SGを、化学気相成長法(CVD法)で1μm
ノlit厚に盛、長、伜て邸G膜14を形成する。eS
Gに代えてニー化、、シ、リコンでもよく、またはS4
0.を。
スパッターで成長させてもよい。前記した。仲≦、第1
層配線12とポリイミド膜13との表面鵜平坦化されて
いるので、PSGli14の表卯も平坦化される。
引続き、全面(こ、ホトレ、v、xト膜15を塗布し、
それをバターニング!Jて窓16を窓開けする。、ホト
レジスト膜1.5の老面もま些平坦化きれているので、
すれのバターニングは正確になされ得る。。
(6) 次いで、同図fi+に示される如く、ホトレジスト膜1
5をマスクにしてPSG膜工4をエツチングしてスルー
ホール17を形成し、ホトレジスト膜15を除去する。
前記のエツチングにおいて、PSG  (または二酸化
シリコンもしくはSjO)は無機物であり、ポリイミド
は有機物であるので、PSG膜14のエツチングにおい
てポリイミド膜はストッパーとして働き、エツチングは
ポリイミド膜13で止ってそれ以上進むことはなく、制
御性の点から良好な結果が得られる。かくして1、第1
層配線の縁部分12aが、第2図(b)に示される如く
スルーホール17内に出ることはない。
最後に、同図ff+に示される如く、第2N配線18を
例えばAβを用いて形成すると、第2層配線 ・18は
、第1層配線12と接続をとられ、かつ、有機物と無機
物の2N構造の眉間絶縁ll1il!(ポリイミドIt
契taとPSG膜14)で十分に絶縁をとら□れている
以上の如くにして形成された多層配線は第5図の平面図
に示される。同図から理解される如く、く7) 、本発明の方法によると、従来例の如く第1層配線の接
続のためにそれよりも幅の大なるバッドを設、  ける
必要がないので、第1N配線の集積度を決定する要素は
その線幅だけになり、それに応じ゛ζ集積度が高められ
ることになる。
(7)発明の効果 以上、詳細に説明したように、本発明の方法によるとき
は、ポリイミド膜と1)SG  (または二酸化シリコ
ンもしくはSiO)を用いることにより眉間絶縁膜の平
坦化が実現され、また、ll5Gをエツチングする際、
ポリイミドがス]・ソバ−となり、第1層配線の縁部分
がスルーポール内に出ること□がなく、第1層配線の線
幅をスルーボールの大きさと同程度にすることができ、
集積度を」二げることが可能となるだけでなく、第2層
配線の断線が防止される効果がある。
【図面の簡単な説明】
第4図と第2図は従来技術による2層配線の接続部の断
面図、第3図は第1図の配線の平面図、第4図は本発明
の方法を実施する工程における第(8) 1層配線と第2N配線の接続部分の断面図、第5図は第
4図(flの構造の平面図である。 11−・一基板、12−第1層ヘー、13−ポリイミド
膜、14−・−PSG膜、15・・・ホトレジスト膜、
16・−・窓、17−・x ′v−j7 ′v・111
− ′、2.Fi、配11′(9) 第1図 第2閃 第4図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基板上に互いに接続をとられ麻う層間絶縁膜で絶縁きれ
    た多層配線を形成する方法において、基板上に形成され
    た第1屓艷線をl14そi熱性折機物の絶縁Ii形mt
    JM:有機物め■1表面萎第11it配線の表面がi出
    す葛ま÷隙f子菖至桓ミ全面に蕪−物の絶縁膜を形成し
    、□該無機物絶縁膜に第1M配線に達するズルニ糸□−
    ルを瘤晟子る工程、該スルーホールを坤めて紹2層配線
    を形成する工程を含6・ことを特徴とする多層配線形□
    成方法6 □
JP16566382A 1982-09-22 1982-09-22 多層配線形成方法 Pending JPS5955038A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16566382A JPS5955038A (ja) 1982-09-22 1982-09-22 多層配線形成方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP16566382A JPS5955038A (ja) 1982-09-22 1982-09-22 多層配線形成方法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5955038A true JPS5955038A (ja) 1984-03-29

Family

ID=15816646

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP16566382A Pending JPS5955038A (ja) 1982-09-22 1982-09-22 多層配線形成方法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5955038A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4855252A (en) * 1988-08-22 1989-08-08 International Business Machines Corporation Process for making self-aligned contacts
WO2000008730A1 (en) * 1998-08-07 2000-02-17 Lasertron, Inc. Electro-optical semiconductor device with a polyimide/silicon oxide bi-layer beneath a metal contact layer

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4855252A (en) * 1988-08-22 1989-08-08 International Business Machines Corporation Process for making self-aligned contacts
WO2000008730A1 (en) * 1998-08-07 2000-02-17 Lasertron, Inc. Electro-optical semiconductor device with a polyimide/silicon oxide bi-layer beneath a metal contact layer
US6365968B1 (en) 1998-08-07 2002-04-02 Corning Lasertron, Inc. Polyimide/silicon oxide bi-layer for bond pad parasitic capacitance control in semiconductor electro-optical device

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5955038A (ja) 多層配線形成方法
JPS60250650A (ja) 層間膜のスル−ホ−ル形成方法
JPS61187346A (ja) 絶縁膜構造および半導体装置
JPS62137853A (ja) 多層配線の形成方法
JPS6342144A (ja) 多層配線構造体
JPS61172350A (ja) 半導体装置の製造方法
KR100265991B1 (ko) 반도체 장치의 다층 배선간 연결공정
JPH02105554A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH0587973B2 (ja)
JPH04180231A (ja) 微細バンプ電極を有する半導体装置の製造方法
JPH0685068A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS6334928A (ja) スル−ホ−ルの形成方法
JPS63312657A (ja) 半導体集積回路装置の製造方法
JPS5861648A (ja) 複合絶縁膜およびそのエツチング方法
JPH0228324A (ja) 半導体装置の製造方法
JPH01149436A (ja) 平坦化された配線を有する半導体装置の製造方法
JPS61288445A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS62293644A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS61137345A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS60147137A (ja) 多層金属配線の形成方法
JPS60251645A (ja) 半導体基板の多層配線形成方法
JPS62290148A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS60192348A (ja) 半導体集積回路の多層配線の形成方法
JPS60102757A (ja) 半導体装置の製造方法
JPS62111447A (ja) 半導体装置の製造方法