JPS5955038A - 多層配線形成方法 - Google Patents
多層配線形成方法Info
- Publication number
- JPS5955038A JPS5955038A JP16566382A JP16566382A JPS5955038A JP S5955038 A JPS5955038 A JP S5955038A JP 16566382 A JP16566382 A JP 16566382A JP 16566382 A JP16566382 A JP 16566382A JP S5955038 A JPS5955038 A JP S5955038A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wiring
- film
- layer
- layer wiring
- polyimide
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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- Local Oxidation Of Silicon (AREA)
- Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(′1)発明め技術分郵 □
本発明は多層配線形成方法、詳しくは基板の上に微細パ
ターンで多層配線を靜成す葛際に、□有機物と無機物と
の複MiiR造iもつ眉間絶縁膜をi成しそれにスルー
ホールを設ける方法に関する。
ターンで多層配線を靜成す葛際に、□有機物と無機物と
の複MiiR造iもつ眉間絶縁膜をi成しそれにスルー
ホールを設ける方法に関する。
(2)技術の背景 ′−
(])
例えば半導体装置において、集積−を高めるために配置
を2層、3層19.と多層に加酸する技術が准め5れて
いる。2層蘭線を例にとらで第1図を参照己で説明する
:と、基i1上にアルミニろム(An!>:の第11i
l配線含をi成し、全面に眉間絶縁膜として例えば嶋ん
□;シリ□ケート・ガラス(PSG )′膜3を化学気
相成長法で成長し、第2層配線との接続をとるん9にP
’SG膜3にスルーホール4を開口し:1ξ次いで例え
LjAmの第2N配置5をところで、スルーホール4を
形□成ず慕工iを第2−を参″照して説明す名と、PS
(、膜3の上にホトレジスト膜d4塗布−一し、□マス
ク番□用いる露光、’*nr:”’mによ我侭ターユ、
グしエボトいシスト膜6に窓7を窓開けする(第2図(
a))。灰いで、未トルシスト膜6をマス多にしてPS
G膜3をエッ≠ジグ:してスルー基−ル4を形成口、次
いモ1第2膚配置線らを形成する(第2図(b))。
を2層、3層19.と多層に加酸する技術が准め5れて
いる。2層蘭線を例にとらで第1図を参照己で説明する
:と、基i1上にアルミニろム(An!>:の第11i
l配線含をi成し、全面に眉間絶縁膜として例えば嶋ん
□;シリ□ケート・ガラス(PSG )′膜3を化学気
相成長法で成長し、第2層配線との接続をとるん9にP
’SG膜3にスルーホール4を開口し:1ξ次いで例え
LjAmの第2N配置5をところで、スルーホール4を
形□成ず慕工iを第2−を参″照して説明す名と、PS
(、膜3の上にホトレジスト膜d4塗布−一し、□マス
ク番□用いる露光、’*nr:”’mによ我侭ターユ、
グしエボトいシスト膜6に窓7を窓開けする(第2図(
a))。灰いで、未トルシスト膜6をマス多にしてPS
G膜3をエッ≠ジグ:してスルー基−ル4を形成口、次
いモ1第2膚配置線らを形成する(第2図(b))。
(ai従来技術と薗題点
上記の従来技術において、スルーホール4め(2)
形成におけるマス冬の位置合せに位置ずれρ即題、、、
。
。
中 11.:、・ ・ ′:′:、、−□
がある。スルーホール4が第1図に示される如く第1・
―配、―:、2.の中央、にイ宴碑するところ←設け、
’、I←、、・ −。
がある。スルーホール4が第1図に示される如く第1・
―配、―:、2.の中央、にイ宴碑するところ←設け、
’、I←、、・ −。
ると問題はないが、第2図(b)に示されるようにマス
クの位置オれが・あ1′っtスルニ゛永ニル4が第1M
□配線2からずれるこ碍、すな、、わ、塾、、第
1層配線2の縁部分2aがスノに一ホール4内、に出る
ことがある。
クの位置オれが・あ1′っtスルニ゛永ニル4が第1M
□配線2からずれるこ碍、すな、、わ、塾、、第
1層配線2の縁部分2aがスノに一ホール4内、に出る
ことがある。
そのとき、図に58で示す如< lの不連続面が形成
され、そこに亀裂が生じることがある。バイポニラIC
においては第1層配線上にかな炉の電流が 1流れ
・るためミ使用においで第1層配線2は不連続面5aで
断線することが、あ岐、□:バイボーラICの信頼性を
損なう。それ防・止する。た、め、□第1図に示す第
。
され、そこに亀裂が生じることがある。バイポニラIC
においては第1層配線上にかな炉の電流が 1流れ
・るためミ使用においで第1層配線2は不連続面5aで
断線することが、あ岐、□:バイボーラICの信頼性を
損なう。それ防・止する。た、め、□第1図に示す第
。
1層配線2′を広、り1−ることか提案され、第3図の
平面図に示される如く、・1第1層配線2の接碑をとる
部分は接続パッドとして寸法を大に形成し、このパッド
の部分で眉間接続をとることによってマスク合せの位置
ずれに対応している。
平面図に示される如く、・1第1層配線2の接碑をとる
部分は接続パッドとして寸法を大に形成し、このパッド
の部分で眉間接続をとることによってマスク合せの位置
ずれに対応している。
現在の技術では、一般に第1N配線は1゜0μmの厚さ
、2〜3μmの幅に、またパッドの部(3) 1 分は4〜5μm角に形成する。そうなると、第1
層配線2の集積度を決定する要素はその幅2〜3、、I
I、、 、Ill、、■々:、f:寸□はなくて、パッ
ドの1辺の長さ4〜5μmであり、このパッドの寸法が
第1層配線の集積度・を決定する要素であ”ネ。
、2〜3μmの幅に、またパッドの部(3) 1 分は4〜5μm角に形成する。そうなると、第1
層配線2の集積度を決定する要素はその幅2〜3、、I
I、、 、Ill、、■々:、f:寸□はなくて、パッ
ドの1辺の長さ4〜5μmであり、このパッドの寸法が
第1層配線の集積度・を決定する要素であ”ネ。
:′□■ また、前記した第1層配線′□!の断線は
″承2層””*線5の不連続面でのエレクトロマイグレ
ーション(electromigratlon)によっ
て発生するものであるが、それは第1層配線上の眉間絶
縁膜の段差、□すなわ□ち第2図(11)に□示される
如く眉間絶□縁膜””)i<乎−坦でないところでも発
生ずる□ものであり′:、・l”’IIA<勢<2”□
不連続面5bの発生防止のための眉間絶縁膜の平坦化カ
ー要望されている:。 ・: 1・ 、□、
′□′(4)発明の目的・l :l”l””、
、、 ”’l ’l ”l 1lll’ll”
II I・:、、・本発明は上記従来e問題・点に鑑み
、多層配線の形成において、それを、集積度を高め、か
つ、配線層の断線を防止する如くに形成する方法を提供
するにある。
″承2層””*線5の不連続面でのエレクトロマイグレ
ーション(electromigratlon)によっ
て発生するものであるが、それは第1層配線上の眉間絶
縁膜の段差、□すなわ□ち第2図(11)に□示される
如く眉間絶□縁膜””)i<乎−坦でないところでも発
生ずる□ものであり′:、・l”’IIA<勢<2”□
不連続面5bの発生防止のための眉間絶縁膜の平坦化カ
ー要望されている:。 ・: 1・ 、□、
′□′(4)発明の目的・l :l”l””、
、、 ”’l ’l ”l 1lll’ll”
II I・:、、・本発明は上記従来e問題・点に鑑み
、多層配線の形成において、それを、集積度を高め、か
つ、配線層の断線を防止する如くに形成する方法を提供
するにある。
(5)発明の構成
そしてこの目的は本発明によれば、基板」二に(4)
互いに接続奪とられ力??層間聞納!葵で絶縁膜れた炙
層配碑を形成する方法において、¥栂害に型底された第
1層−線李厚って耐讐性有機l!A9!年縁!蓼を形成
シ、該!搬物や膜9表甲!i−第遍層配郷の老面が露出
するまで呻去する1些、全面に無、載物の絶縁膜を形感
し、Hμ無機搬物輯膜に第1シ配線【こ達する不ルーホ
ニ、 /L/を、形感大る1隼、該スルーホールを埋め
て第2!配線をhhする。工程を含むことを特徴とする
冬!配線形成方法を提供大やこ生によって達成される。
層配碑を形成する方法において、¥栂害に型底された第
1層−線李厚って耐讐性有機l!A9!年縁!蓼を形成
シ、該!搬物や膜9表甲!i−第遍層配郷の老面が露出
するまで呻去する1些、全面に無、載物の絶縁膜を形感
し、Hμ無機搬物輯膜に第1シ配線【こ達する不ルーホ
ニ、 /L/を、形感大る1隼、該スルーホールを埋め
て第2!配線をhhする。工程を含むことを特徴とする
冬!配線形成方法を提供大やこ生によって達成される。
。
(6)発明の実施、例 。
、 以下、±発明、実施例を図面G÷よっ、7.4¥述
烹、る。
烹、る。
第4.、図に本発明の査侍、を実施する。工程における
第1!と第2層の配線の響続部分、、が:、断興甲、で
示される。、、、、、、:、。
第1!と第2層の配線の響続部分、、が:、断興甲、で
示される。、、、、、、:、。
先ず、第4.図+alに示さ1れる。、如く、基板11
(それは半導体44であっても、末、た璧絶、、縁性基
板であってもよい)、上に、1.通常9辣術で例、え1
ば、アルミニウム(八1)の層をスパッタ法または蒸箸
法で成長し、それをバターニングして早さ1.0..8
.m、(5) 幅2〜3μmの第1層配線12を形成する。
(それは半導体44であっても、末、た璧絶、、縁性基
板であってもよい)、上に、1.通常9辣術で例、え1
ば、アルミニウム(八1)の層をスパッタ法または蒸箸
法で成長し、それをバターニングして早さ1.0..8
.m、(5) 幅2〜3μmの第1層配線12を形成する。
次いで、同図fb)に示される如く1.全面に有機物、
例えばポリイミドの如き耐熱性高置、子樹脂映13を1
.2μmの膜厚に塗布する。:、、、、、。
例えばポリイミドの如き耐熱性高置、子樹脂映13を1
.2μmの膜厚に塗布する。:、、、、、。
盗、に、同図(C1に示される如く酸素(92)プラズ
マを用いるエッチ、ングで、、第1層配線12の表面が
鱒出するま、でポリ、イミド膜13を灰化する。任の工
程によ、、て、竿、1.rp配線120?表面とボリイ
3゜ド膜13Φ表面とは平坦イリれる。、。
マを用いるエッチ、ングで、、第1層配線12の表面が
鱒出するま、でポリ、イミド膜13を灰化する。任の工
程によ、、て、竿、1.rp配線120?表面とボリイ
3゜ド膜13Φ表面とは平坦イリれる。、。
次りで1.同図+d)にヂされる坤く、無機:物、すな
わちP、SGを、化学気相成長法(CVD法)で1μm
ノlit厚に盛、長、伜て邸G膜14を形成する。eS
Gに代えてニー化、、シ、リコンでもよく、またはS4
0.を。
わちP、SGを、化学気相成長法(CVD法)で1μm
ノlit厚に盛、長、伜て邸G膜14を形成する。eS
Gに代えてニー化、、シ、リコンでもよく、またはS4
0.を。
スパッターで成長させてもよい。前記した。仲≦、第1
層配線12とポリイミド膜13との表面鵜平坦化されて
いるので、PSGli14の表卯も平坦化される。
層配線12とポリイミド膜13との表面鵜平坦化されて
いるので、PSGli14の表卯も平坦化される。
引続き、全面(こ、ホトレ、v、xト膜15を塗布し、
それをバターニング!Jて窓16を窓開けする。、ホト
レジスト膜1.5の老面もま些平坦化きれているので、
すれのバターニングは正確になされ得る。。
それをバターニング!Jて窓16を窓開けする。、ホト
レジスト膜1.5の老面もま些平坦化きれているので、
すれのバターニングは正確になされ得る。。
(6)
次いで、同図fi+に示される如く、ホトレジスト膜1
5をマスクにしてPSG膜工4をエツチングしてスルー
ホール17を形成し、ホトレジスト膜15を除去する。
5をマスクにしてPSG膜工4をエツチングしてスルー
ホール17を形成し、ホトレジスト膜15を除去する。
前記のエツチングにおいて、PSG (または二酸化
シリコンもしくはSjO)は無機物であり、ポリイミド
は有機物であるので、PSG膜14のエツチングにおい
てポリイミド膜はストッパーとして働き、エツチングは
ポリイミド膜13で止ってそれ以上進むことはなく、制
御性の点から良好な結果が得られる。かくして1、第1
層配線の縁部分12aが、第2図(b)に示される如く
スルーホール17内に出ることはない。
シリコンもしくはSjO)は無機物であり、ポリイミド
は有機物であるので、PSG膜14のエツチングにおい
てポリイミド膜はストッパーとして働き、エツチングは
ポリイミド膜13で止ってそれ以上進むことはなく、制
御性の点から良好な結果が得られる。かくして1、第1
層配線の縁部分12aが、第2図(b)に示される如く
スルーホール17内に出ることはない。
最後に、同図ff+に示される如く、第2N配線18を
例えばAβを用いて形成すると、第2層配線 ・18は
、第1層配線12と接続をとられ、かつ、有機物と無機
物の2N構造の眉間絶縁ll1il!(ポリイミドIt
契taとPSG膜14)で十分に絶縁をとら□れている
。
例えばAβを用いて形成すると、第2層配線 ・18は
、第1層配線12と接続をとられ、かつ、有機物と無機
物の2N構造の眉間絶縁ll1il!(ポリイミドIt
契taとPSG膜14)で十分に絶縁をとら□れている
。
以上の如くにして形成された多層配線は第5図の平面図
に示される。同図から理解される如く、く7) 、本発明の方法によると、従来例の如く第1層配線の接
続のためにそれよりも幅の大なるバッドを設、 ける
必要がないので、第1N配線の集積度を決定する要素は
その線幅だけになり、それに応じ゛ζ集積度が高められ
ることになる。
に示される。同図から理解される如く、く7) 、本発明の方法によると、従来例の如く第1層配線の接
続のためにそれよりも幅の大なるバッドを設、 ける
必要がないので、第1N配線の集積度を決定する要素は
その線幅だけになり、それに応じ゛ζ集積度が高められ
ることになる。
(7)発明の効果
以上、詳細に説明したように、本発明の方法によるとき
は、ポリイミド膜と1)SG (または二酸化シリコ
ンもしくはSiO)を用いることにより眉間絶縁膜の平
坦化が実現され、また、ll5Gをエツチングする際、
ポリイミドがス]・ソバ−となり、第1層配線の縁部分
がスルーポール内に出ること□がなく、第1層配線の線
幅をスルーボールの大きさと同程度にすることができ、
集積度を」二げることが可能となるだけでなく、第2層
配線の断線が防止される効果がある。
は、ポリイミド膜と1)SG (または二酸化シリコ
ンもしくはSiO)を用いることにより眉間絶縁膜の平
坦化が実現され、また、ll5Gをエツチングする際、
ポリイミドがス]・ソバ−となり、第1層配線の縁部分
がスルーポール内に出ること□がなく、第1層配線の線
幅をスルーボールの大きさと同程度にすることができ、
集積度を」二げることが可能となるだけでなく、第2層
配線の断線が防止される効果がある。
第4図と第2図は従来技術による2層配線の接続部の断
面図、第3図は第1図の配線の平面図、第4図は本発明
の方法を実施する工程における第(8) 1層配線と第2N配線の接続部分の断面図、第5図は第
4図(flの構造の平面図である。 11−・一基板、12−第1層ヘー、13−ポリイミド
膜、14−・−PSG膜、15・・・ホトレジスト膜、
16・−・窓、17−・x ′v−j7 ′v・111
− ′、2.Fi、配11′(9) 第1図 第2閃 第4図
面図、第3図は第1図の配線の平面図、第4図は本発明
の方法を実施する工程における第(8) 1層配線と第2N配線の接続部分の断面図、第5図は第
4図(flの構造の平面図である。 11−・一基板、12−第1層ヘー、13−ポリイミド
膜、14−・−PSG膜、15・・・ホトレジスト膜、
16・−・窓、17−・x ′v−j7 ′v・111
− ′、2.Fi、配11′(9) 第1図 第2閃 第4図
Claims (1)
- 基板上に互いに接続をとられ麻う層間絶縁膜で絶縁きれ
た多層配線を形成する方法において、基板上に形成され
た第1屓艷線をl14そi熱性折機物の絶縁Ii形mt
JM:有機物め■1表面萎第11it配線の表面がi出
す葛ま÷隙f子菖至桓ミ全面に蕪−物の絶縁膜を形成し
、□該無機物絶縁膜に第1M配線に達するズルニ糸□−
ルを瘤晟子る工程、該スルーホールを坤めて紹2層配線
を形成する工程を含6・ことを特徴とする多層配線形□
成方法6 □
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16566382A JPS5955038A (ja) | 1982-09-22 | 1982-09-22 | 多層配線形成方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16566382A JPS5955038A (ja) | 1982-09-22 | 1982-09-22 | 多層配線形成方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5955038A true JPS5955038A (ja) | 1984-03-29 |
Family
ID=15816646
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16566382A Pending JPS5955038A (ja) | 1982-09-22 | 1982-09-22 | 多層配線形成方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5955038A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4855252A (en) * | 1988-08-22 | 1989-08-08 | International Business Machines Corporation | Process for making self-aligned contacts |
WO2000008730A1 (en) * | 1998-08-07 | 2000-02-17 | Lasertron, Inc. | Electro-optical semiconductor device with a polyimide/silicon oxide bi-layer beneath a metal contact layer |
-
1982
- 1982-09-22 JP JP16566382A patent/JPS5955038A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4855252A (en) * | 1988-08-22 | 1989-08-08 | International Business Machines Corporation | Process for making self-aligned contacts |
WO2000008730A1 (en) * | 1998-08-07 | 2000-02-17 | Lasertron, Inc. | Electro-optical semiconductor device with a polyimide/silicon oxide bi-layer beneath a metal contact layer |
US6365968B1 (en) | 1998-08-07 | 2002-04-02 | Corning Lasertron, Inc. | Polyimide/silicon oxide bi-layer for bond pad parasitic capacitance control in semiconductor electro-optical device |
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