JPS59165498A - 多層印刷配線板用内層パタ−ン位置検査方法 - Google Patents

多層印刷配線板用内層パタ−ン位置検査方法

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JPS59165498A
JPS59165498A JP3922883A JP3922883A JPS59165498A JP S59165498 A JPS59165498 A JP S59165498A JP 3922883 A JP3922883 A JP 3922883A JP 3922883 A JP3922883 A JP 3922883A JP S59165498 A JPS59165498 A JP S59165498A
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JP
Japan
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inner layer
pattern
clearance
multilayer printed
hole
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Pending
Application number
JP3922883A
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English (en)
Inventor
本島 廣
大木 伸昭
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS59165498A publication Critical patent/JPS59165498A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は多層印刷配線板の内層回路パターンとスルーホ
ールとの位置ずれを検査する多層印刷配線板用内層パタ
ーン位置検査方法に関する。
〔従来技術〕
多層印刷配線板の製造において内層回路バタンと貫通ス
ルホールとの相互ずれを規制することは非常に重要であ
る。即ち内層回路バタンと貫通スルホールとの相互すれ
量が大きい場合には本来絶縁を保っているべき内層回路
間のショート不良をまねく、又は本来接続を保っている
べき内層回路バタンと貫通ヌルホールとの接続の信頼性
が低下する等の致命的な問題を生する。低密度多層印刷
配線板においてはこのすれ許容量は比較的大きく、製造
工程及び使用する材料の品質管理を行うことにより前記
問題点の発生は防止可能である。−万高密度多層印刷配
線板においてはすれ許容量は非常に小さく、前述の低密
度多層配線板の場合の様に製造工程及び使用材料の品質
管理たけではずれに起因する問題の発生を防止するのは
大変難かしい。そこで従来より高密度多層配線板におい
ては製造工程途中又は最終工程にすれ検査工程を設け、
製品の品質を保証するという方法が一般に採用されてい
る。具体的な検査方法としては次の様なものがある。
il+  多層配線板の回路バタン外に検査用パタンを
設け、この部分を断面観察することによりすれ量を知る
(2)  回路〜バタンあるいは検査用パタンを軟X線
透視装置により透視することによりすれ量を知る。
(31内層に予めすれ検査用のパタンとして径をわずか
ずつ変えたクリアランスパタンを配列し、貫通スルホー
ル形成後に前記検査用クリアランスバタンと貫通スルホ
ールとの電気的接続の有無を測定することにより、すれ
量を知る(特公昭56−959号参照)。
しかしながら前記第1の方法は断面観察に要する工数が
多く全数検査眞は不向きである。前記第2の方法は測定
に要する工数は小さいものの軟X線装置が高価で、高多
層配線板では透視画像の画質か低下しすれ量の測定精度
か低下する。また前記第3の方法は最も簡便だが、すれ
の方向を知ることができtx ’y・ので良、不良σ〕
製品選別には効果があるもσつの、結果を品質管理デー
タとして製造工程にフィートノ(ツクすることはできな
い。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、内層回路ノくターンとスル−ホールと
のずれ量及びすれ方向を簡単力・つ窩精度に検査するこ
とが可能な、多層印部1j配線板用内層パターン位置検
査方法を得ることにある。
〔発明の概要〕
本発明では内層口跡ツクターンへ、−辺の長さが一定で
他辺″の長さが異る矩形(7,)夕11状り1ノアラン
スパターンと、逆に一辺σ)長さカー異り他辺の長さが
異る矩形の列状クリアランスパターンとを直交方向へ配
置し、これらσ〕り1ノブランスノくターンをそれぞれ
貫通するスルーホールらのクリアランスノくターンとσ
つ導通有無を調べ、これによってずれ量及び方向を検査
するようになっている。
〔発明の実施例〕
第1図には本発明を実施するための検査パターン10,
12,14.16が配置された多1憎印刷配線板の内層
用積層板18が示されている。これらの検査パターンは
積層板18の印刷配線領域20へ形成される回路パター
ン(図示省略)と同様に鋼張であり、回路パターンと同
時に隣接して印刷された後に接着シートを介して他の積
層板と接着積層される。
第2図には検査パターン10の拡大図か示されている。
この検査パターン10は互に直交するベタ銅パターン2
2.24とから成っている。
ベタ銅パターン22には列状にクリアランスパターンC
−Jが形成されている。これらのクリアランスパターン
はベタ銅を貫通する矩形孔であり、縦辺の長さは一定で
あるが、横辺の長さか互にわすかつつ変化されている。
詳述するとクリアランスパターンFは横辺長さが最大で
あり、GからJまで次第に、中心線から右側の横寸法が
減少し、EからCまでは次第に中心線から左側の横寸法
が減少している。
これらのクリアランスパターンにはスルーホール26が
それぞれ貫通され、内周へスルーホールメッキが施され
ろ。これらのスルーホールはクリアランスパターンと同
軸的に、すなわちクリアランスホールの中心線上(格子
線上)へ穿設された場合にスルーホールと回路ノくター
ンのずれがないようになっている。
従って回路パターンとスルーホール26とに、第2図左
右方向のずれがある場合ては、スルーホールと接触して
いるクリアランスノくターンを検′出することによりず
れの方向及び量を知ることができる。
第2図の状態では、スルーホール26と接触しているク
リアランスパターンDを知ることによりすれ方向及び量
が検出できる。第3図を参照すれば明らかなようにずれ
量Zは、 2=−−(−+Δ)) 2      2 =((ノーφ)/’2.1−Δノ ・・・・・・・・・
・(11で求めることができる。ここに!はクリプラン
スバターンの最大横寸法であり、Δノはクリアランスパ
ターンDの横寸法減少量(寸法)である。
一方、縦方向のクリアランスパターンb−hも同様にベ
タ銅を貫通する矩形孔であるが、前記クリアランスパタ
ーンC〜Jとは逆に横寸法か一定で縦寸法が次第に変化
している。従ってスルーホールの縦方向のずれ量を前記
と同様の方法で知ることができる。
このような構成の内層用積層板18ではベタ銅パターン
22.24及び回路パターンか印刷された後に積層接着
され、スルーホール26が加工されメブキが施される。
内層回路パターンとスルーホール26との間の相互ズレ
がなければいずれのクリアランスパターンもスルーホー
ルと絶縁を保持しているが、ずれを生じているとスルー
ホールは辺長の短いクリアランスパターンとショートす
ることになる。これによってクリアランスパターン以外
のベタ銅部分へ形成されたスルーホール26Aとクリア
ランスパターン内へ貫通されたスルーホ−ルとの間の導
通状態をテスター等で検出すれば(11式からずれ量を
検査できる。また、ずれ方向はショートしているクリア
ランスパターンを知れば各易に判る。
〔発明の効果〕
以上説明した如(、本発明では辺長が異る複数のクリア
ランスパターンとスルーホールとの導通有無で回路パタ
ーンとスルーホールノーj” しを検査するので、ずれ
方向及びすれ量を簡単かつ正確に知ることかできる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明が適用された内層用積層板を示す平面図
、第2図は第1図の一部拡大図、第6図は第2図の一部
分を示すクリアランスパターンとスルーホールとの拡大
図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 多層印刷配線板の内層回路パターンへ一辺の長さが一定
    で他辺の長さが異る矩形のクリアランスパターンを列状
    に配置し、これらのクリアランスパターンと直交方向へ
    一辺の長さが異り他辺の長さが一定な矩形のクリアラン
    スパターンを列状に配置し、これらのクリアランスメタ
    間の導通有無を調べて内層回路バタ′−ンとスルーホー
    ルとの位置すれ量を知る多層印刷配線用内層パターン位
    置検査方法。
JP3922883A 1983-03-11 1983-03-11 多層印刷配線板用内層パタ−ン位置検査方法 Pending JPS59165498A (ja)

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