JPS59146350A - マイクロコンピユ−タ - Google Patents
マイクロコンピユ−タInfo
- Publication number
- JPS59146350A JPS59146350A JP58020127A JP2012783A JPS59146350A JP S59146350 A JPS59146350 A JP S59146350A JP 58020127 A JP58020127 A JP 58020127A JP 2012783 A JP2012783 A JP 2012783A JP S59146350 A JPS59146350 A JP S59146350A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- self
- input terminal
- terminal
- divided
- rom2
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
- G11C29/02—Detection or location of defective auxiliary circuits, e.g. defective refresh counters
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Microcomputers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の属する技術分野］
本発明はマイクロコンピュータに関し、特に自己診断プ
ログラムを内蔵したシングルチップマイクロコンピュー
タに関する。
ログラムを内蔵したシングルチップマイクロコンピュー
タに関する。
［従来技術］
従来、一つのチップで構成されるマイクロコンピュータ
には自励発振回路を内蔵しているものが多い。この回路
が正常に動作するか否かを外部より判断することは大変
困難である。それは、１チツプ内に内蔵される集積回路
の一部として内蔵される自励発振回路は外部の負荷容量
により大きな影響を受けるため、その自励発振端子金周
波数カウンタなどで直接観測することは自励発振端子に
負荷容量を付けることになるからである。それ故、自励
発振周波数を正確に知ることができなくなるという欠点
があった。
には自励発振回路を内蔵しているものが多い。この回路
が正常に動作するか否かを外部より判断することは大変
困難である。それは、１チツプ内に内蔵される集積回路
の一部として内蔵される自励発振回路は外部の負荷容量
により大きな影響を受けるため、その自励発振端子金周
波数カウンタなどで直接観測することは自励発振端子に
負荷容量を付けることになるからである。それ故、自励
発振周波数を正確に知ることができなくなるという欠点
があった。
［発明の目的］
本発明の目的は、上記欠点を除去し、内部素子あるいは
回路が正常動作をしているかどうかを自己診断できる機
能を存するマイクロコンピュータを提供するごとにある
。
回路が正常動作をしているかどうかを自己診断できる機
能を存するマイクロコンピュータを提供するごとにある
。
［発明の枯成コ
本発明のマイクロコンピータは、内部素子を検査するた
めの信号を与える入力端子と、該入力端子に与えられる
信号に基づいて二つに分割され九アドレス空間を持ち、
該二つに分割されたアドレス空間の一方に自己診断用プ
ログラムが書込まれた読出し専用メモリとを含んで構成
される。
めの信号を与える入力端子と、該入力端子に与えられる
信号に基づいて二つに分割され九アドレス空間を持ち、
該二つに分割されたアドレス空間の一方に自己診断用プ
ログラムが書込まれた読出し専用メモリとを含んで構成
される。
［実施例の説明］
本発明の実施例について図面を用いて説明する。
第１図は本発明の一実施例のブロック図である。
この実施例のマイクロコンピュータは、内部素子を検査
するための信号を与える入力端子１と、この入力端子に
与えられる信号に基づいて二つに分割されたアドレス空
間を持ち、分割されたアドレス空間の一方に自己診断用
プログラムが書込まれた読出し専用メモリ（以下自己診
断ＲＯＭ という）２と、内部ＲＯＭ３とを有してい
る。つまり、入力端子１がある値のときアドレッシング
できる通常の内部ＲＯＭ ３とは別に、入力端子１が他
の値の時にのみアドレッシング可能な自己診断ＲＯＭ
２を設け、この自己診断ＲＯＭ ２に自己診断用プログ
ラムを書込むのである。
するための信号を与える入力端子１と、この入力端子に
与えられる信号に基づいて二つに分割されたアドレス空
間を持ち、分割されたアドレス空間の一方に自己診断用
プログラムが書込まれた読出し専用メモリ（以下自己診
断ＲＯＭ という）２と、内部ＲＯＭ３とを有してい
る。つまり、入力端子１がある値のときアドレッシング
できる通常の内部ＲＯＭ ３とは別に、入力端子１が他
の値の時にのみアドレッシング可能な自己診断ＲＯＭ
２を設け、この自己診断ＲＯＭ ２に自己診断用プログ
ラムを書込むのである。
次に、この実施例の動作について説明する。
入力端子１がｓｏｎであれば、プログラムカウンタのア
ドレス信号ＰＡＢＯ，・・・、ＰＡＢ９が１０２４バイ
次に、入力端子１が１“の場合、自己診断Ｒ，ＯＭ２の
みがアドレッシングされる。自己診断ＲＯＭ２には内部
素子、例えば自励発振回路が正確に動作していることを
自励発振端子とは別の端子に現わすことのできる自己診
断プログラムを入れであるので、自励発振回路が正常に
動作しているかの判別を容易にすることができる。
ドレス信号ＰＡＢＯ，・・・、ＰＡＢ９が１０２４バイ
次に、入力端子１が１“の場合、自己診断Ｒ，ＯＭ２の
みがアドレッシングされる。自己診断ＲＯＭ２には内部
素子、例えば自励発振回路が正確に動作していることを
自励発振端子とは別の端子に現わすことのできる自己診
断プログラムを入れであるので、自励発振回路が正常に
動作しているかの判別を容易にすることができる。
上記実施例では、テスト端子としての入力端子１は一端
子とし、その値によって内部ＲＯＭ３と自己診断ＲＯＭ
Ｚを分割アドレッシングする様に説明しているが、テス
ト端子に当る入力端子を複数持ち、それをデコードして
そのうちの一つの信号をテスト端子の信号に割り当てて
もよい。又、自己診断プログラムの例として自励発振回
路のチェックを説明したが、他の例としてマイクロコン
ピュータにタイマー回路があればそのタイマー機能のチ
ェックプログラムでもよい、つ１１マイクロコンピユー
タの機能で外部からでは検査が困難なものを自己診断プ
ログラムで動作させれば：い。
子とし、その値によって内部ＲＯＭ３と自己診断ＲＯＭ
Ｚを分割アドレッシングする様に説明しているが、テス
ト端子に当る入力端子を複数持ち、それをデコードして
そのうちの一つの信号をテスト端子の信号に割り当てて
もよい。又、自己診断プログラムの例として自励発振回
路のチェックを説明したが、他の例としてマイクロコン
ピュータにタイマー回路があればそのタイマー機能のチ
ェックプログラムでもよい、つ１１マイクロコンピユー
タの機能で外部からでは検査が困難なものを自己診断プ
ログラムで動作させれば：い。
一般のユーザーが本発明によるこのマイクロコンピュー
タを使用する場合は、入力端子１は“Ｏ″に固定してお
くから自己診断ＲＯＭ２にプログラムされている命令を
実行する事は無い、つまり本方式を取れはユーザーのプ
ログラムを乱す事もないし、ユーザーに使用を許可する
ＲＯＭ容量も変化しない。
タを使用する場合は、入力端子１は“Ｏ″に固定してお
くから自己診断ＲＯＭ２にプログラムされている命令を
実行する事は無い、つまり本方式を取れはユーザーのプ
ログラムを乱す事もないし、ユーザーに使用を許可する
ＲＯＭ容量も変化しない。
［発明の効果］
以上詳細に説明したように、本発明によれば、内部素子
あるいは内部回路が正常動作をしているかどうかを自己
診断できる機能を有するマイクロコンピュータが得られ
るのでその効果は大きい、
あるいは内部回路が正常動作をしているかどうかを自己
診断できる機能を有するマイクロコンピュータが得られ
るのでその効果は大きい、
第１図は本発明の一実施例のブロック図である。
１・・・・・入力端子、２・・・・自己診断Ｒ，ＯＭ、
３・・・・内部ＲＯＭ。 ゛＼〜１／
３・・・・内部ＲＯＭ。 ゛＼〜１／
Claims (1)
- 内部素子を検査するだめの信号を与える入力端子と、該
入力端子に与えられる信号に基づいて二つに分割された
アドレス空間を持ち、該二つに分割されたアドレス空Ｉ
ｆ４＋の一方に自己診断用プログラムが書込壕れだ読出
し専用メモリとを含むことを特徴とするマイクロコンピ
ュータ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58020127A JPS59146350A (ja) | 1983-02-09 | 1983-02-09 | マイクロコンピユ−タ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58020127A JPS59146350A (ja) | 1983-02-09 | 1983-02-09 | マイクロコンピユ−タ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59146350A true JPS59146350A (ja) | 1984-08-22 |
Family
ID=12018454
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58020127A Pending JPS59146350A (ja) | 1983-02-09 | 1983-02-09 | マイクロコンピユ−タ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59146350A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5520555A (en) * | 1978-08-01 | 1980-02-14 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Integrated circuit for information process system |
| JPS5617446A (en) * | 1979-07-20 | 1981-02-19 | Oki Electric Ind Co Ltd | Microcomputer |
| JPS56155452A (en) * | 1980-05-02 | 1981-12-01 | Matsushita Electronics Corp | Testing method for large scale integrated circuit device |
-
1983
- 1983-02-09 JP JP58020127A patent/JPS59146350A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5520555A (en) * | 1978-08-01 | 1980-02-14 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | Integrated circuit for information process system |
| JPS5617446A (en) * | 1979-07-20 | 1981-02-19 | Oki Electric Ind Co Ltd | Microcomputer |
| JPS56155452A (en) * | 1980-05-02 | 1981-12-01 | Matsushita Electronics Corp | Testing method for large scale integrated circuit device |
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