JPS6243789A - Ｉｃカ−ドの試験方法 - Google Patents
Ｉｃカ−ドの試験方法Info
- Publication number
- JPS6243789A JPS6243789A JP60183245A JP18324585A JPS6243789A JP S6243789 A JPS6243789 A JP S6243789A JP 60183245 A JP60183245 A JP 60183245A JP 18324585 A JP18324585 A JP 18324585A JP S6243789 A JPS6243789 A JP S6243789A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- control program
- card
- memory
- prom writer
- program
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明はＩＣカードの試験方法に関し、特にその制御
プログラムの開発効率の向上に関するものである。
プログラムの開発効率の向上に関するものである。
ここでＩＣカードとは、従来の磁気ストライプ付カード
に代わって用いられるものであり、カードの基体内にメ
モリＩＣやＣＰＵその他の半導体片を内蔵し、従来の磁
気ストライプ付カードに比べて数桁以上の大容量の記憶
能力を持たせることができるほか、任意の演算機能を持
たせることができるものである。
に代わって用いられるものであり、カードの基体内にメ
モリＩＣやＣＰＵその他の半導体片を内蔵し、従来の磁
気ストライプ付カードに比べて数桁以上の大容量の記憶
能力を持たせることができるほか、任意の演算機能を持
たせることができるものである。
このようなＩＣカードにおいて、それを動作させるため
の制御プログラムは、通常、ＣＰＵ、 ＲＯＭ等を有
するワンチップマイコン上にマスクＲＯＭ化されている
。
の制御プログラムは、通常、ＣＰＵ、 ＲＯＭ等を有
するワンチップマイコン上にマスクＲＯＭ化されている
。
このように、従来のＩＣカードにおいては、その？ｔｉ
ｌＪａプログラムをワンチップマイコン上にマスクＲＯ
Ｍ化するようにしているので、該制御プログラムの修正
等は実際上不可能である。従って所望の目的を達成する
ためのＩＣカードの開発段階において、その制御プログ
ラムの開発デパック効率が非常に悪いという問題があっ
た。
ｌＪａプログラムをワンチップマイコン上にマスクＲＯ
Ｍ化するようにしているので、該制御プログラムの修正
等は実際上不可能である。従って所望の目的を達成する
ためのＩＣカードの開発段階において、その制御プログ
ラムの開発デパック効率が非常に悪いという問題があっ
た。
この発明は、かかる従来の問題を解消するためになされ
たもので、制御プログラムの開発デバソり効率を向上す
ることのできるＩＣカードの試験方法を提供することを
目的としている。
たもので、制御プログラムの開発デバソり効率を向上す
ることのできるＩＣカードの試験方法を提供することを
目的としている。
この発明に係るＩＣカードの試験方法は、ＩＣカードの
モジュール基板上にメモリを直接アクセスできるよう端
子を設け、この端子を介して上記メモリに外部より制御
プログラムを書込み、その制御プログラムでＩＣカード
を動作させるようにしたものである。
モジュール基板上にメモリを直接アクセスできるよう端
子を設け、この端子を介して上記メモリに外部より制御
プログラムを書込み、その制御プログラムでＩＣカード
を動作させるようにしたものである。
この発明においては、ＩＣカードのメモリの一部を制御
プログラム領域として使用し、該領域内にモジュールの
状態で外部から書込まれた制御プログラムで動作Ｒ１ｆ
ｆ１を行なうから、制御プログラムの修正等が容易にな
り、開発デパック効率が向上する。
プログラム領域として使用し、該領域内にモジュールの
状態で外部から書込まれた制御プログラムで動作Ｒ１ｆ
ｆ１を行なうから、制御プログラムの修正等が容易にな
り、開発デパック効率が向上する。
以下、本発明の実施例を図について説明する。
第１図は本発明の一実施例によるＩＣカードの試験方法
を実施するための構成を示す模式図であり、図において
、ｌはモジュール基へ、２はこの草様１上に搭載された
ＣＰＵ、３は同様に基へ１上に搭載されたＥＰＲＯＭ、
ＥｚｐＲｏｈｉ等のメモリ、４は上記ＣＰＵ２．メ
モリ３間に没ｉＪられなアドレス・バス、データ・バス
、コントロールバスを含む信号線、５は各信号線４に接
続して設けられ、上記メモリ３の一部領域に外部から制
御プログラムを書込むための端子、６は基板ｌの外部接
続端子、７は上記メモリ３に制御プログラムを書込み。
を実施するための構成を示す模式図であり、図において
、ｌはモジュール基へ、２はこの草様１上に搭載された
ＣＰＵ、３は同様に基へ１上に搭載されたＥＰＲＯＭ、
ＥｚｐＲｏｈｉ等のメモリ、４は上記ＣＰＵ２．メ
モリ３間に没ｉＪられなアドレス・バス、データ・バス
、コントロールバスを含む信号線、５は各信号線４に接
続して設けられ、上記メモリ３の一部領域に外部から制
御プログラムを書込むための端子、６は基板ｌの外部接
続端子、７は上記メモリ３に制御プログラムを書込み。
又は修正するためのＰＲＯＭライタである。
次に本実施例の試験方法について説明する。
まず、ＰＲＯＭライタ７の出力を基ｉｆ １．１：に設
けられた各端子５に接続する。この状態でメモリ３はＣ
ＰＵ２と切り離され、ＰＲＯＭライタ７と接続される。
けられた各端子５に接続する。この状態でメモリ３はＣ
ＰＵ２と切り離され、ＰＲＯＭライタ７と接続される。
そして第２図で示すように、上記メモリ３の一部を制御
プログラム領［３ａとして使用し、この領域３ａに上記
ＰＲＯＭライタ７により本ＩＣカードの制御プログラム
を直接書込む。
プログラム領［３ａとして使用し、この領域３ａに上記
ＰＲＯＭライタ７により本ＩＣカードの制御プログラム
を直接書込む。
そしてプログラムの書込みが完了すれば、メモリ３とＰ
ＲＯＭライタ７とを切り離す。この状態で、メモリ３は
再びＣＰ Ｕ ２と接続される。
ＲＯＭライタ７とを切り離す。この状態で、メモリ３は
再びＣＰ Ｕ ２と接続される。
次に本ＩＣカードをカード読取り装置に装着し、上記メ
モリ３に書込まれた制御プログラムに従って、ＣＰＵ２
．メモリ３のデータ領域３ｂを用いて所定の動作を行な
わせる。
モリ３に書込まれた制御プログラムに従って、ＣＰＵ２
．メモリ３のデータ領域３ｂを用いて所定の動作を行な
わせる。
そして動作等に不具合があり、制御プログラムを修正す
る必要がある場合は、図示しないプログラム開発装置に
より該制御プログラムのデパックを行ない、この修正さ
れたプログラムを再び前述の如＜ＰＲＯＭライタ７を用
いて上記メモリ３の制御プログラム領域３ａに苫込む。
る必要がある場合は、図示しないプログラム開発装置に
より該制御プログラムのデパックを行ない、この修正さ
れたプログラムを再び前述の如＜ＰＲＯＭライタ７を用
いて上記メモリ３の制御プログラム領域３ａに苫込む。
このような本実施例では、基板１上のメモリ３と直接ア
クセスできるような端子５を設け、この端子５を介して
メモリ３に制御プログラムを書込み、これにより動作確
認を行なうようにしたので、制御プログラムの修正を簡
単に行なうことができ、該制御プログラムの開発デパッ
ク効率を著しく向上できる。
クセスできるような端子５を設け、この端子５を介して
メモリ３に制御プログラムを書込み、これにより動作確
認を行なうようにしたので、制御プログラムの修正を簡
単に行なうことができ、該制御プログラムの開発デパッ
ク効率を著しく向上できる。
以上のように、本発明によれば、基板上にメモリを直接
アクセスできる端子を設け、この端子を介して外部より
上記メモリの一部領域に制御プログラムを書込み、該制
御プログラムでＩＣカードの動作確認を行なうようにし
たので、制御プログラムの修正を容易に行なうことがで
き、ＩＣカードの開発過程における制御プログラムのデ
パック効率を向上できる効果がある。
アクセスできる端子を設け、この端子を介して外部より
上記メモリの一部領域に制御プログラムを書込み、該制
御プログラムでＩＣカードの動作確認を行なうようにし
たので、制御プログラムの修正を容易に行なうことがで
き、ＩＣカードの開発過程における制御プログラムのデ
パック効率を向上できる効果がある。
第１図は本発明の一実施例によるＩＣカードの試験方法
を説明するための構成図、第２図はメモリの内容を示す
図である。 ２・・・ＣＰｔＪ、３・・・メモリ、４・・・信号線、
５・・・端子、７・・・ＰＲＯＭライタ。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
を説明するための構成図、第２図はメモリの内容を示す
図である。 ２・・・ＣＰｔＪ、３・・・メモリ、４・・・信号線、
５・・・端子、７・・・ＰＲＯＭライタ。 なお図中同一符号は同−又は相当部分を示す。
Claims (1)
- （１）カード基体内にＣＰＵを含むＩＣモジュールを有
してなるＩＣカードの試験方法において、上記ＩＣカー
ドは制御プログラムを書込むためのメモリ及び端子を有
し、 上記メモリに上記端子を介して制御プログラムを書込み
、 該制御プログラムに従ってＩＣカードの動作確認を行な
うことを特徴とするＩＣカードの試験方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60183245A JPS6243789A (ja) | 1985-08-20 | 1985-08-20 | Ｉｃカ−ドの試験方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60183245A JPS6243789A (ja) | 1985-08-20 | 1985-08-20 | Ｉｃカ−ドの試験方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6243789A true JPS6243789A (ja) | 1987-02-25 |
| JPH0516635B2 JPH0516635B2 (ja) | 1993-03-04 |
Family
ID=16132314
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60183245A Granted JPS6243789A (ja) | 1985-08-20 | 1985-08-20 | Ｉｃカ−ドの試験方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6243789A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01131980A (ja) * | 1987-11-17 | 1989-05-24 | Mitsubishi Electric Corp | Ｉｃカードの検査方法 |
| JPH0567201U (ja) * | 1991-04-30 | 1993-09-07 | 三菱農機株式会社 | ロータリ耕耘装置 |
-
1985
- 1985-08-20 JP JP60183245A patent/JPS6243789A/ja active Granted
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH01131980A (ja) * | 1987-11-17 | 1989-05-24 | Mitsubishi Electric Corp | Ｉｃカードの検査方法 |
| JPH0567201U (ja) * | 1991-04-30 | 1993-09-07 | 三菱農機株式会社 | ロータリ耕耘装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0516635B2 (ja) | 1993-03-04 |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111 |
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| R360 | Written notification for declining of transfer of rights |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360 |
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