JPS59146219A - Ｄ／ａコンバ−タの測定方式 - Google Patents
Ｄ／ａコンバ−タの測定方式Info
- Publication number
- JPS59146219A JPS59146219A JP58020376A JP2037683A JPS59146219A JP S59146219 A JPS59146219 A JP S59146219A JP 58020376 A JP58020376 A JP 58020376A JP 2037683 A JP2037683 A JP 2037683A JP S59146219 A JPS59146219 A JP S59146219A
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- Japan
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- measurement
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- Pending
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Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03M—CODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
- H03M1/00—Analogue/digital conversion; Digital/analogue conversion
- H03M1/10—Calibration or testing
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Analogue/Digital Conversion (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、Ｄ／Ａコンバータが所定の直線性の範囲（規
格範囲）内にはいる入・出力特性を有するか否かを測定
するＤ／Ａコンバータの測定方式に関する。
格範囲）内にはいる入・出力特性を有するか否かを測定
するＤ／Ａコンバータの測定方式に関する。
従来のこの種の測定方式には、ＩＣテスターと電圧計と
を組合わせたものがある。この測定方式は、被測定Ｄ／
Ａコンバータとこの測定のための基準の入・出力特性を
与える基準Ｄ／Ａコンバータとの両方に測定用の同じデ
ィジタル化入力を与える。
を組合わせたものがある。この測定方式は、被測定Ｄ／
Ａコンバータとこの測定のための基準の入・出力特性を
与える基準Ｄ／Ａコンバータとの両方に測定用の同じデ
ィジタル化入力を与える。
被測定Ｄ／Ａコンバータが有する入・出力特性に対応し
た両Ｄ／Ａコンバータの出力レベル差を電圧計により測
定する。この測定結果をＩＣテスターに入力することに
より被測定Ｄ／Ａコンバータの入・出力特性が規格範囲
内にはいらない場合にはこの被測定Ｄ／Ａコンバータを
不良品とし、そうでない場合には良品と判定する。とこ
ろで、このような測定方式では、１つの被測定Ｄ／Ａコ
ンバータがｎビットの入力を有しているときは２ｎの組
合わせのディジタル化入力を与え、各ディジタル化入力
毎に前記判定を行う必要がある。このため、電圧計を使
用してこのような判定を行う場合、電圧計の応答速度が
遅いためその判定時間が非常に長くかかることになる。
た両Ｄ／Ａコンバータの出力レベル差を電圧計により測
定する。この測定結果をＩＣテスターに入力することに
より被測定Ｄ／Ａコンバータの入・出力特性が規格範囲
内にはいらない場合にはこの被測定Ｄ／Ａコンバータを
不良品とし、そうでない場合には良品と判定する。とこ
ろで、このような測定方式では、１つの被測定Ｄ／Ａコ
ンバータがｎビットの入力を有しているときは２ｎの組
合わせのディジタル化入力を与え、各ディジタル化入力
毎に前記判定を行う必要がある。このため、電圧計を使
用してこのような判定を行う場合、電圧計の応答速度が
遅いためその判定時間が非常に長くかかることになる。
本発明音が従来方式について実験したところ、例えば、
１０２４回分のディジタル化入力を与えて測定を行った
場合に、周辺回路等の他の遅延時間要素も加味するが１
つの被測定Ｄ／Ａコンバータの良品・不良品の測定に約
４秒間かかった。また、このように測定時間が長くなる
程、各回路や装置に内蔵されている測定用回路素子の自
己発熱により測定出力が変動をきたし易くなり、測定精
度に悪影響を及ぼす。
１０２４回分のディジタル化入力を与えて測定を行った
場合に、周辺回路等の他の遅延時間要素も加味するが１
つの被測定Ｄ／Ａコンバータの良品・不良品の測定に約
４秒間かかった。また、このように測定時間が長くなる
程、各回路や装置に内蔵されている測定用回路素子の自
己発熱により測定出力が変動をきたし易くなり、測定精
度に悪影響を及ぼす。
本発明は、被測定Ｄ／Ａコンバータの入・出力特性が規
格範囲内にあるか否かについての測定を短時間で行える
ようにするとともに、これにより測定用回路素子の自己
発熱による測定出力の変動を抑えて高い精度での測定が
行えるようにすることを目的とする。
格範囲内にあるか否かについての測定を短時間で行える
ようにするとともに、これにより測定用回路素子の自己
発熱による測定出力の変動を抑えて高い精度での測定が
行えるようにすることを目的とする。
本発明は、このような目的を達成するため、被測定Ｄ／
Ａコンバータと基準Ｄ／Ａコンバータにディジタル入力
を与え、また両Ｄ／Ａコンバータの出力レベルを比較し
、その比較結果のアナログ出力をディジタル出力として
ＩＣテスターに与える差動増幅器を設けることにより、
入・出力ともディジタル測定化が可能なようにしている
。
Ａコンバータと基準Ｄ／Ａコンバータにディジタル入力
を与え、また両Ｄ／Ａコンバータの出力レベルを比較し
、その比較結果のアナログ出力をディジタル出力として
ＩＣテスターに与える差動増幅器を設けることにより、
入・出力ともディジタル測定化が可能なようにしている
。
以下、本発明を図面に示す一実施例に基づいて詳細に説
明する。
明する。
図は、この実施例のブロック回路図である。図において
、１は入・出力特性が規格範囲内にあるか否かが測定さ
れるべき被測定Ｄ／Ａコンバータであり、２はこの測定
のための基準の入・出力特性を与える基準Ｄ／Ａコンバ
ータである。両Ｄ／Ａコンバータ１、２は共にｎビット
の測定用ディジタル化入力が与えられるようになってい
る。３はＤ／Ａコンバータの入・出力特性が規格範囲内
にあるか否かを測定するためのディジタル測定機能を有
するＩＣテスターである。このＩＣテスター３は前記両
Ｄ／Ａコンバータ１、２に測定用ディジタル化入力を与
えるディジタル測定ユニット４と、ディジタル測定ユニ
ット４の動作を制御する中央処理装置５と、測定結果を
表示する表示部６とを備える。ディジタル測定ユニット
４は２つの判定器ＡＢと１回ごとの良・不良の判定結果
を記憶する記憶部Ｃとを有する。
、１は入・出力特性が規格範囲内にあるか否かが測定さ
れるべき被測定Ｄ／Ａコンバータであり、２はこの測定
のための基準の入・出力特性を与える基準Ｄ／Ａコンバ
ータである。両Ｄ／Ａコンバータ１、２は共にｎビット
の測定用ディジタル化入力が与えられるようになってい
る。３はＤ／Ａコンバータの入・出力特性が規格範囲内
にあるか否かを測定するためのディジタル測定機能を有
するＩＣテスターである。このＩＣテスター３は前記両
Ｄ／Ａコンバータ１、２に測定用ディジタル化入力を与
えるディジタル測定ユニット４と、ディジタル測定ユニ
ット４の動作を制御する中央処理装置５と、測定結果を
表示する表示部６とを備える。ディジタル測定ユニット
４は２つの判定器ＡＢと１回ごとの良・不良の判定結果
を記憶する記憶部Ｃとを有する。
８は両Ｄ／Ａコンバータ１、２のアナログ出力レベルを
比較し、その差電圧を出力する差動増幅器である。この
差動増幅器８の差電圧はディジタル測定ユニット４の両
判定器Ａ、Ｂに与えられる。
比較し、その差電圧を出力する差動増幅器である。この
差動増幅器８の差電圧はディジタル測定ユニット４の両
判定器Ａ、Ｂに与えられる。
判定器Ａ、Ｂはそれぞれ異なる判定レベルを有する。被
測定Ｄ／Ａコンバータ１が規格範囲の入・出力特性を有
する場合は、前記差電圧はこの規格範囲を満足する値を
有している。判定器Ａはこの規格範囲の下限に関し、ま
た判定器Ｂはこの規格範囲の上限に関し、それぞれ差電
圧の大きさを判定する。ディジタル測定ユニット４の記
憶部Ｃは判定器Ａ、Ｂの判定結果を記憶する。
測定Ｄ／Ａコンバータ１が規格範囲の入・出力特性を有
する場合は、前記差電圧はこの規格範囲を満足する値を
有している。判定器Ａはこの規格範囲の下限に関し、ま
た判定器Ｂはこの規格範囲の上限に関し、それぞれ差電
圧の大きさを判定する。ディジタル測定ユニット４の記
憶部Ｃは判定器Ａ、Ｂの判定結果を記憶する。
次に、動作を説明する。
中央処理装置５がディジタル測定ユニット４に測定指令
信号を与える。ディジタル測定ユニット４はこの測定指
令信号に応答して両Ｄ／Ａコンバータ１、２に測定用デ
ィジタル化入力を与える。この測定用ディジタル化入力
は２ｎの組合わせ数分だけ、両Ｄ／Ａコンバータ１、２
に順次与えられる。
信号を与える。ディジタル測定ユニット４はこの測定指
令信号に応答して両Ｄ／Ａコンバータ１、２に測定用デ
ィジタル化入力を与える。この測定用ディジタル化入力
は２ｎの組合わせ数分だけ、両Ｄ／Ａコンバータ１、２
に順次与えられる。
両Ｄ／Ａコンバータ１、２は、入力された測定用ディジ
タル化入力に対応したアナログ出力を差動増幅器８の各
入力部に与える。差動増幅器８は被測定Ｄ／Ａコンバー
タ１の入・出力特性が規格範囲内にあるときには、所定
の差電圧をディジタル測定ユニット４に与える。ディジ
タル測定ユニット４は内部の判定器Ａ、Ｂにより判定さ
せるとともに、この場合の被測定Ｄ／Ａコンバータ１は
良品であるとの判定結果を記憶部Ｃに記憶させる。被測
定Ｄ／Ａコンバータ１の入・出力特性が規格範囲外のと
きにはディジタル測定ユニット４は同様に判定器Ａ、Ｂ
に判定させ、この場合の被測定Ｄ／Ａコンバータ１は不
良品であるとの判定結果を記憶部Ｃに記憶させる。こう
して、この記憶部Ｃには、各測定用ディジタル化入力毎
に、対応する判定結果が記憶される。このようにして、
２ｎの組合わせ数分の比較が行われ、記憶部Ｃに全ての
判定結果が記憶されるか、または各判定結果が記憶され
、最後に、中央処理装置５は記憶部Ｃの記憶出力に基づ
き、被測定Ｄ／Ａコンバータ１の入・出力特性が規格範
囲内にあるか否かを判定し、その判定出力を測定結果表
示部６に与える。この測定結果表示部６は、被測定Ｄ／
Ａコンバータ１が良品、即ち、その入・出力特性が規格
範囲内のものであるか、または不良品、即ち、規格範囲
外のものであるかを表示する。したがって、この実施例
によれば本発明者が実験したところ、例えば１０２４回
分のディジタル化入力をＤ／Ａコンバータ１、２に与え
て測定するような場合に周辺回路の安定時間を除き、約
８０ミリ秒で測定することができ、測定時間を大幅に短
縮することができた。
タル化入力に対応したアナログ出力を差動増幅器８の各
入力部に与える。差動増幅器８は被測定Ｄ／Ａコンバー
タ１の入・出力特性が規格範囲内にあるときには、所定
の差電圧をディジタル測定ユニット４に与える。ディジ
タル測定ユニット４は内部の判定器Ａ、Ｂにより判定さ
せるとともに、この場合の被測定Ｄ／Ａコンバータ１は
良品であるとの判定結果を記憶部Ｃに記憶させる。被測
定Ｄ／Ａコンバータ１の入・出力特性が規格範囲外のと
きにはディジタル測定ユニット４は同様に判定器Ａ、Ｂ
に判定させ、この場合の被測定Ｄ／Ａコンバータ１は不
良品であるとの判定結果を記憶部Ｃに記憶させる。こう
して、この記憶部Ｃには、各測定用ディジタル化入力毎
に、対応する判定結果が記憶される。このようにして、
２ｎの組合わせ数分の比較が行われ、記憶部Ｃに全ての
判定結果が記憶されるか、または各判定結果が記憶され
、最後に、中央処理装置５は記憶部Ｃの記憶出力に基づ
き、被測定Ｄ／Ａコンバータ１の入・出力特性が規格範
囲内にあるか否かを判定し、その判定出力を測定結果表
示部６に与える。この測定結果表示部６は、被測定Ｄ／
Ａコンバータ１が良品、即ち、その入・出力特性が規格
範囲内のものであるか、または不良品、即ち、規格範囲
外のものであるかを表示する。したがって、この実施例
によれば本発明者が実験したところ、例えば１０２４回
分のディジタル化入力をＤ／Ａコンバータ１、２に与え
て測定するような場合に周辺回路の安定時間を除き、約
８０ミリ秒で測定することができ、測定時間を大幅に短
縮することができた。
以上のように、本発明によれば、被測定Ｄ／Ａコンバー
タと基準Ｄ／Ａコンバータとにディジタル入力を与え、
また両コンバータの出力レベルを比較し、その比較結果
をディジタル化出力としてＩＣテスターに与える差動増
幅器を設けることにより、電圧計のような測定装置を設
ける必要をなくしたので、両Ｄ／Ａコンバータの入・出
力いずれもディジタル的に取扱うることができる。、し
たがって、この測定のための他の回路が動作安定するま
での時間を考慮するだけで、Ｄ／Ａコンバータの測定を
行うことができることになり、測定時間を大幅に短縮す
ることができる。また、測定時間が短縮することにより
、測定回路や装置に組込まれている測定用回路素子の自
己発熱の影響が大きく軽減し、このため測定精度が向上
するという優れた効果を奏する。
タと基準Ｄ／Ａコンバータとにディジタル入力を与え、
また両コンバータの出力レベルを比較し、その比較結果
をディジタル化出力としてＩＣテスターに与える差動増
幅器を設けることにより、電圧計のような測定装置を設
ける必要をなくしたので、両Ｄ／Ａコンバータの入・出
力いずれもディジタル的に取扱うることができる。、し
たがって、この測定のための他の回路が動作安定するま
での時間を考慮するだけで、Ｄ／Ａコンバータの測定を
行うことができることになり、測定時間を大幅に短縮す
ることができる。また、測定時間が短縮することにより
、測定回路や装置に組込まれている測定用回路素子の自
己発熱の影響が大きく軽減し、このため測定精度が向上
するという優れた効果を奏する。
図は本発明の一実施例のブロック回路図である。
Claims (1)
- （１）入・出力特性が所定の直線性の範囲内にあるか否
かが測定されるべき被測定Ｄ／Ａコンパータとこの測定
のための基準の入・出力特性を与える基準Ｄ／Ａコンバ
ータとの両方に対して測定用のディジタル化入力を設定
するＩＣテスターを備え、前記両Ｄ／Ａコンバータの出
力レベルを比較しその差電圧をディジタル化出力として
ＩＣテスターに与える差動増幅器を有し、ＩＣテスター
は前記両Ｄ／Ａコンバータに与えたディジタル化入力に
対応する差動増幅器の出力により、被測定Ｄ／Ａコンバ
ータが所定の直線性の範囲内にあるか否かを判定するこ
とを特徴とするＤ／Ａコンバータの測定方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58020376A JPS59146219A (ja) | 1983-02-09 | 1983-02-09 | Ｄ／ａコンバ−タの測定方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58020376A JPS59146219A (ja) | 1983-02-09 | 1983-02-09 | Ｄ／ａコンバ−タの測定方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59146219A true JPS59146219A (ja) | 1984-08-22 |
Family
ID=12025328
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58020376A Pending JPS59146219A (ja) | 1983-02-09 | 1983-02-09 | Ｄ／ａコンバ−タの測定方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59146219A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4667758A (en) * | 1984-12-28 | 1987-05-26 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Arrangement structure of an engine radiator in a straddled type vehicle |
| US4770262A (en) * | 1984-08-31 | 1988-09-13 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Four-wheel motor vehicle with riding saddle seat |
| JP2002303651A (ja) * | 2001-04-06 | 2002-10-18 | Nec Corp | 信号検査方法および信号検査回路 |
| KR100573340B1 (ko) * | 2002-04-30 | 2006-04-24 | 샤프 가부시키가이샤 | 기준 전압 발생 장치 및 그것을 구비한 반도체 집적 회로와반도체 집적 회로의 검사 장치 및 그 검사 방법 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5122789A (ja) * | 1974-08-19 | 1976-02-23 | Asahi Chemical Ind | Netsukasoseisoseibutsu |
| JPS55130231A (en) * | 1979-03-29 | 1980-10-08 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Voltage/current generator |
-
1983
- 1983-02-09 JP JP58020376A patent/JPS59146219A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5122789A (ja) * | 1974-08-19 | 1976-02-23 | Asahi Chemical Ind | Netsukasoseisoseibutsu |
| JPS55130231A (en) * | 1979-03-29 | 1980-10-08 | Yokogawa Hokushin Electric Corp | Voltage/current generator |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4770262A (en) * | 1984-08-31 | 1988-09-13 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Four-wheel motor vehicle with riding saddle seat |
| US4667758A (en) * | 1984-12-28 | 1987-05-26 | Honda Giken Kogyo Kabushiki Kaisha | Arrangement structure of an engine radiator in a straddled type vehicle |
| JP2002303651A (ja) * | 2001-04-06 | 2002-10-18 | Nec Corp | 信号検査方法および信号検査回路 |
| KR100573340B1 (ko) * | 2002-04-30 | 2006-04-24 | 샤프 가부시키가이샤 | 기준 전압 발생 장치 및 그것을 구비한 반도체 집적 회로와반도체 집적 회로의 검사 장치 및 그 검사 방법 |
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