JPH0399279A - 簡易型自動歪率試験器 - Google Patents
簡易型自動歪率試験器Info
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- JPH0399279A JPH0399279A JP23592089A JP23592089A JPH0399279A JP H0399279 A JPH0399279 A JP H0399279A JP 23592089 A JP23592089 A JP 23592089A JP 23592089 A JP23592089 A JP 23592089A JP H0399279 A JPH0399279 A JP H0399279A
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- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 12
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 abstract description 14
- 238000010276 construction Methods 0.000 abstract 1
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 18
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 18
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 15
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 3
- 101100484930 Saccharomyces cerevisiae (strain ATCC 204508 / S288c) VPS41 gene Proteins 0.000 description 2
- 230000005669 field effect Effects 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概 要〕
周波数が一定の信号の歪率を自動的に試験する簡易型試
験器に関し、 入力信号と、入力信号から基本波成分を除去した信号を
それぞれ交流/直流変換し、2つの直流出力電圧の割算
を行い、その結果を定められた基準値と比較することに
より、歪率の良否を簡単に試験することができる簡易型
自動歪率試験器を提供することを目的とし、 入力信号から基本波を除去する基本波除去手段と、基本
波除去手段で基本波を除去した信号を、直流に変換する
第1の交流/直流変換手段と、入力信号を直流に変換す
る第2の交流/直流変換手段と、第1の交流/直流変換
手段の出力を、第2の交流/直流変換手段の出力で割算
を行う割算手段と、割算手段の出力を、所定の基準値と
比較する比較手段とを備え構成する。
験器に関し、 入力信号と、入力信号から基本波成分を除去した信号を
それぞれ交流/直流変換し、2つの直流出力電圧の割算
を行い、その結果を定められた基準値と比較することに
より、歪率の良否を簡単に試験することができる簡易型
自動歪率試験器を提供することを目的とし、 入力信号から基本波を除去する基本波除去手段と、基本
波除去手段で基本波を除去した信号を、直流に変換する
第1の交流/直流変換手段と、入力信号を直流に変換す
る第2の交流/直流変換手段と、第1の交流/直流変換
手段の出力を、第2の交流/直流変換手段の出力で割算
を行う割算手段と、割算手段の出力を、所定の基準値と
比較する比較手段とを備え構成する。
本発明は、周波数が一定の信号の歪率を自動的に試験す
る簡易型試験器に関し、 例えば、交換機の加入者回路の試験において、各種機能
試験は自動試験機にて行っており、課金信号である12
kHzの正弦波の送出機能をもつ加入者回路の試験を行
うときにも、歪率およびレベルの試験を自動化すること
が必要である。
る簡易型試験器に関し、 例えば、交換機の加入者回路の試験において、各種機能
試験は自動試験機にて行っており、課金信号である12
kHzの正弦波の送出機能をもつ加入者回路の試験を行
うときにも、歪率およびレベルの試験を自動化すること
が必要である。
この自動化においては、歪率およびレベルが定められた
規格値内にあるか否かの結果のみが出力できる機能があ
れば充分である。
規格値内にあるか否かの結果のみが出力できる機能があ
れば充分である。
第3図は従来例を説明するブロック図を示す。
歪率は、入力された信号周波数と、その中に含まれてい
る全高調波成分の比として求められるものであり、%、
またはdBで表示される。
る全高調波成分の比として求められるものであり、%、
またはdBで表示される。
第3図の従来例は入力された信号から基本波を取り除く
、基本波除去フィルタIOAと、入力された信号周波数
から基本波を除いた信号を増幅する増幅器50Aと、 基本波除去フィルタIOAの中心周波数を、入力信号の
周波数に同調させる周波数同調部10Bと、 増幅器50Aの増幅率を変化させる増幅率制御部50B
と、 増幅率制御部50Bで設定した増幅率によって定まる歪
率の測定レンジを表示する測定レンジ表示部60Aと、 増幅器50Aへの入力を選択するスイッチ7゜Aと、 増幅器50Aの出力を指示する指示計80Aより構成さ
れている。
、基本波除去フィルタIOAと、入力された信号周波数
から基本波を除いた信号を増幅する増幅器50Aと、 基本波除去フィルタIOAの中心周波数を、入力信号の
周波数に同調させる周波数同調部10Bと、 増幅器50Aの増幅率を変化させる増幅率制御部50B
と、 増幅率制御部50Bで設定した増幅率によって定まる歪
率の測定レンジを表示する測定レンジ表示部60Aと、 増幅器50Aへの入力を選択するスイッチ7゜Aと、 増幅器50Aの出力を指示する指示計80Aより構成さ
れている。
上述の構成において、スイッチ70Aを■に倒し、入力
信号を増幅器50Aをとおして、指示計8OAに指示す
る。このときの入力信号のレベルは、増幅器50Aの増
幅率が1のとき、指示計8OAのフルスケールを指示す
るものとする。
信号を増幅器50Aをとおして、指示計8OAに指示す
る。このときの入力信号のレベルは、増幅器50Aの増
幅率が1のとき、指示計8OAのフルスケールを指示す
るものとする。
ついで、スイッチ70Aを■側にし、入力信号から基本
波を、基本波除去フィルタIOAで除去した信号を増幅
器50Aに入力する。
波を、基本波除去フィルタIOAで除去した信号を増幅
器50Aに入力する。
基本波除去フィルタIOAの出力信号は、入力信号から
基本波を除去したものであり(以下全高調波と称する)
、入力信号よりは小さなものとなり、指示計8OAの指
示は小さくなる。
基本波を除去したものであり(以下全高調波と称する)
、入力信号よりは小さなものとなり、指示計8OAの指
示は小さくなる。
したがって、指示計80Aの指示を大きくするために、
増幅器50Aの増幅率のレンジを切り換える。例えば、
増幅率を10としたときに、指示計80Aフルスケール
を指示したときには、入力信号より基本波を除去した全
高調波は入力信号の1/10すなわち歪率は10%とな
り、指示計8OAがフルスケールの半分を指示したとき
には、歪率は5%であることを示す。
増幅器50Aの増幅率のレンジを切り換える。例えば、
増幅率を10としたときに、指示計80Aフルスケール
を指示したときには、入力信号より基本波を除去した全
高調波は入力信号の1/10すなわち歪率は10%とな
り、指示計8OAがフルスケールの半分を指示したとき
には、歪率は5%であることを示す。
このとき、基本波除去フィルタIOAによる基本波除去
を、精度よく行わないと、基本波の残留分が、高調波に
付加され、測定誤差となる。
を、精度よく行わないと、基本波の残留分が、高調波に
付加され、測定誤差となる。
したがって、基本波除去を、精度よく行うために、増幅
器50Aの出力を周波数同調部10Bに入力し、基本波
除去フィルタIOAの中心周波数を変化させ、増幅器5
0Aの出力が最小となるように調整することにより正確
に入力信号に同調させる。
器50Aの出力を周波数同調部10Bに入力し、基本波
除去フィルタIOAの中心周波数を変化させ、増幅器5
0Aの出力が最小となるように調整することにより正確
に入力信号に同調させる。
このようにして、基本波を除去することにより、指示計
80Aの指示が小さくなりすぎたときには、増幅率をさ
らに大きくする。
80Aの指示が小さくなりすぎたときには、増幅率をさ
らに大きくする。
例えば、増幅率を100としたときに、指示計80Aが
フルスケールを指示したときには、全高調波は入力信号
のl/l OOであり、歪率は1%となる。
フルスケールを指示したときには、全高調波は入力信号
のl/l OOであり、歪率は1%となる。
近年の、歪率測定器においては、基本波除去フィルタI
OAの周波数同調部10Bによる中心周波数の同調、増
幅率制御部50Bによる増幅器50Aの増幅率の設定、
設定された増幅率による歪率の測定レンジ表示部60A
への表示等を自動的に行うものが多くなっている。
OAの周波数同調部10Bによる中心周波数の同調、増
幅率制御部50Bによる増幅器50Aの増幅率の設定、
設定された増幅率による歪率の測定レンジ表示部60A
への表示等を自動的に行うものが多くなっている。
第3図において測定レンジ表示部60Aのa。
bScはLED等の、歪率の測定レンジを示す表示手段
であり、例えば、増幅器50Aの増幅率が10のときに
は、LEDaを点灯し、測定レンジはフルスケールで1
0%、増幅器50Aの増幅率が100のときには、LE
Dbを点灯し、測定レンジはフルスケールで1%とする
、LEDcを点灯したときには、測定レンジはフルスケ
ールで0゜1%とする。
であり、例えば、増幅器50Aの増幅率が10のときに
は、LEDaを点灯し、測定レンジはフルスケールで1
0%、増幅器50Aの増幅率が100のときには、LE
Dbを点灯し、測定レンジはフルスケールで1%とする
、LEDcを点灯したときには、測定レンジはフルスケ
ールで0゜1%とする。
上述の従来例では、測定の対象が特定されていないため
、測定周波数範囲が広い範囲となり、歪率の測定範囲も
同様に限定されていないので、基本波除去フィルタの周
波数範囲、増幅器の増幅率の可変範囲を、測定器が保証
する測定範囲で広くとってあり、また、基本波除去フィ
ルタの同調、増幅器の増幅率の設定、設定された増幅率
による歪率測定レンジの表示等を自動的に行うために高
価な測定器となっている。
、測定周波数範囲が広い範囲となり、歪率の測定範囲も
同様に限定されていないので、基本波除去フィルタの周
波数範囲、増幅器の増幅率の可変範囲を、測定器が保証
する測定範囲で広くとってあり、また、基本波除去フィ
ルタの同調、増幅器の増幅率の設定、設定された増幅率
による歪率測定レンジの表示等を自動的に行うために高
価な測定器となっている。
本発明は、入力信号と、入力信号から基本波成分を除去
した出力をそれぞれ交流/直流変換し、2つの直流出力
電圧の割算を行い、その結果を所定の基準と比較するご
とにより、歪率の良否を簡単に試験することができる簡
易型自動歪率試験器を提供することを目的とする。
した出力をそれぞれ交流/直流変換し、2つの直流出力
電圧の割算を行い、その結果を所定の基準と比較するご
とにより、歪率の良否を簡単に試験することができる簡
易型自動歪率試験器を提供することを目的とする。
第1図は本発明の詳細な説明するブロック図を示す。
第1図に示す本発明の原理ブロック図中の10は、入力
信号から基本波を除去する基本波除去手段であり、 21は、基本波除去手段10で基本波を除去した信号を
、直流に変換する第1の交流/直流変換手段であり、 22は、入力信号を直流に変換する第2の交流/直流変
換手段であり、 30は第1の交流/直流変換手段21の出力を、第2の
交流/直流変換手段22の出力で割算を行う割算手段で
あり、 40は、割算手段30の出力を、所定の基準値と比較す
る比較手段であり、 比較手段40の出力により、歪率d良否を判定する手段
を具備することにより本!l!題を解決するための手段
とする。
信号から基本波を除去する基本波除去手段であり、 21は、基本波除去手段10で基本波を除去した信号を
、直流に変換する第1の交流/直流変換手段であり、 22は、入力信号を直流に変換する第2の交流/直流変
換手段であり、 30は第1の交流/直流変換手段21の出力を、第2の
交流/直流変換手段22の出力で割算を行う割算手段で
あり、 40は、割算手段30の出力を、所定の基準値と比較す
る比較手段であり、 比較手段40の出力により、歪率d良否を判定する手段
を具備することにより本!l!題を解決するための手段
とする。
入力信号より、基本波除去手段10で基本波を除去する
。
。
基本波を除去した信号を、第1の交流/直流変換手段2
1により直流に変換する。
1により直流に変換する。
一方、入力信号は第2の交流/直流変換手段22により
、直流に変換する。
、直流に変換する。
割算手段30により、第1の交流/直流変換手段21の
出力を、第2の交流/直流変換手段22の出力により割
算を行い、その出力を所定の基準値と比較手段40にて
比較し、基準値以上であるか否かのみを出力することに
より、簡単に歪率の良否を判定することが可能となる。
出力を、第2の交流/直流変換手段22の出力により割
算を行い、その出力を所定の基準値と比較手段40にて
比較し、基準値以上であるか否かのみを出力することに
より、簡単に歪率の良否を判定することが可能となる。
以下本発明の要旨を第2図示す実施例により具体的に説
明する。
明する。
なお、全図を通じて同一符号は同一対象物を示す。
第2図に示す本発明の実施例は、第1図で説明した基本
波除去手段10として、抵抗R11〜R17、コンデン
サCIl〜C13およびオペアンプOPI L 0P1
2よりなるツインT型フィルタ、 第1の交流/直流変換手段21として、抵抗R21〜R
27、コンデンサC2LC22、オペアンプ0P21.
0P22およびダイオードD1、D2よりなるAC−D
Cコンバータ、 第2の交流/直流変換手段22として、第1の交流/直
流変換手段21と同一構成であり、抵抗R21′〜R2
7′、コンデンサ021′、022′、オペアンンプ0
P21’ 、0P22’およびダイt−1’D1’、D
2’ よりなるAC−DCコンバータ、 割算手段30として、抵抗R31〜R36、可変抵抗R
v11オペアンンプ0P31.0P32および電界効果
トランジスタFETI、FET2よりなる割算回路、 比較手段40として、抵抗R41〜R43、およびオペ
アンンプ0P41からなるコンパレータから構成した例
である。
波除去手段10として、抵抗R11〜R17、コンデン
サCIl〜C13およびオペアンプOPI L 0P1
2よりなるツインT型フィルタ、 第1の交流/直流変換手段21として、抵抗R21〜R
27、コンデンサC2LC22、オペアンプ0P21.
0P22およびダイオードD1、D2よりなるAC−D
Cコンバータ、 第2の交流/直流変換手段22として、第1の交流/直
流変換手段21と同一構成であり、抵抗R21′〜R2
7′、コンデンサ021′、022′、オペアンンプ0
P21’ 、0P22’およびダイt−1’D1’、D
2’ よりなるAC−DCコンバータ、 割算手段30として、抵抗R31〜R36、可変抵抗R
v11オペアンンプ0P31.0P32および電界効果
トランジスタFETI、FET2よりなる割算回路、 比較手段40として、抵抗R41〜R43、およびオペ
アンンプ0P41からなるコンパレータから構成した例
である。
さらに、入力信号のレベル試験を行うときには、比較手
段40と同一構成の抵抗R41’〜R43′およびオペ
アンンプ0P41’からなるコンパレータ41を追加す
る。
段40と同一構成の抵抗R41’〜R43′およびオペ
アンンプ0P41’からなるコンパレータ41を追加す
る。
上述の回路において、入力信号は基本波除去手段10で
あるツインT型フィルタに入力され、基本波を除去され
た全高調波が出力される。
あるツインT型フィルタに入力され、基本波を除去され
た全高調波が出力される。
この出力を第1の交流/直流変換手段21であるA C
/D Cコンバータに入力し、全高調波に比例した直流
電圧を得る。
/D Cコンバータに入力し、全高調波に比例した直流
電圧を得る。
一方、入力信号は第2の交流/直流変換手段22である
A C/D Cコンバータ21に入力し、入力信号に比
例した直流電圧を得る。
A C/D Cコンバータ21に入力し、入力信号に比
例した直流電圧を得る。
割算手段30は、特性の揃ったFETI、2とオペアン
ンプ0P31.32を使用して構成しており、図中に示
す(a)、[有])、(C)、(d)点の電圧をEa、
Eb、Ec、、Edとすると、出力電圧Ecは、Ec=
−Ed ・ (Ea/Eb)、 となる。
ンプ0P31.32を使用して構成しており、図中に示
す(a)、[有])、(C)、(d)点の電圧をEa、
Eb、Ec、、Edとすると、出力電圧Ecは、Ec=
−Ed ・ (Ea/Eb)、 となる。
したがって、可変抵抗RVIによって設定する電圧Ed
により、割算回路の出力が決定されることになるので、
ここでは、Edを−IVに設定している。
により、割算回路の出力が決定されることになるので、
ここでは、Edを−IVに設定している。
比較手段40はオペアンンプOP41の一方の端子に、
割算手段30の出力を入力し、他方の端子には、歪率の
規格より定まる電圧を基準電圧として入力しておき、オ
ペアンンブ0P41の出力が「1」となったときには、
歪率が規格より大きいことを示し、「0」のときには歪
率が規格より小さく良品であることを示す。
割算手段30の出力を入力し、他方の端子には、歪率の
規格より定まる電圧を基準電圧として入力しておき、オ
ペアンンブ0P41の出力が「1」となったときには、
歪率が規格より大きいことを示し、「0」のときには歪
率が規格より小さく良品であることを示す。
また、入力レベルの試験は、第2の交流/直流変換手段
22の出力を、入力レベルの規格より定まる基準電圧と
比較し、オペアンンプ0P41’の出力が「1」となっ
たときには、入力レベルが規格以上で良品であることを
示し、「0」のときには入力レベルが規格より小さく不
良品であることを示す。
22の出力を、入力レベルの規格より定まる基準電圧と
比較し、オペアンンプ0P41’の出力が「1」となっ
たときには、入力レベルが規格以上で良品であることを
示し、「0」のときには入力レベルが規格より小さく不
良品であることを示す。
以上のように、交換機の加入者回路の12kH2の正弦
波の、歪率、レベルを試験するときに、試験する正弦波
の周波数が一定であり、且つ規格値も3%と比較的緩や
かであることから、基本波を除去するフィルタの中心周
波数は固定とし、また、入力信号と全高調波を交流/直
流変換した後簡単な構成の割算回路で割算を行い、その
結果を基準値と比較することにより、歪率、レベルの試
験を簡単に行うことのできる安価な簡易型歪率試験器を
実現できる。
波の、歪率、レベルを試験するときに、試験する正弦波
の周波数が一定であり、且つ規格値も3%と比較的緩や
かであることから、基本波を除去するフィルタの中心周
波数は固定とし、また、入力信号と全高調波を交流/直
流変換した後簡単な構成の割算回路で割算を行い、その
結果を基準値と比較することにより、歪率、レベルの試
験を簡単に行うことのできる安価な簡易型歪率試験器を
実現できる。
以上のような本発明によれば、周波数が一定の入力信号
の歪率の測定を、中心周波数固定の基本波除去フィルタ
とA C/D Cコンバータと簡単な構成の割算回路で
割算を用いることにより、安価な簡易型歪率測定器を提
供することができる。
の歪率の測定を、中心周波数固定の基本波除去フィルタ
とA C/D Cコンバータと簡単な構成の割算回路で
割算を用いることにより、安価な簡易型歪率測定器を提
供することができる。
第1図は本発明の詳細な説明するブロック図、第2図は
本発明の詳細な説明する図、 第3図は従来例を説明するブロック図、をそれぞれ示す
。 図において、 10は基本波除去手段、 10Aは基本波除去フィルタ、 10Bは周波数同調部、 21は第1の交流/直流変換手段、 22は第2の交流/直流変換手段、 30は割算手段、 40は比較手段、 50Aは増幅器、 50Bは増幅率制御部、 60Aは測定レンジ表示部、 70Aはスイッチ、 80Aは指示計、 R11〜R17、R21〜R27、R21′〜R27’
、R31〜R36、R41〜43、R41′〜R43′
は抵抗、 RVIは可変抵抗、 C11〜C13、C21、C22、C21’、C22′
はコンデンサ、 0P11.0P12.0P21,0P22、OF21’
、0P22’ 、OF21.0P32.0P41、OF
21’はオペアンンプ、 FETI、FET2は電界効果トランジスタ、DI、D
2、Dビ、D2′はダイオード、a、b、cはLED。 をそれぞれ示す。 本発明の詳細な説明するブロック図 第1図
本発明の詳細な説明する図、 第3図は従来例を説明するブロック図、をそれぞれ示す
。 図において、 10は基本波除去手段、 10Aは基本波除去フィルタ、 10Bは周波数同調部、 21は第1の交流/直流変換手段、 22は第2の交流/直流変換手段、 30は割算手段、 40は比較手段、 50Aは増幅器、 50Bは増幅率制御部、 60Aは測定レンジ表示部、 70Aはスイッチ、 80Aは指示計、 R11〜R17、R21〜R27、R21′〜R27’
、R31〜R36、R41〜43、R41′〜R43′
は抵抗、 RVIは可変抵抗、 C11〜C13、C21、C22、C21’、C22′
はコンデンサ、 0P11.0P12.0P21,0P22、OF21’
、0P22’ 、OF21.0P32.0P41、OF
21’はオペアンンプ、 FETI、FET2は電界効果トランジスタ、DI、D
2、Dビ、D2′はダイオード、a、b、cはLED。 をそれぞれ示す。 本発明の詳細な説明するブロック図 第1図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 周波数が一定の信号の歪率を自動的に試験する簡易型自
動歪率試験器であって、 入力信号から基本波を除去する基本波除去手段(10)
と、 前記基本波除去手段(10)で基本波を除去した信号を
、直流に変換する第1の交流/直流変換手段(21)と
、 入力信号を直流に変換する第2の交流/直流変換手段(
22)と、 前記第1の交流/直流変換手段(21)の出力を、前記
第2の交流/直流変換手段(22)の出力で割算を行う
割算手段(30)と、 前記割算手段(30)の出力を、所定の基準値と比較す
る比較手段(40)とを備えたことを特徴とする簡易型
自動歪率試験器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23592089A JPH0399279A (ja) | 1989-09-12 | 1989-09-12 | 簡易型自動歪率試験器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP23592089A JPH0399279A (ja) | 1989-09-12 | 1989-09-12 | 簡易型自動歪率試験器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH0399279A true JPH0399279A (ja) | 1991-04-24 |
Family
ID=16993199
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP23592089A Pending JPH0399279A (ja) | 1989-09-12 | 1989-09-12 | 簡易型自動歪率試験器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH0399279A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2477492C2 (ru) * | 2010-06-29 | 2013-03-10 | Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный университет кино и телевидения" "СПбГУКиТ" | Устройство для измерения нелинейных искажений электрического сигнала с повышенной помехоустойчивостью |
JP2016052037A (ja) * | 2014-09-01 | 2016-04-11 | アンリツ株式会社 | 測定装置及び測定方法 |
-
1989
- 1989-09-12 JP JP23592089A patent/JPH0399279A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2477492C2 (ru) * | 2010-06-29 | 2013-03-10 | Федеральное государственное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Санкт-Петербургский государственный университет кино и телевидения" "СПбГУКиТ" | Устройство для измерения нелинейных искажений электрического сигнала с повышенной помехоустойчивостью |
JP2016052037A (ja) * | 2014-09-01 | 2016-04-11 | アンリツ株式会社 | 測定装置及び測定方法 |
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