JPS59135347A - 液体試料の光度分析方法 - Google Patents
液体試料の光度分析方法Info
- Publication number
- JPS59135347A JPS59135347A JP58245645A JP24564583A JPS59135347A JP S59135347 A JPS59135347 A JP S59135347A JP 58245645 A JP58245645 A JP 58245645A JP 24564583 A JP24564583 A JP 24564583A JP S59135347 A JPS59135347 A JP S59135347A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- cuvette
- sample
- photometric
- zones
- plane
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/01—Arrangements or apparatus for facilitating the optical investigation
- G01N21/03—Cuvette constructions
- G01N21/0303—Optical path conditioning in cuvettes, e.g. windows; adapted optical elements or systems; path modifying or adjustment
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- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Optical Measuring Cells (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By The Use Of Chemical Reactions (AREA)
- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、試料の異なる通路の長さが測光学的に測定さ
れ、そして冥行するに適するキュベツトを用いて行なわ
れる液体試料の光度分析方法にかかわる。
れ、そして冥行するに適するキュベツトを用いて行なわ
れる液体試料の光度分析方法にかかわる。
キュベツトの中に含まれる液体試料の光吸収の光度測定
では、キュベツトから発出するビームは光電池によって
測定される。こ■′堀池の測定地帯では、電池によって
発せられる電圧は、光電池に投射する光の強さのほぼ線
形関数である。しかし、電池の測定地帯は限られ、そし
てありうる光吸収の変化範囲よりはるかに小さい。これ
は、異なる通路の長さで測定を行なうことによって手加
減され、もし試料の吸収が小さければ長い通路の長さが
選ばれ、そしてもし試料の吸収か大きければ短い通路の
長さが選ばれる。そのような測定を、キュベツトの長さ
に沿って配置された、異なる横断面の長さと異なる厚さ
のキュベツトの壁を有する地帯を有する細長く伸びたキ
ュベツトを垂直の位置に使用することによって行なうこ
とは既知であり（独国公開文書（Ｏｆｆｅｎｌｅｇｕｎ
ｇｓｓｃｈｒｉｆｔ） ２８１０１１７ ）、横断面の
長さと壁の厚さは階段のように変わっている。この既知
の方法では、望ましい通路の長さの地帯を光源と光電池
の間の光線の進路の中に動かすために、キュベツトは上
げ下げされる。
では、キュベツトから発出するビームは光電池によって
測定される。こ■′堀池の測定地帯では、電池によって
発せられる電圧は、光電池に投射する光の強さのほぼ線
形関数である。しかし、電池の測定地帯は限られ、そし
てありうる光吸収の変化範囲よりはるかに小さい。これ
は、異なる通路の長さで測定を行なうことによって手加
減され、もし試料の吸収が小さければ長い通路の長さが
選ばれ、そしてもし試料の吸収か大きければ短い通路の
長さが選ばれる。そのような測定を、キュベツトの長さ
に沿って配置された、異なる横断面の長さと異なる厚さ
のキュベツトの壁を有する地帯を有する細長く伸びたキ
ュベツトを垂直の位置に使用することによって行なうこ
とは既知であり（独国公開文書（Ｏｆｆｅｎｌｅｇｕｎ
ｇｓｓｃｈｒｉｆｔ） ２８１０１１７ ）、横断面の
長さと壁の厚さは階段のように変わっている。この既知
の方法では、望ましい通路の長さの地帯を光源と光電池
の間の光線の進路の中に動かすために、キュベツトは上
げ下げされる。
その既知の方法では、測定される通路の長さを変えるた
めに個々のキュベツトを上げ下げする必要があるので、
その方法は、多数のキュベツトの中の試料の急速な分析
に適しない。その、うえ、その既知の方法疋使用される
キュベツトの形は、比較的大量の試料を必要とする。キ
ュベツトの壁の厚さ、１．たがってその光の吸収は既知
のキュベツトの種々な地帯で異なり、この相違は、測定
の結果を判定するとぎ考慮に入れねばならず、それは当
然複雑さを増す。
めに個々のキュベツトを上げ下げする必要があるので、
その方法は、多数のキュベツトの中の試料の急速な分析
に適しない。その、うえ、その既知の方法疋使用される
キュベツトの形は、比較的大量の試料を必要とする。キ
ュベツトの壁の厚さ、１．たがってその光の吸収は既知
のキュベツトの種々な地帯で異なり、この相違は、測定
の結果を判定するとぎ考慮に入れねばならず、それは当
然複雑さを増す。
本発明のおもな目的は、使用の前記、制限と前記欠点を
伴わず、そして特に、こうして少量の試料で、かつでき
るだけ簡単な方法で、多数のキュベツトの中の試料を急
速に分析することを可能にする前記タイプの方法を得る
ことである。不発明のさらに一つの目的は、そのような
方法を行なうに適するキュベツト２得ろことである。
伴わず、そして特に、こうして少量の試料で、かつでき
るだけ簡単な方法で、多数のキュベツトの中の試料を急
速に分析することを可能にする前記タイプの方法を得る
ことである。不発明のさらに一つの目的は、そのような
方法を行なうに適するキュベツト２得ろことである。
この目的は、分析が不動の光源によって発生されるビー
ムを用いて行なわれる方法により本発明によって達成さ
れ、試料は、異なる横断面の長さを有する少なくとも二
つの地帯を有するキュベツトの中に入れられ、そしてキ
ュベツトは、光度測定の間にビームが連続して少なくと
も二つの地帯を通過するように、円形進路に沿って連続
的に動かされろ。
ムを用いて行なわれる方法により本発明によって達成さ
れ、試料は、異なる横断面の長さを有する少なくとも二
つの地帯を有するキュベツトの中に入れられ、そしてキ
ュベツトは、光度測定の間にビームが連続して少なくと
も二つの地帯を通過するように、円形進路に沿って連続
的に動かされろ。
本発明によって与えられる利点は本質的に、それが比較
的小さい努力で、多数のキュベツトの中の試料を急速に
分析することを可能にすることである。
的小さい努力で、多数のキュベツトの中の試料を急速に
分析することを可能にすることである。
本発明によって与えられる方法の好ましい一実施例では
、ビームは水平の平面内を走り、そして各キュベツトの
縦の軸線はこの平面に対して直角にある。
、ビームは水平の平面内を走り、そして各キュベツトの
縦の軸線はこの平面に対して直角にある。
本発明によって与えられる方法の第二の実施例では、キ
ュベツトの運動中、その縦の軸線は水平の平面内にあり
、そしてビームはこの平面に対して直角に走る。
ュベツトの運動中、その縦の軸線は水平の平面内にあり
、そしてビームはこの平面に対して直角に走る。
本発明によって与えられる方法の第三の実施例ではキュ
ベツトの運動中その縦の軸線は水平の平面内にあり、ビ
ームはこの平面内またはそれと平行の平面内を走り、そ
して光度測定のために用意されたキュベツトの地帯は、
キュベツトの中の試料の表面とキュベツトの階段形の底
との間に延びている。この実施例は、それが各部分の中
の可変の通鄭の長さで、すなわちキュベツトの寸法にょ
つて決められないだけでなく試料の量によっても決めら
れない通路の長Ｖで、測定でき、るようにするという利
点を有する。
ベツトの運動中その縦の軸線は水平の平面内にあり、ビ
ームはこの平面内またはそれと平行の平面内を走り、そ
して光度測定のために用意されたキュベツトの地帯は、
キュベツトの中の試料の表面とキュベツトの階段形の底
との間に延びている。この実施例は、それが各部分の中
の可変の通鄭の長さで、すなわちキュベツトの寸法にょ
つて決められないだけでなく試料の量によっても決めら
れない通路の長Ｖで、測定でき、るようにするという利
点を有する。
本発明はまた、本発明によって与えられ全方法を行なう
に適するキュベツトにかかわり、前記キュベツトは、一
端にその幅の上に配置・された、光度測定を行なうに適
しそして異なる横断面の長さを有する少なくとも二つの
隣接する地帯を有する細長く伸びた内部を有し、横断面
の長さは一つの地帯から次の地帯に階段のように変わっ
ている。
に適するキュベツトにかかわり、前記キュベツトは、一
端にその幅の上に配置・された、光度測定を行なうに適
しそして異なる横断面の長さを有する少なくとも二つの
隣接する地帯を有する細長く伸びた内部を有し、横断面
の長さは一つの地帯から次の地帯に階段のように変わっ
ている。
前記地帯はキュベツトの一端に並んで横たわるので、キ
ュベツトは比較的少量の試料で測定を行なうことを可能
にする。
ュベツトは比較的少量の試料で測定を行なうことを可能
にする。
このキュベツトの好ましい一実施例では、各地帯は、光
学的に透明で互いに平行のキュベツトの二つの平らな壁
の間に延び、これら壁の内側面の間の距離は、試料の分
析される通路の長さを限定し、そしてすべての地帯は同
じ厚さを有する壁の間に延びている。この実施例は、光
度測定中キュベツトの壁による光吸収はキュベツトのす
べてノ地帯で同じであるという刑点を有している。この
装置は、測定された結果Ω判定を簡単にする。
学的に透明で互いに平行のキュベツトの二つの平らな壁
の間に延び、これら壁の内側面の間の距離は、試料の分
析される通路の長さを限定し、そしてすべての地帯は同
じ厚さを有する壁の間に延びている。この実施例は、光
度測定中キュベツトの壁による光吸収はキュベツトのす
べてノ地帯で同じであるという刑点を有している。この
装置は、測定された結果Ω判定を簡単にする。
本発明のその他の特徴、利点およびありうる使用は、添
付図面について述べる解説的例の次の説明から明らかに
なるであろう。
付図面について述べる解説的例の次の説明から明らかに
なるであろう。
例 １
第１図は、本発明によって与えられる方法を行なうに適
するキュベツト１１を示す。このキュベツトは細長く伸
びた内部と縦の軸線Ｙ−Ｙを有している。キュベツトの
内部は、一端にその幅の上に配置された、キュベツトの
中に含まれる液体試料の光度測定を行なうに適しそして
異なる横断面の長さを有する二つの隣接する地帯１２と
１３を有している。本発明によれば、キュベツトはまた
二つより以上のそのような地帯を有することができる。
するキュベツト１１を示す。このキュベツトは細長く伸
びた内部と縦の軸線Ｙ−Ｙを有している。キュベツトの
内部は、一端にその幅の上に配置された、キュベツトの
中に含まれる液体試料の光度測定を行なうに適しそして
異なる横断面の長さを有する二つの隣接する地帯１２と
１３を有している。本発明によれば、キュベツトはまた
二つより以上のそのような地帯を有することができる。
地帯１２．１３のおのおのは、光学的に透明で互いに平
行のキュベツトの二つの平らな壁の間に延び、・これら
壁の内側面の間の距離ａとｂのそれぞれは、その地帯で
分析される試料の分析される通路の長さを限定する。こ
の距離は、一つの地帯から次の地帯に階段のよう疋変わ
っている。
行のキュベツトの二つの平らな壁の間に延び、・これら
壁の内側面の間の距離ａとｂのそれぞれは、その地帯で
分析される試料の分析される通路の長さを限定する。こ
の距離は、一つの地帯から次の地帯に階段のよう疋変わ
っている。
こうして隣接する地帯は、試料の異なる通路の長さが分
析されることを可能にする。すべての地帯は同じ厚さを
有する壁の間に延びている。
析されることを可能にする。すべての地帯は同じ厚さを
有する壁の間に延びている。
上記のキュベツトは、単独または群で使用されることが
できる。概略平面図によって免２図に示すように、あと
の場合、例えば隣接するキュベツトに浴接されることに
よって、それらのキュベツトを接続する接続片２８を用
いることが有利である。このようにして、キュベツトの
みずから支える群をつくることができる。接続片を適当
に作ることによって、いっしょにつくることのできるキ
ュベツトの群、例えばキュベツトの円形配列をつくるこ
とができる。第２図は、そのようなキュベツトの群の概
略平面図を示す。
できる。概略平面図によって免２図に示すように、あと
の場合、例えば隣接するキュベツトに浴接されることに
よって、それらのキュベツトを接続する接続片２８を用
いることが有利である。このようにして、キュベツトの
みずから支える群をつくることができる。接続片を適当
に作ることによって、いっしょにつくることのできるキ
ュベツトの群、例えばキュベツトの円形配列をつくるこ
とができる。第２図は、そのようなキュベツトの群の概
略平面図を示す。
キュベツトと接続片は、ガラスのように透明な安定化さ
れないポリメタクリ／Ｉ／ｌ酸メチル（ＰＭＭＡ ）で
作られるのが好ましい。しかし、キュベツトは一部また
は全部をガラスで作ることもできる。
れないポリメタクリ／Ｉ／ｌ酸メチル（ＰＭＭＡ ）で
作られるのが好ましい。しかし、キュベツトは一部また
は全部をガラスで作ることもできる。
本発明によって与えられる方法は、液体試料を上記キュ
ベツトの一つに入れることによって行なわれる。これら
のキキベットは単独に、または第２図に示すように、例
えばキュベツトが挿入される穴の円形配列（第２図に示
さず）を有する円板であるキュベツト支え２９の上の一
部のキュベツトの一部として配列される。キュベツトは
、例えばキュベツンの上方リム（図示せず）によってこ
れらの穴の甲に保持される。
ベツトの一つに入れることによって行なわれる。これら
のキキベットは単独に、または第２図に示すように、例
えばキュベツトが挿入される穴の円形配列（第２図に示
さず）を有する円板であるキュベツト支え２９の上の一
部のキュベツトの一部として配列される。キュベツトは
、例えばキュベツンの上方リム（図示せず）によってこ
れらの穴の甲に保持される。
第２図に示すように、光度測定は不動の光源２６によっ
て発生されるビーム２５を用いて行なわれる。キュベツ
トから発出するビームは、光受け２７によって受けられ
、それは対応する電気信号を発生する。ビームは水平の
平面内を走り、そして各キュベツトの縦の軸線はこの平
面に対して直角に向けられている。
て発生されるビーム２５を用いて行なわれる。キュベツ
トから発出するビームは、光受け２７によって受けられ
、それは対応する電気信号を発生する。ビームは水平の
平面内を走り、そして各キュベツトの縦の軸線はこの平
面に対して直角に向けられている。
第１図かられかるように、光線の進路は好ましくは各キ
ュベツト１１の地帯１２．１３の高さのほぼ半分にある
。
ュベツト１１の地帯１２．１３の高さのほぼ半分にある
。
キュベツト支え２９を、その回転軸線３００回りに矢２
４で示す方向に回転させることによって、例えば第２図
のキュベツト２１のような各キュベツトはキュベツトの
縦の軸ＭＹ−Ｙに対して直角にある平面内に、円に沿っ
て連続的に動かされる。
４で示す方向に回転させることによって、例えば第２図
のキュベツト２１のような各キュベツトはキュベツトの
縦の軸ＭＹ−Ｙに対して直角にある平面内に、円に沿っ
て連続的に動かされる。
その結果として、ビーム２５はキュベツトのすべての地
帯を急速にかつ連続して通過し、そしてそうしながら試
料の異なる通路の長さを通過する。第１図と第２図で破
線と矢２５′はビーム２５が通過する地帯１２０部分を
示し、そのときこの部分は光源２６と光受け２７の闇に
ある。
帯を急速にかつ連続して通過し、そしてそうしながら試
料の異なる通路の長さを通過する。第１図と第２図で破
線と矢２５′はビーム２５が通過する地帯１２０部分を
示し、そのときこの部分は光源２６と光受け２７の闇に
ある。
例 ２−
例１に述べた方法の変形を次に第６図について説明する
。この変形では、第１図のキュベツト１１と同様の地帯
３４．３５を有し、そしてキュベツトが静止状態にある
あいだ液体試料またはその成分を含む一つ以上の室（第
６図に示さず）をさらに含むキュベツトが備えられ、そ
してキュベツト支えを回転させると、試料またはその成
分は光度測定を行なうために用意されたキュベツトの地
帯３４．３５の中にはいる。
。この変形では、第１図のキュベツト１１と同様の地帯
３４．３５を有し、そしてキュベツトが静止状態にある
あいだ液体試料またはその成分を含む一つ以上の室（第
６図に示さず）をさらに含むキュベツトが備えられ、そ
してキュベツト支えを回転させると、試料またはその成
分は光度測定を行なうために用意されたキュベツトの地
帯３４．３５の中にはいる。
キュベツト支えを回転させることＫよって生ずるキュベ
ツト３１の運動中、キュベツトの縦の軸線Ｙ−Ｙは水平
の平面内にある。地帯３４．３５を通る光度測定のため
に用意されたビーム３２は、鴫ζ この平面に対して直角に通過する。キュベツトは矢３３
で示す方向に勤かされる。
ツト３１の運動中、キュベツトの縦の軸線Ｙ−Ｙは水平
の平面内にある。地帯３４．３５を通る光度測定のため
に用意されたビーム３２は、鴫ζ この平面に対して直角に通過する。キュベツトは矢３３
で示す方向に勤かされる。
遠心力が液体試料をキュベツトの地帯３４゜３５の中に
保持するように、キュベツト支えが十分に高い回転速度
で回転されることは、方法のこの変形によって正しい測
定を行なうために不可欠である。ビーム３２が地帯３４
，３５の中の試料を通過するように、両地帯が十分な量
の試料を含むことももちろん不可欠である。
保持するように、キュベツト支えが十分に高い回転速度
で回転されることは、方法のこの変形によって正しい測
定を行なうために不可欠である。ビーム３２が地帯３４
，３５の中の試料を通過するように、両地帯が十分な量
の試料を含むことももちろん不可欠である。
例 ６
例２に述べた方法の変形は、別の形を有するキュベツト
４１を用いて行なわれる。第４図に示すように、キュベ
ツトの一端にはキュベツトの長さの上に配置された、異
なる横断面の長さを有する光度測定地帯４４．４５が用
意されており、横断面の長さは一つの地帯から次の地帯
に階段のように変わっている。キュベツトは二つより以
上のそのような地帯を有することかできる。
４１を用いて行なわれる。第４図に示すように、キュベ
ツトの一端にはキュベツトの長さの上に配置された、異
なる横断面の長さを有する光度測定地帯４４．４５が用
意されており、横断面の長さは一つの地帯から次の地帯
に階段のように変わっている。キュベツトは二つより以
上のそのような地帯を有することかできる。
キュベツト支えを回転させることによって生ずるキュベ
ツト４１の運動中、キュベツトの縦の軸線は、例２にお
けるように水平の平面内にある。
ツト４１の運動中、キュベツトの縦の軸線は、例２にお
けるように水平の平面内にある。
地帯４４．４５を通る光度測定のために用意されたビー
ム４２は、この平面内また＆−４そ、れと平行の平面内
を走る。
ム４２は、この平面内また＆−４そ、れと平行の平面内
を走る。
この例では、各地帯４４．４５はキュベツトの壁４６と
４７のそれぞれの内側面と、キュベツトの中に含まれる
液体試料の自由表面との間に延びている。こうしてこの
変形は、測定が試料の体積の選択によって可変の通路の
長さで行なわれることを可能にする。
４７のそれぞれの内側面と、キュベツトの中に含まれる
液体試料の自由表面との間に延びている。こうしてこの
変形は、測定が試料の体積の選択によって可変の通路の
長さで行なわれることを可能にする。
第１図は、本発明によって与えられるキュベツトの概略
透視図、 第２図は、第１図に示すタイプのキュベツトの円形配列
を有する測定装置の概略平面図、第３図は、第２図に示
す測定装置の変形の概略透視図、そして 第４図は、第６図に示す測定装置の変形の概略透視図で
ある。 図面の符号１１．ｉｌ、３１．４１は「キュベツト」、
１２，１３．’３４，３５，４４，４５は「二つの地帯
」、２５，３２．４２は「ビーム」、２６は「不動の光
源」、２７は「光受け」、２８は「接続片」、２９は「
キュベツト支え」、３０は「キュベツト支えの回転軸線
」、４４．４６は［キュベツトの壁Ｊ、ａｌｂは「内側
面の間の距離Ｊ、Ｙ−Ｙは「キュベツトの縦の軸線」を
示す。 代理人 浅 村 皓
透視図、 第２図は、第１図に示すタイプのキュベツトの円形配列
を有する測定装置の概略平面図、第３図は、第２図に示
す測定装置の変形の概略透視図、そして 第４図は、第６図に示す測定装置の変形の概略透視図で
ある。 図面の符号１１．ｉｌ、３１．４１は「キュベツト」、
１２，１３．’３４，３５，４４，４５は「二つの地帯
」、２５，３２．４２は「ビーム」、２６は「不動の光
源」、２７は「光受け」、２８は「接続片」、２９は「
キュベツト支え」、３０は「キュベツト支えの回転軸線
」、４４．４６は［キュベツトの壁Ｊ、ａｌｂは「内側
面の間の距離Ｊ、Ｙ−Ｙは「キュベツトの縦の軸線」を
示す。 代理人 浅 村 皓
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 （１）試料の異なる通路の長さが測光学的に分析される
、液体試料の光度分析方法にして、（ａ） 前記分析
は、不動の光源によって発生されるビームを用いて行な
われ、 （ｂ） 前記試料は、異なる横断面の長さを有する少
なくとも二つの地帯を有するキュベツトの中に入れられ
、そして （０）前記キュベツトは、前記光度測定の間に前記ビー
ムが連続して少なくとも二つの前記地帯を通過するよう
に、円形進路に沿って連続的に動かされる、 ことを特徴とする液体試料の光度分析方法。 （２、特許請求の範囲第１項記載の方法において、前記
ビームは水平の平面内を走り、そして各キュベツトの縦
の軸線はこの平面に対して直角にある、ことを特徴とす
る液体試料の光度分析方法。 （３）特許請求の範囲第１項記載の方法において、前記
キュベツトの運動中、その縦の軸線は水平の平面内にあ
り、そして前記ビームはこの平面に対して直角に走る、
ことを特徴とする液体試料の光度分析方法。 （４）特許請求の範囲第１項記載の方法において、前記
キュベツトの運動中、その縦の軸線は水平の平面内にあ
り、前記ビームはこの平面内またはそれと平行の平面内
を走り、そして前記光度測定のために用意された前記キ
ュベツトの前記地帯は、前記キュベツトの中の前記試料
の表面と前記キュベツトの階段形の底との間に延びる、
ことを特徴とする液体試料の光度分析方法。 （５）液体試料の光度分析のためのキュベツトにして゛
、前記キュベツトは、一端にその幅の上に配置された、
光度測定を行なうに適しそして異なる横断面の長さを有
する少なくとも二つの隣接する地帯を有する細長く伸び
た内部を有し、前記横断面の長さは一つの地帯から次の
地帯に階段のように変わっている、ことを特徴とする液
体試料の測光学的分析のためのキュベツト。 （６）特許請求の範囲第５項記載σノキュペットにおい
て、各地帯は、光学的に透明で互いに平行の前記キュベ
ツトの二つの平らな壁の間に延び、これら壁の内側面の
間の距離は、前記試料の分析される通路の長さを限定し
、そしてすべて・の地帯は同じ厚さを有する壁の間に延
び又いる、ことを特徴とする液体試料の測光学的分析の
ためのキュベツト。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CH7611/826 | 1982-12-29 | ||
| CH761182 | 1982-12-29 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59135347A true JPS59135347A (ja) | 1984-08-03 |
Family
ID=4327838
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58245645A Pending JPS59135347A (ja) | 1982-12-29 | 1983-12-28 | 液体試料の光度分析方法 |
Country Status (8)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4648713A (ja) |
| EP (1) | EP0113118B1 (ja) |
| JP (1) | JPS59135347A (ja) |
| AT (1) | ATE40749T1 (ja) |
| AU (1) | AU547228B2 (ja) |
| CA (1) | CA1209820A (ja) |
| DE (1) | DE3379176D1 (ja) |
| ES (2) | ES292495Y (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0161646U (ja) * | 1987-10-14 | 1989-04-19 | ||
| JPH08114541A (ja) * | 1994-10-14 | 1996-05-07 | Hitachi Ltd | 自動化学分析装置 |
| JP2003279585A (ja) * | 2003-03-10 | 2003-10-02 | Hitachi Ltd | 自動化学分析装置 |
Families Citing this family (14)
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