JPS6039515A - 赤外分光方法 - Google Patents
赤外分光方法Info
- Publication number
- JPS6039515A JPS6039515A JP14788883A JP14788883A JPS6039515A JP S6039515 A JPS6039515 A JP S6039515A JP 14788883 A JP14788883 A JP 14788883A JP 14788883 A JP14788883 A JP 14788883A JP S6039515 A JPS6039515 A JP S6039515A
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- JP
- Japan
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- sample
- infrared
- light
- rays
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/171—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated with calorimetric detection, e.g. with thermal lens detection
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
木光明は赤外分光方法に関し、１４に、ｉｉｇ層クロり
トグラフによって展開された試料の赤外分光分析を行う
にｌｕ適な赤外分光方法に関Ｊる。
トグラフによって展開された試料の赤外分光分析を行う
にｌｕ適な赤外分光方法に関Ｊる。
従来の油層クロマトグラフにおいて、薄層りＯ７１〜グ
ラフプレート上に展間された６試お１を分析するに当っ
ては、通常、該各試訃１を呈色試貼で発色させ、その後
、該発色部分に）ｎ宜な可視光あるいは紫外光を照則し
、その反射吸収量を検出覆るようにして、該各試料の晴
を測定するようにしている。この方法によれば、該プレ
ート上に展開された試料のｍは測定できるが、その展開
された試料物質の同定を行うことはでさ・ない。一般に
、物質の同定を行うのに最も効果のある方法は赤外分光
法であるが、該薄層クロマ１〜グラフにＪ、って展開さ
れた試料を赤外分光装置で測定しようと覆ると、各試料
をプレートから抽出し、その仙出試斜を赤外分光装置に
心入ゼねばならず、甚だ面倒な作業を伴なうことになる
。更に、該試ｒ１の抽出及び赤外分光装置への導入時に
、該試わ（に他の物質が混入してコンタミネーションが
生じ、正確な試料の赤外分光分析が困￥１１となる。
ラフプレート上に展間された６試お１を分析するに当っ
ては、通常、該各試訃１を呈色試貼で発色させ、その後
、該発色部分に）ｎ宜な可視光あるいは紫外光を照則し
、その反射吸収量を検出覆るようにして、該各試料の晴
を測定するようにしている。この方法によれば、該プレ
ート上に展開された試料のｍは測定できるが、その展開
された試料物質の同定を行うことはでさ・ない。一般に
、物質の同定を行うのに最も効果のある方法は赤外分光
法であるが、該薄層クロマ１〜グラフにＪ、って展開さ
れた試料を赤外分光装置で測定しようと覆ると、各試料
をプレートから抽出し、その仙出試斜を赤外分光装置に
心入ゼねばならず、甚だ面倒な作業を伴なうことになる
。更に、該試ｒ１の抽出及び赤外分光装置への導入時に
、該試わ（に他の物質が混入してコンタミネーションが
生じ、正確な試料の赤外分光分析が困￥１１となる。
本発明は上述した点に鑑みてなされたもので、本発明の
一つの目的は、薄層クロマトグラフのプレート上の試料
を直接赤外分光Ｊることができる方法を提供り−ること
にある。
一つの目的は、薄層クロマトグラフのプレート上の試料
を直接赤外分光Ｊることができる方法を提供り−ること
にある。
本発明に基づく赤外分光方法は、薄層クロマ１〜グラフ
にＪ、って展開された試料に赤外線を照射すると共に、
該試ｆ３１表面近傍に光を通過さ“ｕ１該試料表面近傍
を通過した光の屈折の程度を測定するようにしている。
にＪ、って展開された試料に赤外線を照射すると共に、
該試ｆ３１表面近傍に光を通過さ“ｕ１該試料表面近傍
を通過した光の屈折の程度を測定するようにしている。
以下本発明の一実施例を添イ］図面に基づき詳述する。
第１図は本発明に基づく方法を実施するための赤外分光
方法の一例を示しており、図中１はその上に試料２ａ
、 ２ｂ 、・・・・・・が展開されている薄層クロマ
トグラフプレートである。該薄層クロマ１へグラフプレ
ート１は、図示していないが、移動礪ゼ４によって、そ
の長手方向に移動させられる。該薄層り１」マドグラフ
プレート上の特定試料には、干渉δ１３から出力される
干渉変調をうりだ赤外光がミラー４を介して照射され、
該赤外光が照射された試料は、該赤外光を吸収して加熱
される。５は該赤外光が照射される試料の表面近傍を通
過する光を発生する光源であり、該試料表面近傍を通過
した光は、位置検出器６に入射する。該光源５からの光
はビームスプリッタ７によって２光束に分りられており
、一方の光は、前）ホしたように試料表面近傍を通過し
、他力の光は、ミラー８によって反射された後、参照位
置検出器９．に入射Ｊる。
方法の一例を示しており、図中１はその上に試料２ａ
、 ２ｂ 、・・・・・・が展開されている薄層クロマ
トグラフプレートである。該薄層クロマ１へグラフプレ
ート１は、図示していないが、移動礪ゼ４によって、そ
の長手方向に移動させられる。該薄層り１」マドグラフ
プレート上の特定試料には、干渉δ１３から出力される
干渉変調をうりだ赤外光がミラー４を介して照射され、
該赤外光が照射された試料は、該赤外光を吸収して加熱
される。５は該赤外光が照射される試料の表面近傍を通
過する光を発生する光源であり、該試料表面近傍を通過
した光は、位置検出器６に入射する。該光源５からの光
はビームスプリッタ７によって２光束に分りられており
、一方の光は、前）ホしたように試料表面近傍を通過し
、他力の光は、ミラー８によって反射された後、参照位
置検出器９．に入射Ｊる。
該位置検出器６．９としては、半導イホ位首検出器等、
入射Ｊる光の特定方向の位置を検出できるものが用いら
れる。該位置検出器６，９の出力信号は、演算回路１０
に供給され、該演算回路１０で演算された結果は、記録
泪１１にＪ、って記録される。尚、１２は干渉８１３に
おいて干渉変調される赤外光の光源である。
入射Ｊる光の特定方向の位置を検出できるものが用いら
れる。該位置検出器６，９の出力信号は、演算回路１０
に供給され、該演算回路１０で演算された結果は、記録
泪１１にＪ、って記録される。尚、１２は干渉８１３に
おいて干渉変調される赤外光の光源である。
上述した如き構成において、３９層クロマトグラフプレ
ート１上に展開された試Ｈの内、試料２ａが干渉８１３
からの赤外光が照射される位置に配置される。この位置
で該試＄３１２８は、該赤外光を吸収し、吸収の度合に
応じて加熱される。該試料２ａの加熱によって該試料表
面近傍の気体の密度が変化し、該試料の加熱以前には、
光源５から位置検出器６に直進していた光は、該密度の
変化ににって屈折し、該位置検出器６の異った位置に入
射する。該位置検出器６は、入射位置に応じた信号を発
生し、該位置信号は、演算回路１０に供給される。ここ
で、該試料２ａによる赤外光の吸収は、該試料物質にに
って相異し、従って、該試料の加熱温度は該物質に応じ
て異なる。更に、該試料表面近傍の気体の密度は、試料
物質の加熱温度に応じて変化り−ることになり、該密度
に比例して屈折りる光の位置変化を検出し、その結果を
演算回路１０においてフーリエ変換することにより、試
料物質の赤外スペクトルが測定でき、該スペクトルから
該試料物質の同定を行うことができる。該試ｒ′Ａ２
ａの赤外スペクトルの測定が終了後、該薄層りロマｌ−
グラノブレート１は移動さゼられ、試料２ｂが赤外光源
３からの赤外光照射位置に配置され、該試料２１）の測
定が開始される。尚、この実施例にＪ３い−Ｃ１光源５
からの光は、ビームスプリッタ７によって２光束に分け
られ、一方は上述した位置検出器６に向りられ、他方は
ミラー８を介して位置検出器９に向りられており、該両
位置検出器の出力信号の差が、該油料「回路１０でめら
れている。このように構成したため、例えば、光源５の
位置が変動し、この位置変動に基づいて該位置検出器６
の検出信号が変化しても、他方の位置検出器９の検出信
号も同じように空化りるため、該両位置検出器の差信号
は、該光源の位置変動による影響を補正したものとなり
、試料の分析情態を向上さけることができる。
ート１上に展開された試Ｈの内、試料２ａが干渉８１３
からの赤外光が照射される位置に配置される。この位置
で該試＄３１２８は、該赤外光を吸収し、吸収の度合に
応じて加熱される。該試料２ａの加熱によって該試料表
面近傍の気体の密度が変化し、該試料の加熱以前には、
光源５から位置検出器６に直進していた光は、該密度の
変化ににって屈折し、該位置検出器６の異った位置に入
射する。該位置検出器６は、入射位置に応じた信号を発
生し、該位置信号は、演算回路１０に供給される。ここ
で、該試料２ａによる赤外光の吸収は、該試料物質にに
って相異し、従って、該試料の加熱温度は該物質に応じ
て異なる。更に、該試料表面近傍の気体の密度は、試料
物質の加熱温度に応じて変化り−ることになり、該密度
に比例して屈折りる光の位置変化を検出し、その結果を
演算回路１０においてフーリエ変換することにより、試
料物質の赤外スペクトルが測定でき、該スペクトルから
該試料物質の同定を行うことができる。該試ｒ′Ａ２
ａの赤外スペクトルの測定が終了後、該薄層りロマｌ−
グラノブレート１は移動さゼられ、試料２ｂが赤外光源
３からの赤外光照射位置に配置され、該試料２１）の測
定が開始される。尚、この実施例にＪ３い−Ｃ１光源５
からの光は、ビームスプリッタ７によって２光束に分け
られ、一方は上述した位置検出器６に向りられ、他方は
ミラー８を介して位置検出器９に向りられており、該両
位置検出器の出力信号の差が、該油料「回路１０でめら
れている。このように構成したため、例えば、光源５の
位置が変動し、この位置変動に基づいて該位置検出器６
の検出信号が変化しても、他方の位置検出器９の検出信
号も同じように空化りるため、該両位置検出器の差信号
は、該光源の位置変動による影響を補正したものとなり
、試料の分析情態を向上さけることができる。
以上詳述した如く、本発明においては、ｉｔ９層クロり
トグラフプレー１−上に展開された６試わ１を該プレー
１〜から抽出づることなく、該プレートに展開された状
態で分析す゛ることができるもので、分析の作業が簡単
となり、又、試料の抽出時における試料のコンタミネー
ションを防止りることができる。尚、本発明は上述した
実施例に限定されることなく幾多の変形が可能である。
トグラフプレー１−上に展開された６試わ１を該プレー
１〜から抽出づることなく、該プレートに展開された状
態で分析す゛ることができるもので、分析の作業が簡単
となり、又、試料の抽出時における試料のコンタミネー
ションを防止りることができる。尚、本発明は上述した
実施例に限定されることなく幾多の変形が可能である。
例えば、試料に照射される赤外光の光源として、フーリ
エ変換赤外分光光度４に使用される干渉ＣＩから出力さ
れる赤外光を使用したが、白色赤外光源からの光をモノ
クロメータによって単色化し、試＄３１に照射するよう
にしても良い。この揚台、該モノクロメータを掃引し、
同じ試料に異った波長の赤外光を順に照射し、該赤外光
の波長に応じた位置検出器の出力信号を記録すれば、試
料の赤外分光スペクトルを得ることができる。
エ変換赤外分光光度４に使用される干渉ＣＩから出力さ
れる赤外光を使用したが、白色赤外光源からの光をモノ
クロメータによって単色化し、試＄３１に照射するよう
にしても良い。この揚台、該モノクロメータを掃引し、
同じ試料に異った波長の赤外光を順に照射し、該赤外光
の波長に応じた位置検出器の出力信号を記録すれば、試
料の赤外分光スペクトルを得ることができる。
添イリ図面は、本発明に基づく赤外分光方法を実施する
だめの赤外分光分析装置の一例を承り図である。 １・・・薄層クロマ１〜グラフプレート２・・・試料
３・・・干渉計 ５・・・光源 ６．７・・・位置検出器 １０・・・演算回路１１・・
・記録計 １２・・・赤外光源待１１出願人 日本電子株式会社 代表者 ９藤 −夫
だめの赤外分光分析装置の一例を承り図である。 １・・・薄層クロマ１〜グラフプレート２・・・試料
３・・・干渉計 ５・・・光源 ６．７・・・位置検出器 １０・・・演算回路１１・・
・記録計 １２・・・赤外光源待１１出願人 日本電子株式会社 代表者 ９藤 −夫
Claims (3)
- （１）薄層クロマ１〜グラフによって展間された試料に
赤外線を照射すると共に、該試料表面近傍に光を通過ざ
Ｕ、該試料表面近傍を通過した光の屈折の程度を測定す
るようにした赤外分光方法。 - （２）該光の屈折の程度は、該試ｒ３１表面近傍を通過
した光の位置を検出することによって測定づるようにし
た特許′［請求の範囲第１項記載の赤外分光方法。 - （３）該ＦＡ判に順次周った波長の赤外光が照射される
特許請求の範囲第１項乃至第２項記載の赤外分光り払。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14788883A JPS6039515A (ja) | 1983-08-12 | 1983-08-12 | 赤外分光方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14788883A JPS6039515A (ja) | 1983-08-12 | 1983-08-12 | 赤外分光方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6039515A true JPS6039515A (ja) | 1985-03-01 |
Family
ID=15440455
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14788883A Pending JPS6039515A (ja) | 1983-08-12 | 1983-08-12 | 赤外分光方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6039515A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55163450A (en) * | 1979-05-22 | 1980-12-19 | Anvar | Heat conduction measuring method and apparatus |
-
1983
- 1983-08-12 JP JP14788883A patent/JPS6039515A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS55163450A (en) * | 1979-05-22 | 1980-12-19 | Anvar | Heat conduction measuring method and apparatus |
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