JPH0743296A - 気体試料の濃度・温度同時計測方法 - Google Patents

気体試料の濃度・温度同時計測方法

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JPH0743296A
JPH0743296A JP20272593A JP20272593A JPH0743296A JP H0743296 A JPH0743296 A JP H0743296A JP 20272593 A JP20272593 A JP 20272593A JP 20272593 A JP20272593 A JP 20272593A JP H0743296 A JPH0743296 A JP H0743296A
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JP
Japan
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temperature
wave number
concentration
gas sample
filter member
Prior art date
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Pending
Application number
JP20272593A
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English (en)
Inventor
Masayuki Adachi
正之 足立
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Horiba Ltd
Original Assignee
Horiba Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 簡易かつ確実な測定原理で気体試料の濃度と
温度を同時に測定できる方法を提案する。 【構成】 気体試料2に赤外線光源1からの赤外光を照
射させ、その透過光を半透鏡3で2分し、一方の透過光
には高波数域を透過させるフィルタ部材4を、他方の透
過光には低波数域を透過させるフィルタ部材6をそれぞ
れ配置し、各フィルタ部材4,6を介した透過光の吸光
度をそれぞれ検出し、温度依存性の低い高波数域側で濃
度を求める一方、両者の吸光度の比率から温度を求め
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は気体の温度と濃度とを光
学的に同時に計測する方法に関する。
【0002】
【従来の技術】気体試料の温度と濃度とを同時に計測す
る装置の1つとして、例えば、コヒーレント反ストーク
スラマン分光(CARS)法によるCARS分光装置が
従来より知られている。これは光源として尖頭出力の大
きなパルスレーザーが用いられ、通常、QスイッチYA
Gレーザーの高周波が使用され、出力の一部を周波数ν
O の光として、残りを色素レーザー励起用として用い、
色素レーザーの周波数(νP )を掃引して信号スペクト
ルを得、νO 光、νP 光はBOXCARS型整合条件を
満たす方向から試料に入射し、生じたCARS光をピン
ホール、フィルター(または低分散分光器)を通して背
景光から分離して検出するものである。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述のCARS分光装
置は、測定原理が難解で、構成が複雑で高価なものにな
るという難点があった。
【0004】本発明はこのような実情に鑑みてなされ、
気体試料の濃度と温度を簡易かつ確実な測定原理で同時
に測定することのできる方法を提供することを目的とし
ている。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、上述の課題を
解決するための手段を以下のように構成している。すな
わち、第1の発明では、気体試料に赤外光を照射させ、
その透過光の温度依存性の低い高波数域側で濃度を求め
る一方、その高波数域側と温度依存性の高い低波数域側
での吸光度の比率から温度を求めることを特徴としてい
る。
【0006】また、第2の発明では、気体試料に赤外線
光源からの赤外光を照射させ、その透過光を半透鏡で2
分し、一方の透過光には高波数域を透過させるフィルタ
部材を、他方の透過光には低波数域を透過させるフィル
タ部材をそれぞれ配置し、各フィルタ部材を介した透過
光の吸光度をそれぞれ検出し、温度依存性の低い高波数
域側で濃度を求める一方、両者の吸光度の比率から温度
を求めることを特徴としている。
【0007】
【作用】例えばメタンガスの吸光度は波数の高い領域は
温度依存性が低く、波数の低い領域では温度依存性が高
い。従って、メタンガスに赤外光を照射させてその透過
光の高波数域で濃度を求めることができ、かつその高波
数域と低波数域の2つの領域における吸光度の比率から
温度を求めることができる。
【0008】
【実施例】以下に本発明の実施例を図面に基づいて詳細
に説明する。図1は、気体試料の濃度と温度とを同時に
計測するための装置の構成図で、符号1は赤外照射光
源、2は例えば燃焼中のメタンガス等の測定対象となる
気体試料、3は半透鏡、4は低波数域のみを透過させる
第1バンドパスフィルタ(フィルタ部材)、5は第1バ
ンドパスフィルタ4を透過した光の吸収強度を検出する
第1ディテクタ、6は高波数域のみを透過させる第2バ
ンドパスフィルタ(フィルタ部材)、7は第2バンドパ
スフィルタ6を透過した光の吸収強度を検出する第2デ
ィテクタ、8は両ディテクタ5,7から送出される検出
信号を受け、気体試料2の濃度と温度とを同時に測定す
るための演算装置である。
【0009】その演算装置8はマイクロコンピュータ等
よりなり、図2に示すように、第1ディテクタ5からの
検出信号を受けて吸光度を演算するための第1吸光度演
算手段9と、その第1吸光度演算手段9で演算された吸
光度から濃度を演算するための濃度演算手段10と、第2
ディテクタ7からの検出信号を受け吸光度を演算するた
めの第2吸光度演算手段11と、その第2吸光度演算手段
11で演算された吸光度と、第1吸光度演算手段9で演算
された吸光度との比から温度を演算する温度演算手段12
とを有し、濃度と温度を簡易かつ確実な測定原理で同時
に計測して表示盤(図示省略)に表示できるようになっ
ている。
【0010】より詳しく説明すると、メタンガスの吸収
スペクトルは、低波数域では、図3および図5に示すよ
うに、温度による変化、つまり温度依存性が大きい。一
方、高波数域では、図4および図6に示すように、温度
による変化が少なく安定している。
【0011】従って、温度依存性の低い高波数域で濃度
を信頼性よく求めることができる。一方、温度について
は、低波数域側と高波数域側の両方で同時に吸光度を検
出することができるため、その比を求めることにより、
予め設定記憶させておいたテーブルやマップ等から、そ
のときの温度を読み出すことができるのである。
【0012】図7はFTIR(フーリエ変換赤外線分析
装置)21を適用した例を示し、そのFTIR21は、分析
部とその分析部からの出力であるインターフェログラム
を処理してスペクトル演算をおこなうデータ処理部(図
示省略)とよりなり、その分析部は赤外照射光源22と、
ビームスプリッタ23、固定ミラー24、可動ミラー25より
なる干渉機構と、半導体検出器等よりなる赤外線検出器
26よりなる。そして、図示は省略するが、そのFTIR
21には可動ミラー25を例えばX−Y方向に駆動するため
の駆動機構が設けてあり、かつそのデータ処理部には前
実施例に示した演算装置8が接続されており、同様に濃
度と温度とを同時に計測できるようになっている。
【0013】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の方法によ
れば、気体試料に赤外光を照射させ、その透過光の温度
依存性の低い高波数域側で濃度を求める一方、その高波
数域側と低波数域側での吸光度の比率から温度を求める
ので、例えばメタンガスなどの気体試料の濃度と温度と
を簡易かつ確実な方法で同時に測定することができる。
【0014】また、気体試料に赤外線光源からの赤外光
を照射させ、その透過光を半透鏡で2分し、一方の透過
光には高波数域を透過させるフィルタ部材を、他方の透
過光には低波数域を透過させるフィルタ部材をそれぞれ
配置し、各フィルタ部材を介した両透過光の吸光度を検
出し、温度依存性の低い高波数域側で濃度を求める一
方、両者の吸光度の比率から温度を求めるようにすれ
ば、安価な装置で簡易かつ確実に濃度と温度を同時に測
定することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の方法を実施するための装置の一実施例
を示す構成図である。
【図2】同演算装置の構成図である。
【図3】メタンの吸収スペクトルの温度変化(低波数
側)を示すグラフである。
【図4】同(高波数側)を示すグラフである。
【図5】メタン吸収スペクトルの和の温度変化(低波数
側)を示すグラフである。
【図6】メタン吸収スペクトルの和の温度変化(高波数
側)を示すグラフである。
【図7】本発明の方法を実施するための装置の異なる実
施例を示す構成図である。
【符号の説明】
1…赤外照射光源、2…気体試料、3…半透鏡、4,6
…フィルタ部材。

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 気体試料に赤外光を照射させ、その透過
    光の温度依存性の低い高波数域側で濃度を求める一方、
    その高波数域側と低波数域側での吸光度の比率から温度
    を求めることを特徴とする気体試料の濃度・温度同時計
    測方法。
  2. 【請求項2】 気体試料に赤外線光源からの赤外光を照
    射させ、その透過光を半透鏡で2分し、一方の透過光に
    は高波数域を透過させるフィルタ部材を、他方の透過光
    には低波数域を透過させるフィルタ部材をそれぞれ配置
    し、各フィルタ部材を介した透過光の吸光度をそれぞれ
    検出し、温度依存性の低い高波数域側で濃度を求める一
    方、両者の吸光度の比率から温度を求めることを特徴と
    する気体試料の濃度・温度同時計測方法。
JP20272593A 1993-07-24 1993-07-24 気体試料の濃度・温度同時計測方法 Pending JPH0743296A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006023200A (ja) * 2004-07-08 2006-01-26 Kurabo Ind Ltd 光学プローブ及びそれを用いた分光測定装置
WO2020066769A1 (ja) * 2018-09-28 2020-04-02 株式会社フジキン 濃度測定方法

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