SU1383173A1 - Способ рентгенорадиометрического анализа вещества - Google Patents

Способ рентгенорадиометрического анализа вещества Download PDF

Info

Publication number
SU1383173A1
SU1383173A1 SU853837837A SU3837837A SU1383173A1 SU 1383173 A1 SU1383173 A1 SU 1383173A1 SU 853837837 A SU853837837 A SU 853837837A SU 3837837 A SU3837837 A SU 3837837A SU 1383173 A1 SU1383173 A1 SU 1383173A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
radiation
analytical
concentration
incidence
substance
Prior art date
Application number
SU853837837A
Other languages
English (en)
Inventor
Яков Николаевич Семенов
Владимир Леонидович Пишванов
Original Assignee
Уральский Филиал Всесоюзного Научно-Исследовательского И Конструкторского Института "Цветметавтоматика"
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Уральский Филиал Всесоюзного Научно-Исследовательского И Конструкторского Института "Цветметавтоматика" filed Critical Уральский Филиал Всесоюзного Научно-Исследовательского И Конструкторского Института "Цветметавтоматика"
Priority to SU853837837A priority Critical patent/SU1383173A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1383173A1 publication Critical patent/SU1383173A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Изобретеьше относитс  к  дерно- физическим методам анализа вещества. Цель изобретени  - повьшеьше точности анализа и определение концентрации анализируемого элемента в интервале концентрационного вьфождени  аналитического графика. Образцы с разным содержанием определ емого элемента облучают гамма-излучением, регистрируют отношение интенсивностей характеристического излучени  определ емого элемента и рассе нного из- . лучени  при нескольких углах падени  первичного излучени  в диапазоне-О - 90°. Выбирают угол падени , при котором это отношение максимально, и стро т аналитический график по результатам измерений при выбранном угле падени . Исследуемое вещество облучают гамма-излучением, регистрируют отношение указанных интенсивностей и наход т концентрацию определ емого элемента по аналитическому графику. Измерени  провод т в области инверсии по рассто нию от исследуемого вещества. Измерение интенсивности рассе нного излучени  производ т в энергетическом интервале регистрации аналитической линии определ емого элемента. В интервале концентрационного вырождени  аналитического графика облучение провод т под углом, близким к 90°. 1 з.п. ф-лы. i оо 00 оо оо

Description

Изобретение относитс  к области флуоресцентного рентгенорадиометри- ческого опробовани  вещества.
Целью изобретени   вл етс  повышение точности анализа и определение концентрации анализируемого элемента в интервале концентрационного вырождени  аналитического графика.
Способ реализуют с использованием рентгенорадиометрического двухканаль ного спектрометра Проба-6, Дл  возбуждени  характеристического рентгеновского излучени  (ХРИ) определ в- мых элементов используют источник -у-излучени  Самарий-145. Регистрацию осуществл ют сцинтилл ционным детек- тором с кристаллом Nal(Tl).
При обл5гчении исследуемого вещества датчик спектрометра устанавливают в то чке опробовани  непосредственно на поверхность исследуемого вещества С целью исключени  вли ни  неровност поверхности зондовое устройство устанавливают в центр инверсии, об- ласть которой определ ют путем измерений на разных рассто ни х от исследуемого вещества. Источник излучени  имеет механизм угла поворота и соответственно обладает возмож- ностью смещени  площади засветки относительно окна детектора.
Эталонные пробы облучают под разными углами наклона источника и выбирают угол наклона, при котором отношение интенсивности аналитической линии определ емого элемента (олова) к интенсивности рассе нного излучени  (фона под аналитической линией олова) максимально. Облучение эталонных проб провод т также под углом падени  первичного излучени , близким к 90°.
Стро т аналитические графики по измерени м, полученным на эталонных пробах с разным содержанием олова при указанных углах наклона источника (45 и ). Значение интенсивности фона определ ют от фонового эталона.
В области низких содержаний опре- дел емого элемента аналитические графики при угле наклона источника 45 и практически сливаютс . В области же больших содержаний опре- дсш емого элемента тангенс угла на- клона аналитического графика, измеренного при угле -«/ ЭО,, больше, чем при угле в 45°, а также, он сохран 
Q 5
д ; п
5
0 5
0
ет линейность в более широком диапа- зоне содержаний.
При проведении анализа вещества неизвестного состава облучение осуществл ют под углом 45° к поверхности вещества. Зарегистрировав интенсивность ХРИ олова и фона, по аналитическому графику определ ют концентрацию олова. Если содержание олова попадает в интервал концентрационного вырождени  аналитического графика, то дополнительно облучают вещество под углом /v90 и по второму аналитическому графику наход т концентрацию олова.
Способ позвол ет повысить точность анализа и увеличить диапазон определени  анализируемых элементов.

Claims (2)

1.Способ рентгенорадиометрического анализа вещества, включающий облучение эталонных образцов с разным содержанием определ емого элемента первичным vt- излучением, регистрацию отношени  интенсивностей характеристического излучени  определ емого элемента и рассе нного излучени  при нескольких углах падени  первичного излучени  в диапазоне 0-90°, выбор угла падени , при котором указанное отношение максимально , построение аналитического графи- ка при найденном угле падени , облучение первичным 2 Излучением иссле-. дуемого вещества и нахождение кон- центрации определ емого элемента по зарегистрированному значению отношени  .указанных интенсивностей из аналитического графика, о т л и ч а- ю щ и и с   тем, что, с целью по- вьш1ени  точности анализа, измерени  провод т в области инверсии по рассто нию отисследуемого вещества, причем измерение интенсивности рассе нного излучени  производ т в энергетическом интервале регистрации аналитической линии определ емого элемента..
2.Способ по п. 1, отличающий с   тем, что, с целью определени  концентрации анализируемого элемента в интервале концентрационного вырождени  аналитического графика, исследуемое вещество облучают первичным у-излучением с углом падени , близким к 90 .
SU853837837A 1985-01-04 1985-01-04 Способ рентгенорадиометрического анализа вещества SU1383173A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853837837A SU1383173A1 (ru) 1985-01-04 1985-01-04 Способ рентгенорадиометрического анализа вещества

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853837837A SU1383173A1 (ru) 1985-01-04 1985-01-04 Способ рентгенорадиометрического анализа вещества

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1383173A1 true SU1383173A1 (ru) 1988-03-23

Family

ID=21156326

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853837837A SU1383173A1 (ru) 1985-01-04 1985-01-04 Способ рентгенорадиометрического анализа вещества

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1383173A1 (ru)

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Авторское свидетельство СССР № 918828, кл. G 01 N 23/223, 1980. Авторское cв щeтeльcтвo СССР № 1221559, кл. G 01 N 23/223, 1984. *

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Wobrauschek et al. Total-reflection x-ray fluorescence spectrometric determination of elements in nanogram amounts
US4804850A (en) Measurement of fluorescence
US5308981A (en) Method and device for infrared analysis, especially with regard to food
CA1127865A (en) Method and device for analysis with color identification test paper
FR2454619A1 (fr) Procede et dispositif de mesure continue de teneurs en elements
US4016419A (en) Non-dispersive X-ray fluorescence analyzer
US5107527A (en) Method and apparatus for analyzing sludgy materials
SU1417802A3 (ru) Способ сортировки образцов руды по содержанию в них определ емого элемента
SU1383173A1 (ru) Способ рентгенорадиометрического анализа вещества
US6845147B2 (en) Scatter spectra method for x-ray fluorescent analysis with optical components
SU1221559A1 (ru) Способ рентгенорадиометрического анализа
SE8602406D0 (sv) Sett att bestemma densitet for underliggande lager
JP3949850B2 (ja) 蛍光x線分析装置
Kulkarni et al. Use of radioisotope induced X-ray fluorescence for environmental studies
SU1040389A1 (ru) Способ определени химического состава вещества
JPS6362694B2 (ru)
JP3234716B2 (ja) X線分析に用いる面積測定方法
SU1532810A1 (ru) Способ определени шероховатости поверхности
SU1748058A1 (ru) Способ определени содержани жира и белка в молоке
RU2073239C1 (ru) Способ исследования структуры древесины
JPH044208Y2 (ru)
JPS6453144A (en) Method for evaluating thin film by fluorescent x-ray analysis
RU2217733C2 (ru) Способ определения концентрации элемента в веществе сложного химического состава
SU857819A1 (ru) Способ рентгенорадиометрического анализа
USH922H (en) Method for analyzing materials using x-ray fluorescence