SU1221559A1

SU1221559A1 - Способ рентгенорадиометрического анализа

Info

Publication number: SU1221559A1
Application number: SU843687192A
Authority: SU
Inventors: Яков Николаевич Семенов; Владимир Леонидович Пишванов
Original assignee: Уральский Филиал Всесоюзного Научно-Исследовательского И Конструкторского Института "Цветметавтоматика"
Priority date: 1984-01-04
Filing date: 1984-01-04
Publication date: 1986-03-30

Abstract

Изобретение относитс к рент- генорадиометрическому анализу состава образцов. Образец получают гам- ма-или рентгеновским излучением и регистрируют характеристическое из- лучение определ емого элемента и однократно рассе нное . образцом излучение при .выбранном угле падени первичного излучени . Выбор угла падени первичного излучени - осущег. ствл ют на эталонном образце, содержащем определ емый элемент. Измен угол падени первичного излучени , наход т такое его значение, при кот тором на эталонном образце получает с максимальное значение отношени интенсивностей характеристического излучени определ емого элемента и однократно рассе нного излучени . Изобретение позвол ет повысить чувствительность анализа. 3 ил. ГС 1C ел ел со

Description

Изобретение относитс к рентгено- флуоресцентному анализу и может быть использовано при анализе элементного состава плоских образцов.

Целью изобретени вл етс повышение чувствительности анализа путем снижени концентрационного вырождени .

На фиг.1 приведена схема датчика, на котором произведена экспериментальна проверка способа; на фиг,2 и экспериментальна зависимость отношени плотности потоков от содержани соответственно ВаО и Sb, Oj при разных углах падени первичных гамма-квантов.

Изобретение осуществл ют следующим образом.

Датчик рентгенорадиометрического анализатора устанавливают в точке анализа непосредственно на поверхность эталонного или анализируемого образца 1. Источник 2 рентгеновского излучени расположен на длинной оси окна пропорционального счетчика 3. Предварительно возбуждают флуоресцентное рентгеновское излучение элементов р да эталонных проб. Регистрируют отношение Ni/Ns :плотности потока характеристического излучени элемента к плотности потока однократно рассе нного источника при раз ньк углах падени первичных гамма- квантов с интервалом 10-15 в диапазоне 0-90 . Из полученной последовательности значений Ni/Ns выбирают максимальное значение и устанавли- вают угол падени первичного пучка, при котором Ni/Ns максимально. Измерение образцов осуществл ют при этом угле падени первичного излучени .

Пример 1. Дл возбуждени характеристического рентгеновского излучени использовалс источник на основе нуклида самарий - 145. Регисраци излучени осуществл лась пропорциональным счетчиком с ксеноновым наполнителем СИ11Р-3„ В мониторном режиме измер лось отношение плотност потока характеристического излучени (Ni) бари к плотности потока однократно рассе нного излучени источника (NS). Зависимость отношени плотностей потоков при разных углах

10

fS

20

30

0

5

0

, ф представлена на фиг.2, Измерени выполн лись на одинаковых по составу эталонных пробах двухканальным спектрометром Проба 6, Измерение содержани бари в анализируемых образ-, цах осуществл ли при угле Cf 45 .

Пример 2, Дл проведени данного примера использовались те же средства, что и в примере 1.

Исследовалась эталонна проба на содержание сурьмы (Sb 0). Предва- рительно найдено 5 что при угле Cf 30 отношение плотностей потоков максимально , Зависимость отношени плотностей потоков от содержани сурьмы представлена на фиг.З. Определение содержани сурьмы в анализируемых образцах осуществл ли при q 30.

из представленных на фиг. 2 и 3 данных видно, что с увеличением содержани элемента в наполнителе (SiOj) только при определенном угле cf наблюдаетс сохранение линейности эталонировочнрго графика в широком диапазоне содержаний определ емых элементов, что в итоге приводит к повышению точности анализа, особенно в области больших (1%) содержаний определ емого элемента.

Claims

Формула изобретени

Способ рентгенорадиометрического анализа состава плоских образцов, заключающейс в облучении образца гамма- или рентгеновским излучением, регистрации отношени интенсивностей. характеристического рентгеновского излучени определ емого элемента и однократно рассе нного излучени , по которому наход т содержание определ емого элементна отличающийс тем, что. с целью повышени чувствительности анализа, предварительно облучают эталонные образцы коллимированным пучком первичного излучени , регистрируют названное отношение интенсивностей при нескольких углах падени первичного излучени в диапазоне 0-90, наход т угол падени , при котором значение названного отношекик максимально , а при зтом угле падени наход т содержа ше определ емого элемента в анализируемом образце.

,

/5

BaD 4

r 2 3 5 в 7 S сриг,3Sb205,%

ВНИИПИ Заказ 1605/50 Тираж 778 Подписное

Филиал ППП Патент,

г. Ужгород, ул. Проектна , 4