RU2002127845A - Способ рентгенофлуоресцентного анализа элементного состава вещества - Google Patents

Способ рентгенофлуоресцентного анализа элементного состава вещества

Info

Publication number
RU2002127845A
RU2002127845A RU2002127845/28A RU2002127845A RU2002127845A RU 2002127845 A RU2002127845 A RU 2002127845A RU 2002127845/28 A RU2002127845/28 A RU 2002127845/28A RU 2002127845 A RU2002127845 A RU 2002127845A RU 2002127845 A RU2002127845 A RU 2002127845A
Authority
RU
Russia
Prior art keywords
analytical
determined
parameter
elements
auxiliary
Prior art date
Application number
RU2002127845/28A
Other languages
English (en)
Other versions
RU2240543C2 (ru
Inventor
Тамара Александровна Макарова
Андрей Викторович Бахтиаров
Вадим Александрович Зайцев
Original Assignee
Открытое акционерное общество "Горно-металлургическая компания" "Норильский никель"
Filing date
Publication date
Application filed by Открытое акционерное общество "Горно-металлургическая компания" "Норильский никель" filed Critical Открытое акционерное общество "Горно-металлургическая компания" "Норильский никель"
Priority to RU2002127845/28A priority Critical patent/RU2240543C2/ru
Priority claimed from RU2002127845/28A external-priority patent/RU2240543C2/ru
Publication of RU2002127845A publication Critical patent/RU2002127845A/ru
Application granted granted Critical
Publication of RU2240543C2 publication Critical patent/RU2240543C2/ru

Links

Claims (1)

  1. Способ рентгенофлуоресцентного анализа элементного состава вещества, включающий облучение анализируемых проб и образцов сравнения излучением рентгеновской трубки, в спектре которого имеются характеристические линии с длиной волны (λ) менее 1А0, регистрацию интенсивностей рентгеновского излучения анализируемых проб и образцов сравнения, а именно интенсивности некогерентно рассеянной на пробе характеристической линии анода рентгеновской трубки (nнк) или интенсивности рассеянного на пробе первичного тормозного излучения (nS), интенсивности аналитической линии определяемого элемента (nA) за вычетом фона, который дают различные наполнители, и интенсивностей аналитических линий мешающих элементов (nм), края поглощения которых располагаются между аналитической линией определяемого элемента (λA) и линией некогерентно рассеянной на пробе характеристической линии анода рентгеновской трубки (λнк), нахождение поправочного коэффициента nо, учитывающего вклад излучения, рассеянного на деталях спектрометра при измерениях nнк, градуировку, заключающуюся в установлении линейной связи вспомогательного аналитического параметра R1 с интенсивностями аналитических линий определяемого элемента nA и мешающих элементов nм, проводящуюся по результатам измерений образцов сравнения, содержащих определяемый элемент (с содержаниями СA) и мешающие элементы (с содержаниями СM), и состоящую в определении частного значения вспомогательного параметра при низком содержании определяемого элемента и отсутствии мешающих элементов – R О 1 и коэффициентов, учитывающих влияние высокого содержания (более 1%) определяемого элемента (аА) и высокого содержания (более 1%) мешающих элементов (bм), определение с учетом этих коэффициентов вспомогательного аналитического параметра R1 и расчет содержания определяемого элемента в анализируемой пробе по формуле
    Figure 00000001
    отличающийся тем, что при градуировке и определении параметра R О 1 , коэффициентов аA, bм, nО и вспомогательного аналитического параметра R1, в качестве образцов сравнения берут единую градуировочную группу аттестованных образцов с содержаниями определяемых и мешающих элементов, охватывающими весь диапазон их изменений для всех типов анализируемых веществ, причем в процессе градуировки осуществляют дополнительную корректировку вспомогательного аналитического параметра R1, учитывающую его зависимость от интенсивности некогерентно рассеянного излучения (nнк) и нелинейность его зависимости от интенсивностей аналитических линий определяемого (nA), мешающих (nм) элементов и некогерентно рассеянного излучения (nнк), для чего, при статистической обработке результатов измерений этой группы образцов, определяют дополнительные постоянные коэффициенты пропорциональности bнк, dA, dм, dнк в дополнительных членах, пропорциональных, соответственно, интенсивности некогерентно рассеянного излучения (nнк) и квадратам интенсивностей аналитических линий определяемого (nA)2, мешающих (nм)2 элементов и некогерентно рассеянного излучения (nнк)2, а вспомогательный аналитический параметр R1 определяют с учетом этих дополнительных коэффициентов по формуле
    R1=R 0 1 +aAnA+Σbмnм+bнкnнк+dAn 2 A +Σdмn 2 м +dнкn 2 нк .
RU2002127845/28A 2002-10-17 2002-10-17 Способ рентгенофлуоресцентного анализа элементного состава вещества RU2240543C2 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2002127845/28A RU2240543C2 (ru) 2002-10-17 2002-10-17 Способ рентгенофлуоресцентного анализа элементного состава вещества

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
RU2002127845/28A RU2240543C2 (ru) 2002-10-17 2002-10-17 Способ рентгенофлуоресцентного анализа элементного состава вещества

Publications (2)

Publication Number Publication Date
RU2002127845A true RU2002127845A (ru) 2004-04-20
RU2240543C2 RU2240543C2 (ru) 2004-11-20

Family

ID=34310017

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
RU2002127845/28A RU2240543C2 (ru) 2002-10-17 2002-10-17 Способ рентгенофлуоресцентного анализа элементного состава вещества

Country Status (1)

Country Link
RU (1) RU2240543C2 (ru)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2444004C2 (ru) * 2010-12-15 2012-02-27 Общество с ограниченной ответственностью "АНАЛИТНАУЧЦЕНТР" (ООО "АНАЛИТНАУЧЦЕНТР") Устройство для рентгенорадиометрического анализа состава пульп и растворов
RU2524559C1 (ru) * 2013-05-16 2014-07-27 Алексей Никифорович Никифоров Рентгеноспектральный анализ негомогенных материалов
RU2580334C1 (ru) * 2014-09-17 2016-04-10 Общество с ограниченной ответственностью "Научно-исследовательский институт природных газов и газовых технологий - Газпром ВНИИГАЗ" Способ определения тяжелых металлов в техническом углероде
RU2584065C1 (ru) * 2014-12-26 2016-05-20 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего образования "Санкт-Петербургский государственный университет" (СПбГУ) Способ градуировки партии рентгеновских спектрометров
RU2594638C1 (ru) * 2015-02-04 2016-08-20 Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования "Иркутский государственный университет" Способ рентгенофлуоресцентного анализа проб с неопределяемыми компонентами наполнителя

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US11210366B2 (en) Analysis of X-ray spectra using fitting
Larsson et al. Correction of inner-filter effect in fluorescence excitation-emission matrix spectrometry using Raman scatter
Marguí et al. Multielemental fast analysis of vegetation samples by wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry: Possibilities and drawbacks
Bonta et al. Application of gold thin-films for internal standardization in LA-ICP-MS imaging experiments
SE439545B (sv) Sett for styrning av en separationsprocess utford pa fron eller kernor
Denoyer Semiquantitative analysis of environmental materials by laser sampling inductively coupled plasma mass spectrometry
Zarkadas et al. Applicability of direct total reflection X-ray fluorescence analysis in the case of human blood serum samples
Zamora et al. Quantitative colorimetric-imaging analysis of nickel in iron meteorites
RU2002127845A (ru) Способ рентгенофлуоресцентного анализа элементного состава вещества
Ekinci et al. Determination of calcium and iodine in gall bladder stone using energy dispersive X-ray fluorescence spectrometry
Soldevila et al. Evaluation of operational parameters affecting semiquantitative multi-elemental analysis by inductively coupled plasma mass spectrometry
JP4237891B2 (ja) 蛍光x線分析装置のバックグラウンド補正方法及びその方法を用いる蛍光x線分析装置
EP0911627A1 (en) Analysis of chemical elements
Patarachao et al. Methodology development and optimization for direct quantification of total selenium concentration in mine water by total-reflection X-ray fluorescence spectrometry
US6845147B2 (en) Scatter spectra method for x-ray fluorescent analysis with optical components
US8119415B2 (en) X-ray fluorescence method for a composition analysis of a sample containing at least two elements
JPS6212842A (ja) 螢光分析装置
Zamora et al. Correction of predicted concentration in the use of solvent-based calibration lines for determining carbendazim, fuberidazole and thiabendazole in water after a SPE step
Brätter et al. The use of reference materials as standards in the simultaneous multielement analysis of biological materials using inductively coupled plasma spectrometry
RU2240543C2 (ru) Способ рентгенофлуоресцентного анализа элементного состава вещества
Molt et al. Application of factor analysis in EDXRF
Lalchev et al. Application of Inductively Coupled Plasma Atomic EmissionSpectrometry in Forensic Science
Gonzalez-Fernandez et al. Multielemental analysis of dried residue from metal-bearing waters by wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry
RU2753164C1 (ru) Способ рентгенофлуоресцентного анализа концентрации элементного состава вещества
Yamada et al. Sensitive detection of trace copper contamination on a silicon wafer by total reflection X-ray fluorescence using W–Lβ or Au–Lβ excitation source