SU1368736A1 - Способ получени градуировочной характеристики сцинтилл ционного (импульсного)спектрального анализа - Google Patents

Способ получени градуировочной характеристики сцинтилл ционного (импульсного)спектрального анализа Download PDF

Info

Publication number
SU1368736A1
SU1368736A1 SU853968843A SU3968843A SU1368736A1 SU 1368736 A1 SU1368736 A1 SU 1368736A1 SU 853968843 A SU853968843 A SU 853968843A SU 3968843 A SU3968843 A SU 3968843A SU 1368736 A1 SU1368736 A1 SU 1368736A1
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
calibration
samples
scintillation
determined
signals
Prior art date
Application number
SU853968843A
Other languages
English (en)
Inventor
Мубаряк Акрамович Ахмедьянов
Виктор Григорьевич Дроков
Михаил Рафаилович Лифлянд
Виктор Николаевич Морозов
Людмила Константиновна Попялковская
Сергей Вульфович Фридман
Original Assignee
Научно-исследовательский институт прикладной физики при Иркутском государственном университете им.А.А.Жданова
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Научно-исследовательский институт прикладной физики при Иркутском государственном университете им.А.А.Жданова filed Critical Научно-исследовательский институт прикладной физики при Иркутском государственном университете им.А.А.Жданова
Priority to SU853968843A priority Critical patent/SU1368736A1/ru
Application granted granted Critical
Publication of SU1368736A1 publication Critical patent/SU1368736A1/ru

Links

Landscapes

  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к спектральному анализу о Целью изобретени   вл етс  повышение точности градуировки и правильности последующего . анализа. Градуировочные образцы предварительно раздел ют рассевом на различные по крупности фракции с последующей аттестацией в них содержани  определ емого элемента независимым методом. Измер ют распределение сцинтилл ционных сигналов (импульсов ) по значению аналитического параметра . Выбирают дл  нахождени  гра- дуировочной характеристики образцы, у которых распределени  значений аналитического сигнала наиболее отличаютс , например, по диапазонам, в которые попадает больша  часть значений аналитического сигнала, или по значени м статистических моментов.Гра- дуировочиа  характеристика находитс  в виде нелинейной функции, св зывающей значение аналитического сигнала t массой частицы, соответствующей этому сигналу. Параметры этой функции наход т расчетным путем из услови  минимума дисперсии отклонений между массами определ емого элемента в использованных навесках выбранных градуировочных образцов, полученными по аттестованным содержани м в них определ емого элемента, и суммами масс частиц определ емого элемента, вычисл емых с помощью искомой граду- ировочной характеристики по зарегистрированным от них сигналам в этих навесках. (Л 00 СХ) ч 00

Description

Изобретение относитс  к области спектраЬьного анализа материалов, в которых определ емьй элемент находитс  в отдельных, дискретно распределенных по объему пробы частицах.
Целью изобретени   вл етс  повышение точности градуировки и правильности последующего анализа.
Оптический спектральный сцинтил- л ционный анализ применим, когда определ емый элемент находитс  в пробе только в виде отдельных, дискретных частиц минерала или металла. Он основан на непрерывном вдувании порошка пробы в спектральный источник и регистрации оптических сигналов, возникающих при попадании в аналитическую зону источника частиц, содержащих определ емый элемент. Благодар  высокой концентрации паров элемента , возникающей в аналитической зоне в момент попадани  в нее частицы , сигнал формируетс  в виде сцин- тилл ционного импульса, значительно превышающего уровень фона, и с высокой надежностью регистрируютс . Кажда частица примеси при попадании в спектральный источник образует один сцинтилл ционный импульс, а величина его.функционально св зана с массой частицы. Кажда  проба имеет свой на- бор частиц различных масс и поэтому при сцинтилл ционных намерени х дает свой набор импульсов, отличающийс  по величине. Этот набор импульсов дп  каждой пробы можно представить в виде распределени  плотности веро тности величины импульсов, отражающего вклад импульсов определенных величин в общее их число. Форма распределени  дл  каждой пробы может быть сво , Количественно форма распределени , описываетс  статистическими моментами (первым, вторым и т.д)
Отличительным признаком изобретени   вл етс  прием выбора градуиро- вочных образцов, обладающих наибольшим отличием распределений величины
5
Предлагаемые приемы основаны на экспериментальном факте - от большей массы части1ц 1 возникает больший по величине сцинтилл ционный импульс. Зависимость между массой частицы и величиной сцинтилл ционного импульса в силу р да причин нелинейна. Эта зависимость найдена в результате предлагаемых действий и используемых математических методов тем точнее (и тем точнее получаемые по ней результаты анализа), чем достовернее представлены в градуировочных образцах частицы различных масс. Именно получени  приблизительно одинаковой и достаточной представительности всех классов удаетс  достичь предлагаемыми приемами выбора граду0 ировочных образцов о
За счет выбора таким образом гра- дуироночных образцов с различным гранулометрическим составом частиц определ емого элемента обеспечиваетс 
5 устойчивость и более высока  точность расчета параметров градуировочной характеристики, Градуировочна  характеристика как функци , св зывающа  значение аналитического параметра по каждому отдельному импульсу с массой частицы, соответствующей этому импульсу , ищетс  методами из услови  минимизации дисперсии отклонений расчетной массы определ емого элемента в используемой навеске образца от его массы в этой навеске, полученной из аттестованного содержани 
0
5
К
F(j) (I.)N;:- M-j-min . ,(1) j l,n
где j - номер градуировочного образца; I- - аналитический сигнал i-ro класса по величине; f(I) - искома  45 Градуировочна  характеристика, функци , по которой рассчитываетс  масса частицы определ емого элемента по значению аналитического сигнала ,;
N
- число аналитических сигналов
сцинтилл ционных импульсов, В случае, 50 класса, зарегистрированных в
если такие образцы не удаетс  выбрать из числа имеющихс , предлагаетс  прием получени  их рассевом одной из проб (образцов) на различные по крупности фракции с последующим использованием этих фракций в качестве градуировочных образцов, обладающих требующимс  отличием формы распределени  величины импульсов, .
аналитической навеске; М- - масса определ емого элемента в этой навеске , найденна  из аттестованного содержани ; k - число классов величи- 55 ны аналитического сигнала, п - число градуировочных образцов.
Минимизаци  функции (1) может осуществл тьс  по методу наименьших квадратов минимизацией суммы квадра 3
тов отклонений (1), 1аличие погрешностей , допущенных при определении параметров выражени  (1), приводит к неустойчивости решений тем больше чем ближе вид распределений частиц но массе в использованных образцах, В частном случае при полной идентичности распределений задача не имеет рпределенного решени , т.е. по та- ким образцам минимизаци  функции (1 и, следовательно, расчет градуиро- вочной характеристики невозможен Предлагаемый выбор градуировечных образцов обеспечивает устойчивость решени  задачи определени  функции f(I), а предлагаемое использование рассева на фракции по крупности  вл етс  эффективным методом получени  образцов с различным гранулометрическим составомо
П р и м е РО Предлагаемый способ получени  градуировочной характеристики опробован при импульсном атомно абсорбционном спектральном анализе порошковых проб золотоносных руд на содержание золота. Примен лс  СВЧ- плазмотрон мощностью 2 кВт, в плазму которого вводилась порошкова  проба. Плазму просвечивали потоком пульсирующего света, спектр крторого содержит аналитическую линию золота (Аи I 267,6 нм или Аи I 248,2 нм), котора  вьщел лась и регистриррва- лась фотоэлектронным умножителем. Измерительным устройством вьщел лс  импульс атомного поглощени  от каждой испарившейс  частицы золота, . мгновенные значени  амплитуды импуль jca логарифмировались, вычисл лись площадь полученного импульса погло- щательной способности и ее значение (1), как аналитического параметра, записывалось в цифровом виде на магнитную ленту. Дл  каждого j-ro образца по программе на ЭВМ весь диапазон изменени  величины (1) разбивалс  на классы заданной ширины и подсчитывалось число N ;- значений (1), попавших в i-й класс„
Градуировочна  характеристика задавалась в виде полинома
m f(I) Г(С,
+ С„
1),
где m - масса частицы золота, мкг.
Значени  С, С, находились из (1) по методу наименьших квадратов при варьировании значений о/.
й ) - . -
368736
При градуировании по совокупности образцов с равномерным распределением содержаний в них золота по
g всему рабочему диапазону, приготовленных из проб руд и имеющих близкий гранулометрический состав частиц золота , получаемый решени  часто оказывались неустойчивымио При выборе 10 в качестве градуировочных образцов фракций проб руд различной крупности решени  были устойчивыми, градуиро- вочна  характеристика была удовлетворительной по воспроизводимости 15 значений параметров функций (2). Бе- личина дисперсии погрешности анализа снизиласьлВ 5,5 раз по сравнению с использованием дл  оценки содержаний золота известной градуировочной
20 характеристики как функции, св зыва- ющей интегральное значение сигнала за экспозицию в аттестованное содержание анализируемого элемента в навеске , и снизиласй в 2,5 раза по
25 сравнению с использованием дл  расчета градуировочной характеристики в качестве градуировочных образцов проб с близким гранулометрическим составом частиц золота.
30 По предлагаемому способу, в отличие от известного, за счет изменени  распределений сцинтилл ционных сигналов (импульсов) по значению аналитического параметра градуировочных
35 образцов, выбора образцов с наиболее различающимис  между собой распределени ми и выбора градуировочной характеристики в виде зависимости, св зывающей значение аналитического пара40 метра каждого отдельного импульса с массой частицы, соответствующей этому импульсу, по вл етс  возможность с помощью математической обработки совокупности аналитических сигналов
45 и известных содержаний определ емого элемента в образцах получить параметры градуировочной характеристики, учитывающей нелинейную зависимость аналитического сигнала от массы час50 тицы анализируемого элемента, возникающую вследствие р да факторов (различна  степень испарени  частиц, нарушение линейной св зи коэффициента атомного поглощени  с концентра55 цией атомов и т.д.).
Пpeдлaгae aJШ способ градуировани  повьш1ает правильность анализа проб с различным гранулометрическим составом частиц определ емого элемента.
Ф.ормула изобретени 
Способ получени  градуировочной характеристики сцинтилл ционного (им- пульсного) спектрального .анализа, заключающийс  в просыпке порошкообразной пробы через зону возбуждени , в измерении сцинтшш ционных сигналов от каждой частич си, построении распределений сцинтилл ционных сигналов по значению аналитического параметра дл  каждого образца и наборе образцов с наиболее различающимис  распределени ми сигналов в качестве градуироврчных, по которым получают градуировочную характеристику, отличающийс  тем, что.
с целью повьппени  точности градуировки и правильности последующего анализа, ,до измерени  сигналов гра- дуировочные образцы дифференцируют по размерам частиц определ емого элемента , например, путем рассева, в качестве критери  при выборе образцов используют статистические моменты распределений амплитуд сигналов, а в полученной в виде нелинейной функции градуировочной характеристике определ ют параметры из услови  минимума дисперсии отклонений между аттестованными содержани ми и содердени  масс частиц характеристике ь
по градуировочной

Claims (1)

  1. Формула изобретения
    Способ получения градуировочной характеристики сцинтилляционного (им- 5 пульсного) спектрального.анализа, заключающийся в просыпке порошкообразной пробы через зону возбуждения, в измерении сцинтилляционных сигналов от каждой частички, построении распределений сцинтилляционных сигналов по значению аналитического параметра для каждого образца и наборе образцов с наиболее различающими ся распределениями сигналов в качест-15 аттестованными содержаниями и содерве градуировочных, по которым получают градуировочную характеристику, отличающийся с целью повышения точности градуировки и правильности последующего анализа, до измерения сигналов градуировочные образцы дифференцируют по размерам частиц определяемого элемента, например, путем рассева, в качестве критерия при выборе образцов используют статистические моменты распределений амплитуд сигналов, а в полученной в виде нелинейной функции градуировочной характеристике определяют параметры из условия минимума дисперсии отклонений между жаниями, определенными путем нахождения масс частиц по градуировочной характеристикеό тем, что,
SU853968843A 1985-10-22 1985-10-22 Способ получени градуировочной характеристики сцинтилл ционного (импульсного)спектрального анализа SU1368736A1 (ru)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853968843A SU1368736A1 (ru) 1985-10-22 1985-10-22 Способ получени градуировочной характеристики сцинтилл ционного (импульсного)спектрального анализа

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SU853968843A SU1368736A1 (ru) 1985-10-22 1985-10-22 Способ получени градуировочной характеристики сцинтилл ционного (импульсного)спектрального анализа

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1368736A1 true SU1368736A1 (ru) 1988-01-23

Family

ID=21202505

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU853968843A SU1368736A1 (ru) 1985-10-22 1985-10-22 Способ получени градуировочной характеристики сцинтилл ционного (импульсного)спектрального анализа

Country Status (1)

Country Link
SU (1) SU1368736A1 (ru)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2478201C1 (ru) * 2011-08-10 2013-03-27 Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом"-Госкорпорация "Росатом" Способ проведения градуировки масс-спектрометра для количественного анализа газовых смесей
RU2645807C2 (ru) * 2012-02-23 2018-02-28 Дэ Бирс Сентенари Аг Калибровка измерительных приборов

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Кресть нннов А.Г. и др. Сцинтнл- л ционный способ спектрального анализа золота в рудах. - ЖПС, 1969, т, 10, вып, с. 17-21 о Авторское свидетельство СССР № 1109586, кл. G 01 J 3/30, 1981. *

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
RU2478201C1 (ru) * 2011-08-10 2013-03-27 Российская Федерация, от имени которой выступает Государственная корпорация по атомной энергии "Росатом"-Госкорпорация "Росатом" Способ проведения градуировки масс-спектрометра для количественного анализа газовых смесей
RU2645807C2 (ru) * 2012-02-23 2018-02-28 Дэ Бирс Сентенари Аг Калибровка измерительных приборов

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Analytical Methods Committee Recommendations for the definition, estimation and use of the detection limit
Omote et al. X-ray fluorescence analysis utilizing the fundamental parameter method for the determination of the elemental composition in plant samples
Ingle Jr Sensitivity and limit of detection in quantitative spectrometric methods
JPH05240808A (ja) 蛍光x線定量方法
Rossbach et al. Homogeneity studies of reference materials by solid sampling–AAS and INAA
US7539282B2 (en) XRF analyzer
RU2657333C1 (ru) Интегрально-сцинтилляционный способ исследования вещества с введением его в плазму
SU1368736A1 (ru) Способ получени градуировочной характеристики сцинтилл ционного (импульсного)спектрального анализа
Bennun et al. New procedure for intensity and detection limit determination in spectral trace analysis: application for trace mercury by TXRF
Rossbach et al. Microhomogeneity of candidate reference materials: Comparison of solid sampling Zeeman-AAS with INAA
Sari et al. Applicability of EDXRF for elemental analysis in airborne particulate matter (APM): assessment using APM reference material
Baxter Evaluation of the simplified generalised standard additions method for calibration in the direct analysis of solid samples by graphite furnace atomic spectrometric techniques
EP1521947B1 (en) Scatter spectra method for x-ray fluorescent analysis with optical components
Stoeppler Recent methodological progress in cadmium analysis
Ford Seagoing photoelectric colorimeter
West X-ray fluorescence spectrometry applied to the analysis of environmental samples
Cuttitta et al. Slope-ratio technique for the determination of trace elements by X-ray spectroscopy: A new approach to matrix problems
US20030066803A1 (en) Analytical instrument calibration and data correction
Brost et al. Determination of optimum compromise flame conditions in simultaneous multielement flame spectrometry
JPS6416905A (en) Method for measuring film thickness by using electron probe x-ray analyzer
Damastuti et al. Applicability of an energy–Dispersive X-ray fluorescence spectrometry for multielement determination of coal based samples
SU1518743A1 (ru) Способ регистрации фазовых переходов
US4189639A (en) Process for analyzing charged particles
SU1221559A1 (ru) Способ рентгенорадиометрического анализа
Brätter et al. The use of reference materials as standards in the simultaneous multielement analysis of biological materials using inductively coupled plasma spectrometry