SU1224688A1

SU1224688A1 - Способ определени фона в рентгенофлуоресцентном анализе сложных по составу сред

Info

Publication number: SU1224688A1
Application number: SU843769197A
Authority: SU
Inventors: Михаил Борисович Энкер; Александр Николаевич Лезин; Геннадий Ефимович Колесов; Сергей Юрьевич Коломицин; Николай Петрович Пуха
Original assignee: Казанский Ордена Трудового Красного Знамени Государственный Университет Им.С.М.Кирова
Priority date: 1984-07-20
Filing date: 1984-07-20
Publication date: 1986-04-15

Abstract

Изобретение относитс к рентге- нофлуоресцентному анализу сложных по составу сред и заключаетс в нахождении коэффициентов вклада в фон на месте аналитических линий определ емых элементов отдельно от когерентно и некогерентно рассе нного первичного излучени с помощью эталонных проб. Дл повьшени точности определени фона эталонные пробы выбирают с поверхностной плотностью, котора обеспечивает интегральную загрузку с регистрирующей аппаратуры, примерно равную загрузке при анализе проб, и /Л дл определени вклада в фон от когерентно рассе нного излучени используют мишень из элемента, энерги -кра поглощени которого близка, но меньше энергии первичного излучени . 1 табл.| ьо й о 00 00

Description

Изобретение относитс к способам рентгенофлуоресцентного анализа состава сложных, многоэлементных сред и может быть использовано в геологии, цветной металлургии и т.д.

Цель изобретени - повышение точности определени фона при многоэлементном анализе.

При проведении многоэлементного

анализа с использованием ПГЩ величи- С форму измерительной кюветы. Значение

на фона ) в области аналитических линий определ емых элементов зависит от р да факторов. Так при использовании изотопа Со -109 и проведении анализа в интервале энергии 5-18 кэВ интенсивность Jcp i, фона под t -ой аналитической линией запишетс

DcpL --Зоб - f Ki,j. iCfci 3 кц р; % :jl

Ло1 - посто нна составл юща фона под t -ой линией; 3j - интенсивность характеристических линий мешающих элементов; Зо - интенсивность когерентно

где

)ИЩ1ента К «1 определ ют при измерении мишени из элемента, энерги К -кра поглощени которого близкаJ но меньше энергии первич -i ного излучени .

Пример . На установке, состо щей из кремний-литиевого ППД с размерами чувствительной области кристалла 80 мм X 4 мм, спектрометричес20 кого устройства СЭС 2-03,, многока- напьиого анализатора АИ-096-90, Са-109 активностью пор дка 10 мКюри, провод тс измерени фона на месте аналитических линий молибдена и

25 иттри по прототипу и предлагае м способам. Эталонные пробы приготавливают на основе разных наполнителей (СаО, 51.0,) со следующим содеррассе нного излучени ис25 иттри по прототипу и предлагае м способам. Эталонные пробы приготавливают на основе разных наполнителей (СаО, 51.0,) со следующим содер точника (К-серии А ); - интенсивность некогерент- жанием мешакидих и опр едел емых элено рассе нного излучени 30 ментовsHo i 0,0001%, Т 0,0001%, источника;:ZpO,1%VSr 0,3%, Nb 0,1%,

Когерентно рассе нное излучение моделируетс с помощью характеристического излучени ненасыщенной по 3J тол1цине мишени из элемента, энерги К-кра поглощени которого близка, но меньше энергии первичного излучени . При использовании изотопа Со -109 в качестве мишени выбран рутений.

,Hfc

J - интенсивность некогерентно рассе нного излучени источника с энергией 88,5 кэВ;

Klj,Kfct,I Mitl- посто нные коэффициенты, определ ющие вклад в область t -ой аналитической линии соответственно

аналитической линии J-ого 40 Соединение высаживаетс на фильтромешающего элемента, ко- геретно и некогерентно рассе нных квантов. Коэффициенты k L J , Кц1 1 нк1 определ ют вклад соответствующих излучений в аналитическую область, они завис т от интегральной загрузки спектрометра и геометрических условий проведени измерений.

Сущность изобретени состоит в создании условий наиболее точного измерени коэффициентов вклада путем приближени их к услови м анализа исследуемых проб и однозначного вцделени различных компонентов вторичного излучени . Дл этого изме

6882

ренне значени КIj , KHK.L и производ т при измерении эталонны:-; проб, содержащих мешающие элементы с такой поверхностной плотностью, котора обеспечивает интегральную загрузку спектрометра5 приблизительно равную интегральной загрузке, возникающей при анализе реальных проб. При этом форма элементов имеет

)ИЩ1ента К «1 определ ют при измерении мишени из элемента, энерги К -кра поглощени которого близкаJ но меньше энергии первичного излучени .

Пример . На установке, состо щей из кремний-литиевого ППД с размерами чувствительной области кристалла 80 мм X 4 мм, спектрометрического устройства СЭС 2-03,, многока- напьиого анализатора АИ-096-90, Са-109 активностью пор дка 10 мКюри, провод тс измерени фона на месте аналитических линий молибдена и

иттри по прототипу и предлагае м способам. Эталонные пробы приготавливают на основе разных наполнителей (СаО, 51.0,) со следующим содержанием мешакидих и опр едел емых элевальную бумагу, амекивую форму измерительной кюветы. Толщина осадка выбираетс из услови получени интегральной загрузки спектрометра приблизительно равной загрузке при анализе реаль ьш проб. Спектр вторичного излучени от мишени содержит практически только излучение К-серии , Результаты сведены в таблицу,

из которой видно, что точность определени фона существенно повьшаетс при определении о предлагаемым способом (М,рцо , Меру - рассчитанные значени фона на месте линий MoKet и

YKut McpMojNcpY измеренные значени фона.

Наполнитель

|По прототипу

/ ФУ NcpK /NcpMo U.Y ..

Claims

Формула изобретени

Способ определени фона в рентге- нофлуаресцентном анализе сложных по составу сред, заключакицийс в нахождении коэффициентов вклада в фон на месте аналитических линий определ емых элементов.отдельно от некогерент- ио и когерентно рассе нного первичного излучени , причем коэффициенты вклада от некогерентно рассе нного излучени и от мешаклцих элементов наход т по результатам измерени спектров вторичного излучени от эталонных проб, измерении интенсив- ностей некогерентно и когерентно рассе нного анализируемой пробой первичного излучени .и аналитических линий

Редактор И. Касарда Заказ 1943/42

Составитель М. Викторов

Техред В. Корректор А. Т ско

Тираж 778Подписное

ВНИИПИ-Государственного комитета СССР

по делам изобретений -к открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушска наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предпри тие, г.. Ужгород, ул. Проектна , 4

По предлагаемому способу

0

0

5

мешакицих элементов, по которым вычисл ют фон с учетом коэффициентов вклада , отличающийс тем, что, с целью повышени точности определени фона при многоэлементном анализе, приготавливают эталонные пробы в виде излучающих слоев с поверхностной плотностью, обеспечивающей интегральную-загрузку регистрирующей аппаратуры, приблизительно равг- ную интегральной разгрузке, возникающей при анализе реальных проб, и имеющих форму измерительной кюветы, а дл определени вклада в фон от когерентно рассе нного излучени используют мишень из элемента,энерги К-кра поглощени которого близка,но меньше энергии первичного излучени .