JPS59114456A - 磁気探傷装置 - Google Patents
磁気探傷装置Info
- Publication number
- JPS59114456A JPS59114456A JP22458782A JP22458782A JPS59114456A JP S59114456 A JPS59114456 A JP S59114456A JP 22458782 A JP22458782 A JP 22458782A JP 22458782 A JP22458782 A JP 22458782A JP S59114456 A JPS59114456 A JP S59114456A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- flaw detection
- inspected
- coils
- magnetic flux
- probe
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9013—Arrangements for scanning
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- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
ａ０発明の技術分野
本発明は磁気探傷装置に関り、特に固定した状態で回転
磁束を生ずるように複数個のコイルを配設し、この回転
磁束でもって被検材を励磁することにより、探傷を行う
ようにした磁気探傷装置に関する。
磁束を生ずるように複数個のコイルを配設し、この回転
磁束でもって被検材を励磁することにより、探傷を行う
ようにした磁気探傷装置に関する。
ｂ、従来技術およびその欠点
第１図（イ）及び（ロ）は、従来の磁気探傷装置の要部
の構成を示す説明図である。図において、１は例えば略
棒状又は略管状に形成した被検材、２は被検材１を励磁
するための励磁装置であってコア２１及びコイル２２よ
り構成されている。３は被検材１を探傷するためのプロ
ーブである。
の構成を示す説明図である。図において、１は例えば略
棒状又は略管状に形成した被検材、２は被検材１を励磁
するための励磁装置であってコア２１及びコイル２２よ
り構成されている。３は被検材１を探傷するためのプロ
ーブである。
而して、同図（イ）の場合は、励磁装置２及びプローブ
３を固定する一方、被検材１を回転させつつ探傷を行う
。また同図（ロ）の場合は、被検材１を固定する一方、
励磁装置２及びプローブ３を被検材１のまわりに回転さ
せつつ探傷を行う。そして、前者の場合には、被検材１
を所定の速度で回転させるための装置を必要とし、後者
の場合には、励磁装置２及びプローブ３を回転させるた
めの装置を必要とする。このため、従来の磁気探傷装置
は装置自体が大がかりになるほか、設計上の自由度が制
限されるという欠点があった。
３を固定する一方、被検材１を回転させつつ探傷を行う
。また同図（ロ）の場合は、被検材１を固定する一方、
励磁装置２及びプローブ３を被検材１のまわりに回転さ
せつつ探傷を行う。そして、前者の場合には、被検材１
を所定の速度で回転させるための装置を必要とし、後者
の場合には、励磁装置２及びプローブ３を回転させるた
めの装置を必要とする。このため、従来の磁気探傷装置
は装置自体が大がかりになるほか、設計上の自由度が制
限されるという欠点があった。
Ｃ０発明の目的
本発明は磁気探傷装置を設計する上での自由度を大きく
し得るとともに装置自体をコンパクトに構成し得る磁気
探傷装置を提供するにある。
し得るとともに装置自体をコンパクトに構成し得る磁気
探傷装置を提供するにある。
ｄ、実施例の説明
第２図は本発明に係る磁気探傷装置の要部の構成を示す
斜視図、第３図は第２図におけるＡ−Ａ線による断面図
である。図において、４１及び４２は被検材１′を励磁
するためのコイルであって、例えば矩形に形成されてい
る。そして、コイル４１及び４２は適宜の角度で交差し
た状態に配設されている。
斜視図、第３図は第２図におけるＡ−Ａ線による断面図
である。図において、４１及び４２は被検材１′を励磁
するためのコイルであって、例えば矩形に形成されてい
る。そして、コイル４１及び４２は適宜の角度で交差し
た状態に配設されている。
また、コイル４１及び４２の交差域に、被検材１′を挿
通ずるための略丸孔状の挿通孔４３が形成されている。
通ずるための略丸孔状の挿通孔４３が形成されている。
このため、コイル４１及び４２の巻線４１ａ、４２ａは
挿通孔４３の部分ではその両側を迂回するように巻回さ
れている。
挿通孔４３の部分ではその両側を迂回するように巻回さ
れている。
而して、巻線４１ａ及び４２ａの一端４１ｂ、４２ｂ及
び他端４１Ｃ及び４２Ｃは例えば三相交流電源５の供給
端子５ａ、５ｂ及び５Ｃに次のように接続される。即ち
、前記一端４１ｂは供給端子５ａに、他端４１Ｃ及び一
端４２ｂは供給端子５ｂに、他端４２Ｃは供給端子５Ｃ
にそれぞれ接続する。このため、コイル４１及び４２に
は位相差１２０°の交流電流がそれぞれ与えられる。な
お、コイル４１及び４２は第３図に示す如く、例えば５
５９−６０°の間の適宜の角度αで交差させである。こ
れＧＬ回転磁束の磁束密度を全周に亘って一様にするた
めである。
び他端４１Ｃ及び４２Ｃは例えば三相交流電源５の供給
端子５ａ、５ｂ及び５Ｃに次のように接続される。即ち
、前記一端４１ｂは供給端子５ａに、他端４１Ｃ及び一
端４２ｂは供給端子５ｂに、他端４２Ｃは供給端子５Ｃ
にそれぞれ接続する。このため、コイル４１及び４２に
は位相差１２０°の交流電流がそれぞれ与えられる。な
お、コイル４１及び４２は第３図に示す如く、例えば５
５９−６０°の間の適宜の角度αで交差させである。こ
れＧＬ回転磁束の磁束密度を全周に亘って一様にするた
めである。
６はプローブであって、挿通孔４３．４３内に挿通した
棒状又は管状の被検材１′を探傷すべく所要の位置に配
設されている。そして、プローブ６は適適宜の回転手段
により前記回転磁束の回転に同期して被検材１′の周囲
を走査される。
棒状又は管状の被検材１′を探傷すべく所要の位置に配
設されている。そして、プローブ６は適適宜の回転手段
により前記回転磁束の回転に同期して被検材１′の周囲
を走査される。
次に、上述の如く構成された本発明に係る磁気探傷装置
の要部の動作について説明する。
の要部の動作について説明する。
まづ、コイル４１及び４２に前記交流電流を供給する。
そうすると、コイル４１及び４２からは磁束を生じ、そ
の密度は交流電流の位相に関連して変化する。このため
、これらの磁束から挿通孔４３．４３を結ぶ線のまわり
に回転磁束を生ずる。そして、この状態の下で、挿通孔
４３ 、４３に被検材１′を挿通ずると、被検材１′は
前記回転磁束により軸方向欠陥の探傷に必要な所要の励
磁がなされる。なお、被検材１′の外面に例えば人形試
験片７を図示の如く貼着することにより、前記励磁を確
認し得る。そして、プローブ６は被検材１′の前記探傷
に必要な信号を出力し、この信号は図示しない所定の信
号処理装置に送られ、探傷が行われる。
の密度は交流電流の位相に関連して変化する。このため
、これらの磁束から挿通孔４３．４３を結ぶ線のまわり
に回転磁束を生ずる。そして、この状態の下で、挿通孔
４３ 、４３に被検材１′を挿通ずると、被検材１′は
前記回転磁束により軸方向欠陥の探傷に必要な所要の励
磁がなされる。なお、被検材１′の外面に例えば人形試
験片７を図示の如く貼着することにより、前記励磁を確
認し得る。そして、プローブ６は被検材１′の前記探傷
に必要な信号を出力し、この信号は図示しない所定の信
号処理装置に送られ、探傷が行われる。
ｅ、効果
本発明に係る磁気探傷装置は、位相の異なる交流電流を
与えられることにより、固定した状態で回転磁束を生ず
るように配設した複数個のコイルを具備しており、且つ
前記回転磁束により被検材を励磁するようにしたもので
あるので、被検材又は励磁装置そのものを回転させる必
要がない。このため、磁気探傷装置の設計上の自由度を
大きくし得るとともに、装置自体をコンパクトに構成し
得る。
与えられることにより、固定した状態で回転磁束を生ず
るように配設した複数個のコイルを具備しており、且つ
前記回転磁束により被検材を励磁するようにしたもので
あるので、被検材又は励磁装置そのものを回転させる必
要がない。このため、磁気探傷装置の設計上の自由度を
大きくし得るとともに、装置自体をコンパクトに構成し
得る。
なお、上記実施例ではコイル４１及び４２をそれぞれ１
個のコイルで構成したが、これに限らず、第４図に示す
如く２個（７） ：Ｉイ／Ｌ’４１’、 ４１’及ヒ４
２′、４２”ｆ−それぞれ平行に配設するとともに直列
に接続することによりコイル４１及び４２を構成するこ
ととしてもよい。この場合は、交差域４３′に被検材１
′を挿通する。
個のコイルで構成したが、これに限らず、第４図に示す
如く２個（７） ：Ｉイ／Ｌ’４１’、 ４１’及ヒ４
２′、４２”ｆ−それぞれ平行に配設するとともに直列
に接続することによりコイル４１及び４２を構成するこ
ととしてもよい。この場合は、交差域４３′に被検材１
′を挿通する。
また、上記実施例ではプローブ６を回転磁束の回転に同
期して被検材１′の周囲を走査させるようにしたが、こ
れに限らず、被検材１′の全周に複数個のプローブを配
設し、回転磁束の回転に同期して各プローブの検出信号
を切替えるようにしてもよい。
期して被検材１′の周囲を走査させるようにしたが、こ
れに限らず、被検材１′の全周に複数個のプローブを配
設し、回転磁束の回転に同期して各プローブの検出信号
を切替えるようにしてもよい。
第１図（イ）及び（ロ）は従来の磁気探傷装置の要部の
構成を示す説明図、第２図は本発明に係る磁気探傷装置
の要部の構成を示す斜視図、第３図は第２図におけるＡ
−Ａ線による断面図、第４図は本発明に係る磁気探傷装
置の他の実施例を示す断面図である。 １′・・・被検材、４１．４２・・・コイル、４３・・
・挿通孔、４３′・・・交差域、５・・・三相交流電源
、６・・・プローブ。 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人弁理士大西孝治
構成を示す説明図、第２図は本発明に係る磁気探傷装置
の要部の構成を示す斜視図、第３図は第２図におけるＡ
−Ａ線による断面図、第４図は本発明に係る磁気探傷装
置の他の実施例を示す断面図である。 １′・・・被検材、４１．４２・・・コイル、４３・・
・挿通孔、４３′・・・交差域、５・・・三相交流電源
、６・・・プローブ。 特許出願人 株式会社島津製作所 代理人弁理士大西孝治
Claims (1)
- （１）複数個のコイルを交差せしめ、その交差域に被検
材を挿通ずるとともに各コイルに位相の異なる交流電流
を与えて回転磁束を発生させ、この被検材を所定のプロ
ーブで探傷するようにしたことを特徴とする磁気探傷装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22458782A JPS59114456A (ja) | 1982-12-21 | 1982-12-21 | 磁気探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP22458782A JPS59114456A (ja) | 1982-12-21 | 1982-12-21 | 磁気探傷装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59114456A true JPS59114456A (ja) | 1984-07-02 |
Family
ID=16816066
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP22458782A Pending JPS59114456A (ja) | 1982-12-21 | 1982-12-21 | 磁気探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59114456A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59226858A (ja) * | 1983-06-07 | 1984-12-20 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 探傷装置 |
| WO1986001602A1 (en) * | 1984-08-29 | 1986-03-13 | Thorburn Technics (International) Ltd | Electromagnetic inspection |
| JPS62123352A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-04 | Nippon Steel Corp | 回転磁界型磁気探傷方法 |
| JPS62172258A (ja) * | 1986-01-24 | 1987-07-29 | Hara Denshi Sokki Kk | 漏洩磁束探傷装置 |
-
1982
- 1982-12-21 JP JP22458782A patent/JPS59114456A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59226858A (ja) * | 1983-06-07 | 1984-12-20 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 探傷装置 |
| JPH0376707B2 (ja) * | 1983-06-07 | 1991-12-06 | Sumitomo Metal Ind | |
| WO1986001602A1 (en) * | 1984-08-29 | 1986-03-13 | Thorburn Technics (International) Ltd | Electromagnetic inspection |
| JPS62123352A (ja) * | 1985-11-22 | 1987-06-04 | Nippon Steel Corp | 回転磁界型磁気探傷方法 |
| JPS62172258A (ja) * | 1986-01-24 | 1987-07-29 | Hara Denshi Sokki Kk | 漏洩磁束探傷装置 |
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