JPS63274859A - 渦流探傷コイル - Google Patents

渦流探傷コイル

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Publication number
JPS63274859A
JPS63274859A JP62109013A JP10901387A JPS63274859A JP S63274859 A JPS63274859 A JP S63274859A JP 62109013 A JP62109013 A JP 62109013A JP 10901387 A JP10901387 A JP 10901387A JP S63274859 A JPS63274859 A JP S63274859A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
coil
eddy current
flaw detection
coils
current flaw
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62109013A
Other languages
English (en)
Inventor
Iwao Kuroda
黒田 巖
Takashi Kunimoto
国本 隆
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Engineering Co Ltd, Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Engineering Co Ltd
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Publication of JPS63274859A publication Critical patent/JPS63274859A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は非破壊検査の手法の−っで、熱交換器の伝熱管
の保守検査等に適用される渦流探傷に係り、特に、欠陥
の検出性向上を図る上で好適な試験コイルに関する。
〔従来の技術〕
従来の試験コイルは、コイルボビンの長手軸に直交して
コイルが設置されている。このため、被試験材に内在す
る凹み、穴等の体積をもつ欠陥および長手方向欠陥に対
しては能率良く検出できるが、周方向の線状欠陥検出に
ついては考慮されていなかった。
〔発明が解決しようとする問題点〕
交流の電流を通じたコイルの中に試験材を挿入したり(
第5図)、あるいはそのコイルを管状試験材の中に挿入
すると(第6図)、それらの試験材に誘導電流が流れる
。この電流は均質な試験材では同心円を描いて流れるた
め、渦電流、あるいは渦流と呼ばれる(第7図(a))
試験材に材料きずなどの不連続部が存在すると渦電流の
分布が変動して、コイル内の磁場が変化し、コイルのイ
ンピーダンスが変化する。このインピーダンスの変化を
第4図のように構成した測定回路で、ブリッジ8の不平
衡電圧として測定することにより、材料きずなどの欠陥
を検出することができる。この方法は渦流探傷法と呼ば
れて。
一般に広く使用されている。
以下、本発明では、貫通コイル法(第5図)と内挿コイ
ル法(第6図)とは本質的に等価であるので以後は内挿
コイル法を例にとって説明する。
従来技術はいずれの場合も同形断面をもつ試験材内に同
心円形の電流が流れるため(第7図(a))試験材の長
手方向に伸展して存在する欠陥は、渦電流の流れに影響
を与えるため容易に検出されるが(第7図(b))周方
向(電流と同じ方向に伸展した欠陥(第7図(c)の5
)は、渦電流の流れを妨げないために、検出しにくいと
言う問題があった。
本発明の目的は、長手方向に伸展した欠陥はもとより周
方向に伸展した欠陥も同様に検出できる渦流探傷コイル
を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
上記目的を達するためには、渦電流の分布を円周方向か
ら、軸方向に傾けることによって、周方向に欠陥によっ
ても、その流れが遮られるようにすればよい。従って、
コイルをボビンに対して斜めに巻くことによって達成さ
れる。
〔作用〕
コイルボビンに斜めに設けたコイルによって誘起される
渦電流は試験材の軸方向に対して、傾いて分布して流れ
る第7図(D)。従って、従来の円周方向にのみ分布し
ていたために、殆ど影響を受けることが無かった周方向
の欠陥によっても、渦電流が遮られることになり、結果
的に試験コイル2のインピーダンスが変化して、欠陥の
検出が可能になる。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図(a)により説明する
。二箇のコイル2,3はボビン1の長手軸に対して斜め
に設置されており、本発明の斜め試験コイルの全体を構
成している。
第2図は周方向線状欠陥の探傷例を説明したものである
。試験材4の内側に挿入した斜め試験コイルに交流電圧
を印加するとコイル2,3と平行方向の渦電流6,7が
試験材4に発生する。
試験材4に周方向線状欠陥5が内存しているときはコイ
ル2による渦電流6の流れは周方向線状欠陥5によって
妨害され、これを迂回して流れるので、健全部の渦電流
7とに不平衡を生じる。
第3図は渦流探傷装置の構成例を示すもので、この不平
衡電流はブリッジ8により検出され、増幅器10によっ
て増幅された後、記録されるので欠陥を検出することが
できる。
本実施例によれば、管に内存する周方向線状欠陥(割れ
など)を容易に検出できる効果がある。
第1図(b)は貫通型コイルに実施した例でその効果は
(a)と同じである。
第8図(a)は欠陥の傾きとコイルの傾きが一致するこ
とによって、欠陥の検出性が低下することを避けるため
に、自己比較形の二個のコイルの傾きの向きを反対にし
た例。第8図の(b)は、二個のコイルのうち一個を、
軸方向に傾けた後。
さらに周方向に回転させたもので、これにより、殆ど全
ての傾きをもつ欠陥を検出することができる。
〔発明の効果〕
本発明によれば、金属製の管材、棒材に内在する周方向
線状欠陥を容易に検出することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の斜め試験コイルの全体図、
を示す。第2図は被試験材に内在する周方向線状欠陥の
探傷例を示す図、第3図は本発明による渦流探傷装置の
構成例を示す図、第4図は、一般的な試験コイルによる
探傷装置の構成例図、第5図、第6図は、公知の試験コ
イルの斜視図、第7図は、従来技術と比較して本発明の
詳細な説明図、第8図は、実施例の一つを示した説明図
である。 宅1図 (α〕 高1図 (−es) 高2−図 来3図 λ3

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、コイルボビンに一つのコイルまたは、二つ以上のコ
    イルを設けて構成される渦流探傷試験用コイルにおいて
    、 前記コイルを前記コイルボビンの軸に対して斜めに設け
    たことを特徴とする渦流探傷コイル。 2、二つ以上のコイルを設けた試験コイルにおいて、 前記コイルを傾ける方向を反対方向にしたことを特徴と
    する渦流探傷コイル。 3、特許請求の範囲第2項において、 一方のコイルを傾けた上にさらに周方向に回転させたこ
    とを特徴とする渦流探傷コイル。
JP62109013A 1987-05-06 1987-05-06 渦流探傷コイル Pending JPS63274859A (ja)

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Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63275951A (ja) * 1987-05-08 1988-11-14 Mitsui Petrochem Ind Ltd 金属探傷用プロ−ブ
US5638000A (en) * 1993-08-26 1997-06-10 Institut Dr. Friedrich Forster Method and apparatus for electro-magnetically testing elongated objects
JPH09171003A (ja) * 1995-12-20 1997-06-30 Mitsubishi Heavy Ind Ltd 管の渦電流探傷子及び探傷方法
JP2007303919A (ja) * 2006-05-10 2007-11-22 Tohoku Univ 誘導型交流電位を用いた非破壊検査装置
JP2009198213A (ja) * 2008-02-19 2009-09-03 Toshiba Corp 渦電流探傷プローブ及び渦電流探傷装置並びに渦電流探傷方法
WO2022054315A1 (ja) * 2020-09-10 2022-03-17 株式会社島津製作所 ワイヤロープ検査装置およびワイヤロープ検査システム

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