JPH03105245A - リモート・フイールド式渦流探傷用プローブ - Google Patents
リモート・フイールド式渦流探傷用プローブInfo
- Publication number
- JPH03105245A JPH03105245A JP24225889A JP24225889A JPH03105245A JP H03105245 A JPH03105245 A JP H03105245A JP 24225889 A JP24225889 A JP 24225889A JP 24225889 A JP24225889 A JP 24225889A JP H03105245 A JPH03105245 A JP H03105245A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- coil
- eddy current
- receiver coil
- tube
- flaw detection
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 12
- 239000000523 sample Substances 0.000 title claims abstract description 10
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 abstract description 16
- 230000006698 induction Effects 0.000 abstract 1
- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 3
- 238000009659 non-destructive testing Methods 0.000 description 2
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
- Measurement Of Length, Angles, Or The Like Using Electric Or Magnetic Means (AREA)
Abstract
め要約のデータは記録されません。
Description
ド式渦流深傷法の試験プローブに関する。
配置されていた。又、トランスミツタコイルの片側にレ
シーバコイルが数個、同一円周上に配置されていた。(
非破壊検査,第3分科会資料鬼3876及び&3877
) 〔発明が解決しようとする課題〕 上記従来技術は、どちらも、トランスミツタコイルの片
側にレシーバコイルを配置しているため,第5図に示す
ように、トランスミツタコイル1が管7に入って初めて
直接磁界3が一定に働き、これにより発生したうず電流
6の誘導磁界4がレシーバコイル2で検出される。すな
わち、管端8からレシーバコイル2までの距離11は探
傷不可範囲となる。
1がトランスミツタコイル1とレシーバコイル2の間に
ある場合、トランスミツタコイルエで発生する磁界3が
欠陥40の影響を受け、これに伴い、うず電流が減少し
、欠陥41の検出性が低下する問題があった。
ルの組合せ及び配置方法を変更することによりこの問題
を解決することにある。
,レシーパコイルー個の組合せを、トランスミツタコイ
ルー個,レシーバコイル二個又は、トランスミツタコイ
ル二個,レシーバコイルー個又は、トランスミツタコイ
ル二個,レシーバコイル二個の組合せとし、配置方法を
種々変更したものである。
タコイルも管内にあるような配置とし、トランスミツタ
コイルの一定の磁界により発生した一定のうず電流をレ
シーバコイルで受信するようにする。また、欠陥部が近
接した場合、トランスミツタコイルの磁界により発生し
たうず電流が片方の欠陥の影響を受けない配置とするよ
うにする。
図はトランスミツタコイル1の両側にレシーバコイル2
及びシーバコイル5を配置したリモート・フィールド式
渦流探傷用プローブである。
流探傷は通常一方向で深傷)、トランスミッタコイル1
が管7に入り、直接磁界3が管内のみ働いて、初めてう
ず電流6及びこれによって発生する誘導磁界4は一定と
なる。よってレシーバコイル2のみでは管端8からレシ
ーバコイル2まで、探傷不可範囲l1が生じる。尚、通
常、直接磁界3は管径の二倍までの領域で働き,その外
側はリモート・フィールド領域と呼ばれ、この領域にレ
シーバコイルが設置されている。
イル2の反対側に配置されたレシーバコイル5は、この
時点では管7の中に入っていない。
7に入った時は、既に、トランスミツタコイル1は一定
のうず電流10を発生しているので管端8から深傷可能
となる。
40,欠陥41、及び、同様の欠陥42,欠陥43を探
傷中の例である。第2図において,欠陥40がトランス
ミツタコイルエとレシーバコイル2の間にある時、トラ
ンスミツタコイル1により発生したうず電流4は欠陥4
0により減少し、欠陥41の検出性が低下する。しかし
、同様の状態である欠陥42,欠陥43は,トランスミ
ツタコイル1から発生したうず電流10i−1、欠陥4
3まで障害物が無いことから一定となり,欠陥43の検
出性は向上する。
バコイルの組合せ配置を、第3図に示すように、トラン
スミツタコイルエとレシーバコイル2の組合せに、更に
トランスミツタコイル21をレシーバコイル2をはさん
でトランスミツタコイル1の反対側に配置してもよい。
ーバコイルを二組とし、トランスミツタコイル31とレ
シーバコイル32をI一ランスミツタコイル1とレシー
バコイル2とは反対向きに配置してもよい。
した欠陥の検出性が向上する。
た欠陥の検出性が向上するので、検査精度の信頼性向上
に効果がある。
個とレシーバコイル2個の組合せ配置による管端部付近
の探傷例の説明図、第2図は間組合せによる近接した欠
陥の探傷例の説明図.第3図はトランスミツタコイル二
個とレシーバコイル一個の組合せ配置例図、第4図はト
ランスミツタコイルとレシーバコイルニ組の組合せ配置
例図、第5図は従来のトランスミツタコイルとレシーパ
コイルー組による管端付近の深傷例図、第6図は同配置
による近接した欠陥付近の深傷例図である。 1・・・トランスミツタコイル,2・・・レシーバコイ
ル、3・・・トランスミツタコイルからの磁界、4・・
・うず電流により発生した誘導磁界、5・・・レシーバ
コイル、6・・・うず電流、9・・・うず電流により発
生した磁界、10・・・うず電流。 第 3 図 第 4 図 第2図 第6図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1、励磁電流によつて磁界を発生させるトランスミッタ
コイルと、前記磁界によつて発生したうず電流の変化を
リモート・フィールド領域で検出するレシーバコイルよ
り構成されるリモート・フィールド式渦流探傷用プロー
ブにおいて、前記トランスミッタコイルの両側に前記レ
シーバコイルを配置したことを特徴とするリモート・フ
ィールド式渦流探傷用プローブ。 2、請求項1において前記レシーバコイルの両側に前記
トランスミッタコイルを配置したことを特徴とするリモ
ートフィールド式渦流探傷用プローブ。 3、請求項1において、二組の前記トランスミッタコイ
ルと前記レシーバコイルを用い、お互いの前記トランス
ミッタコイルと前記レシーバコイルの配置を逆にしたこ
とを特徴とするリモート・フィールド式渦流探傷用プロ
ーブ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24225889A JP2915014B2 (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | リモート・フイールド式渦流探傷用プローブ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP24225889A JP2915014B2 (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | リモート・フイールド式渦流探傷用プローブ |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH03105245A true JPH03105245A (ja) | 1991-05-02 |
JP2915014B2 JP2915014B2 (ja) | 1999-07-05 |
Family
ID=17086594
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP24225889A Expired - Lifetime JP2915014B2 (ja) | 1989-09-20 | 1989-09-20 | リモート・フイールド式渦流探傷用プローブ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2915014B2 (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04304658A (ja) * | 1991-04-02 | 1992-10-28 | Fuji Electric Co Ltd | 高耐圧半導体装置及びその製造方法 |
JPH0519954U (ja) * | 1991-08-28 | 1993-03-12 | 株式会社アドバンテスト | 磁界シールド効果測定器 |
JPH05222351A (ja) * | 1992-02-13 | 1993-08-31 | Hayakawa Rubber Co Ltd | 水膨張性材料及びその製造方法 |
JPH0587565U (ja) * | 1992-04-23 | 1993-11-26 | 三菱重工業株式会社 | リモートフィールド渦電流探傷子 |
JP2010038914A (ja) * | 2008-07-09 | 2010-02-18 | Toshiba Corp | リモートフィールド渦電流探傷プローブ |
-
1989
- 1989-09-20 JP JP24225889A patent/JP2915014B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04304658A (ja) * | 1991-04-02 | 1992-10-28 | Fuji Electric Co Ltd | 高耐圧半導体装置及びその製造方法 |
JPH0519954U (ja) * | 1991-08-28 | 1993-03-12 | 株式会社アドバンテスト | 磁界シールド効果測定器 |
JP2587703Y2 (ja) * | 1991-08-28 | 1998-12-24 | 株式会社アドバンテスト | 磁界シールド効果測定器 |
JPH05222351A (ja) * | 1992-02-13 | 1993-08-31 | Hayakawa Rubber Co Ltd | 水膨張性材料及びその製造方法 |
JPH0587565U (ja) * | 1992-04-23 | 1993-11-26 | 三菱重工業株式会社 | リモートフィールド渦電流探傷子 |
JP2010038914A (ja) * | 2008-07-09 | 2010-02-18 | Toshiba Corp | リモートフィールド渦電流探傷プローブ |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2915014B2 (ja) | 1999-07-05 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR100246244B1 (ko) | 자기탐상장치 | |
GB1567166A (en) | Apparatus and method for the non-destructive testing of ferromagnetic material | |
JPH03105245A (ja) | リモート・フイールド式渦流探傷用プローブ | |
US2877406A (en) | Non-destructive method and means for flaw detection | |
JP2666301B2 (ja) | 磁気探傷法 | |
JPH07311179A (ja) | 渦流探傷コイル | |
JPS6011493Y2 (ja) | 電磁誘導検知装置 | |
JPH10170481A (ja) | 渦流探傷装置 | |
JPH04296648A (ja) | 磁気探傷方法および装置 | |
JPS612065A (ja) | 渦流探傷装置 | |
JP3530472B2 (ja) | 棒鋼の傷検出装置 | |
JPH0339728Y2 (ja) | ||
JPH10318987A (ja) | 渦流探傷装置 | |
JPS6315153A (ja) | 物品を磁気的に記録検査する着磁装置 | |
JPH0639331Y2 (ja) | 渦流探傷用検出コイル | |
JPH0355099Y2 (ja) | ||
JPH08226913A (ja) | 渦電流探傷装置 | |
JPH075408Y2 (ja) | 金属探傷用プロ−ブ | |
JPS63138259A (ja) | 磁気探査法 | |
JPH05232088A (ja) | 漏洩磁束探傷法 | |
JPS59160750A (ja) | ストリツプの磁気探傷用磁化器 | |
CA1203008A (en) | Eddy current flaw detector | |
JPH06347447A (ja) | 渦流探傷方法及びその装置 | |
JPH10288606A (ja) | 回転型渦電流探傷プローブ | |
JPS62232558A (ja) | 渦流探傷による溶接部検査方法 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
S111 | Request for change of ownership or part of ownership |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313115 |
|
R350 | Written notification of registration of transfer |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080416 Year of fee payment: 9 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090416 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090416 Year of fee payment: 10 |
|
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100416 Year of fee payment: 11 |
|
EXPY | Cancellation because of completion of term | ||
FPAY | Renewal fee payment (event date is renewal date of database) |
Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100416 Year of fee payment: 11 |