JPH03105245A - リモート・フイールド式渦流探傷用プローブ - Google Patents

リモート・フイールド式渦流探傷用プローブ

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JPH03105245A
JPH03105245A JP24225889A JP24225889A JPH03105245A JP H03105245 A JPH03105245 A JP H03105245A JP 24225889 A JP24225889 A JP 24225889A JP 24225889 A JP24225889 A JP 24225889A JP H03105245 A JPH03105245 A JP H03105245A
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coil
eddy current
receiver coil
tube
flaw detection
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Katsumi Isaka
克己 井坂
Mitsuaki Shiraishi
白石 寧顕
Yoji Yoshida
吉田 洋司
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Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
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Hitachi Engineering Co Ltd
Hitachi Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は非破壊検査方法の一つであるリモートフィール
ド式渦流深傷法の試験プローブに関する。
〔従来の技術〕
従来,トランスミツタコイルの片側にレシーバコイルが
配置されていた。又、トランスミツタコイルの片側にレ
シーバコイルが数個、同一円周上に配置されていた。(
非破壊検査,第3分科会資料鬼3876及び&3877
) 〔発明が解決しようとする課題〕 上記従来技術は、どちらも、トランスミツタコイルの片
側にレシーバコイルを配置しているため,第5図に示す
ように、トランスミツタコイル1が管7に入って初めて
直接磁界3が一定に働き、これにより発生したうず電流
6の誘導磁界4がレシーバコイル2で検出される。すな
わち、管端8からレシーバコイル2までの距離11は探
傷不可範囲となる。
また、第6図に示すように、近接した欠陥40,欠陥4
1がトランスミツタコイル1とレシーバコイル2の間に
ある場合、トランスミツタコイルエで発生する磁界3が
欠陥40の影響を受け、これに伴い、うず電流が減少し
、欠陥41の検出性が低下する問題があった。
本発明の目的は、トランスミツタコイルとレシーバコイ
ルの組合せ及び配置方法を変更することによりこの問題
を解決することにある。
〔課題を解決するための手段〕
上記目的を達或するために、トランスミツタコイルー個
,レシーパコイルー個の組合せを、トランスミツタコイ
ルー個,レシーバコイル二個又は、トランスミツタコイ
ル二個,レシーバコイルー個又は、トランスミツタコイ
ル二個,レシーバコイル二個の組合せとし、配置方法を
種々変更したものである。
〔作用〕 レシーバコイルが管内にある間は、常に、トランスミッ
タコイルも管内にあるような配置とし、トランスミツタ
コイルの一定の磁界により発生した一定のうず電流をレ
シーバコイルで受信するようにする。また、欠陥部が近
接した場合、トランスミツタコイルの磁界により発生し
たうず電流が片方の欠陥の影響を受けない配置とするよ
うにする。
〔実施例〕
以下、本発明の一実施例を第1図により説明する。第1
図はトランスミツタコイル1の両側にレシーバコイル2
及びシーバコイル5を配置したリモート・フィールド式
渦流探傷用プローブである。
プローブを送り方向を左から右方向に仮定した場合(渦
流探傷は通常一方向で深傷)、トランスミッタコイル1
が管7に入り、直接磁界3が管内のみ働いて、初めてう
ず電流6及びこれによって発生する誘導磁界4は一定と
なる。よってレシーバコイル2のみでは管端8からレシ
ーバコイル2まで、探傷不可範囲l1が生じる。尚、通
常、直接磁界3は管径の二倍までの領域で働き,その外
側はリモート・フィールド領域と呼ばれ、この領域にレ
シーバコイルが設置されている。
しかし、トランスミツタコイル1をはさんでレシーバコ
イル2の反対側に配置されたレシーバコイル5は、この
時点では管7の中に入っていない。
更に、プローブを右方向に送り,レシーバコイル5が管
7に入った時は、既に、トランスミツタコイル1は一定
のうず電流10を発生しているので管端8から深傷可能
となる。
次に、第2図は、同じコイルの配置方法で近接した欠陥
40,欠陥41、及び、同様の欠陥42,欠陥43を探
傷中の例である。第2図において,欠陥40がトランス
ミツタコイルエとレシーバコイル2の間にある時、トラ
ンスミツタコイル1により発生したうず電流4は欠陥4
0により減少し、欠陥41の検出性が低下する。しかし
、同様の状態である欠陥42,欠陥43は,トランスミ
ツタコイル1から発生したうず電流10i−1、欠陥4
3まで障害物が無いことから一定となり,欠陥43の検
出性は向上する。
以上が一実例であるが,トランスミツタコイルとレシー
バコイルの組合せ配置を、第3図に示すように、トラン
スミツタコイルエとレシーバコイル2の組合せに、更に
トランスミツタコイル21をレシーバコイル2をはさん
でトランスミツタコイル1の反対側に配置してもよい。
又、第4図に示すように,トランスミッタコイルとレシ
ーバコイルを二組とし、トランスミツタコイル31とレ
シーバコイル32をI一ランスミツタコイル1とレシー
バコイル2とは反対向きに配置してもよい。
本実施例によれば、管端の深傷不可範囲が減少し、近接
した欠陥の検出性が向上する。
〔発明の効果〕 本発明によれば、管端の探傷不可範囲が減少し、近接し
た欠陥の検出性が向上するので、検査精度の信頼性向上
に効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例で,トランスミツタコイル{
個とレシーバコイル2個の組合せ配置による管端部付近
の探傷例の説明図、第2図は間組合せによる近接した欠
陥の探傷例の説明図.第3図はトランスミツタコイル二
個とレシーバコイル一個の組合せ配置例図、第4図はト
ランスミツタコイルとレシーバコイルニ組の組合せ配置
例図、第5図は従来のトランスミツタコイルとレシーパ
コイルー組による管端付近の深傷例図、第6図は同配置
による近接した欠陥付近の深傷例図である。 1・・・トランスミツタコイル,2・・・レシーバコイ
ル、3・・・トランスミツタコイルからの磁界、4・・
・うず電流により発生した誘導磁界、5・・・レシーバ
コイル、6・・・うず電流、9・・・うず電流により発
生した磁界、10・・・うず電流。 第 3 図 第 4 図 第2図 第6図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、励磁電流によつて磁界を発生させるトランスミッタ
    コイルと、前記磁界によつて発生したうず電流の変化を
    リモート・フィールド領域で検出するレシーバコイルよ
    り構成されるリモート・フィールド式渦流探傷用プロー
    ブにおいて、前記トランスミッタコイルの両側に前記レ
    シーバコイルを配置したことを特徴とするリモート・フ
    ィールド式渦流探傷用プローブ。 2、請求項1において前記レシーバコイルの両側に前記
    トランスミッタコイルを配置したことを特徴とするリモ
    ートフィールド式渦流探傷用プローブ。 3、請求項1において、二組の前記トランスミッタコイ
    ルと前記レシーバコイルを用い、お互いの前記トランス
    ミッタコイルと前記レシーバコイルの配置を逆にしたこ
    とを特徴とするリモート・フィールド式渦流探傷用プロ
    ーブ。
JP24225889A 1989-09-20 1989-09-20 リモート・フイールド式渦流探傷用プローブ Expired - Lifetime JP2915014B2 (ja)

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04304658A (ja) * 1991-04-02 1992-10-28 Fuji Electric Co Ltd 高耐圧半導体装置及びその製造方法
JPH0519954U (ja) * 1991-08-28 1993-03-12 株式会社アドバンテスト 磁界シールド効果測定器
JPH05222351A (ja) * 1992-02-13 1993-08-31 Hayakawa Rubber Co Ltd 水膨張性材料及びその製造方法
JPH0587565U (ja) * 1992-04-23 1993-11-26 三菱重工業株式会社 リモートフィールド渦電流探傷子
JP2010038914A (ja) * 2008-07-09 2010-02-18 Toshiba Corp リモートフィールド渦電流探傷プローブ

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04304658A (ja) * 1991-04-02 1992-10-28 Fuji Electric Co Ltd 高耐圧半導体装置及びその製造方法
JPH0519954U (ja) * 1991-08-28 1993-03-12 株式会社アドバンテスト 磁界シールド効果測定器
JP2587703Y2 (ja) * 1991-08-28 1998-12-24 株式会社アドバンテスト 磁界シールド効果測定器
JPH05222351A (ja) * 1992-02-13 1993-08-31 Hayakawa Rubber Co Ltd 水膨張性材料及びその製造方法
JPH0587565U (ja) * 1992-04-23 1993-11-26 三菱重工業株式会社 リモートフィールド渦電流探傷子
JP2010038914A (ja) * 2008-07-09 2010-02-18 Toshiba Corp リモートフィールド渦電流探傷プローブ

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