JPH0339728Y2 - - Google Patents

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JPH0339728Y2
JPH0339728Y2 JP5865687U JP5865687U JPH0339728Y2 JP H0339728 Y2 JPH0339728 Y2 JP H0339728Y2 JP 5865687 U JP5865687 U JP 5865687U JP 5865687 U JP5865687 U JP 5865687U JP H0339728 Y2 JPH0339728 Y2 JP H0339728Y2
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yoke
magnetic flux
sensor
temperature
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、磁気探傷装置または漏洩磁束探傷装
置等にて用いられる被破壊検査用の高周波交流磁
化ヨークに関する。
[従来の技術] 鋼管等の欠陥を検査する非破壊検査装置とし
て、磁気探傷装置または漏洩磁束探傷装置等があ
る。これらの非破壊検査装置は、高周波交流磁化
ヨークを用いて鋼管等の表面に磁束を流し、欠陥
部における磁束の乱れを捕えることによつて欠陥
の存在を検出する。ヨーク1は、第5図、第6図
に示されるように、珪素鋼板を積層した継鉄2
と、継鉄2に巻回される磁化コイル3からなり、
ヨーク支持板4に取付ボルト5にて取着される。
継鉄2は、取付ボルト5が挿通される取付孔6を
備えている。
第7図は上記ヨーク1を用いた漏洩磁束探傷装
置7を示す模式図である。漏洩磁束探傷装置7
は、鋼管8のパスラインまわりに回動する状態で
設置される円筒フレーム9と、円筒フレーム9の
内部に配設されるヨーク設定枠10とを有し、こ
のヨーク設定枠10にヨーク支持板4を位置調整
可能に保持している。
ここで、ヨーク1は、鋼管8の欠陥に起因して
生ずる漏洩磁束を検出するセンサ11を備えてい
る。センサ11は、フエライトコアとコイルとか
らなる検出素子12を有している。
すなわち、上記漏洩磁束探傷装置7は、鋼管8
がヨーク1の検出領域に入ると、不図示の制御器
が転送する鋼管外径設定信号に応じてヨーク支持
板4を移動させ、ヨーク1と鋼管8の表面とを所
定の間隔に設定する。この状態で磁化コイル3に
通電すると、鋼管8の表面に磁束を生ずる。そこ
で、円筒フレーム9を回転させながら鋼管8を搬
送する時、鋼管8の表面に欠陥8Aがあると、第
8図に示すように漏洩磁束を生ずる。したがつ
て、センサ11の検出素子12がこの漏洩磁束を
捕え、欠陥の存在を検出、すなわち探傷すること
となる。
ところで、ヨーク1は、該ヨーク1と鋼管8の
表面との間隔を一定に保つため、該ヨーク1の左
右の振れを防止する必要があり、第5図、第6図
に示すような4本の取付ボルト5によりヨーク支
持板4に確実に固定されている。すなわち、ヨー
ク1の継鉄2には4個の取付孔6が設けられる。
[考案が解決しようとする問題点] しかしながら、上記従来のヨーク1はその継鉄
2に4個の取付孔6を備え、各取付孔6は該継鉄
2に生ずる磁束Bに沿う複数(2本)の直線上に
位置する。したがつて、磁束直角方向にて相対す
る両取付孔6を含む面が磁束Bに直交することに
なり、磁化コイル3に高周波交流電流(例えば
8KHz)を通電する時、継鉄2には電磁誘導作用
による誘導電流iを生じ(第9図参照)、この渦
電流損による発熱を生ずる。これにより、ヨーク
1は高温となる。
上記のようにしてヨーク1が高温になる場合に
は、ヨーク1に付帯するセンサ11の検出素子1
2も高温となり、以下に述べるようにセンサ11
の検出精度が低下する。
第10図は漏洩磁束探傷においてヨーク1に付
帯して設けられるセンサ11の検出素子12を構
成するフエライトコアの温度と検出素子12の出
力電圧の関係を示す線図である。Aはキユーリー
点の低いフエライト、Bはキユーリー点の高いフ
エライトを示す。第10図によれば、温度略120
℃以下であれば、検出素子12の出力は略一定と
なり、安定した探傷精度で被破壊検査を行なうこ
とができる。これに対し、温度130℃以上ではフ
エライトコアが磁化の劣化を生じ、温度140℃以
上では検出素子12の作動が劣化する。
しかるに、センサ11を構成するフエライトコ
アの温度を上述の120℃以下に保つためには、セ
ンサ11を付帯して備えるヨーク1の温度を極力
120℃以下に押える必要がある。ところが、従来
のヨーク1は、前述した構造からなるため、使用
の経過とともに温度上昇して120℃以上の高温に
なる(第4図参照)。
そこで、従来のヨーク1にあつては、ヨーク1
の発熱によるセンサ11の検出精度低下を防止す
るため、ヨーク1の内部に冷却水を導入する方
法、ヨーク1に冷却水を散布する方法、ヨー
ク1を空冷する方法、ヨーク1に冷却フインを
取着する方法等を採用しており、構造が複雑化し
ている。
本考案は、渦電流損によるヨークの発熱を防止
してセンサの温度上昇を抑制し、簡素な構造によ
り検査精度を向上することを目的とする。
[問題点を解決するための手段] 本考案は、継鉄に磁化コイルを巻回し、被検体
の欠陥を検出するセンサを付帯して備えるととも
に、継鉄に取付孔を穿設してなる非破壊検査用の
高周波交流磁化ヨークにおいて、継鉄に穿設され
る取付孔が、該継鉄に生ずる磁束に沿う一直線上
にのみ位置するようにしたものである。
[作用] 本考案によれば、継鉄に設けられる取付孔は、
該継鉄に生ずる磁束に沿う一直線上にのみ位置す
る。したがつて、取付孔が1個もしくは2個以上
の複数である場合にも、磁化コイルに高周波交流
電流を通電する時、継鉄に電磁誘導作用による誘
導電流を生ずることなく、渦電流損による発熱が
抑制される。これにより、ヨークが付帯して備え
るセンサの温度上昇も抑制され、簡素な構造によ
り検査精度を向上できる。
[実施例] 第1図は本考案の実施例に係るヨークを示す正
面図、第2図は第1図の平面図である。
このヨーク21は、珪素鋼板を積層した継鉄2
2と、継鉄22に巻回される磁化コイル23とか
らなり、ヨーク支持板24に形成された取着凹部
25に継鉄22の底部を嵌着する状態で、単一の
取付ボルト26にて取着されている。継鉄22
は、取付ボルト26が挿通される単一の取付孔を
備える。継鉄22に設けられる取付孔27は単一
であるから、この取付孔27は継鉄22に生ずる
磁束Bに沿う一直線上にのみ位置することとな
る。なお、ヨーク支持板24の取着凹部25と継
鉄22の底部との間には磁化絶縁材28が介在さ
れている。
また、ヨーク21には、被検体の欠陥に起因し
て生ずる漏洩磁束を検出するセンサ29が不図示
のレバー等を介して付帯的に設けられている。セ
ンサ29は、フエライトコアとコイルとからなる
検出素子30を有している。
次に、上記実施例の作用について説明する。
上記ヨーク21の継鉄22に設けられる取付孔
27は、該継鉄22に生ずる磁束Bに沿う一直線
上にのみ位置するから、磁化コイル23に高周波
交流電流を通電しても継鉄22における誘導電流
の発生を抑制でき、渦電流損を防止できるので、
ヨーク21の発熱を抑制できる。したがつて、ヨ
ーク21に付帯して設けられるセンサ29の検出
素子30も温度上昇を抑制され、検出素子30を
構成するフエライトコアの磁化の劣化を招来する
ことなく、簡素な構成によりセンサ29による検
出精度を向上できる。
第4図は上記ヨーク21の磁化コイル23に
80KHzの高周波交流電流を通電した時のヨーク表
面温度を示す線図であり、比較例として前述の4
個の取付孔を備えたヨーク1におけるヨーク表面
温度を示している。本考案のヨーク21にあつて
は、ヨーク先端の表面温度が100℃、ヨーク底部
の表面温度が120℃以下で安定する。これに対し、
従来のヨーク1にあつては、その表面温度が140
〜160℃の高温となる。したがつて、本考案のヨ
ーク21によれば、ヨーク21の発熱によるセン
サ29のフエライトコア劣化や出力低下を生じな
いから、ヨーク21の冷却構造をともなうことな
く高い検査精度が確保できる。
第3図は本考案の変形例を示す斜視図である。
このヨーク21が前記ヨーク21と異なる点は、
継鉄22に生ずる磁束Bに沿う一直線上の2位置
に、2個の取付孔27A,27Bを設けたことに
ある。この場合にも、磁化コイル23に高周波交
流電流を通電する時、継鉄22に誘導電流を生ず
ることなく、渦電流損による発熱が抑制される。
なお、本考案の実施例において、継鉄に設けら
れる取付孔の加工は、かえり発生防止のため、ド
リルによるよりも放電加工が望ましい。また、ヨ
ーク固定法として、クランプ方法、接着方法を用
いることにより、取付孔の個数をできるだけ減ず
ることがよい。
[考案の効果] 以上のように、本考案によれば、継鉄に穿設さ
れる取付孔が、該継鉄に生ずる磁束に沿う一直線
上にのみ位置するようにしたので、渦電流損によ
るヨークの発熱を防止してセンサの温度上昇を抑
制し、簡素な構造により検査精度を向上できる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例に係るヨークを示す
正面図、第2図は第1図の平面図、第3図は本考
案の変形例を模式的に示す斜視図、第4図は要部
の使用経過にともなう表面温度の変化を示す線
図、第5図は従来例に係るヨークを示す正面図、
第6図は第5図の平面図、第7図は漏洩磁束探傷
装置を示す模式図、第8図は被検体の欠陥部に生
ずる漏洩磁束の検出状態を示す模式図、第9図は
被検体における誘導電流の発生状態を模式図に示
す斜視図、第10図は検出素子の温度上昇による
作動劣化状態を示す線図である。 21…ヨーク、22…継鉄、23…磁化コイ
ル、27…取付孔、29…センサ。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 継鉄に磁化コイルを巻回し、被検体の欠陥を検
    出するセンサを付帯して備えるとともに、継鉄に
    取付孔を穿設してなる被破壊検査用の高周波交流
    磁化ヨークにおいて、継鉄に穿設される取付孔
    が、該継鉄に生ずる磁束に沿う一直線上にのみ位
    置することを特徴とする被破壊検査用の高周波交
    流磁化ヨーク。
JP5865687U 1987-04-20 1987-04-20 Expired JPH0339728Y2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5865687U JPH0339728Y2 (ja) 1987-04-20 1987-04-20

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JP5865687U JPH0339728Y2 (ja) 1987-04-20 1987-04-20

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS63165566U JPS63165566U (ja) 1988-10-27
JPH0339728Y2 true JPH0339728Y2 (ja) 1991-08-21

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JP5865687U Expired JPH0339728Y2 (ja) 1987-04-20 1987-04-20

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JPS63165566U (ja) 1988-10-27

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