JPS62172258A - 漏洩磁束探傷装置 - Google Patents

漏洩磁束探傷装置

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JPS62172258A
JPS62172258A JP1344286A JP1344286A JPS62172258A JP S62172258 A JPS62172258 A JP S62172258A JP 1344286 A JP1344286 A JP 1344286A JP 1344286 A JP1344286 A JP 1344286A JP S62172258 A JPS62172258 A JP S62172258A
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magnetic flux
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JP1344286A
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Shoji Hayashibe
林部 昭治
Zenichi Sawada
沢田 善一
Michiaki Takahashi
高橋 道明
▲吉▼田 三男
Mitsuo Yoshida
Shigeyuki Nitta
新田 重幸
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HARA DENSHI SOKKI KK
Nippon Steel Corp
Eddio Corp
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HARA DENSHI SOKKI KK
Nippon Steel Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、全屈材料の製造現場における非破壊検査など
に用いられる漏洩磁束探傷装置に関する。
〔従来の技術〕
鋼管や棒鋼など円筒又は円柱状磁性材料の軸方向表層面
欠陥(シーム状割れ疵など)を連続的に検出する装置と
して、回転プローブ式渦流深傷装置及び回転ヘッド式漏
洩磁束探傷装置が実用されている。
漏洩磁束探傷装置は渦流探傷装置に比べて、磁気飽和を
必要としないことや、特に黒皮材におけるシーム状割れ
疵の検出能力が高いなど、有利な面が多い。
漏洩磁束探傷の原理は次の如きものである。第9図fa
)に示すように磁路を形成する磁性体に磁気的不連続部
(疵)が有ると磁束分布が乱れ、特に磁性体の表面又は
その近傍(表層面)に磁路と直交する割れ疵があると磁
束は磁性体内部において乱れるばかりでなく磁性体外部
に漏れる性質があり、外部に漏れる磁束の量は表層面割
れ疵の大きさく疵の深さや幅)に略比例する事が確かめ
られている。この漏洩磁束をセンサで検知すれば、表層
面欠陥の存在やその大きさを知ることができる。
回転ヘッド式漏洩磁束深傷装置の回転ヘッドは第9図(
blに示す如きもので、磁石(一般に電磁石)の磁極N
、Sを被検体の両側に配置して被検体を横断する磁束を
発生させ、該磁束の帰路を筒状ヨークにより形成すると
共に、該ヨークで磁極N。
S及びセンサを支持する。被検体の軸方向に延びる表層
面割れ疵は磁極N、Sの中間に位置するとき最も多くの
漏洩磁束を発生するので、漏洩磁束をピックアップする
センサはこの位置に配設する。
該センサ及び磁iN、S等を例えば矢印方向に回転しそ
して被検体をその軸方向に直進させることにより、被検
体表層面をスパイラル状に全面探傷することができる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
回転ヘッド式漏洩磁束深傷装置の欠点は、全て、磁穫お
よびセンサ等を機械的に回転させることに由来する。主
なものを列挙すると■装置(回転ヘッド等)が大損りな
ものになり、高価、■摺I!iJ+部(スリップリング
等)の寿命が短い、0回転数が機構上制約され、探傷速
度を上げられない、等である。本発明は機械的な回転は
行なわないようにして上記欠点を除き、且つ疵検当節は
機械的回転型と同等以上である漏I!!!磁束探傷装置
を提供しようとするものである。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明は、多相交流で励磁され、被検材を通される中空
円筒状回転磁界発生器と、該回転磁界発生器の円筒内壁
に沿って円周方向に配列された多数の漏洩磁束センサと
、該センサの各出力を前記回転磁界と同期させて順次サ
ンプリングする回路と、該回路の出力から疵情報以外の
成分を除去するバンドパスフィルタとを備えることを特
徴とするものである。
〔作用〕
上記装置では励磁磁界は機械的にではなく電気的に回転
するので、大損りになる機械的回転機構を必要とせず、
また高速回転も自在である(周波数及び又は穫数を変え
るだけでよい)。電気的な回転で、機構としては静止部
材でよいのでセン号数の増加も容易になり、センサリー
ド線の処理も簡単である(スリップリング又は回転トラ
ンスなどを必要としない)。またセンサ出力は最大検出
出力が得られるS/Hのよい点でサンプリングするので
、正確な圧検出を行なうことができ、このサンプリング
点は位相シフト回路により容易に調整できる。
〔実施例〕
第1図に示すように本発明では回転磁界発生器10を用
い、これにより回転ヘッドを機械的に回転させたと等価
にする。回転磁界発生器10は第4図に示すように巻線
12、鉄心14、円筒状外側支持体16、内側絶縁円筒
18を有し、内側絶縁円筒18内にセンサ一群20が収
容される。巻線12は2π/3ずつ離して置いた3個の
コイルからなり、3相交流で励磁されて回転磁界を発生
する。周知のようにこの回転磁界の回転数R(rpm)
は、極数をP、3相交流の周波数をf  (Hz)とし
てR=12Of/Pである。センサ一群20は第5図に
示すように内側絶縁円筒18の内壁に沿って円周方向に
一列に配列され、リード線群22によりコネクタ群24
に接続される。コネクタ群24は絶縁円筒18より大径
の円板上に配列され、素子間々隔が十分とれるようにし
である。センサとしてはホール素子、SMD (商品名
)、磁気抵抗素子、およびコイルなどの磁気検出素子で
あればいずれでもよく、また検出する磁束の向きは垂直
、水平いずれでもよい。第6図はセンサとしてコイルを
用い、漏洩磁界水平成分を検出する場合のコイル姿勢を
示す。垂直成分を検出する場合は、第6図(a)でコイ
ルを90’回転させ、水平状態にすればよい。
第1図ではセンサとしてコイルを用いている。
各コイル20a、20b、・・・・・・の一端は接地さ
れ、他端はリード線およびコネクタを介して増幅器32
a、32b、・・・・・・に接続される。各コイルは漏
洩磁束により誘起電圧を生じるので、被検体がない又は
被検体に疵がない場合誘起電圧は零であり、被検体に疵
があると、その疵の近傍のコイルの誘起電圧が最も高く
、それより離れるにつれて低(なる。第7図にこの状態
を示す。この図ではあるコイルnchが疵の直上にある
としており、(n −1) ch、  (n+1) c
hはコイルnchの左、右にあるコイル、(n−2) 
ch、  (n+2) chは更にその左、右にあるコ
イルを示し、以下これに準する。
なお回転磁界によってもコイルに誘起電圧が生じるが、
第7図ではこれは無視している。コイル誘起電圧を第9
図に示すように磁極N、Sの中間でサンプリングすると
、この状態では回転磁界はコイルと鎖交しないから、回
転磁界によるコイル誘起電圧は考えなくてよい。
第1図のアナログスイッチ34a、34b、・・・・・
・は上記のサンプリングを行なうものである。このスイ
ッチ34a、34.b、・・・・・・は例えば電界効果
トランジスタで構成され、リングカウンタ44の出力に
より開閉される。回転磁界を発生させる3相交流の1相
は降圧トランス38を介して位相シフト回路40に人力
し、こ−でO〜360°の範囲内の任意の位相に移相さ
れたのち位相ロック式の周波数てい倍器42に入力する
。コイル20a、2Qb、 ・・・・・・の個数をnと
すると、周波数てい倍器42はnてい倍を行ない、従っ
て3相交流の周波数をfとすればnfを出力してこれを
nステップ(n進)リングカウンタ44に供給する。
リングカウンタ44のスイッチ制御出力はn個あり、従
ってスイッチ34a、34b、・・・・・・は3相交流
の1周期の間に1回オンにされ、そのオンのタイミング
は位相シフト回路40により回転磁界のN、S極の中間
に自己のコイルが位置するときにされる。各スイッチの
オンである時間は3相交流の1周期であり、nは例えば
120である。第7図では各コイルのオン期間に斜線を
付して示す。
被検材に疵があるとコイルに誘起電圧があり、疵に対向
するコイルの誘起電圧が最大で、疵から離れるにつれて
誘起電圧は減少するが、サンプリングは各誘起電圧のピ
ーク点で1 / n周期に亘って行なわれる。
スイッチ34a、34b・・・・・・でサンプリングさ
れた各コイルの誘起電圧はバンドパスフィルタ36に加
えられ、ノイズ除去される。即ち被検材30の中心がセ
ンサ群20の中心と不一致である、または被検材が円形
断面でなく偏平または偏肉していると、無疵であっても
コイルに電圧が生じる。
この電圧は回転磁界と同−周期又は1/2程度の周期を
持ち、振幅は小さい。フィルタ36はこれを除去する。
こうしてノイズ除去されたフィルタ36の出力が本回路
の疵検出出力になる。
周波数てい倍器42はリングカウンタ44の出力が帰還
され、該カウンタの最終段出力パルスが位相シフト回路
40の出力正弦波の基準位相例えばゼロクロス点の位相
にロックされるようにする。
第2図は第1図の改良型で、第1図に更に打消し電圧発
生器46a、46b、・・・・・・差動増幅器48a、
48b、 ・・・・・・及びローパスフィルタ50a。
50b、・・・・・・が追加されている。これらは回転
磁界発生器の磁極や巻線の不揃い、あるいはセンサ群の
組立て不揃いなどに起因するセント固有の出力(これは
ノイズ)を消去する働きをする。増幅器32a、32b
、・・・・・・の出力は被検体がない場合、理想的には
零になるが実際には上記不揃いのため歪波出力がある。
これは各コイルまちまちであり、前記サンプリング処理
をした出力に不規則に残存し、ノイズとなる。ローパス
フィルタ50a、5Qb、・・・・・・は回転磁界と同
一周波数の正弦波を通過させ、その高調波成分を除去し
て上記歪波出力の低減を行なう。
ローパスフィルタ50a、50b、 ・・・・・・’c
 ’& 過した各コイルの出力正弦波もその振幅は各コ
イルにつきまちまらである。これは差動増幅器48a。
48b、・・・・・・及び打消し電圧発生器46a:、
46b、・・・・・・で相殺する。打消し電圧発生器は
回転磁界と同一周期で振1陥および位相が可変の正弦波
を発生するもので、これらの振幅及び位相は被検材がな
いときのフィルタ50a、50b、 ・・・・・・の出
力に合わせ、増幅器48a、48b、 ・・・・・・で
打消す。この振幅及び位相調整は人為的に行なう。
第3図は第2図を更に改良したもので、被検材の振動に
よるノイズを消去することができる。アナログスイッチ
52a、52b、・・・・・・および差動増幅器54が
そのための手段で、スイッチ52a。
52b、・・・・・・は1つづつずれてリングカウンタ
44の出力で制御される。即ちスイッチ52aは34b
と、52bは34Cと、−−52nは34aと同じ出力
でオンオフされ、スイッチ34a、34b、・・・・・
・の出力とスイッチ52a、52b、・・・・・・の出
力の差が増幅器54で求められ、致着がバンドパスフィ
ルタ36に加わる。
上記差のイメージを第8図で説明すると、コイル出力は
第8図fa)の棒グラフの如くで、差動増幅器54はこ
れらの隣接2出力A、Bの差を逐次求めるから(A−B
)出力は第8図fblの如くなる。
被検材の振動によるコイル出力変化は隣接2コイル(本
例では1周に120個のコイルを配設するからコイル間
隔は3°)では同じに現われるとしてよいから上記差演
算で消去され(A−B)出力の零クロス点が底位置とし
てよい。
回転磁界の発生は3相交流に限らず、任意のm個のコイ
ルを2π/mずらして配置してm相交流で励磁してもよ
く、本発明はが−る多相交流方式%式% 〔発明の効果〕 以上の説明から明らかなように、本発明では励磁磁界は
機械的にではなく電気的に回転するので、人生りになる
機械的回転機構を必要とせず、また高速回転も自在であ
る(周波数及び又は極数を変えるだけでよい)。電気的
な回転で、機構としては静止部材でよいのでセンサ数の
増加も容易になり、センサリード線の処理も簡単である
(スリップリング又は回転トランスなどを必要としない
)。
またセンサ出力は最大検出出力が得られるS/Hのよい
点でサンプリングするので、正確な疵検出を行なうこと
ができ、このサンプリング点は位相シフト回路により容
易に調整できる。更に打消し電圧による相殺、隣接2セ
ンサ出力の差出力を行なうことができ、これらによりノ
イズを除去して一層正確な疵検出を行なうことができる
【図面の簡単な説明】
第1図〜第3図は本発明の実施例を示す回路図、第4図
は回転磁界発生器の説明図で(alは端面図そして(b
)は側面図、第5図+8) (blはセンサ配列の説明
図で(alは端面図そして(b)は側面図、第6図はセ
ンサ配置状態の説明図で(a)は正面図そして(blは
側面図、第7図はセンサ出力の説明図、第8図(al 
(blは差出力の説明図、第9図(a) (blは漏洩
磁束探傷の説明図である。 図面で10は回転磁界発生器、20a、20b。 ・・・・・・はセンサ、34a、34.b、 ・・・・
・・及び40゜42.44.  はサンプリング回路、
36はバンドパスフィルタ、50a、50b、  ・・
・・・・はローパスフィルタ、46 a、  46 b
、 ・−・−・及びI!sa、48b、・・・・・・は
打消し回路、52a、52b、・・・・・・はもう1系
列のサンプリングスイッチ、54は差動増幅器である。 出 願 人  原電子測器株式会社 出 願 人  新日本製鐵株式会社 代理人弁理士  青  柳   稔 (Q) 外側支¥ゴ俸16 第4 (b)54 (A−8)水力 (の  浦浅14

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)多相交流で励磁され、被検材を通される中空円筒
    状回転磁界発生器と、 該回転磁界発生器の円筒内壁に沿って円周方向に配列さ
    れた多数の漏洩磁束センサと、 該センサの各出力を前記回転磁界と同期させて順次サン
    プリングする回路と、 該回路の出力から疵情報以外の成分を除去するバンドパ
    スフィルタとを備えることを特徴とする回転磁界式漏洩
    磁束探傷装置。
  2. (2)各センサの出力は、回転磁界と同一周波数の正弦
    波を抽出するローパスフィルタと、被検材がない状態で
    の該フィルタの出力を打消す回路を通した後、サンプリ
    ング回路へ入力するようにしてなることを特徴とする特
    許請求の範囲第1項記載の漏洩磁束探傷装置。
  3. (3)サンプリング回路は2系列設けられ、逐次隣接2
    センサの出力がサンプリングされ、差動増幅器でこれら
    の差が求められ、該差動増幅器の出力がバンドパスフィ
    ルタに入力されるようにしてなることを特徴とする特許
    請求の範囲第1項または第2項記載の漏洩磁束探傷装置
JP61013442A 1985-07-03 1986-01-24 漏洩磁束探傷装置 Expired - Lifetime JPH0635961B2 (ja)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61013442A JPH0635961B2 (ja) 1986-01-24 1986-01-24 漏洩磁束探傷装置
EP86904363A EP0228473B1 (en) 1985-07-03 1986-07-02 Apparatus for non-destructively inspecting flaw of metal materials utilizing magnetic field
US06/026,793 US4818935A (en) 1985-07-03 1986-07-02 Method and apparatus for non-destructively detecting defects in metal materials by using rotating magnetic fields generated by multiphase ac current
DE8686904363T DE3683619D1 (de) 1985-07-03 1986-07-02 Vorrichtung zur zerstoerungsfreien feststellung von rissen in metallischen materialien mit hilfe eines magnetischen feldes.
PCT/JP1986/000340 WO1987000287A1 (en) 1985-07-03 1986-07-02 Method and apparatus for non-destructively inspecting flaw of metal materials utilizing magnetic field

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP61013442A JPH0635961B2 (ja) 1986-01-24 1986-01-24 漏洩磁束探傷装置

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JPS62172258A true JPS62172258A (ja) 1987-07-29
JPH0635961B2 JPH0635961B2 (ja) 1994-05-11

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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