JP2000227420A - マルチプローブ型渦流探傷方法及び装置 - Google Patents
マルチプローブ型渦流探傷方法及び装置Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 従来の貫通型サーチコイルを用いた渦流探傷
法よりも高感度で且つ高いＳＮ比が得られる渦流探傷
法。 【解決手段】 被検査材１に近接する周方向に、各プロ
ーブが励磁コイルＭ及び検出コイルＤを含む２つのプロ
ーブＳ1 ，Ｓ2 を一定間隔で配置し、前記２つのプロー
ブＳ1 ，Ｓ2 の各励磁コイルＭ1 ，Ｍ2 に交流電流を発
振器３より供給して被検査材１に渦電流を発生させ、前
記２つのプローブＳ1 ，Ｓ2 の各検出コイルＤ1 ，Ｄ2
による誘起電圧ｅ1 ，ｅ2 の差分値ｅ0 を求め、このｅ
0 により欠陥を検出する。
法よりも高感度で且つ高いＳＮ比が得られる渦流探傷
法。 【解決手段】 被検査材１に近接する周方向に、各プロ
ーブが励磁コイルＭ及び検出コイルＤを含む２つのプロ
ーブＳ1 ，Ｓ2 を一定間隔で配置し、前記２つのプロー
ブＳ1 ，Ｓ2 の各励磁コイルＭ1 ，Ｍ2 に交流電流を発
振器３より供給して被検査材１に渦電流を発生させ、前
記２つのプローブＳ1 ，Ｓ2 の各検出コイルＤ1 ，Ｄ2
による誘起電圧ｅ1 ，ｅ2 の差分値ｅ0 を求め、このｅ
0 により欠陥を検出する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、円筒状又は丸棒状
導電体に存在する欠陥をマルチプローブを用いた渦流探
傷により検出する方法及び装置に関するものである。
導電体に存在する欠陥をマルチプローブを用いた渦流探
傷により検出する方法及び装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来、鋼管や丸棒鋼等の導電体に存在す
る欠陥を検査する方法として一般に知られているもの
に、超音波探傷法、磁気探傷法、渦流探傷法等がある。
超音波探傷法では、被検査材に対して、水や油等の接触
媒質を介して探触子を接触させて超音波を加え、欠陥部
からのエコー信号を測定することで、間接的に欠陥を検
出する。磁気探傷法では、磁性体の被検査材を強力な磁
石で磁化し、欠陥部における磁気抵抗の増加に起因し
て、外部に漏洩する磁束を磁気センサで検出し、この検
出値から間接的に欠陥を検出する。
る欠陥を検査する方法として一般に知られているもの
に、超音波探傷法、磁気探傷法、渦流探傷法等がある。
超音波探傷法では、被検査材に対して、水や油等の接触
媒質を介して探触子を接触させて超音波を加え、欠陥部
からのエコー信号を測定することで、間接的に欠陥を検
出する。磁気探傷法では、磁性体の被検査材を強力な磁
石で磁化し、欠陥部における磁気抵抗の増加に起因し
て、外部に漏洩する磁束を磁気センサで検出し、この検
出値から間接的に欠陥を検出する。
【０００３】渦流探傷法では、導電体の被検査材に交流
磁界を交差させ、この交流磁界によって被検査材に渦電
流を発生させる。そして被検査材の欠陥部における電気
抵抗又は磁気抵抗の変化によって、前記渦電流も変化す
る。この変化を電磁誘導法を用いて検出し、この検出値
から間接的に被検査材に存在する欠陥を検出することが
できる。この渦流探傷法は、被検査材と非接触で検査が
可能であるので、オンラインでの高速探傷に適した方法
である。
磁界を交差させ、この交流磁界によって被検査材に渦電
流を発生させる。そして被検査材の欠陥部における電気
抵抗又は磁気抵抗の変化によって、前記渦電流も変化す
る。この変化を電磁誘導法を用いて検出し、この検出値
から間接的に被検査材に存在する欠陥を検出することが
できる。この渦流探傷法は、被検査材と非接触で検査が
可能であるので、オンラインでの高速探傷に適した方法
である。
【０００４】図６は従来の貫通型サーチコイルを用いた
渦流探傷法の説明図である。図６において、１は鋼管や
丸棒鋼等の被検査材、２は貫通型サーチコイルである。
貫通型サーチコイル２は、被検査材１の軸方向に所定距
離隔てて設けられた第１のサーチコイル２ａと第２のサ
ーチコイル２ｂを含む。３は交流信号を発生する発振
器、４は移相器、５は交流ブリッジ、６は信号増幅器、
７は同期検波器、８は高域濾波器（以下ＨＰＦと記す）
である。図７は図６の第１、第２のサーチコイルの構造
を示す図であり、各サーチコイルは、それぞれ、貫通穴
２２を有するリング状ボビン２１の外周の溝に巻かれた
励磁コイルＭと検出コイルＤを有している。即ち第１の
サーチコイル２ａは励磁コイルＭａと検出コイルＤａを
有し、第２のサーチコイル２ｂは励磁コイルＭｂと検出
コイルＤｂを有している。従ってこの第１，第２のサー
チコイル２ａ，２ｂを含む貫通型サーチコイル２は、被
検査材１の軸方向に所定距離隔てた２箇所を周方向に同
時に交流励磁し、同時に渦電流の信号検出を行うことが
できる。
渦流探傷法の説明図である。図６において、１は鋼管や
丸棒鋼等の被検査材、２は貫通型サーチコイルである。
貫通型サーチコイル２は、被検査材１の軸方向に所定距
離隔てて設けられた第１のサーチコイル２ａと第２のサ
ーチコイル２ｂを含む。３は交流信号を発生する発振
器、４は移相器、５は交流ブリッジ、６は信号増幅器、
７は同期検波器、８は高域濾波器（以下ＨＰＦと記す）
である。図７は図６の第１、第２のサーチコイルの構造
を示す図であり、各サーチコイルは、それぞれ、貫通穴
２２を有するリング状ボビン２１の外周の溝に巻かれた
励磁コイルＭと検出コイルＤを有している。即ち第１の
サーチコイル２ａは励磁コイルＭａと検出コイルＤａを
有し、第２のサーチコイル２ｂは励磁コイルＭｂと検出
コイルＤｂを有している。従ってこの第１，第２のサー
チコイル２ａ，２ｂを含む貫通型サーチコイル２は、被
検査材１の軸方向に所定距離隔てた２箇所を周方向に同
時に交流励磁し、同時に渦電流の信号検出を行うことが
できる。
【０００５】図６を用い、従来の貫通型サーチコイルを
用いた渦流探傷法を説明する。被検査材１は図６の矢印
方向に搬送され、貫通型サーチコイル２の貫通穴内に挿
入される。発振器３は、交流信号を発生し、貫通型サー
チコイル２内の第１、第２のサーチコイル２ａ，２ｂ内
の各励磁コイルＭａ，Ｍｂにそれぞれ交流電流を供給し
て、交流磁界を発生させる。この交流磁界により被検査
材１の２箇所に周方向の渦電流が流れ、この電流値は、
被検査材１の電気的特性、磁気的特性、外径及び欠陥の
有無等によって変化する。従って、いま電気的特性、磁
気的特性及び外径が一定であり、２つの渦電流のうちの
一方は正常箇所から得られた電流で、他方は欠陥箇所か
ら得られた電流である場合に、２つのサーチコイル２
ａ，２ｂの各検出コイルＤａ，Ｄｂが検出した２つの電
流値の差分値を抽出して渦電流の変化を検出することに
より、間接的に被検査材１に存在する欠陥を検出でき
る。
用いた渦流探傷法を説明する。被検査材１は図６の矢印
方向に搬送され、貫通型サーチコイル２の貫通穴内に挿
入される。発振器３は、交流信号を発生し、貫通型サー
チコイル２内の第１、第２のサーチコイル２ａ，２ｂ内
の各励磁コイルＭａ，Ｍｂにそれぞれ交流電流を供給し
て、交流磁界を発生させる。この交流磁界により被検査
材１の２箇所に周方向の渦電流が流れ、この電流値は、
被検査材１の電気的特性、磁気的特性、外径及び欠陥の
有無等によって変化する。従って、いま電気的特性、磁
気的特性及び外径が一定であり、２つの渦電流のうちの
一方は正常箇所から得られた電流で、他方は欠陥箇所か
ら得られた電流である場合に、２つのサーチコイル２
ａ，２ｂの各検出コイルＤａ，Ｄｂが検出した２つの電
流値の差分値を抽出して渦電流の変化を検出することに
より、間接的に被検査材１に存在する欠陥を検出でき
る。
【０００６】図６では、貫通型サーチコイル２内の２つ
のサーチコイル２ａ、２ｂの各検出コイルＤａ，Ｄｂの
出力を交流ブリッジ５に入力させ、この交流ブリッジ５
により２つの渦電流の差分値を抽出し、この抽出出力を
信号増幅器６に加える。信号増幅器６は、入力信号を所
定の増幅率（例えば１０〜１００倍程度）で増幅しその
出力を同期検波器７の一方の入力端に加える。この同期
検波器７の他方の入力端には、発振器３の出力が移相器
４により、信号増幅器６の出力位相と同位相となる分だ
け移相された基準位相信号が供給され、この基準位相信
号を用いて信号増幅器６の出力信号の同期検波がなされ
る。同期検波器７の検波出力はＨＰＦ８に印加され、Ｈ
ＰＦ８は低周波成分のノイズを除去して高周波成分であ
る欠陥信号を出力する。そしてこの出力信号の振幅を測
定することにより欠陥の大きさを判別できる。
のサーチコイル２ａ、２ｂの各検出コイルＤａ，Ｄｂの
出力を交流ブリッジ５に入力させ、この交流ブリッジ５
により２つの渦電流の差分値を抽出し、この抽出出力を
信号増幅器６に加える。信号増幅器６は、入力信号を所
定の増幅率（例えば１０〜１００倍程度）で増幅しその
出力を同期検波器７の一方の入力端に加える。この同期
検波器７の他方の入力端には、発振器３の出力が移相器
４により、信号増幅器６の出力位相と同位相となる分だ
け移相された基準位相信号が供給され、この基準位相信
号を用いて信号増幅器６の出力信号の同期検波がなされ
る。同期検波器７の検波出力はＨＰＦ８に印加され、Ｈ
ＰＦ８は低周波成分のノイズを除去して高周波成分であ
る欠陥信号を出力する。そしてこの出力信号の振幅を測
定することにより欠陥の大きさを判別できる。
【０００７】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来の
貫通型サーチコイルを用いた渦流探傷法においては、被
検査材の外径よりも大きい貫通穴を有するサーチコイル
内に搬送される被検査材を挿入して探傷を行うため下記
の問題点があった。 （１）貫通型サーチコイルの励磁コイルは被検査材の外
周より周方向に励磁を行うため、渦電流と交差する軸方
向欠陥の検出は容易であるが、渦電流と同一方向である
周方向欠陥の検出には適していないという欠点があっ
た。 （２）被検査材の外径が増加すると、サーチコイルの貫
通穴及び外径を増加させる必要があるので、被検査材の
外径の増加に伴って欠陥に対する検出感度が低下し、所
期の検出能が得られなくなる。 （３）被検査材の局部的な漏肉や磁気的特性の変化によ
り大きなノイズが発生し、探傷性能が著しく悪化する。 （４）オンラインで被検査材の搬送時に、被検査材の振
動によるノイズが発生し、ＳＮ（信号対雑音）比が悪化
する。 （５）このため現在のＪＩＳ規格での欠陥検出能に比べ
て、実用上の検出性能が不足しており、さらに高い検出
能とＳＮ比の向上が要望されていた。
貫通型サーチコイルを用いた渦流探傷法においては、被
検査材の外径よりも大きい貫通穴を有するサーチコイル
内に搬送される被検査材を挿入して探傷を行うため下記
の問題点があった。 （１）貫通型サーチコイルの励磁コイルは被検査材の外
周より周方向に励磁を行うため、渦電流と交差する軸方
向欠陥の検出は容易であるが、渦電流と同一方向である
周方向欠陥の検出には適していないという欠点があっ
た。 （２）被検査材の外径が増加すると、サーチコイルの貫
通穴及び外径を増加させる必要があるので、被検査材の
外径の増加に伴って欠陥に対する検出感度が低下し、所
期の検出能が得られなくなる。 （３）被検査材の局部的な漏肉や磁気的特性の変化によ
り大きなノイズが発生し、探傷性能が著しく悪化する。 （４）オンラインで被検査材の搬送時に、被検査材の振
動によるノイズが発生し、ＳＮ（信号対雑音）比が悪化
する。 （５）このため現在のＪＩＳ規格での欠陥検出能に比べ
て、実用上の検出性能が不足しており、さらに高い検出
能とＳＮ比の向上が要望されていた。
【０００８】
【課題を解決するための手段】本発明の請求項１に係る
マルチプローブ型渦流探傷方法は、円筒状又は丸棒状導
電体に近接する周方向に、各プローブが励磁コイル及び
検出コイルを含む偶数のプローブを一定間隔で配置し、
また前記偶数の各プローブには、その配置に基づきそれ
ぞれ対となる相手方のプローブを決めておき、前記偶数
のプローブの各励磁コイルに交流電流を供給して前記導
電体に渦電流を発生させ、前記偶数のプローブのうちで
対と決められた２つのプローブ毎に、その２つの検出コ
イルによる検出信号の差分値をそれぞれ求め、この各差
分値により前記導電体の欠陥を検出するものである。
マルチプローブ型渦流探傷方法は、円筒状又は丸棒状導
電体に近接する周方向に、各プローブが励磁コイル及び
検出コイルを含む偶数のプローブを一定間隔で配置し、
また前記偶数の各プローブには、その配置に基づきそれ
ぞれ対となる相手方のプローブを決めておき、前記偶数
のプローブの各励磁コイルに交流電流を供給して前記導
電体に渦電流を発生させ、前記偶数のプローブのうちで
対と決められた２つのプローブ毎に、その２つの検出コ
イルによる検出信号の差分値をそれぞれ求め、この各差
分値により前記導電体の欠陥を検出するものである。
【０００９】本発明の請求項２に係るマルチプローブ型
渦流探傷方法は、円筒状又は丸棒状導電体の周方向の周
囲に、前記導電体が貫通できるリング状の励磁コイルを
設け、この励磁コイルの内側で前記導電体に近接する周
方向に偶数の検出コイルを一定間隔で配置し、また前記
偶数の各検出コイルには、その配置に基づきそれぞれ対
となる相手方の検出コイルを決めておき、前記励磁コイ
ルに交流電流を供給して前記導電体に渦電流を発生さ
せ、前記偶数の検出コイルのうちで対と決められた２つ
の検出コイル毎に、この２つの検出コイルによる検出信
号の差分値をそれぞれ求め、この各差分値により前記導
電体の欠陥を検出するものである。
渦流探傷方法は、円筒状又は丸棒状導電体の周方向の周
囲に、前記導電体が貫通できるリング状の励磁コイルを
設け、この励磁コイルの内側で前記導電体に近接する周
方向に偶数の検出コイルを一定間隔で配置し、また前記
偶数の各検出コイルには、その配置に基づきそれぞれ対
となる相手方の検出コイルを決めておき、前記励磁コイ
ルに交流電流を供給して前記導電体に渦電流を発生さ
せ、前記偶数の検出コイルのうちで対と決められた２つ
の検出コイル毎に、この２つの検出コイルによる検出信
号の差分値をそれぞれ求め、この各差分値により前記導
電体の欠陥を検出するものである。
【００１０】本発明の請求項３に係るマルチプローブ型
渦流探傷方法は、前記請求項１又は２に係るマルチプロ
ーブ型渦流探傷方法において求めた２つの検出コイルに
よる検出信号の各差分値は、それぞれ信号増幅後、前記
交流電流と同期させて個別に検波し、この各検波信号を
個別に入力して、高域濾波した信号をそれぞれ出力する
と共に低域濾波した信号もそれぞれ出力し、また前記高
域濾波とする際のカットオフ周波数及び低域濾波をする
際のカットオフ周波数を前記導電体を搬送する際の搬送
速度に対応してそれぞれ設定するようにしたものであ
る。
渦流探傷方法は、前記請求項１又は２に係るマルチプロ
ーブ型渦流探傷方法において求めた２つの検出コイルに
よる検出信号の各差分値は、それぞれ信号増幅後、前記
交流電流と同期させて個別に検波し、この各検波信号を
個別に入力して、高域濾波した信号をそれぞれ出力する
と共に低域濾波した信号もそれぞれ出力し、また前記高
域濾波とする際のカットオフ周波数及び低域濾波をする
際のカットオフ周波数を前記導電体を搬送する際の搬送
速度に対応してそれぞれ設定するようにしたものであ
る。
【００１１】本発明の請求項４に係るマルチプローブ型
渦流探傷方法は、前記請求項１又は２に係るマルチプロ
ーブ型渦流探傷方法において求めた２つの検出コイルに
よる検出信号の各差分値は、それぞれ信号増幅後、前記
交流電流と同期させて個別に検波し、この各検波信号を
前記導電体を搬送する際の搬送速度に対応する変換速度
で個別にデジタル信号に変換し、この各デジタル信号を
所定数だけ順次更新しながらそれぞれ記憶し、この記憶
した各所定数のデジタル信号のうちの前記導電体の所定
距離を隔てた２つのデジタル信号の差分値をそれぞれ求
め、この各差分値により導電体の欠陥を検出するもので
ある。
渦流探傷方法は、前記請求項１又は２に係るマルチプロ
ーブ型渦流探傷方法において求めた２つの検出コイルに
よる検出信号の各差分値は、それぞれ信号増幅後、前記
交流電流と同期させて個別に検波し、この各検波信号を
前記導電体を搬送する際の搬送速度に対応する変換速度
で個別にデジタル信号に変換し、この各デジタル信号を
所定数だけ順次更新しながらそれぞれ記憶し、この記憶
した各所定数のデジタル信号のうちの前記導電体の所定
距離を隔てた２つのデジタル信号の差分値をそれぞれ求
め、この各差分値により導電体の欠陥を検出するもので
ある。
【００１２】本発明の請求項５に係るマルチプローブ型
渦流探傷装置は、円筒状又は丸棒状導電体に近接する周
方向に一定間隔で配置される偶数のプローブであって、
この偶数の各プローブは、それぞれ励磁コイル及び検出
コイルを含むと共に、その配置に基づきそれぞれ対とな
る相手方のプローブが決められている前記偶数のプロー
ブと、交流信号を発生し、この発生した交流信号を前記
偶数のプローブの各励磁コイルに供給して前記導電体に
渦電流を発生させる交流発振器と、前記偶数のプローブ
のうちで対と決められた２つのプローブ毎に、この２つ
の検出コイルの出力端を逆相に直列接続し、その２つの
検出コイルによる検出信号の差分値をそれぞれ出力する
前記偶数の半数の差分値出力手段とを備えたものであ
る。
渦流探傷装置は、円筒状又は丸棒状導電体に近接する周
方向に一定間隔で配置される偶数のプローブであって、
この偶数の各プローブは、それぞれ励磁コイル及び検出
コイルを含むと共に、その配置に基づきそれぞれ対とな
る相手方のプローブが決められている前記偶数のプロー
ブと、交流信号を発生し、この発生した交流信号を前記
偶数のプローブの各励磁コイルに供給して前記導電体に
渦電流を発生させる交流発振器と、前記偶数のプローブ
のうちで対と決められた２つのプローブ毎に、この２つ
の検出コイルの出力端を逆相に直列接続し、その２つの
検出コイルによる検出信号の差分値をそれぞれ出力する
前記偶数の半数の差分値出力手段とを備えたものであ
る。
【００１３】本発明の請求項６に係るマルチプローブ型
渦流探傷装置は、円筒状又は丸棒状導電体の周方向の周
囲に設けられ、前記導電体が貫通できるリング状の励磁
コイルと、前記励磁コイルの内側で前記導電体に近接す
る周方向に一定間隔で配置される偶数の検出コイルであ
って、この偶数の各検出コイルには、その配置に基づき
それぞれ対となる相手方の検出コイルが決められている
前記偶数の検出コイルと、交流信号を発生し、この発生
した交流信号を前記リング状の励磁コイルに供給して前
記導電体に渦電流を発生させる交流発振器と、前記偶数
の検出コイルのうちで対と決められた２つの検出コイル
毎に、この２つの検出コイルの出力端を逆相に直列接続
し、その２つの検出コイルによる検出信号の差分値をそ
れぞれ出力する前記偶数の半数の差分値出力手段とを備
えたものである。
渦流探傷装置は、円筒状又は丸棒状導電体の周方向の周
囲に設けられ、前記導電体が貫通できるリング状の励磁
コイルと、前記励磁コイルの内側で前記導電体に近接す
る周方向に一定間隔で配置される偶数の検出コイルであ
って、この偶数の各検出コイルには、その配置に基づき
それぞれ対となる相手方の検出コイルが決められている
前記偶数の検出コイルと、交流信号を発生し、この発生
した交流信号を前記リング状の励磁コイルに供給して前
記導電体に渦電流を発生させる交流発振器と、前記偶数
の検出コイルのうちで対と決められた２つの検出コイル
毎に、この２つの検出コイルの出力端を逆相に直列接続
し、その２つの検出コイルによる検出信号の差分値をそ
れぞれ出力する前記偶数の半数の差分値出力手段とを備
えたものである。
【００１４】本発明の請求項７に係るマルチプローブ型
渦流探傷装置は、前記請求項５又は６に係るマルチプロ
ーブ型渦流探傷装置において、前記偶数の半数の各差分
値出力手段が出力する差分値をそれぞれ入力して個別に
信号増幅して出力する前記偶数の半数の信号増幅器と、
前記偶数の半数の各信号増幅器の出力信号をそれぞれ個
別に前記交流電流と同期させて検波する前記偶数の半数
の同期検波器と、前記偶数の半数の各同期検波器の出力
信号をそれぞれ入力して、前記導電体を搬送する際の搬
送速度に対応して設定されたカットオフ周波数により個
別に高域濾波した信号を出力する前記偶数の半数の高域
濾波器と、前記偶数の半数の各同期検波器の出力信号を
それぞれ入力して、前記導電体を搬送する際の搬送速度
に対応して設定されたカットオフ周波数により個別に低
域濾波した信号を出力する前記偶数の半数の低域濾波器
とを有するものである。
渦流探傷装置は、前記請求項５又は６に係るマルチプロ
ーブ型渦流探傷装置において、前記偶数の半数の各差分
値出力手段が出力する差分値をそれぞれ入力して個別に
信号増幅して出力する前記偶数の半数の信号増幅器と、
前記偶数の半数の各信号増幅器の出力信号をそれぞれ個
別に前記交流電流と同期させて検波する前記偶数の半数
の同期検波器と、前記偶数の半数の各同期検波器の出力
信号をそれぞれ入力して、前記導電体を搬送する際の搬
送速度に対応して設定されたカットオフ周波数により個
別に高域濾波した信号を出力する前記偶数の半数の高域
濾波器と、前記偶数の半数の各同期検波器の出力信号を
それぞれ入力して、前記導電体を搬送する際の搬送速度
に対応して設定されたカットオフ周波数により個別に低
域濾波した信号を出力する前記偶数の半数の低域濾波器
とを有するものである。
【００１５】本発明の請求項８に係るマルチプローブ型
渦流探傷装置は、前記請求項５又は６に係るマルチプロ
ーブ型渦流探傷装置において、前記偶数の半数の各差分
値出力手段が出力する差分値をそれぞれ入力して個別に
信号増幅して出力する前記偶数の半数の信号増幅器と、
前記偶数の半数の各信号増幅器の出力信号をそれぞれ個
別に前記交流電流と同期させて検波する前記偶数の半数
の同期検波器と、前記偶数の半数の各同期検波器の出力
信号をそれぞれ入力して、前記導電体を搬送する際の搬
送速度に対応する変換速度で個別にデジタル信号に変換
する前記偶数の半数のアナログ・デジタル変換器と、前
記偶数の半数の各アナログ・デジタル変換器の出力する
デジタル信号をそれぞれ入力して、この各デジタル信号
を所定数だけ順次更新しながら記憶し、この記憶した各
所定数のデジタル信号のうちの前記導電体の所定距離を
隔てた２つのデジタル信号の差分値をそれぞれ求め、こ
の各差分値により導電体の欠陥を検出する欠陥検出手段
とを有するものである。
渦流探傷装置は、前記請求項５又は６に係るマルチプロ
ーブ型渦流探傷装置において、前記偶数の半数の各差分
値出力手段が出力する差分値をそれぞれ入力して個別に
信号増幅して出力する前記偶数の半数の信号増幅器と、
前記偶数の半数の各信号増幅器の出力信号をそれぞれ個
別に前記交流電流と同期させて検波する前記偶数の半数
の同期検波器と、前記偶数の半数の各同期検波器の出力
信号をそれぞれ入力して、前記導電体を搬送する際の搬
送速度に対応する変換速度で個別にデジタル信号に変換
する前記偶数の半数のアナログ・デジタル変換器と、前
記偶数の半数の各アナログ・デジタル変換器の出力する
デジタル信号をそれぞれ入力して、この各デジタル信号
を所定数だけ順次更新しながら記憶し、この記憶した各
所定数のデジタル信号のうちの前記導電体の所定距離を
隔てた２つのデジタル信号の差分値をそれぞれ求め、こ
の各差分値により導電体の欠陥を検出する欠陥検出手段
とを有するものである。
【００１６】
【発明の実施の形態】本発明の実施の形態を説明する前
に、本発明に係るマルチプローブ型渦流探傷法の原理を
説明する。従来技術における貫通型サーチコイルは、被
検査材外面の全周を１個のリング状サーチコイルで検査
するため、前記の発明が解決しようとする課題に記載の
諸問題が未解決のままであった。
に、本発明に係るマルチプローブ型渦流探傷法の原理を
説明する。従来技術における貫通型サーチコイルは、被
検査材外面の全周を１個のリング状サーチコイルで検査
するため、前記の発明が解決しようとする課題に記載の
諸問題が未解決のままであった。
【００１７】図２は本発明に係るマルチプローブの構成
及び配置を説明する図である。図２において、１は被検
査材、Ｓ1 〜ＳN は複数Ｎ（但しＮは偶数とする）個の
プローブであり、各プローブＳi （ｉ＝１，２，３，…
Ｎ）は、それぞれ“コ”の字型ボビンＢi と、このボビ
ンＢi の一方の開口端に設けられた励磁コイルＭi と、
その他方の開口端に設けられた検出コイルＤi とにより
構成される。偶数Ｎ個のプローブは、図２の（ａ）に示
すように、被検査材１に近接する周方向に一定間隔で、
その向きは、図２の（ｂ）に示すように、励磁コイルＭ
i から検出コイルＤi への方向が被検査材１の軸方向と
一致するようにそれぞれ配置される。またこの偶数Ｎ個
の各プローブには、その配置に基づきそれぞれ対となる
相手方のプローブが予め決められている。従ってこの偶
数Ｎ個のプローブによって、従来の貫通型サーチコイル
１個分の機能を行うことになる。
及び配置を説明する図である。図２において、１は被検
査材、Ｓ1 〜ＳN は複数Ｎ（但しＮは偶数とする）個の
プローブであり、各プローブＳi （ｉ＝１，２，３，…
Ｎ）は、それぞれ“コ”の字型ボビンＢi と、このボビ
ンＢi の一方の開口端に設けられた励磁コイルＭi と、
その他方の開口端に設けられた検出コイルＤi とにより
構成される。偶数Ｎ個のプローブは、図２の（ａ）に示
すように、被検査材１に近接する周方向に一定間隔で、
その向きは、図２の（ｂ）に示すように、励磁コイルＭ
i から検出コイルＤi への方向が被検査材１の軸方向と
一致するようにそれぞれ配置される。またこの偶数Ｎ個
の各プローブには、その配置に基づきそれぞれ対となる
相手方のプローブが予め決められている。従ってこの偶
数Ｎ個のプローブによって、従来の貫通型サーチコイル
１個分の機能を行うことになる。
【００１８】即ち、図２のように被検査材１の外周に一
定間隔で配置された偶数Ｎ個の各プローブの励磁コイル
Ｍi に発振器（図示せず）から交流電流をそれぞれ供給
して、各プローブＳi 毎に局部的に交流磁界を発生させ
る。この交流磁界によって、被検査材１には、局部的な
渦電流がそれぞれ流れる。この渦電流の変化を抽出する
方法として、前記予め対として決められた２つのプロー
ブの検出コイルの検出信号の差分値を求める。
定間隔で配置された偶数Ｎ個の各プローブの励磁コイル
Ｍi に発振器（図示せず）から交流電流をそれぞれ供給
して、各プローブＳi 毎に局部的に交流磁界を発生させ
る。この交流磁界によって、被検査材１には、局部的な
渦電流がそれぞれ流れる。この渦電流の変化を抽出する
方法として、前記予め対として決められた２つのプロー
ブの検出コイルの検出信号の差分値を求める。
【００１９】ここでは、図２の（ａ）のように、被検査
材１の外周に一定間隔で配置された偶数Ｎ個の各プロー
ブについて、１つ置いた隣り毎のプローブを対とした例
を示す。即ちプローブのＳ1 とＳ3 ，Ｓ2 とＳ4 ，Ｓ5
とＳ7 ，Ｓ6 とＳ8 ，…をそれぞれ対として、これらの
対となった２つのプローブの検出コイルの検出信号の差
分値を求める。いまプローブＳ1 〜ＳN の各検出信号を
ｓ1 〜ｓn とすると、検出信号の差分値（ｓ1 〜
ｓ3 ），（ｓ2 〜ｓ4 ），（ｓ5 〜ｓ7 ），…（ｓn-2
〜ｓn ）を求めることになる。
材１の外周に一定間隔で配置された偶数Ｎ個の各プロー
ブについて、１つ置いた隣り毎のプローブを対とした例
を示す。即ちプローブのＳ1 とＳ3 ，Ｓ2 とＳ4 ，Ｓ5
とＳ7 ，Ｓ6 とＳ8 ，…をそれぞれ対として、これらの
対となった２つのプローブの検出コイルの検出信号の差
分値を求める。いまプローブＳ1 〜ＳN の各検出信号を
ｓ1 〜ｓn とすると、検出信号の差分値（ｓ1 〜
ｓ3 ），（ｓ2 〜ｓ4 ），（ｓ5 〜ｓ7 ），…（ｓn-2
〜ｓn ）を求めることになる。
【００２０】これは、前記の対となる２箇所のプローブ
で、同時に欠陥が検出される確率はきわめて小さく、一
方のプローブで欠陥を検出した場合、他方のプローブで
は正常を検出していることがきわめて多いという経験に
基いている。例えば、いま被検査材１の周方向又は軸方
向の欠陥がプローブＳ1 の下側に存在したとすると、プ
ローブＳ3 の下側は健全部である場合が多いので、２つ
の検出信号の差分値（ｓ1 〜ｓ3 ）を求めることで、プ
ローブＳ1 の下側の欠陥を検出することができる。
で、同時に欠陥が検出される確率はきわめて小さく、一
方のプローブで欠陥を検出した場合、他方のプローブで
は正常を検出していることがきわめて多いという経験に
基いている。例えば、いま被検査材１の周方向又は軸方
向の欠陥がプローブＳ1 の下側に存在したとすると、プ
ローブＳ3 の下側は健全部である場合が多いので、２つ
の検出信号の差分値（ｓ1 〜ｓ3 ）を求めることで、プ
ローブＳ1 の下側の欠陥を検出することができる。
【００２１】この偶数Ｎ個のプローブを用いることで、
１個のプローブの探傷範囲は、被検査材１の外径の１／
Ｎに限定され、被検査材１の周方向には、局部的なＮ個
の渦電流が流れ、この各渦電流は被検査材１の周方向に
も、軸方向にも流れるから、被検査材１の軸方向欠陥も
周方向欠陥も共に検出することができる。また１個のプ
ローブの探傷範囲が限定されることにより、各プローブ
が検出する、被検査材１の周方向に存在する局部的な電
気的、磁気的特性の変化や、外径、肉厚の変化等に基づ
くノイズが大幅に減少する。さらに被検査材１の周方向
に設けられた１つ置いた隣り毎の２つのプローブの検出
信号の差分値を抽出することで、ノイズの同相成分は除
去されるから、被検査材の搬送時に生じる振動に起因す
るノイズの大部分は除去され、高いＳＮ比が達成でき
る。
１個のプローブの探傷範囲は、被検査材１の外径の１／
Ｎに限定され、被検査材１の周方向には、局部的なＮ個
の渦電流が流れ、この各渦電流は被検査材１の周方向に
も、軸方向にも流れるから、被検査材１の軸方向欠陥も
周方向欠陥も共に検出することができる。また１個のプ
ローブの探傷範囲が限定されることにより、各プローブ
が検出する、被検査材１の周方向に存在する局部的な電
気的、磁気的特性の変化や、外径、肉厚の変化等に基づ
くノイズが大幅に減少する。さらに被検査材１の周方向
に設けられた１つ置いた隣り毎の２つのプローブの検出
信号の差分値を抽出することで、ノイズの同相成分は除
去されるから、被検査材の搬送時に生じる振動に起因す
るノイズの大部分は除去され、高いＳＮ比が達成でき
る。
【００２２】実施形態１ 図１は本発明の実施形態１に係るマルチプローブ型渦流
探傷法を説明する図であり、図の１は例えば鋼管や丸棒
鋼等の被検査材、Ｓ1 ，Ｓ2 は一対のプローブであり、
各プローブは図２で説明したプローブＳi と同一のもの
である。また３は交流信号を発生する発振器である。図
１の（ａ）は、被検査材１と一対のプローブＳ1 ，Ｓ2
の相互の位置関係を示しており、プローブＳ1 ，Ｓ
2 は、被検査材１の周方向にほぼ１／４周の間隔を設け
て、被検査材１に対してそれぞれ近接して配置される。
探傷法を説明する図であり、図の１は例えば鋼管や丸棒
鋼等の被検査材、Ｓ1 ，Ｓ2 は一対のプローブであり、
各プローブは図２で説明したプローブＳi と同一のもの
である。また３は交流信号を発生する発振器である。図
１の（ａ）は、被検査材１と一対のプローブＳ1 ，Ｓ2
の相互の位置関係を示しており、プローブＳ1 ，Ｓ
2 は、被検査材１の周方向にほぼ１／４周の間隔を設け
て、被検査材１に対してそれぞれ近接して配置される。
【００２３】図１の（ｂ）は、各プローブの構成を示し
ており、プローブＳ1 ，Ｓ2 は、“コ”の字型ボビンＢ
1 ，Ｂ2 と、このボビンの一方の開口端に巻かれた励磁
コイル（１次コイルともいう）Ｍ1 ，Ｍ2 と、その他方
の開口端に巻かれた検出コイル（２次コイルともいう）
Ｄ1 ，Ｄ2 とにより構成される。なお、このプローブＳ
1 ，Ｓ2 の向きは、図２の（ｂ）に示したように、励磁
コイルから検出コイルへの方向が被検査材１の軸方向と
一致するように配置される。
ており、プローブＳ1 ，Ｓ2 は、“コ”の字型ボビンＢ
1 ，Ｂ2 と、このボビンの一方の開口端に巻かれた励磁
コイル（１次コイルともいう）Ｍ1 ，Ｍ2 と、その他方
の開口端に巻かれた検出コイル（２次コイルともいう）
Ｄ1 ，Ｄ2 とにより構成される。なお、このプローブＳ
1 ，Ｓ2 の向きは、図２の（ｂ）に示したように、励磁
コイルから検出コイルへの方向が被検査材１の軸方向と
一致するように配置される。
【００２４】図１の（ｃ）は、一対のプローブＳ1 ，Ｓ
2 の励磁と信号検出の方法を示す回路図であり、図の
（ｃ）により実施形態１の動作を説明する。図１の
（ｂ）の構成による一対のプローブＳ1 ，Ｓ2 を、図の
（ａ）の配置図のように被検査材１に近接させて配置
し、各プローブＳ1 ，Ｓ2 の励磁コイルＭ 1 ，Ｍ2 に、
発振器３から交流電流を並列に供給する。この交流励磁
によって、２つの交流磁界が発生し、この２つの交流磁
界により被検査材１の２個所に渦電流が流れる。この２
箇所の渦電流をプローブＳ1 ，Ｓ 2 の検出コイルＤ1 ，
Ｄ2 がそれぞれ検出する。
2 の励磁と信号検出の方法を示す回路図であり、図の
（ｃ）により実施形態１の動作を説明する。図１の
（ｂ）の構成による一対のプローブＳ1 ，Ｓ2 を、図の
（ａ）の配置図のように被検査材１に近接させて配置
し、各プローブＳ1 ，Ｓ2 の励磁コイルＭ 1 ，Ｍ2 に、
発振器３から交流電流を並列に供給する。この交流励磁
によって、２つの交流磁界が発生し、この２つの交流磁
界により被検査材１の２個所に渦電流が流れる。この２
箇所の渦電流をプローブＳ1 ，Ｓ 2 の検出コイルＤ1 ，
Ｄ2 がそれぞれ検出する。
【００２５】いま被検査材１のプローブＳ1 の下側部分
とプローブＳ2 の下側（図１の（ａ）では横側）部分の
いずれにも欠陥が存在しない場合には、２つの検出コイ
ルＤ 1 ，Ｄ2 に誘起する電圧ｅ1 ，ｅ2 の値は相等し
い。（かりに、ｅ1 ，ｅ2 の値が等しくない場合には、
プローブＳ1 ，Ｓ2 と被検査材１との間の間隔等を調整
し、両電圧が等しくなるようにする）。そこで２つの検
出コイルＤ1 ，Ｄ2 の出力端を、その誘起電圧ｅ1 ，ｅ
2 が逆相として加算されるように（即ち差し引くよう
に）、直列に接続し、この直列接続回路の両端より出力
電圧ｅ0 を取り出すと、ｅ0 ＝ｅ1 −ｅ2 となり、この
場合に出力電圧ｅ0 は零ボルトになる（なお、初期調整
時には、ｅ0 が零ボルトになるように調整する）。
とプローブＳ2 の下側（図１の（ａ）では横側）部分の
いずれにも欠陥が存在しない場合には、２つの検出コイ
ルＤ 1 ，Ｄ2 に誘起する電圧ｅ1 ，ｅ2 の値は相等し
い。（かりに、ｅ1 ，ｅ2 の値が等しくない場合には、
プローブＳ1 ，Ｓ2 と被検査材１との間の間隔等を調整
し、両電圧が等しくなるようにする）。そこで２つの検
出コイルＤ1 ，Ｄ2 の出力端を、その誘起電圧ｅ1 ，ｅ
2 が逆相として加算されるように（即ち差し引くよう
に）、直列に接続し、この直列接続回路の両端より出力
電圧ｅ0 を取り出すと、ｅ0 ＝ｅ1 −ｅ2 となり、この
場合に出力電圧ｅ0 は零ボルトになる（なお、初期調整
時には、ｅ0 が零ボルトになるように調整する）。
【００２６】このように初期調整がなされた後の探傷
で、被検査材１のプローブＳ1 の下側部分またはプロー
ブＳ2 の下側部分のいずれかに欠陥が存在すると、２つ
の検出コイルＤ1 ，Ｄ2 に誘起される電圧値及び位相に
差が生じるため、この差分値に相当する出力電圧ｅ0 が
検出される。この出力電圧ｅ0 は、後述する図４又は図
５の計測回路により計測され、欠陥が高感度で且つ高い
ＳＮ比で検出される。
で、被検査材１のプローブＳ1 の下側部分またはプロー
ブＳ2 の下側部分のいずれかに欠陥が存在すると、２つ
の検出コイルＤ1 ，Ｄ2 に誘起される電圧値及び位相に
差が生じるため、この差分値に相当する出力電圧ｅ0 が
検出される。この出力電圧ｅ0 は、後述する図４又は図
５の計測回路により計測され、欠陥が高感度で且つ高い
ＳＮ比で検出される。
【００２７】実施形態２ 本発明の渦流探傷法を用いて高炭素系や特殊鋼等の強磁
性体の被検査材を検査する場合、被検査材の磁気的特性
の変化が大きいので、まず被検査材を飽和域まで磁化し
ないように、また検出コイルの誘起信号も飽和させない
ようにする必要がある。この場合の渦流探傷法を実施形
態２として図３に示す。図３は本発明の実施形態２に係
るマルチプローブ型渦流探傷法を説明する図であり、図
の１は強磁性体の被検査材、Ｄ1 ，Ｄ2 ，Ｄ3 …Ｄ
N （但しＮは偶数とする）は空芯型の検出コイル、１１
は貫通型励磁コイル、３は発振器である。またこの偶数
Ｎ個の各検出コイルには、その配置に基づき対となる相
手方の検出コイルが予め決められており、ここでは図２
の場合と同様に、１つ置いた隣り毎の検出コイルを対と
した例を示す。
性体の被検査材を検査する場合、被検査材の磁気的特性
の変化が大きいので、まず被検査材を飽和域まで磁化し
ないように、また検出コイルの誘起信号も飽和させない
ようにする必要がある。この場合の渦流探傷法を実施形
態２として図３に示す。図３は本発明の実施形態２に係
るマルチプローブ型渦流探傷法を説明する図であり、図
の１は強磁性体の被検査材、Ｄ1 ，Ｄ2 ，Ｄ3 …Ｄ
N （但しＮは偶数とする）は空芯型の検出コイル、１１
は貫通型励磁コイル、３は発振器である。またこの偶数
Ｎ個の各検出コイルには、その配置に基づき対となる相
手方の検出コイルが予め決められており、ここでは図２
の場合と同様に、１つ置いた隣り毎の検出コイルを対と
した例を示す。
【００２８】図３の（ａ）は、被検査材１と、偶数個の
検出コイルＤ1 ，Ｄ2 ，Ｄ3 …ＤNと、貫通型励磁コイ
ル１１との相互の位置関係を示しており、各検出コイル
Ｄ1，Ｄ2 ，Ｄ3 …ＤN は貫通型励磁コイル１１の内側
で、被検査材１に近接する周方向に一定間隔を設けて配
置される。そして各検出コイルＤ1 ，Ｄ2 ，Ｄ3 …Ｄ N
により形成されるリングの内側に被検査材１を挿入す
る。図３の（ｂ）は、貫通型励磁コイルの励磁と信号検
出の方法を示す回路図であり、同図により実施形態２の
動作を説明する。
検出コイルＤ1 ，Ｄ2 ，Ｄ3 …ＤNと、貫通型励磁コイ
ル１１との相互の位置関係を示しており、各検出コイル
Ｄ1，Ｄ2 ，Ｄ3 …ＤN は貫通型励磁コイル１１の内側
で、被検査材１に近接する周方向に一定間隔を設けて配
置される。そして各検出コイルＤ1 ，Ｄ2 ，Ｄ3 …Ｄ N
により形成されるリングの内側に被検査材１を挿入す
る。図３の（ｂ）は、貫通型励磁コイルの励磁と信号検
出の方法を示す回路図であり、同図により実施形態２の
動作を説明する。
【００２９】発振器３から貫通型励磁コイル１１に交流
電流を供給して、被検査材１の周方向に一様な渦電流を
流す。被検査材１に欠陥が存在しない場合は、この励磁
状態において、各空芯型検出コイルＤ1 ，Ｄ2 ，Ｄ3 …
ＤN がそれぞれ検出する電圧ｅ1 ，ｅ2 ，ｅ3 …ｅN の
値は、等しい値になる。そして予め対として決められた
１つ置いた隣りの２つの検出コイル毎に、その誘起電圧
が逆相として加算されるように直列に接続し、この直列
接続回路の両端より出力電圧を取り出すと（図３の
（ａ）では、出力電圧ｅ0 ＝ｅ1 −ｅ3 として示す）、
この欠陥が存在しない場合の出力電圧は零ボルトになる
（かりに零ボルトでない場合には、各検出コイルの取付
位置等を調整して、零ボルトになるようにする。）。
電流を供給して、被検査材１の周方向に一様な渦電流を
流す。被検査材１に欠陥が存在しない場合は、この励磁
状態において、各空芯型検出コイルＤ1 ，Ｄ2 ，Ｄ3 …
ＤN がそれぞれ検出する電圧ｅ1 ，ｅ2 ，ｅ3 …ｅN の
値は、等しい値になる。そして予め対として決められた
１つ置いた隣りの２つの検出コイル毎に、その誘起電圧
が逆相として加算されるように直列に接続し、この直列
接続回路の両端より出力電圧を取り出すと（図３の
（ａ）では、出力電圧ｅ0 ＝ｅ1 −ｅ3 として示す）、
この欠陥が存在しない場合の出力電圧は零ボルトになる
（かりに零ボルトでない場合には、各検出コイルの取付
位置等を調整して、零ボルトになるようにする。）。
【００３０】このように初期調整がなされた後の探傷
で、被検査材１の検出コイルＤ1 またはＤ3 のいずれか
の下側部分に欠陥が存在すると、検出コイルＤ1 とＤ3
がそれぞれ検出する渦電流に基づく検出電圧ｅ1 とｅ3
が等しくなくなるので、この２つの検出電圧の差分値で
ある出力電圧ｅ0 を抽出し、この抽出電圧ｅ0 を、後述
する図４又は図５の計測回路により計測し、欠陥の検出
を行うことができる。
で、被検査材１の検出コイルＤ1 またはＤ3 のいずれか
の下側部分に欠陥が存在すると、検出コイルＤ1 とＤ3
がそれぞれ検出する渦電流に基づく検出電圧ｅ1 とｅ3
が等しくなくなるので、この２つの検出電圧の差分値で
ある出力電圧ｅ0 を抽出し、この抽出電圧ｅ0 を、後述
する図４又は図５の計測回路により計測し、欠陥の検出
を行うことができる。
【００３１】図４は本発明の実施形態１、２に係る検出
部を除く第１の計測回路を示す図であり、図の３，４及
び６〜８は図６と同一のものである。図４において、９
は低域濾波器（以下ＬＰＦと書す）、１２は制御信号発
生器であり、検査ラインに設置され、被検査材の移動速
度に対応したパルス数を発生するエンコーダの出力を入
力し、ＨＰＦ８及びＬＰＦ９のカットオフ周波数を制御
する信号を発生するものである。
部を除く第１の計測回路を示す図であり、図の３，４及
び６〜８は図６と同一のものである。図４において、９
は低域濾波器（以下ＬＰＦと書す）、１２は制御信号発
生器であり、検査ラインに設置され、被検査材の移動速
度に対応したパルス数を発生するエンコーダの出力を入
力し、ＨＰＦ８及びＬＰＦ９のカットオフ周波数を制御
する信号を発生するものである。
【００３２】図４の計測回路と図１の（ｃ）の検出部と
を接続した場合について説明する。図４の発振器３は図
１の励磁コイルＭ1 及びＭ2 に交流電流を供給し、各励
磁コイルＭ1 ，Ｍ2 は、それぞれ交流磁界を発生して、
被検査材１に渦電流を発生させる。検出コイルＤ1 及び
Ｄ2 を図１の（ｃ）に示したように、各誘起電圧を逆相
で加算するように直列接続し、この直列接続回路の出力
電圧ｅ0 を図４の信号増幅器６に入力して所定振幅値と
なるまで増幅する。信号増幅器６の出力電圧は、図６で
説明したように、移相器４の出力する基準位相信号を用
いて同期検波器７により同期検波される。この同期検波
器７の検波出力はＨＰＦ８とＬＰＦ９に供給される。ま
たＨＰＦ８とＬＰＦ９には、制御信号発生器１２からの
制御信号により、各々のカットオフ周波数が、ライン速
度に追従して設定される。
を接続した場合について説明する。図４の発振器３は図
１の励磁コイルＭ1 及びＭ2 に交流電流を供給し、各励
磁コイルＭ1 ，Ｍ2 は、それぞれ交流磁界を発生して、
被検査材１に渦電流を発生させる。検出コイルＤ1 及び
Ｄ2 を図１の（ｃ）に示したように、各誘起電圧を逆相
で加算するように直列接続し、この直列接続回路の出力
電圧ｅ0 を図４の信号増幅器６に入力して所定振幅値と
なるまで増幅する。信号増幅器６の出力電圧は、図６で
説明したように、移相器４の出力する基準位相信号を用
いて同期検波器７により同期検波される。この同期検波
器７の検波出力はＨＰＦ８とＬＰＦ９に供給される。ま
たＨＰＦ８とＬＰＦ９には、制御信号発生器１２からの
制御信号により、各々のカットオフ周波数が、ライン速
度に追従して設定される。
【００３３】ＨＰＦ８は、入力信号から前記設定された
カットオフ周波数以上の成分を抽出して第１出力として
出力するので、この第１出力では高周波信号成分の多い
ホール性欠陥や周方向欠陥を効率よく検出することがで
きる。またＬＰＦ９は、入力信号から前記設定されたカ
ットオフ周波数以下の成分を抽出して第２出力として出
力するので、この第２出力では低周波数信号成分の多い
被検査材１の軸方向に長い欠陥を効率良く検出すること
ができる。
カットオフ周波数以上の成分を抽出して第１出力として
出力するので、この第１出力では高周波信号成分の多い
ホール性欠陥や周方向欠陥を効率よく検出することがで
きる。またＬＰＦ９は、入力信号から前記設定されたカ
ットオフ周波数以下の成分を抽出して第２出力として出
力するので、この第２出力では低周波数信号成分の多い
被検査材１の軸方向に長い欠陥を効率良く検出すること
ができる。
【００３４】なお図４の計測回路は、一対のサーチコイ
ルＳ1 ，Ｓ2 で探傷をする場合のものとして説明したの
で、複数Ｍ対のサーチコイルで並列探傷を行う場合に
は、信号増幅器６、同期検出器７、ＨＰＦ８及びＬＰＦ
９はＭ個だけ必要となる。さらに図４では、同期検出出
力に対してＨＰＦ８及びＬＰＦ９を用いた処理理方法を
説明したが、一対の帯域濾波器（以下ＢＰＦと書す）を
用いて、一方のＢＰＦは、ホール性欠陥や周方向欠陥を
検出するために高域のＢＰＦとし、他方のＢＰＦは、軸
方向性欠陥を検出対象とする低域のＢＰＦとしても、同
様の目的を達することができる。
ルＳ1 ，Ｓ2 で探傷をする場合のものとして説明したの
で、複数Ｍ対のサーチコイルで並列探傷を行う場合に
は、信号増幅器６、同期検出器７、ＨＰＦ８及びＬＰＦ
９はＭ個だけ必要となる。さらに図４では、同期検出出
力に対してＨＰＦ８及びＬＰＦ９を用いた処理理方法を
説明したが、一対の帯域濾波器（以下ＢＰＦと書す）を
用いて、一方のＢＰＦは、ホール性欠陥や周方向欠陥を
検出するために高域のＢＰＦとし、他方のＢＰＦは、軸
方向性欠陥を検出対象とする低域のＢＰＦとしても、同
様の目的を達することができる。
【００３５】図５は本発明の実施形態１，２に係る検出
部を除く第２の計測回路を示す図であり、図の３，４，
６及び７は図４と同一のものである。また図５の１３は
制御信号発生器、１４はＡ／Ｄ変換器、１５はコンピュ
ータである。図５においては、制御信号発生器１３に
は、被検査材の移動速度に対応したパルス数を発生する
エンコーダの出力が入力され、被検査材が一定距離移動
する毎に制御信号をＡ／Ｄ変換器１４及びコンピュータ
１５に出力する。同期検波器７の出力電圧は、Ａ／Ｄ変
換器１４に供給され、Ａ／Ｄ変換器１４は、制御信号発
生器１３から供給される制御信号（前記移動速度に同期
した制御信号）毎に、入力アナログ信号をデジタルデー
タに変換して、コンピュータ１５に供給する。
部を除く第２の計測回路を示す図であり、図の３，４，
６及び７は図４と同一のものである。また図５の１３は
制御信号発生器、１４はＡ／Ｄ変換器、１５はコンピュ
ータである。図５においては、制御信号発生器１３に
は、被検査材の移動速度に対応したパルス数を発生する
エンコーダの出力が入力され、被検査材が一定距離移動
する毎に制御信号をＡ／Ｄ変換器１４及びコンピュータ
１５に出力する。同期検波器７の出力電圧は、Ａ／Ｄ変
換器１４に供給され、Ａ／Ｄ変換器１４は、制御信号発
生器１３から供給される制御信号（前記移動速度に同期
した制御信号）毎に、入力アナログ信号をデジタルデー
タに変換して、コンピュータ１５に供給する。
【００３６】コンピュータ１５は、入力されるデジタル
データを所定数だけ順次更新しながら内蔵メモリに記憶
し、この記憶した所定数のデジタルデータのうちの被検
査材の所定距離を隔てた２つのデジタルデータの差分値
をそれぞれ算出する。そして被検査材に欠陥がない場合
には、前記差分値は零に近い値であるが、被検査材に欠
陥があると前記差分値が大きくなるので、この差分値
を、所定の閾値と比較して、閾値を越える場合に欠陥と
して検出することができる。このようにしてアナログ信
号のＨＰＦやＬＰＦを用いずに欠陥を検出することがで
きる。
データを所定数だけ順次更新しながら内蔵メモリに記憶
し、この記憶した所定数のデジタルデータのうちの被検
査材の所定距離を隔てた２つのデジタルデータの差分値
をそれぞれ算出する。そして被検査材に欠陥がない場合
には、前記差分値は零に近い値であるが、被検査材に欠
陥があると前記差分値が大きくなるので、この差分値
を、所定の閾値と比較して、閾値を越える場合に欠陥と
して検出することができる。このようにしてアナログ信
号のＨＰＦやＬＰＦを用いずに欠陥を検出することがで
きる。
【００３７】さらにコンピュータ１５による他の処理法
としては、逐次入力するデータにより被検査材の単位距
離毎に所定数データの移動平均値を求めて、その値を前
回の移動平均値と比較する方法や、デジタル型フィルタ
を用いたＨＰＦやＬＰＦの処理を行い、不要なノイズ成
分を除去して欠陥検出を行うことも可能である。またコ
ンピュータ１５を用いた場合には、生産ラインにおい
て、被検査材の外径、電気的特性、磁気的特性、搬送速
度等が変更された場合に、コンピュータ１５の動作プロ
グラムを変えるのみで前記変更に柔軟に対応して渦流探
傷を行うことができる。なお図５の計測回路では、予め
対と決められた２つの検出コイルによる検出信号の差分
値を入力して、信号増幅器６、同期検波器７及びＡ／Ｄ
変換器１４を介してコンピュータ１５へデジタルデータ
を入力する例を示したが、各検出コイルによる検出信号
をそれぞれ独立の信号増幅器６、同期検波器７及びＡ／
Ｄ変換器１４を介してコンピュータ１５へ各検出コイル
毎のデジタルデータを入力するようにしてもよい。この
後者の場合には、コンピュータ１５は、対となる２つの
デジタルデータの組み合せを任意に決定・変更し、導電
体の欠陥を検出するのに最適な２つのデジタルデータの
差分値を求めることができる利点がある。
としては、逐次入力するデータにより被検査材の単位距
離毎に所定数データの移動平均値を求めて、その値を前
回の移動平均値と比較する方法や、デジタル型フィルタ
を用いたＨＰＦやＬＰＦの処理を行い、不要なノイズ成
分を除去して欠陥検出を行うことも可能である。またコ
ンピュータ１５を用いた場合には、生産ラインにおい
て、被検査材の外径、電気的特性、磁気的特性、搬送速
度等が変更された場合に、コンピュータ１５の動作プロ
グラムを変えるのみで前記変更に柔軟に対応して渦流探
傷を行うことができる。なお図５の計測回路では、予め
対と決められた２つの検出コイルによる検出信号の差分
値を入力して、信号増幅器６、同期検波器７及びＡ／Ｄ
変換器１４を介してコンピュータ１５へデジタルデータ
を入力する例を示したが、各検出コイルによる検出信号
をそれぞれ独立の信号増幅器６、同期検波器７及びＡ／
Ｄ変換器１４を介してコンピュータ１５へ各検出コイル
毎のデジタルデータを入力するようにしてもよい。この
後者の場合には、コンピュータ１５は、対となる２つの
デジタルデータの組み合せを任意に決定・変更し、導電
体の欠陥を検出するのに最適な２つのデジタルデータの
差分値を求めることができる利点がある。
【００３８】以上のように本実施形態１，２によれば、
下記の効果が得られる。 （１）被検査材の外径が増加した場合に、実施形態１で
は、励磁コイルと検出コイルを含むプローブの数を増加
させることにより、また実施形態２では検出コイルの数
を増加させることにより、各検出コイルの探傷領域が一
定となり、外径に関係なく、また欠陥の方向性に関係な
く、高感度で欠陥の検出ができる。 （２）各検出コイルの探傷領域が限定されることにな
り、各検出コイルに誘起される被検査材の磁気特性、電
気特性の変化や、局部的な外径、肉厚の変化等に基づく
ノイズが大幅に減少する。 （３）被検査材の搬送時に生じる振動等に基づくノイズ
については、前記２つの検出コイルの検出信号の差分値
を抽出することで、同一時刻に生じる類似波形のものは
除去され、さらにＨＰＦ，ＬＰＦのカットオフ周波数を
搬送速度に応じて変化させることにより有効な帯域制限
がなされることで、ノイズの検出量が少い。 （４）実施形態１では、複数の励磁コイルを用いること
により、被検査材の単位面積当たりの渦電流密度を大き
くすることができるので、微小欠陥に対する検出感度の
向上が容易となる。 （５）実施形態２では、単一の貫通型励磁コイルによっ
て、被検査材に磁気飽和を生じない程度の渦電流を流
し、各探傷領域毎に設けられた検出コイルにより誘起電
圧をそれぞれ検出し、予め対として決められた２つの検
出電圧の差分値を抽出することで、被検査材が強磁性の
場合でも欠陥を高感度で検出できる。
下記の効果が得られる。 （１）被検査材の外径が増加した場合に、実施形態１で
は、励磁コイルと検出コイルを含むプローブの数を増加
させることにより、また実施形態２では検出コイルの数
を増加させることにより、各検出コイルの探傷領域が一
定となり、外径に関係なく、また欠陥の方向性に関係な
く、高感度で欠陥の検出ができる。 （２）各検出コイルの探傷領域が限定されることにな
り、各検出コイルに誘起される被検査材の磁気特性、電
気特性の変化や、局部的な外径、肉厚の変化等に基づく
ノイズが大幅に減少する。 （３）被検査材の搬送時に生じる振動等に基づくノイズ
については、前記２つの検出コイルの検出信号の差分値
を抽出することで、同一時刻に生じる類似波形のものは
除去され、さらにＨＰＦ，ＬＰＦのカットオフ周波数を
搬送速度に応じて変化させることにより有効な帯域制限
がなされることで、ノイズの検出量が少い。 （４）実施形態１では、複数の励磁コイルを用いること
により、被検査材の単位面積当たりの渦電流密度を大き
くすることができるので、微小欠陥に対する検出感度の
向上が容易となる。 （５）実施形態２では、単一の貫通型励磁コイルによっ
て、被検査材に磁気飽和を生じない程度の渦電流を流
し、各探傷領域毎に設けられた検出コイルにより誘起電
圧をそれぞれ検出し、予め対として決められた２つの検
出電圧の差分値を抽出することで、被検査材が強磁性の
場合でも欠陥を高感度で検出できる。
【００３９】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、円筒状又
は丸棒状導電体に近接する周方向に、各プローブが励磁
コイル及び検出コイルを含む偶数のプローブを一定間隔
で配置し、また前記偶数の各プローブには、その配置に
基づきそれぞれ対となる相手方のプローブを決めてお
き、前記偶数のプローブの各励磁コイルに交流電流を供
給して前記導電体に渦電流を発生させ、前記偶数のプロ
ーブのうちで対と決められた２つのプローブ毎に、その
２つの検出コイルによる検出信号の差分値をそれぞれ求
め、この各差分値により前記導電体の欠陥を検出するよ
うにしたので、前記導電体の外径に関係なく、また欠陥
の方向性に関係なく、高感度で且つ高いＳＮ比で欠陥を
検出することができる。
は丸棒状導電体に近接する周方向に、各プローブが励磁
コイル及び検出コイルを含む偶数のプローブを一定間隔
で配置し、また前記偶数の各プローブには、その配置に
基づきそれぞれ対となる相手方のプローブを決めてお
き、前記偶数のプローブの各励磁コイルに交流電流を供
給して前記導電体に渦電流を発生させ、前記偶数のプロ
ーブのうちで対と決められた２つのプローブ毎に、その
２つの検出コイルによる検出信号の差分値をそれぞれ求
め、この各差分値により前記導電体の欠陥を検出するよ
うにしたので、前記導電体の外径に関係なく、また欠陥
の方向性に関係なく、高感度で且つ高いＳＮ比で欠陥を
検出することができる。
【００４０】また本発明によれば、円筒状又は丸棒状導
電体の周方向の周囲に、前記導電体が貫通できるリング
状の励磁コイルを設け、この励磁コイルの内側で前記導
電体に近接する周方向に偶数の検出コイルを一定間隔で
配置し、また前記偶数の各検出コイルには、その配置に
基づきそれぞれ対となる相手方の検出コイルを決めてお
き、前記励磁コイルに交流電流を供給して前記導電体に
渦電流を発生させ、前記偶数の検出コイルのうちで対と
決められた２つの検出コイル毎に、この２つの検出コイ
ルによる検出信号の差分値をそれぞれ求め、この各差分
値により前記導電体の欠陥を検出するようにしたので、
前記導電体が強磁性の場合にも、前記導電体に磁気飽和
を生じさせない状態において、欠陥を高感度で且つ高い
ＳＮ比で検出することができる。
電体の周方向の周囲に、前記導電体が貫通できるリング
状の励磁コイルを設け、この励磁コイルの内側で前記導
電体に近接する周方向に偶数の検出コイルを一定間隔で
配置し、また前記偶数の各検出コイルには、その配置に
基づきそれぞれ対となる相手方の検出コイルを決めてお
き、前記励磁コイルに交流電流を供給して前記導電体に
渦電流を発生させ、前記偶数の検出コイルのうちで対と
決められた２つの検出コイル毎に、この２つの検出コイ
ルによる検出信号の差分値をそれぞれ求め、この各差分
値により前記導電体の欠陥を検出するようにしたので、
前記導電体が強磁性の場合にも、前記導電体に磁気飽和
を生じさせない状態において、欠陥を高感度で且つ高い
ＳＮ比で検出することができる。
【００４１】また本発明によれば、前記求めた２つの検
出コイルによる検出信号の各差分値は、それぞれ信号増
幅後、前記交流電流と同期させて個別に検波し、この各
検波信号を個別に入力して、高域濾波した信号をそれぞ
れ出力すると共に低域濾波した信号もそれぞれ出力し、
また前記高域濾波をする際のカットオフ周波数及び低域
濾波をする際のカットオフ周波数を前記導電体を搬送す
る際の搬送速度に対応してそれぞれ設定するようにした
ので、前記導電体の搬送速度に応じた検波信号の帯域制
限が有効になされ、その結果、高周波信号成分の多いホ
ール性欠陥や周方向欠陥及び低周波信号成分の多い軸方
向に長い欠陥を効率良く検出することができる。
出コイルによる検出信号の各差分値は、それぞれ信号増
幅後、前記交流電流と同期させて個別に検波し、この各
検波信号を個別に入力して、高域濾波した信号をそれぞ
れ出力すると共に低域濾波した信号もそれぞれ出力し、
また前記高域濾波をする際のカットオフ周波数及び低域
濾波をする際のカットオフ周波数を前記導電体を搬送す
る際の搬送速度に対応してそれぞれ設定するようにした
ので、前記導電体の搬送速度に応じた検波信号の帯域制
限が有効になされ、その結果、高周波信号成分の多いホ
ール性欠陥や周方向欠陥及び低周波信号成分の多い軸方
向に長い欠陥を効率良く検出することができる。
【００４２】また本発明によれば、前記求めた２つの検
出コイルによる検出信号の各差分値は、それぞれ信号増
幅後、前記交流電流と同期させて個別に検波し、この各
検波信号を前記導電体を搬送する際の搬送速度に対応す
る変換速度で個別にデジタル信号に変換し、この各デジ
タル信号を所定数だけ順次更新しながらそれぞれ記憶
し、この記憶した各所定数のデジタル信号のうちの前記
導電体の所定距離を隔てた２つのデジタル信号の差分値
をそれぞれ求め、この各差分値により導電体の欠陥を検
出するようにしたので、前記導電体の外径、電気的、磁
気的特性、搬送速度等が変更された場合に、動作プログ
ラムを変えるのみで、前記変更に柔軟に対応して渦流探
傷を行うことができる。
出コイルによる検出信号の各差分値は、それぞれ信号増
幅後、前記交流電流と同期させて個別に検波し、この各
検波信号を前記導電体を搬送する際の搬送速度に対応す
る変換速度で個別にデジタル信号に変換し、この各デジ
タル信号を所定数だけ順次更新しながらそれぞれ記憶
し、この記憶した各所定数のデジタル信号のうちの前記
導電体の所定距離を隔てた２つのデジタル信号の差分値
をそれぞれ求め、この各差分値により導電体の欠陥を検
出するようにしたので、前記導電体の外径、電気的、磁
気的特性、搬送速度等が変更された場合に、動作プログ
ラムを変えるのみで、前記変更に柔軟に対応して渦流探
傷を行うことができる。
【図１】本発明の実施形態１に係るマルチプローブ型渦
流探傷法を説明する図である。
流探傷法を説明する図である。
【図２】本発明に係るマルチプローブの構成及び配置を
説明する図である。
説明する図である。
【図３】本発明の実施形態２に係るマルチプローブ型渦
流探傷法を説明する図である。
流探傷法を説明する図である。
【図４】本発明の実施形態１、２に係る検出部を除く第
１の計測回路を示す図である。
１の計測回路を示す図である。
【図５】本発明の実施形態１、２に係る検出部を除く第
２の計測回路を示す図である。
２の計測回路を示す図である。
【図６】従来の貫通型サーチコイルを用いた渦流探傷法
の説明図である。
の説明図である。
【図７】図６の第１、第２のサーチコイルの構造を示す
図である。
図である。
１ 被検査材 ２ 貫通型サーチコイル ３ 発振器 ４ 移相器 ５ 交流ブリッジ ６ 信号増幅器 ７ 同期検波器 ８ ＨＰＦ ９ ＬＰＦ １１ 貫通型励磁コイル １２，１３ 制御信号発生器 Ｂ1 〜ＢN ボビン Ｄ1 〜ＤN 検出コイル Ｍ1 〜ＭN 励磁コイル Ｐ1 〜ＰN プローブ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 大川 洋児 東京都千代田区丸の内一丁目１番２号 日 本鋼管株式会社内 (72)発明者 村上 美廣 埼玉県戸田市大字新曽2447番地２ エヌデ ィアール株式会社内 Ｆターム(参考） 2G053 AA11 AB21 BA13 BB03 BC02 BC07 CA03 CB17 CB21 DA01 DA06 DB04
Claims (8)
- 【請求項１】 円筒状又は丸棒状導電体に近接する周方
向に、各プローブが励磁コイル及び検出コイルを含む偶
数のプローブを一定間隔で配置し、また前記偶数の各プ
ローブには、その配置に基づきそれぞれ対となる相手方
のプローブを決めておき、前記偶数のプローブの各励磁
コイルに交流電流を供給して前記導電体に渦電流を発生
させ、前記偶数のプローブのうちで対と決められた２つ
のプローブ毎に、その２つの検出コイルによる検出信号
の差分値をそれぞれ求め、この各差分値により前記導電
体の欠陥を検出することを特徴とするマルチプローブ型
渦流探傷方法。 - 【請求項２】 円筒状又は丸棒状導電体の周方向の周囲
に、前記導電体が貫通できるリング状の励磁コイルを設
け、この励磁コイルの内側で前記導電体に近接する周方
向に偶数の検出コイルを一定間隔で配置し、また前記偶
数の各検出コイルには、その配置に基づきそれぞれ対と
なる相手方の検出コイルを決めておき、前記励磁コイル
に交流電流を供給して前記導電体に渦電流を発生させ、
前記偶数の検出コイルのうちで対と決められた２つの検
出コイル毎に、この２つの検出コイルによる検出信号の
差分値をそれぞれ求め、この各差分値により前記導電体
の欠陥を検出することを特徴とするマルチプローブ型渦
流探傷方法。 - 【請求項３】 前記求めた２つの検出コイルによる検出
信号の各差分値は、それぞれ信号増幅後、前記交流電流
と同期させて個別に検波し、この各検波信号を個別に入
力して、高域濾波した信号をそれぞれ出力すると共に低
域濾波した信号もそれぞれ出力し、また前記高域濾波を
する際のカットオフ周波数及び低域濾波をする際のカッ
トオフ周波数を前記導電体を搬送する際の搬送速度に対
応してそれぞれ設定するようにしたことを特徴とする請
求項１又は２記載のマルチプローブ型渦流探傷方法。 - 【請求項４】 前記求めた２つの検出コイルによる検出
信号の各差分値は、それぞれ信号増幅後、前記交流電流
と同期させて個別に検波し、この各検波信号を前記導電
体を搬送する際の搬送速度に対応する変換速度で個別に
デジタル信号に変換し、この各デジタル信号を所定数だ
け順次更新しながらそれぞれ記憶し、この記憶した各所
定数のデジタル信号のうちの前記導電体の所定距離を隔
てた２つのデジタル信号の差分値をそれぞれ求め、この
各差分値により導電体の欠陥を検出することを特徴とす
る請求項１又は２記載のマルチプローブ型渦流探傷方
法。 - 【請求項５】 円筒状又は丸棒状導電体に近接する周方
向に一定間隔で配置される偶数のプローブであって、こ
の偶数の各プローブは、それぞれ励磁コイル及び検出コ
イルを含むと共に、その配置に基づきそれぞれ対となる
相手方のプローブが決められている前記偶数のプローブ
と、 交流信号を発生し、この発生した交流信号を前記偶数の
プローブの各励磁コイルに供給して前記導電体に渦電流
を発生させる交流発振器と、 前記偶数のプローブのうちで対と決められた２つのプロ
ーブ毎に、この２つの検出コイルの出力端を逆相に直列
接続し、その２つの検出コイルによる検出信号の差分値
をそれぞれ出力する前記偶数の半数の差分値出力手段と
を備えたことを特徴とするマルチプローブ型渦流探傷装
置。 - 【請求項６】 円筒状又は丸棒状導電体の周方向の周囲
に設けられ、前記導電体が貫通できるリング状の励磁コ
イルと、 前記励磁コイルの内側で前記導電体に近接する周方向に
一定間隔で配置される偶数の検出コイルであって、この
偶数の各検出コイルには、その配置に基づきそれぞれ対
となる相手方の検出コイルが決められている前記偶数の
検出コイルと、 交流信号を発生し、この発生した交流信号を前記リング
状の励磁コイルに供給して前記導電体に渦電流を発生さ
せる交流発振器と、 前記偶数の検出コイルのうちで対と決められた２つの検
出コイル毎に、この２つの検出コイルの出力端を逆相に
直列接続し、その２つの検出コイルによる検出信号の差
分値をそれぞれ出力する前記偶数の半数の差分値出力手
段とを備えたことを特徴とするマルチプローブ型渦流探
傷装置。 - 【請求項７】 前記偶数の半数の各差分値出力手段が出
力する差分値をそれぞれ入力して個別に信号増幅して出
力する前記偶数の半数の信号増幅器と、 前記偶数の半数の各信号増幅器の出力信号をそれぞれ個
別に前記交流電流と同期させて検波する前記偶数の半数
の同期検波器と、 前記偶数の半数の各同期検波器の出力信号をそれぞれ入
力して、前記導電体を搬送する際の搬送速度に対応して
設定されたカットオフ周波数により個別に高域濾波した
信号を出力する前記偶数の半数の高域濾波器と、 前記偶数の半数の各同期検波器の出力信号をそれぞれ入
力して、前記導電体を搬送する際の搬送速度に対応して
設定されたカットオフ周波数により個別に低域濾波した
信号を出力する前記偶数の半数の低域濾波器とを有する
ことを特徴とする請求項５又は６記載のマルチプローブ
型渦流探傷装置。 - 【請求項８】 前記偶数の半数の各差分値出力手段が出
力する差分値をそれぞれ入力して個別に信号増幅して出
力する前記偶数の半数の信号増幅器と、 前記偶数の半数の各信号増幅器の出力信号をそれぞれ個
別に前記交流電流と同期させて検波する前記偶数の半数
の同期検波器と、 前記偶数の半数の各同期検波器の出力信号をそれぞれ入
力して、前記導電体を搬送する際の搬送速度に対応する
変換速度で個別にデジタル信号に変換する前記偶数の半
数のアナログ・デジタル変換器と、 前記偶数の半数の各アナログ・デジタル変換器の出力す
るデジタル信号をそれぞれ入力して、この各デジタル信
号を所定数だけ順次更新しながら記憶し、この記憶した
各所定数のデジタル信号のうちの前記導電体の所定距離
を隔てた２つのデジタル信号の差分値をそれぞれ求め、
この各差分値により導電体の欠陥を検出する欠陥検出手
段とを有することを特徴とする請求項５又は６記載のマ
ルチプローブ型渦流探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11027141A JP2000227420A (ja) | 1999-02-04 | 1999-02-04 | マルチプローブ型渦流探傷方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11027141A JP2000227420A (ja) | 1999-02-04 | 1999-02-04 | マルチプローブ型渦流探傷方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000227420A true JP2000227420A (ja) | 2000-08-15 |
Family
ID=12212784
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11027141A Withdrawn JP2000227420A (ja) | 1999-02-04 | 1999-02-04 | マルチプローブ型渦流探傷方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000227420A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2009025105A1 (ja) * | 2007-08-21 | 2009-02-26 | Keiichi Nonogaki | 渦電流探傷方法とその装置 |
| JP2010223719A (ja) * | 2009-03-23 | 2010-10-07 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 管の欠陥検出方法及び装置 |
| JP2012141250A (ja) * | 2011-01-05 | 2012-07-26 | Jfe Steel Corp | 表層欠陥検出装置 |
| US8289016B2 (en) | 2006-11-21 | 2012-10-16 | Keiichi Nonogaki | Eddy-current flaw detection method and apparatus |
| WO2013190504A1 (en) * | 2012-06-21 | 2013-12-27 | Eddyfi Ndt Inc. | High resolution eddy current array probe |
| CN110308210A (zh) * | 2019-07-26 | 2019-10-08 | 吉林省电力科学研究院有限公司 | 同时用于远场涡流和声脉冲检测非铁磁性换热器管束缺陷的灵敏度标定样管 |
-
1999
- 1999-02-04 JP JP11027141A patent/JP2000227420A/ja not_active Withdrawn
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US8289016B2 (en) | 2006-11-21 | 2012-10-16 | Keiichi Nonogaki | Eddy-current flaw detection method and apparatus |
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| CN110308210A (zh) * | 2019-07-26 | 2019-10-08 | 吉林省电力科学研究院有限公司 | 同时用于远场涡流和声脉冲检测非铁磁性换热器管束缺陷的灵敏度标定样管 |
| CN110308210B (zh) * | 2019-07-26 | 2024-04-09 | 吉林省电力科学研究院有限公司 | 同时用于远场涡流和声脉冲检测非铁磁性换热器管束缺陷的灵敏度标定样管 |
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