JPS61223549A - パイプラインの孔食検出装置 - Google Patents
パイプラインの孔食検出装置Info
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- JPS61223549A JPS61223549A JP60063368A JP6336885A JPS61223549A JP S61223549 A JPS61223549 A JP S61223549A JP 60063368 A JP60063368 A JP 60063368A JP 6336885 A JP6336885 A JP 6336885A JP S61223549 A JPS61223549 A JP S61223549A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は、パイプラインの管体内壁に発生した孔食を
、電磁誘導法を用いて高精度に検出することができる、
パイプラインの孔食検出装置に関するものである。
、電磁誘導法を用いて高精度に検出することができる、
パイプラインの孔食検出装置に関するものである。
パイプライン敷設後の管体内壁に発生した孔食を検出す
る公知技術としては、（１）漏洩磁束を用いた磁気探査
法、（２）超音波を用いた超音波探査法、（３）電磁誘
導法を用いた渦流探査法などが存在する。
る公知技術としては、（１）漏洩磁束を用いた磁気探査
法、（２）超音波を用いた超音波探査法、（３）電磁誘
導法を用いた渦流探査法などが存在する。
しかし、従来技術では以下に示す問題点が存在した。
（１）漏洩磁束を用いた磁気探査性
磁気探査法は、電磁石又は永久磁石を用いた強力な磁界
によシ、管体内面から管体を磁化して、孔食の有無によ
って発生する局部磁界を磁気センサによシ検出すること
からなる。
によシ、管体内面から管体を磁化して、孔食の有無によ
って発生する局部磁界を磁気センサによシ検出すること
からなる。
この方法では、磁化用の磁石と管体内面との間の相対距
離の変動によって、検出感度が極端に変化するので、高
精度な探査が不可能である。また、パイプラインの管径
が大きくなると、管体を磁化するための磁化器が大型で
高価となる。さらに、磁気探査法では、パイプラインに
用いた管体の材質に限定され、ステンレスパイプ等の非
磁性材は原理的に不可能である。
離の変動によって、検出感度が極端に変化するので、高
精度な探査が不可能である。また、パイプラインの管径
が大きくなると、管体を磁化するための磁化器が大型で
高価となる。さらに、磁気探査法では、パイプラインに
用いた管体の材質に限定され、ステンレスパイプ等の非
磁性材は原理的に不可能である。
（２）超音波探査法
超音波探査法は、超音波の伝播時間の差からパイプライ
ンの管体内壁に発生した孔食を検出する方法なので、超
音波を伝播させるための媒質が必要となる。
ンの管体内壁に発生した孔食を検出する方法なので、超
音波を伝播させるための媒質が必要となる。
このため、適用可能なパイプラインが限定され、液体輸
送用以外のパイプラインでは、探査が不可能である。ま
た、大径のパイプラインの管体内壁の全周を探査するに
は、多数の探触子が必要となシ、装置が大型化し高価格
化する。
送用以外のパイプラインでは、探査が不可能である。ま
た、大径のパイプラインの管体内壁の全周を探査するに
は、多数の探触子が必要となシ、装置が大型化し高価格
化する。
（３）電磁誘導を用いた渦流探査法
渦流探査法は、パイプライン内に１対の貫通型１次コイ
ルを設置して、管体内壁に渦電流を発生させ、管体内壁
に発生した孔食によって渦電流の値が変化したときに、
その反作用として生ずる１次コイルのインピーダンス変
化を検出して、孔食を間接的に検出する方法である。
ルを設置して、管体内壁に渦電流を発生させ、管体内壁
に発生した孔食によって渦電流の値が変化したときに、
その反作用として生ずる１次コイルのインピーダンス変
化を検出して、孔食を間接的に検出する方法である。
この方法では、１対のコイルのインピーダンスの差分を
抽出するため、孔食の深さを精度よく計測することがで
きない。また、円周方向に分布する孔食を分離して検出
することができない。さらに、管体の内径に対する１対
のコイルの径に対応して、検出感度が極端に変動する。
抽出するため、孔食の深さを精度よく計測することがで
きない。また、円周方向に分布する孔食を分離して検出
することができない。さらに、管体の内径に対する１対
のコイルの径に対応して、検出感度が極端に変動する。
この発明は、上述の現状に鑑み、パイプラインの管体内
壁に発生した孔食を、電磁誘導法を用いて高精度に検出
することができる、パイプラインの孔食検出装置を提供
することを目的とする。
壁に発生した孔食を、電磁誘導法を用いて高精度に検出
することができる、パイプラインの孔食検出装置を提供
することを目的とする。
この発明のパイプラインの孔食検出装置は、パイプライ
ンの管体内に置かれた、前記管体の周方向に巻いた１対
の貫通型コイルと、前記管体の周方向に間隔をあけて前
記貫通型コイル間に、前記管体内壁に近接させて設けら
れた複数個のプローブコイルと、前記貫通型コイルに高
周波電流を供給して、前記貫通型コイルに交流磁界を発
生させるための発振器と、前記貫通型コイルに発生した
前記交流磁界の、前記管体内壁の孔食により発生する分
布の乱れを、前記複数個のプローブコイルを介して時分
割で抽出するためのマルチプレクサと、前記マルチプレ
クサによって時分割で抽出された抽出信号を処理するた
めの処理回路とからなることに特徴を有する。
ンの管体内に置かれた、前記管体の周方向に巻いた１対
の貫通型コイルと、前記管体の周方向に間隔をあけて前
記貫通型コイル間に、前記管体内壁に近接させて設けら
れた複数個のプローブコイルと、前記貫通型コイルに高
周波電流を供給して、前記貫通型コイルに交流磁界を発
生させるための発振器と、前記貫通型コイルに発生した
前記交流磁界の、前記管体内壁の孔食により発生する分
布の乱れを、前記複数個のプローブコイルを介して時分
割で抽出するためのマルチプレクサと、前記マルチプレ
クサによって時分割で抽出された抽出信号を処理するた
めの処理回路とからなることに特徴を有する。
図、第２図は、第１図の装置の検出ヘッドを示す模式図
、第３図は、第２図の検出ヘッドのプローブコイルの配
置を示す配置図、第４図は、第１図の装置のマルチプレ
クサでの抽出タイミングを示すタイミングチャートであ
る。
、第３図は、第２図の検出ヘッドのプローブコイルの配
置を示す配置図、第４図は、第１図の装置のマルチプレ
クサでの抽出タイミングを示すタイミングチャートであ
る。
第１図において、１は検出ヘッド、２は発振器３はマル
チプレクサ、４は抽出信号処理回路、５は分周器、６は
マルチプレクサ制御信号発生器である。検出ヘッド１は
、１対の貫通型コイルＰｃと複数個のグローブコイル８
１〜ＳＮとからなっている。
チプレクサ、４は抽出信号処理回路、５は分周器、６は
マルチプレクサ制御信号発生器である。検出ヘッド１は
、１対の貫通型コイルＰｃと複数個のグローブコイル８
１〜ＳＮとからなっている。
抽出信号処理回路４は、信号増幅器７と、ノイズフィル
タ８と、検波器９と、差動増幅器１０と、オートバラン
ス回路１１と、オートバランス回路制御信号発生器１２
と、演算増幅器１３とからなっている。
タ８と、検波器９と、差動増幅器１０と、オートバラン
ス回路１１と、オートバランス回路制御信号発生器１２
と、演算増幅器１３とからなっている。
検出ヘッド１は、第２図に示すように、１対の貫通型コ
イルＰｃの巻線方向を管体１４の周方向に一致させて管
体１４内に置かれ、管体１４の軸方向に移動される。複
数個のプローブコイル８１〜ＳＮは、１対の貫通型コイ
ルＰｃ０間に、管体１４の内面に近接させて設けられて
おシ、第３図に示すように、管体１４の周方向に間隔を
あけて配置されている。
イルＰｃの巻線方向を管体１４の周方向に一致させて管
体１４内に置かれ、管体１４の軸方向に移動される。複
数個のプローブコイル８１〜ＳＮは、１対の貫通型コイ
ルＰｃ０間に、管体１４の内面に近接させて設けられて
おシ、第３図に示すように、管体１４の周方向に間隔を
あけて配置されている。
この検出ヘッド１の１対の貫通型コイルＰｃに発振器２
から５０〜ｌ ＯＯＯｋＨｚの高周波電流を供給すると
、１対の貫通型コイルＰｃに交流磁界が発生し、その磁
束分布ダは１対の貫通コイルＰｃを、貫く閉ループを構
成する。管体１４の内壁への交流磁界の浸透深さδは、
貫通コイルに供給する交周波電流の周波数ｆ、管体１４
の電気電導度σ、および管体１４の透磁率μによって決
定され、δ＝１／、／’四丁（ｎ）で表わされる。
から５０〜ｌ ＯＯＯｋＨｚの高周波電流を供給すると
、１対の貫通型コイルＰｃに交流磁界が発生し、その磁
束分布ダは１対の貫通コイルＰｃを、貫く閉ループを構
成する。管体１４の内壁への交流磁界の浸透深さδは、
貫通コイルに供給する交周波電流の周波数ｆ、管体１４
の電気電導度σ、および管体１４の透磁率μによって決
定され、δ＝１／、／’四丁（ｎ）で表わされる。
そこで、管体１の内壁の表層下までしか磁界が浸透しな
いように、管体１の材質に応じて発振器２の発振周波数
を選択すると、１対の貫通型コイルＰｃに発生する交流
磁界の磁束分布ダは、第２図に示すように、管体１４の
内壁と貫通コイルＰｃとの間に分布する。このため、貫
通コイルＰｃ間に、管体１４の内壁に近接させて、磁界
の管軸方向の磁束を検知するようにプローブコイル８１
〜ＳＮヲ設けておくと、各プローブコイル８１〜８Ｈに
は、管体１４の内壁と各プローブコイル８１〜ＳＮとの
間の相対距離に対応した出力電圧が誘起する。
いように、管体１の材質に応じて発振器２の発振周波数
を選択すると、１対の貫通型コイルＰｃに発生する交流
磁界の磁束分布ダは、第２図に示すように、管体１４の
内壁と貫通コイルＰｃとの間に分布する。このため、貫
通コイルＰｃ間に、管体１４の内壁に近接させて、磁界
の管軸方向の磁束を検知するようにプローブコイル８１
〜ＳＮヲ設けておくと、各プローブコイル８１〜８Ｈに
は、管体１４の内壁と各プローブコイル８１〜ＳＮとの
間の相対距離に対応した出力電圧が誘起する。
そして、第２図に示すように、ヘッド１が矢印の向きに
移動して管体１４内壁の孔食１４ａの箇所に至ると、孔
食１４ａによって、１対の貫通コイルＰｃに生じている
磁界の、孔食１４ａの周囲の磁束分布ダに乱れを生ずる
。その結果、孔食１４ａに相対するプローブコイルＳ、
のみ誘起電圧が変化し、誘起電圧が他のプローブコイル
８２〜ＳＮよす減少する。そこで、各プローブコイル８
１〜Ｓｕヲマルチプレクサ３に結線しておき、各グロー
ブコイル８１〜ＳＮに誘起する誘起電圧をマルチプレク
サ３により時分割で抽出する。
移動して管体１４内壁の孔食１４ａの箇所に至ると、孔
食１４ａによって、１対の貫通コイルＰｃに生じている
磁界の、孔食１４ａの周囲の磁束分布ダに乱れを生ずる
。その結果、孔食１４ａに相対するプローブコイルＳ、
のみ誘起電圧が変化し、誘起電圧が他のプローブコイル
８２〜ＳＮよす減少する。そこで、各プローブコイル８
１〜Ｓｕヲマルチプレクサ３に結線しておき、各グロー
ブコイル８１〜ＳＮに誘起する誘起電圧をマルチプレク
サ３により時分割で抽出する。
マルチプレクサ３の動作は、発振器２の出力電圧と分局
器５により所定値に分周後、マルチプレクサ制御信号発
生器６に加えて、発生器６により制御させる。マルチプ
レクサ３による各プローブコイルＳ、〜ＳＮの誘起電圧
の抽出タイミングのチャートを第４図に示す。各プロー
ブコイルＳ、〜ＳＮの抽出周期τは＼、探査条件に応じ
て設定するが、一般にＩＡＯ〜ＬＡ□’５ｅｅＯ値に選
択される。
器５により所定値に分周後、マルチプレクサ制御信号発
生器６に加えて、発生器６により制御させる。マルチプ
レクサ３による各プローブコイルＳ、〜ＳＮの誘起電圧
の抽出タイミングのチャートを第４図に示す。各プロー
ブコイルＳ、〜ＳＮの抽出周期τは＼、探査条件に応じ
て設定するが、一般にＩＡＯ〜ＬＡ□’５ｅｅＯ値に選
択される。
各プローブコイル８８〜ＳＮの誘起電圧をマルチプレク
サ３で抽出した抽出信号は、マルチプレクサ３から信号
処理回路４の信号増幅器７に先ず加えられ、そこで所期
値に増幅される０次いで増幅さ−れた抽出信号は、ノイ
ズフィ ルタ８を経たのち検波器９に加えられ、そこで発振器２
の基準電圧によって同期検波され、直流電圧に変換され
る。次いで直流電圧に変換された抽出信号は、差動増幅
器１０およびオートバランス回路１１に加えられる。
サ３で抽出した抽出信号は、マルチプレクサ３から信号
処理回路４の信号増幅器７に先ず加えられ、そこで所期
値に増幅される０次いで増幅さ−れた抽出信号は、ノイ
ズフィ ルタ８を経たのち検波器９に加えられ、そこで発振器２
の基準電圧によって同期検波され、直流電圧に変換され
る。次いで直流電圧に変換された抽出信号は、差動増幅
器１０およびオートバランス回路１１に加えられる。
オートバランス回路１１は、貫通型コイルＰｃと各プロ
ーブコイルＳ、〜ＳＮとを管体ｌ内に装入したときに、
各プローブコイルＳ、〜ＳＨに誘起する初期誘起電圧を
除去するなどのための回路である０オ一トバランス回路
の動作は、発振器２の出力電圧を分局器５によシ所定値
に分周後、オートバランス回路制御信号発生器１２に加
えて、発生器１２によって制御される０オ一トバランス
回路１１では、検波器９から出力される抽出信号を遅延
させて、各プローブコイル８１〜ＳＮ毎に抽出信号を加
算し平均化する（加算平均回数は一般３〜１ｏ回）。
ーブコイルＳ、〜ＳＮとを管体ｌ内に装入したときに、
各プローブコイルＳ、〜ＳＨに誘起する初期誘起電圧を
除去するなどのための回路である０オ一トバランス回路
の動作は、発振器２の出力電圧を分局器５によシ所定値
に分周後、オートバランス回路制御信号発生器１２に加
えて、発生器１２によって制御される０オ一トバランス
回路１１では、検波器９から出力される抽出信号を遅延
させて、各プローブコイル８１〜ＳＮ毎に抽出信号を加
算し平均化する（加算平均回数は一般３〜１ｏ回）。
各プローブコイル８１〜ＳＮ毎に加算平均化された抽出
信号は、前記差動増幅器１０に加えられ、差動増幅器１
０の出力端には、検波器９から加えられた抽出信号との
差に対応する差分電圧が得られる。このため、検出ヘッ
ド１が管体１４内壁の健全部分を移動中は、差動増幅器
１０の出力電圧が零となる。そして、検出ヘッド１が管
体１４内壁の孔食１４ａの箇所に至ると、孔食１４ａに
相対するプローブコイルＳ１が孔食１４ａのため見掛は
上の相対距離が変化するので、差動増幅器１０の出力端
に孔食１４ａによる疵信号が発生する。
信号は、前記差動増幅器１０に加えられ、差動増幅器１
０の出力端には、検波器９から加えられた抽出信号との
差に対応する差分電圧が得られる。このため、検出ヘッ
ド１が管体１４内壁の健全部分を移動中は、差動増幅器
１０の出力電圧が零となる。そして、検出ヘッド１が管
体１４内壁の孔食１４ａの箇所に至ると、孔食１４ａに
相対するプローブコイルＳ１が孔食１４ａのため見掛は
上の相対距離が変化するので、差動増幅器１０の出力端
に孔食１４ａによる疵信号が発生する。
上記した孔食１４＆による疵信号は、プローブコイルＳ
、と管体１４内壁との相対距離ｔに対応して変化し、相
対距離ｔの増大に対応して検出感度が減少する。そこで
、演算増幅器１３に、差動増幅器１０の出力電圧と、各
プローブコイル８１〜ＳＮ毎の管体１４内壁との相対距
離に対応した、オートバランス回路１１の出力電圧（リ
フトオフ信号）とを加えて、相対距離が変化しても検出
感度の変化を生じないように補償する。演算増幅器１３
は、アナログ方式の割算器やマイコン等を用いて構成で
きる。
、と管体１４内壁との相対距離ｔに対応して変化し、相
対距離ｔの増大に対応して検出感度が減少する。そこで
、演算増幅器１３に、差動増幅器１０の出力電圧と、各
プローブコイル８１〜ＳＮ毎の管体１４内壁との相対距
離に対応した、オートバランス回路１１の出力電圧（リ
フトオフ信号）とを加えて、相対距離が変化しても検出
感度の変化を生じないように補償する。演算増幅器１３
は、アナログ方式の割算器やマイコン等を用いて構成で
きる。
以上のような構成によって、パイプラインの管体内壁に
発生した孔食を、周方向に分離して高精度で検出するこ
とができる。
発生した孔食を、周方向に分離して高精度で検出するこ
とができる。
第５図は、第４図の装置の検波器９における出力電圧を
、例えばプローブコイルＳ８と管体１４内壁との相対距
離（以下必要に応じてプローブコイルの相対距離と称す
）ｔに対してプロットした、相対距離対出力電圧特性図
の１例である。第５図から明らかなように、検波器９の
出力電圧によって、プローブコイルＳ１の相対距離ｔを
計測できることが判る。
、例えばプローブコイルＳ８と管体１４内壁との相対距
離（以下必要に応じてプローブコイルの相対距離と称す
）ｔに対してプロットした、相対距離対出力電圧特性図
の１例である。第５図から明らかなように、検波器９の
出力電圧によって、プローブコイルＳ１の相対距離ｔを
計測できることが判る。
第６図は、管体１４内壁に穿孔したドリル孔の深さに対
して、検波器９の出力電圧をプロットした、孔の深さ対
出力電圧特性図の１例である。第６図から明らかなよう
に、孔の深さが大きくなるに従って検波器９の出力電圧
は低下しておシ、検波器９の出力電圧によって、孔の深
さを計測できることが判る。なお、第６図は、管体１４
内壁の、孔が穿孔されていない部分における、検波器９
の出力電圧を零ボルトとして表示した。また、第７図は
管体１４に深さを変えて穿孔した孔に対する検波器９の
出力電圧が、プローブコイルＳ１と管体１４内壁との相
対距離ｔの変化によってどのように変化するかを、相対
距離Ｌ ＝ ２５ ｍｍのときの検波器９の出力電圧を
基準として相対出力としてプロットした、相対距離対相
対出力特性図の１例である。
して、検波器９の出力電圧をプロットした、孔の深さ対
出力電圧特性図の１例である。第６図から明らかなよう
に、孔の深さが大きくなるに従って検波器９の出力電圧
は低下しておシ、検波器９の出力電圧によって、孔の深
さを計測できることが判る。なお、第６図は、管体１４
内壁の、孔が穿孔されていない部分における、検波器９
の出力電圧を零ボルトとして表示した。また、第７図は
管体１４に深さを変えて穿孔した孔に対する検波器９の
出力電圧が、プローブコイルＳ１と管体１４内壁との相
対距離ｔの変化によってどのように変化するかを、相対
距離Ｌ ＝ ２５ ｍｍのときの検波器９の出力電圧を
基準として相対出力としてプロットした、相対距離対相
対出力特性図の１例である。
第６図をみると、孔の深さの変化分に対する出力電圧の
変化分は、第５図の相対距離ｔの変化分に対する出力電
圧の変化分より小さく、検波器９の出力電圧をそのまま
用いたのでは、孔の深さの検出感度が小さい。そこで、
前述したように、検波器９の出力とオートバランス回路
１１の出力とを差動増幅器１０に加えると、管体１４内
移動時の貫通型コイルＰｃの振動によるノイズや管体１
４の径の変化、扁平な変形、貫通型コイルＰｃと管体１
４の傾き等によるノイズ、そして、各プローブコイル８
１〜８Ｎと貫通型コイルＰｃとの相対位置のずれによる
初期アンバランスが除去されて、孔の深さの検出°感度
が向上する。
変化分は、第５図の相対距離ｔの変化分に対する出力電
圧の変化分より小さく、検波器９の出力電圧をそのまま
用いたのでは、孔の深さの検出感度が小さい。そこで、
前述したように、検波器９の出力とオートバランス回路
１１の出力とを差動増幅器１０に加えると、管体１４内
移動時の貫通型コイルＰｃの振動によるノイズや管体１
４の径の変化、扁平な変形、貫通型コイルＰｃと管体１
４の傾き等によるノイズ、そして、各プローブコイル８
１〜８Ｎと貫通型コイルＰｃとの相対位置のずれによる
初期アンバランスが除去されて、孔の深さの検出°感度
が向上する。
検波器９の出力を差動増幅器１０に加える一方、検波器
９の出力を、オートバランス回路１１に加え、４回の加
算平均をさせて差動増幅器１σに加えると、前記ノイズ
や初期アンバランスによる電圧は３０〜４０ｄＢ除去さ
れ、ノイズ等は実用上充分に除去されることが確認され
ている。
９の出力を、オートバランス回路１１に加え、４回の加
算平均をさせて差動増幅器１σに加えると、前記ノイズ
や初期アンバランスによる電圧は３０〜４０ｄＢ除去さ
れ、ノイズ等は実用上充分に除去されることが確認され
ている。
以上のように差動増幅器１０には、各種ノイズや初期ア
ンバランスが除去された出力電圧が得られるが、先に示
した第７図のように、プローブコイルＳ、の相対距離ｔ
が１０１１Ｅ変動すると、同−深さの孔に対する検波器
９の相対出力（検出感度）は約６０％も低下し、高精度
の検出が不可能になる。
ンバランスが除去された出力電圧が得られるが、先に示
した第７図のように、プローブコイルＳ、の相対距離ｔ
が１０１１Ｅ変動すると、同−深さの孔に対する検波器
９の相対出力（検出感度）は約６０％も低下し、高精度
の検出が不可能になる。
そこで、前述したように、差動増幅器１０の出力電圧と
オートバランス回路１１の出力電圧を演算増幅器１３に
加えて、オートバランス回路１１のリフトオフ信号によ
り、検出感度を補償させると、プローブコイルの相対距
離対演算増幅器の相対出力は、例えば第８図のようにな
る０第８図によれば、演算増幅器１３の出力電圧は、相
対距離の変動があっても同−深さの孔に対する検出感度
を補償されている 〔発明の効果〕 この発明は以上のように構成されるので、次のような効
果がもたらされる。
オートバランス回路１１の出力電圧を演算増幅器１３に
加えて、オートバランス回路１１のリフトオフ信号によ
り、検出感度を補償させると、プローブコイルの相対距
離対演算増幅器の相対出力は、例えば第８図のようにな
る０第８図によれば、演算増幅器１３の出力電圧は、相
対距離の変動があっても同−深さの孔に対する検出感度
を補償されている 〔発明の効果〕 この発明は以上のように構成されるので、次のような効
果がもたらされる。
（１）各プローブコイル毎にオートバランス回路で加算
平均して相対距離を計測し、この相対距離を計測した電
圧を差動増幅器に加えるので、探査時に発生する各種ノ
イズ電圧と、センサ動作時の各プローブコイルの初期ア
ンバランス電圧とを自動的に除去することができ、（除
去能力３０〜４０ｄＢ）、バランス調整の手間必要とせ
ず、また増幅器の飽和による動作不能になることがない
。
平均して相対距離を計測し、この相対距離を計測した電
圧を差動増幅器に加えるので、探査時に発生する各種ノ
イズ電圧と、センサ動作時の各プローブコイルの初期ア
ンバランス電圧とを自動的に除去することができ、（除
去能力３０〜４０ｄＢ）、バランス調整の手間必要とせ
ず、また増幅器の飽和による動作不能になることがない
。
（２）オートバランス回路で探査時の各プロープコ相対
距離変動による検出感度の変化を１１５〜１／１０に縮
少することができ、孔食の検出精度を向上することがで
きる。
距離変動による検出感度の変化を１１５〜１／１０に縮
少することができ、孔食の検出精度を向上することがで
きる。
（３）１次コイルの貫通型コイルに供給する高周波電流
の周波数を任意に選択することができるので、パイプラ
インに使用される管体は、強磁性体および非磁性体とも
孔食の検出が可能である。
の周波数を任意に選択することができるので、パイプラ
インに使用される管体は、強磁性体および非磁性体とも
孔食の検出が可能である。
（４）貫通型コイルに供給する高周波電流の周波数ｆに
対して、各プローブコイルに誘起する誘起電圧のサンプ
リング周波数は、サンプリングの定理によ、ｉｆ／２で
あシ、高周波電流の周波数を２００ｋＨｚに設定すると
、原理的には１０００個のプローブコイルを用いてｌ／
１００８の周期で探査可能である。実用的には２５０個
のプローブコイルを用い、ｌ／１００８ での探査が可
能である。このため大径のパイプラインを探査するとき
でも、装置本体は１台で十分である。従って、省電力化
、小型化を達成することができ、又、メンテナンスも容
易となシ、長距離パイプラインの探査が可能と
対して、各プローブコイルに誘起する誘起電圧のサンプ
リング周波数は、サンプリングの定理によ、ｉｆ／２で
あシ、高周波電流の周波数を２００ｋＨｚに設定すると
、原理的には１０００個のプローブコイルを用いてｌ／
１００８の周期で探査可能である。実用的には２５０個
のプローブコイルを用い、ｌ／１００８ での探査が可
能である。このため大径のパイプラインを探査するとき
でも、装置本体は１台で十分である。従って、省電力化
、小型化を達成することができ、又、メンテナンスも容
易となシ、長距離パイプラインの探査が可能と
第１図は、この発明の装置の基本構成を示すブロック図
、第２図は、第１図の装置の検出ヘッドを示す模式図、
第３図は、第２図の検出ヘッドのプローブコイルの配置
を示す配置図、第４図は、第１図の装置のマルチプレク
サでの抽出タイミングを示すタイミングチャート、第５
図は、この発明の装置における、プローブコイルの相対
距離対検波器の出力電圧特性を示す特性図、第６図は、
この発明の装置における、孔の深さ対検波器の出力電圧
特性を示す特性図、第７図は、この発明の装置における
、プローブコイルの相対距離対検波器の相対出力特性を
示す特性図、第８図は、プローブコイルの相対距離対演
算増幅器の相対出力特性を示す特性図である。図面にお
いて、１・・・検出ヘッド、 ２・・・発振器、
３・・・マルチプレクサ ４・・・抽出信号処理回
路、９・・・検波器、 １０・・・差動増幅器
、１１・・・オートバランス回路、 １３・・・演算増
幅器、１４・・・管体、 １４ａ・・・孔食
、Ｐｃ・・・貫通型コイル、 ８ｌ−８Ｎ・・・プ
ローブコイル。
、第２図は、第１図の装置の検出ヘッドを示す模式図、
第３図は、第２図の検出ヘッドのプローブコイルの配置
を示す配置図、第４図は、第１図の装置のマルチプレク
サでの抽出タイミングを示すタイミングチャート、第５
図は、この発明の装置における、プローブコイルの相対
距離対検波器の出力電圧特性を示す特性図、第６図は、
この発明の装置における、孔の深さ対検波器の出力電圧
特性を示す特性図、第７図は、この発明の装置における
、プローブコイルの相対距離対検波器の相対出力特性を
示す特性図、第８図は、プローブコイルの相対距離対演
算増幅器の相対出力特性を示す特性図である。図面にお
いて、１・・・検出ヘッド、 ２・・・発振器、
３・・・マルチプレクサ ４・・・抽出信号処理回
路、９・・・検波器、 １０・・・差動増幅器
、１１・・・オートバランス回路、 １３・・・演算増
幅器、１４・・・管体、 １４ａ・・・孔食
、Ｐｃ・・・貫通型コイル、 ８ｌ−８Ｎ・・・プ
ローブコイル。
Claims (1)
- パイプラインの管体内に置かれた、前記管体の周方向に
巻いた１対の貫通型コイルと、前記管体の周方向に間隔
をあけて前記貫通型コイル間に、前記管体内壁に近接さ
せて設けられた複数個のプローブコイルと、前記貫通型
コイルに高周波電流を供給して、前記貫通型コイルに交
流磁界を発生させるための発振器と、前記貫通型コイル
に発生した前記交流磁界の、前記管体内壁の孔食により
発生する分布の乱れを、前記複数個のプローブコイルを
介して時分割で抽出するためのマルチプレクサと、前記
マルチプレクサによつて時分割で抽出された抽出信号を
処理するための処理回路とからなることを特徴とする、
パイプラインの孔食検出装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60063368A JPH073408B2 (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | パイプラインの孔食検出装置 |
| US06/907,840 US4742298A (en) | 1985-03-29 | 1986-09-16 | Apparatus for detecting surface flaw of pipeline by electromagnetic induction |
| EP86307148A EP0260355B1 (en) | 1985-03-29 | 1986-09-17 | Apparatus for detecting inner surface flaw of each pipe constituting pipeline |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60063368A JPH073408B2 (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | パイプラインの孔食検出装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS61223549A true JPS61223549A (ja) | 1986-10-04 |
| JPH073408B2 JPH073408B2 (ja) | 1995-01-18 |
Family
ID=13227263
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60063368A Expired - Fee Related JPH073408B2 (ja) | 1985-03-29 | 1985-03-29 | パイプラインの孔食検出装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4742298A (ja) |
| EP (1) | EP0260355B1 (ja) |
| JP (1) | JPH073408B2 (ja) |
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