JPS6340850A - 渦流探査装置 - Google Patents
渦流探査装置Info
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- JPS6340850A JPS6340850A JP61184273A JP18427386A JPS6340850A JP S6340850 A JPS6340850 A JP S6340850A JP 61184273 A JP61184273 A JP 61184273A JP 18427386 A JP18427386 A JP 18427386A JP S6340850 A JPS6340850 A JP S6340850A
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、気体および液体を輸送するパイプライン等
の管内面に発生する孔食を探傷する渦流探査装置、特に
内面孔食の孔閉さに対して線形な出力特性を得る探査装
置に関する。
の管内面に発生する孔食を探傷する渦流探査装置、特に
内面孔食の孔閉さに対して線形な出力特性を得る探査装
置に関する。
従来各種パイプライン等の管内面に発生する孔食を探査
する方法として磁気探査法、超音波探査法及び渦流探査
法等が利用されている。
する方法として磁気探査法、超音波探査法及び渦流探査
法等が利用されている。
磁気探査法は鋼管を強力な磁石で磁化し、孔食から発生
する漏洩磁束を計測して、漏洩磁束の値から孔食を検出
する方法である。
する漏洩磁束を計測して、漏洩磁束の値から孔食を検出
する方法である。
超音波探査法は鋼管の肉厚方向に超音波を入射し、管表
面よシ反射する超音波の時間を計測して孔食を検出する
方法である。
面よシ反射する超音波の時間を計測して孔食を検出する
方法である。
iii流探査法は鋼管内面に交流磁界を交差させ、孔食
による磁界の変化全計測して孔食を検出する方法である
。
による磁界の変化全計測して孔食を検出する方法である
。
2g8図、第9回は従来の渦流探査法の説明図であυ、
第8図は断面図、@9区は側面図である。
第8図は断面図、@9区は側面図である。
図において1は鋼管、2は鋼管1内に挿入された貫通型
の1次コイル、3a〜6nは1次コイル2に対して放射
状に配置された複数の2次コイル(グローブコイル)、
4は鋼管1内面に発生している孔食である。第10図は
上記探査法に使用する渦流探査装置の購成を示すブロッ
ク図であり、図において5は1次コイル2に接続された
発振器、6は2次コイル6a〜6nに接続されたマルチ
プレクサ、7はマルチプレクサ6を制御するゲート信号
発生器、8はマルチプレクサ6の出力電圧を増幅する信
号増幅器、9は移相器、10は同期検波器、11は記録
計である。
の1次コイル、3a〜6nは1次コイル2に対して放射
状に配置された複数の2次コイル(グローブコイル)、
4は鋼管1内面に発生している孔食である。第10図は
上記探査法に使用する渦流探査装置の購成を示すブロッ
ク図であり、図において5は1次コイル2に接続された
発振器、6は2次コイル6a〜6nに接続されたマルチ
プレクサ、7はマルチプレクサ6を制御するゲート信号
発生器、8はマルチプレクサ6の出力電圧を増幅する信
号増幅器、9は移相器、10は同期検波器、11は記録
計である。
上記のように開成した従来の渦流探査装置において、鋼
管1内に挿入した1次コイル2に発振器5かも交流電流
を供給して@管1の内壁に交流磁束を交差させる。複数
個の2次コイル3a〜3nはこの交流磁束の磁束変化を
検出してマルチズレフサ乙に探査信号として出力する。
管1内に挿入した1次コイル2に発振器5かも交流電流
を供給して@管1の内壁に交流磁束を交差させる。複数
個の2次コイル3a〜3nはこの交流磁束の磁束変化を
検出してマルチズレフサ乙に探査信号として出力する。
マルチプレクサ6は発振器5に接続されたゲート信号発
生器7の出力信号により制御され、各2次コイル6a〜
3nに誘起される誘起電圧を時分割によって抽出し出力
する。
生器7の出力信号により制御され、各2次コイル6a〜
3nに誘起される誘起電圧を時分割によって抽出し出力
する。
マルチプレクサ6の出力電圧は<バー号m・1α器8に
よυ増幅されたのち同期検波器10に出力される。
よυ増幅されたのち同期検波器10に出力される。
同期検波器10に送られた探査信号は発振器5の出力を
移相器9で移相した基4を圧で直流電圧に検波され、記
1ttii又はメータにより計測される。
移相器9で移相した基4を圧で直流電圧に検波され、記
1ttii又はメータにより計測される。
上記渦流探査装置において1次コイル2と2次コイル3
a=3nからなる検出ヘッドが孔食4のない鋼管部にあ
るときは各2次コイル3a〜3nに発生する誘起電圧は
零ポルトである。しかし、検出ヘッドが移動して孔食4
を通過するときは孔食4の位置に近接した2次コイルに
は孔食4による磁束が交差し、孔食4に対応した電圧が
誘起される。この誘起電圧を信号処理したのち同期検波
器10から出力される電圧を計測することにより間接的
に@管1内面に発生する孔食4を検出することができる
。
a=3nからなる検出ヘッドが孔食4のない鋼管部にあ
るときは各2次コイル3a〜3nに発生する誘起電圧は
零ポルトである。しかし、検出ヘッドが移動して孔食4
を通過するときは孔食4の位置に近接した2次コイルに
は孔食4による磁束が交差し、孔食4に対応した電圧が
誘起される。この誘起電圧を信号処理したのち同期検波
器10から出力される電圧を計測することにより間接的
に@管1内面に発生する孔食4を検出することができる
。
〔発明が解決しようと1−る問題点〕
上記従来の渦流探査装置においては、各2次コイル6&
〜6nは鋼管1の中心からの放射状磁束を検出するため
、孔食深さに対する出力電圧は非線形特性であり孔食深
さを計測することができないという問題点があった。
〜6nは鋼管1の中心からの放射状磁束を検出するため
、孔食深さに対する出力電圧は非線形特性であり孔食深
さを計測することができないという問題点があった。
また2次コイルと管内壁との相対距離が変動すると、同
一孔食に対する出力電圧が変化し孔食を定量的に把握す
ることができないという問題点もあった。
一孔食に対する出力電圧が変化し孔食を定量的に把握す
ることができないという問題点もあった。
この発明はかかる問題点全解決するためになされたもの
であり、孔食の分布および孔食、深さを高精度で計測す
ることができる渦流探査装置を提案することt目自勺と
するものである。
であり、孔食の分布および孔食、深さを高精度で計測す
ることができる渦流探査装置を提案することt目自勺と
するものである。
この発明に係る渦流探査装置は、鋼管内に配置した貫通
型の1次コイルと、該1次コイルに接続され1次コイル
に管軸方向の磁束を発生させる発振器と、上記1次コイ
ルの外側に配置し管軸方向の磁束変化を検出し電気信号
和変換する複数の磁気セ/すと、該複数の磁気センサで
検出した信号を時分割で抽出するマルチプレクサと、該
マルチプレクサの出力電圧を直流電圧に変換する検波器
と、該検波器の出力電圧の振幅値から孔食信号を出力す
る信号処理回路とからなシ、上記信号処理回路は上記検
波器の出力電圧を各磁気センサ毎に移動平均し、各磁気
センサと管内壁との相対距離に対応した出力電圧を抽出
する移動平均回路と、該移動平均回路の出力電圧と検波
器の出力電圧の差分電圧を抽出し孔食信号を出力する差
動増幅器とからなることを特徴とする。
型の1次コイルと、該1次コイルに接続され1次コイル
に管軸方向の磁束を発生させる発振器と、上記1次コイ
ルの外側に配置し管軸方向の磁束変化を検出し電気信号
和変換する複数の磁気セ/すと、該複数の磁気センサで
検出した信号を時分割で抽出するマルチプレクサと、該
マルチプレクサの出力電圧を直流電圧に変換する検波器
と、該検波器の出力電圧の振幅値から孔食信号を出力す
る信号処理回路とからなシ、上記信号処理回路は上記検
波器の出力電圧を各磁気センサ毎に移動平均し、各磁気
センサと管内壁との相対距離に対応した出力電圧を抽出
する移動平均回路と、該移動平均回路の出力電圧と検波
器の出力電圧の差分電圧を抽出し孔食信号を出力する差
動増幅器とからなることを特徴とする。
この発明においては管内壁と1次コイルの相対距離に対
応して変化する管軸方向の磁束変化を複数の2次コイル
で検出することにより鋼管内壁に発生する孔食を検出す
る。
応して変化する管軸方向の磁束変化を複数の2次コイル
で検出することにより鋼管内壁に発生する孔食を検出す
る。
さらに信号処理回路で、管径の変動等による2次コイル
と管内壁との相対距離の変動による出力電圧の誤検出を
防止する。
と管内壁との相対距離の変動による出力電圧の誤検出を
防止する。
第1図、第2図は、この発明の一実施例に係る検出ヘッ
ドの配置を示し、第1図は断面図、第2図は側面図であ
る。図において1は鋼管、2は鋼管1内に配置した貫通
型の1次コイル、3a〜6nは1次コイル2の外側に等
間隔で配置された2次コイル、4は鋼管1の内壁に発生
した孔食である。
ドの配置を示し、第1図は断面図、第2図は側面図であ
る。図において1は鋼管、2は鋼管1内に配置した貫通
型の1次コイル、3a〜6nは1次コイル2の外側に等
間隔で配置された2次コイル、4は鋼管1の内壁に発生
した孔食である。
第6図は上記実施例の構成を示すブロック図であり、図
において5〜11は上記@10図に示した従来例と同一
のものである。12は同期検波器10から出力する出力
電圧を処理する信号処理回路であシ、信号処理回路12
は同期検波器10から出力する出力電圧を各2次コイル
3a〜3n毎に移動平均し、各2次コイル3a〜3nと
鋼管1内壁との相対距離(以下、リフトオフという。)
K対応した出力電圧を抽出する移動平均回路13と、移
動平均回路16の出力電圧と同期検波器10の出力電圧
との差分電圧を抽出する差動増幅器14と、差動増幅器
14の出力電圧を入力しその電圧の増幅度を移動平均回
路16の出力電圧で制御するAGC増幅器15とからな
る。
において5〜11は上記@10図に示した従来例と同一
のものである。12は同期検波器10から出力する出力
電圧を処理する信号処理回路であシ、信号処理回路12
は同期検波器10から出力する出力電圧を各2次コイル
3a〜3n毎に移動平均し、各2次コイル3a〜3nと
鋼管1内壁との相対距離(以下、リフトオフという。)
K対応した出力電圧を抽出する移動平均回路13と、移
動平均回路16の出力電圧と同期検波器10の出力電圧
との差分電圧を抽出する差動増幅器14と、差動増幅器
14の出力電圧を入力しその電圧の増幅度を移動平均回
路16の出力電圧で制御するAGC増幅器15とからな
る。
上記のように構成した渦流探査装置の動作を説明する。
まず、鋼管1内に挿入した検出ヘッドの1次コイル2に
発振器5から交流電流を供給して管内壁の管軸方・向に
磁界を発生させる。この磁界によって1次コイル2の外
側に配置された複数の2次コイル3&〜6nには第4図
に示すようにリフトオフt(■)に対応した出力電圧e
1が誘起される。第4図はリフトオフtが18mのとき
の各2次コイル6&〜3nの出力電圧eiを零ボルトと
して、リフトオフlを可変したときの各2次コイル38
〜3nの出力電圧特性を示す。
発振器5から交流電流を供給して管内壁の管軸方・向に
磁界を発生させる。この磁界によって1次コイル2の外
側に配置された複数の2次コイル3&〜6nには第4図
に示すようにリフトオフt(■)に対応した出力電圧e
1が誘起される。第4図はリフトオフtが18mのとき
の各2次コイル6&〜3nの出力電圧eiを零ボルトと
して、リフトオフlを可変したときの各2次コイル38
〜3nの出力電圧特性を示す。
各2次コイル31〜3nK誘起した電圧atはマルチプ
レクサ乙に入力し、マルチプレクサ6でゲート信号発生
器7の出力電圧によって時分割されて抽出される。マル
チプレクサ6で抽出された各2次コイル3&〜3nの探
査信号は信号増幅器8で所期値に増幅されて同期検波器
10に送られる。
レクサ乙に入力し、マルチプレクサ6でゲート信号発生
器7の出力電圧によって時分割されて抽出される。マル
チプレクサ6で抽出された各2次コイル3&〜3nの探
査信号は信号増幅器8で所期値に増幅されて同期検波器
10に送られる。
同期検波器10に送られた探査信号は発振器5の出力を
移相器9で移相した基準電圧で直流電圧に検波されて信
号処理回路12に送られる。
移相器9で移相した基準電圧で直流電圧に検波されて信
号処理回路12に送られる。
信号処理回路12に送られた同期検波器10の出力電圧
は、まず移動平均回路13で各2次コイル3a〜6n毎
に移動平均されて差動増幅器14に送られ、同期検波器
10の出力電圧との差が求められ差動増幅器14から差
分電圧として出力される。
は、まず移動平均回路13で各2次コイル3a〜6n毎
に移動平均されて差動増幅器14に送られ、同期検波器
10の出力電圧との差が求められ差動増幅器14から差
分電圧として出力される。
この差動増幅器14かも出力される出力電圧はAGC増
幅器15に送られ、移動平均回路13から出力される各
2次コイル3a〜3n毎の出力電圧でAGC増幅器の増
幅度を制御し、リフトオフ変動に対する孔食の探査感度
を自動的に補償する。
幅器15に送られ、移動平均回路13から出力される各
2次コイル3a〜3n毎の出力電圧でAGC増幅器の増
幅度を制御し、リフトオフ変動に対する孔食の探査感度
を自動的に補償する。
上記のように構成した渦流探査装置において、1次コイ
ル2と2次コイル3a−3nからなる検出ヘッドを鋼管
1内で移動し孔食4の下を通過したとき釦は、孔食4に
近接した2次コイル3aの誘起電圧のみが孔食4によっ
て変化する。
ル2と2次コイル3a−3nからなる検出ヘッドを鋼管
1内で移動し孔食4の下を通過したとき釦は、孔食4に
近接した2次コイル3aの誘起電圧のみが孔食4によっ
て変化する。
第5図は2次コイル3&が孔食4を検出したときの信号
処理回路12の各部の出力波形を示す。
処理回路12の各部の出力波形を示す。
第5図においてaは2次コイル3aが孔食4t−検出し
たときの同期検波器10の出力波形を示し、孔食4の位
置で孔食信号Sが出力される。この出力電圧が移動平均
回路13によシ平均化され出力波形すとして孔食信号S
が除去されて差動増幅器14に送られる。差動増幅器1
4では同期検波器10の出力波形aと移動平均回路13
の出力波形すの差が求められ、第5図Cの出力波形に示
すように孔食4の孔食信号Sのみを高8/N比で出力す
る。したがって鋼管10偏平や、管径の変動等によるリ
フトオフtの変動による出力電圧の誤検出を防止し、孔
食4を高精度で検出することができる。
たときの同期検波器10の出力波形を示し、孔食4の位
置で孔食信号Sが出力される。この出力電圧が移動平均
回路13によシ平均化され出力波形すとして孔食信号S
が除去されて差動増幅器14に送られる。差動増幅器1
4では同期検波器10の出力波形aと移動平均回路13
の出力波形すの差が求められ、第5図Cの出力波形に示
すように孔食4の孔食信号Sのみを高8/N比で出力す
る。したがって鋼管10偏平や、管径の変動等によるリ
フトオフtの変動による出力電圧の誤検出を防止し、孔
食4を高精度で検出することができる。
第6図は信号処理回路12の出力電圧をAGC付増幅器
15に送シ移動平均回路13の出力電圧でAGC付増幅
器15の増幅度を制御してリフトオフ変動に対する孔食
の探査感度を自動的に補償した場合のリフトオフ変動に
対する相対感度をリフトオフtが18馴を基準とし°C
示し、図におい′てdは補償後Cは補償前の相対感度で
ある。図に示すようにAGC付増幅器15によシ孔食の
探査感度を補償することによりリフトオフtが変動して
も検出感度の変動を大巾におさえることができ孔食の探
査精度の向上を図ることができる。
15に送シ移動平均回路13の出力電圧でAGC付増幅
器15の増幅度を制御してリフトオフ変動に対する孔食
の探査感度を自動的に補償した場合のリフトオフ変動に
対する相対感度をリフトオフtが18馴を基準とし°C
示し、図におい′てdは補償後Cは補償前の相対感度で
ある。図に示すようにAGC付増幅器15によシ孔食の
探査感度を補償することによりリフトオフtが変動して
も検出感度の変動を大巾におさえることができ孔食の探
査精度の向上を図ることができる。
また、第7図は上記実施例によシ人工孔食の孔深さDを
変化させた群集する孔食を探量した場合の出力電圧を示
す。図に示すように孔食の孔深さDに対し線形特性の出
力電圧を得ることができる。
変化させた群集する孔食を探量した場合の出力電圧を示
す。図に示すように孔食の孔深さDに対し線形特性の出
力電圧を得ることができる。
なお、上記実施例においては磁束を検出するのに2次コ
イルを使用したが、磁気抵抗素子やホール素子を使用し
ても同様の作用を奏する。
イルを使用したが、磁気抵抗素子やホール素子を使用し
ても同様の作用を奏する。
この発明は以上説明したように管内壁と1次コイルの相
対距離に対応して変化する管軸方向の磁束変化を1次コ
イルの外側に設げた複数の2次コイルで検出することに
より鋼管内壁に発生する孔食を検出し、かつ信号処理回
路の移動平均回路と差動増幅器によシ鋼管の偏平、縮径
等によるりフトオフ変動や検出ヘッドの温度変化等によ
って発生するドリフト電圧を除去しているから、孔食の
みを高S/N比で検出することができる効果を有する。
対距離に対応して変化する管軸方向の磁束変化を1次コ
イルの外側に設げた複数の2次コイルで検出することに
より鋼管内壁に発生する孔食を検出し、かつ信号処理回
路の移動平均回路と差動増幅器によシ鋼管の偏平、縮径
等によるりフトオフ変動や検出ヘッドの温度変化等によ
って発生するドリフト電圧を除去しているから、孔食の
みを高S/N比で検出することができる効果を有する。
また、管内面に生じる群集する孔食に対しても孔食深さ
に対して線形特性の出力電圧が得られるため、孔食を定
量的に検出することができる。
に対して線形特性の出力電圧が得られるため、孔食を定
量的に検出することができる。
さらに、リフトオフが変動しても信号処理回路のAGC
付増幅器で検出感度を自動補償することができるから、
孔食の探査精度の向上を図ることができる効果も有する
。
付増幅器で検出感度を自動補償することができるから、
孔食の探査精度の向上を図ることができる効果も有する
。
第1図、第2図はこの発明の実施例に係る検出ヘッドの
配置を示し、第1図は断面図、第2図は側面図、第3図
は上記実施例の構成を示すブロック図、第4図は上記実
施例における2次コイルのリフトオフに対応した出力電
圧特性図、第5図は上記実施例の信号処理回路の出力波
形図、第6図は上記実施例のリフトオフに対する相対感
度特性図、第7図は上記実施例の人工孔食の孔深さDに
対する出力電圧特性図、第8図、第9図は従来装置の検
出ヘッドの配置を示し、第8図は断面図、第9図は側面
図、第10図は従来装置の構成を示すブロック図である
。 1・・・鋼管、2・・・1次コイル、3&〜3n・・・
2次コイル、4・・・孔食、5・・・発振器、6・・・
マルチプレクサ、7・・・ゲート信号発生器、8・・・
信号増幅器、9・・・移相器、10・・・同期検波器、
11・・・記録計、12・・・信号処理回路、16・・
・移動平均回路、14・・・差動増幅器、15・・・A
GC付増幅器。 代理人 弁理士 佐 藤 正 年 第1図 第5図 第7図
配置を示し、第1図は断面図、第2図は側面図、第3図
は上記実施例の構成を示すブロック図、第4図は上記実
施例における2次コイルのリフトオフに対応した出力電
圧特性図、第5図は上記実施例の信号処理回路の出力波
形図、第6図は上記実施例のリフトオフに対する相対感
度特性図、第7図は上記実施例の人工孔食の孔深さDに
対する出力電圧特性図、第8図、第9図は従来装置の検
出ヘッドの配置を示し、第8図は断面図、第9図は側面
図、第10図は従来装置の構成を示すブロック図である
。 1・・・鋼管、2・・・1次コイル、3&〜3n・・・
2次コイル、4・・・孔食、5・・・発振器、6・・・
マルチプレクサ、7・・・ゲート信号発生器、8・・・
信号増幅器、9・・・移相器、10・・・同期検波器、
11・・・記録計、12・・・信号処理回路、16・・
・移動平均回路、14・・・差動増幅器、15・・・A
GC付増幅器。 代理人 弁理士 佐 藤 正 年 第1図 第5図 第7図
Claims (2)
- (1)鋼管の管内面に発生する孔食を探査する渦流探傷
において、管内に配置した貫通型の1次コイルと、該1
次コイルに接続され1次コイルに管軸方向の磁束を発生
させる発振器と、上記1次コイルの外側に配置し管軸方
向の磁束変化を検出し電気信号に変換する複数の磁気セ
ンサと、該複数の磁気センサで検出した信号を時分割で
抽出するマルチプレクサと、該マルチプレクサの出力電
圧を直流電圧に変換する検波器と、該検波器の出力電圧
の振幅値から孔食信号を出力する信号処理回路とからな
り、該信号処理回路が上記検波器の出力電圧を各磁気セ
ンサ毎に移動平均し、各磁気センサと管内壁との相対距
離に対応した出力電圧を抽出する移動平均回路と、該移
動平均回路の出力電圧と検波器の出力電圧の差分電圧を
抽出し孔食信号を出力する差動増幅器とからなることを
特徴とする渦流探査装置。 - (2)信号処理回路に上記差動増幅器の出力電圧を入力
し、その増幅度を移動平均回路の出力電圧で制御するA
GC増幅器を加えた特許請求の範囲第1項記載の渦流探
査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61184273A JPS6340850A (ja) | 1986-08-07 | 1986-08-07 | 渦流探査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61184273A JPS6340850A (ja) | 1986-08-07 | 1986-08-07 | 渦流探査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6340850A true JPS6340850A (ja) | 1988-02-22 |
Family
ID=16150433
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61184273A Pending JPS6340850A (ja) | 1986-08-07 | 1986-08-07 | 渦流探査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6340850A (ja) |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006317194A (ja) * | 2005-05-10 | 2006-11-24 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | マルチセンサ信号異常検知装置および方法 |
JP2006322844A (ja) * | 2005-05-19 | 2006-11-30 | Tatsuo Hiroshima | 探傷プローブ |
JP2013164318A (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-22 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 検査位置の検出方法、検査範囲確認方法、検査方法及び検査装置 |
JP2013164317A (ja) * | 2012-02-10 | 2013-08-22 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | 検査位置の検出方法,検査方法及び検査装置 |
WO2017010214A1 (ja) * | 2015-07-16 | 2017-01-19 | 住友化学株式会社 | 欠陥測定方法、欠陥測定装置および検査プローブ |
US10539535B2 (en) | 2015-07-16 | 2020-01-21 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Defect measurement method, defect measurement device, and testing probe |
-
1986
- 1986-08-07 JP JP61184273A patent/JPS6340850A/ja active Pending
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US10539535B2 (en) | 2015-07-16 | 2020-01-21 | Sumitomo Chemical Company, Limited | Defect measurement method, defect measurement device, and testing probe |
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