JPH05164745A - 鋼体の探傷方法及びその装置 - Google Patents

鋼体の探傷方法及びその装置

Info

Publication number
JPH05164745A
JPH05164745A JP3330399A JP33039991A JPH05164745A JP H05164745 A JPH05164745 A JP H05164745A JP 3330399 A JP3330399 A JP 3330399A JP 33039991 A JP33039991 A JP 33039991A JP H05164745 A JPH05164745 A JP H05164745A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
eddy current
subject
coil
magnetic
pitting corrosion
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP3330399A
Other languages
English (en)
Other versions
JP2639264B2 (ja
Inventor
Seigo Ando
静吾 安藤
Kazuo Tsuruoka
一雄 鶴岡
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
JFE Engineering Corp
Original Assignee
NKK Corp
Nippon Kokan Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NKK Corp, Nippon Kokan Ltd filed Critical NKK Corp
Priority to JP3330399A priority Critical patent/JP2639264B2/ja
Priority to GB9225190A priority patent/GB2262346B/en
Publication of JPH05164745A publication Critical patent/JPH05164745A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP2639264B2 publication Critical patent/JP2639264B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
    • G01N27/82Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
    • G01N27/90Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
    • G01N27/904Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents with two or more sensors

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • Electrochemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 鋼板等の被検体の表面に存在する孔食を渦電
流手法で検出する場合に、たとえ被検体が厚くても上面
および下面の両方の面に存在する各孔食を精度よく検出
する。 【構成】 磁化器11でもって被検体12を磁化し、こ
の被検体12に対して、E型コア16の中央磁極16a
に一次コイル17が巻装されかつ両側の各磁極16b,
16cにそれぞれ二次コイル18a,18bが巻装され
た渦電流検出用プローブコイル13を対向配置し、一次
コイル17に交流電流を印加して被検体12に渦電流を
発生させ、この渦電流によって各二次コイル18a,1
8bに生じる各誘起電圧の差分電圧を抽出し、被検体表
面に存在する孔食20a,20bをこの抽出された差分
電圧でもって検出する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は渦電流を利用して鋼体の
表面に存在する孔食を検出する鋼体の探傷方法及び鋼体
の探傷装置に関する。
【0002】
【従来の技術】例えばパイプライン等の大口径の鋼管の
内壁に存在する孔食等の欠陥を検出する公知技術として
は、X線検査法、超音波探傷法、漏洩磁束探傷法及び渦
電流探傷法等が報告されている。
【0003】これらの各探傷法のうち、製造工場等の検
査工程でオンラインでもって実施可能な探傷法として
は、設備費が低い、高速応答性が必要である、装置が大
掛かりにならずに小型に形成できる、等の諸条件を考慮
すると、漏洩磁束探傷法または渦電流探傷法が最適であ
る。このうち、渦電流を利用した探傷装置として図9
(a)(b)に示す孔食検出装置が実用化されている
(特開昭61−223549号)。
【0004】図9(a)において、被検体としての鋼管
1内に測定ヘッド2が挿入されている。そして、この測
定ヘッド2は図示しない駆動機構によって鋼管1の軸方
向に移動される。測定ヘッド2内には軸方向に互いに離
間した一対の貫通型一次コイル3a,3bが組込まれて
いる。各貫通型一次コイル3a,3bのコイルの巻回方
向は鋼管1の周方向に一致している。この貫通型一次コ
イル3a,3bの相互間で、かつ鋼管1の内周面に近接
して複数のプローブコイル4が設けられている。各プロ
ーブコイル4は、図9(b)に示すように、周方向に均
等に配設されている。
【0005】この検出ヘッド2の一対の貫通型一次コイ
ル3a,3bに図示しない発振器から例えば50〜10
00kHzの高周波励磁信号を印加すると、一対の貫通型
一次コイル3a,3bに交流磁界が発生し、この交流磁
界により、鋼管1の内面1aに渦電流が生起する。この
渦電流は鋼板1の内面1aに孔食5aが存在すると、そ
の孔深差や外径等の孔食5の規模に応じて変化する。
【0006】この渦電流により内面1aに近接配置され
たプローブコイル4に誘起電圧が生起される。したがっ
て、プローブコイル4の両端電圧を検出することによっ
て渦電流を検出できる。
【0007】測定ヘッド2を鋼管1の軸方向に移動させ
ながら、プローブコイル4の出力信号を監視する。そし
て、測定ヘッド2が孔食5a位置に達すると、渦電流値
が変化するので、プローブコイル4の出力信号レベルが
変化する。よって、孔食5aが検出できる。
【0008】また、測定ヘッド2の軸方向位置と、鋼管
1の内周面に沿って配設された各プローブコイル4の各
出力信号とを監視することによって、鋼管1の内面1a
に存在する孔食5aの発生位置と規模とを検出すること
が可能である。また、図10および図11は他の手法を
用いて被検体の表面に存在する孔食を検出する孔食検出
装置の動作原理を示す図である。
【0009】被検体6の表面に対向させて棒状コア7
a,7bに巻装された一対のコイル8a,8bが配設さ
れている。そして、各コイル8a,8bは図11に示す
ように、可変インピーダンス値Z1 ,Z2 を有するイン
ピーダンス素子9a,9bと共にブリッジ回路を構成す
る。このブリッジ回路のインピーダンス素子9a,9b
の接続点とコイル8a,8bの接続点との間に発振器9
cから高周波励磁信号が印加される。ブリッジ回路にお
けるインピーダンス素子9aとコイル8aとの接続点と
インピーダンス素子9bとコイル8bとの接続点との間
の電位差Vd が差動増幅器9dから出力される。
【0010】そして、発振器9cからブリッジ回路に高
周励磁信号を印加すると、各コイルa,8bが巻装され
た棒状コア7a,7bは磁化され、図10に示すような
被検体6にその一部が交差する磁束Φa,Φbが発生す
る。孔食が全く存在しない被検体6の健全部に前記各コ
ア7a,7bを対向させた状態で、差動増幅器9dから
出力される電位差Vd が0Vになるように、各インピー
ダンス素子9a,9bのインピーダンス値Z1 ,Z2 ,
を調整する。すなわち、この状態においては、各コイル
8a,8bの各インピーダンス値をZa ,Zb とする
と、(1) 式が成立する。 Z1 ・Zb =Z2 ・Za …(1)
【0011】そして、図10に示すように、被検体6に
孔食5cが存在すると、その孔食5cに対向する方の磁
束Φaが乱れるので、この孔食5cに対向するコイル8
aのインピーダンス値Za が変化する。その結果、差動
増幅器9dから孔食5cの規模に対応する電位差Vd が
出力される。よって、被検体6の表面に存在する孔食5
cの発生位置と規模とを検出することが可能である。
【0012】
【課題を解決するための課題】しかしながら、図9
(a)(b)および図10,図11に示した孔食検出装
置においても、まだ解消すべき次のような課題があっ
た。
【0013】先ず、図9(a)(b)の孔食検出装置に
おいては、鋼管1の内面1aに存在する孔食5aに対し
ては一定の検出感度でもって検出することが可能であ
る。しかし、鋼管1の外面1bに存在する孔食5bを検
出することができなかった。
【0014】すなわち、渦電流は鋼管1の内面1a近傍
及び外面1b近傍に発生するが、内面1a近傍に配設さ
れたプローブコイル4でもって外面1bの渦電流を検出
するためには、検出感度を大幅に増加する必要がある。
検出感度を増大するとS/Nが低下し、正確に外面1b
の孔食5bを検出することができなかった。したがっ
て、従来装置においては、内面1aの孔食5aと外面1
bの孔食5bとを別々の装置で検出していた。
【0015】また、鋼管1の磁気的特性が軸方向位置に
おいて例えば局部的に変動した場合、たとえ同一磁界が
印加されていたとしても発生する渦電流値が変動する。
その結果、この磁気特性変動を孔食5aとして検出して
しまう懸念がある。
【0016】次に、図10,図11の孔食検出装置にお
いて、孔食5cを精度よく検出するために、各磁束Φ
a,Φbの極く微細な変化量を検出する必要が有るの
で、外部の浮遊磁束の影響を排除するために図12に示
すように、各コイル8a,8bの周囲を共通に覆う磁気
シールド体10を設けている。
【0017】しかし、図12に示すように、磁気シール
ド体10を各コイル8a,8bに過度に近接配置する
と、各棒状コア7a,7bから出力される磁束Φa,Φ
bが被検体6まで達せずに、直ぐに外側に配設された磁
気シールド体10へ引き込まれる。この状態では孔食5
cは検出できない。
【0018】したがって、各棒状コア7a,7bと被検
体6までの距離L,各コイル8a,8bと外側の磁気シ
ード体10までの距離W、および各棒状コア7a,7b
の上端と磁気シード体10までの距離Hをある一定以上
に設定する必要が有る。発明者等の実験によると、上側
の距離Hを被検体6までの距離Lに対して2倍以上に設
定する必要があった。 H≧2L …(2) より具体的に言えば、例えば、被検体6までの距離Lを
3mmに設定すると、W≧6mm,H≧6mm以上が必
要であった。したがって、装置全体が大型化する懸念が
ある。
【0019】本発明はこのような事情に鑑みてなされた
ものであり、予め磁化器でもって被検体を強く磁化して
おくことによって、渦電流検出用プローブコイルにおけ
る渦電流の検出感度を上昇でき、かつ検出される欠陥信
号に含まれる被検体の磁気的特性変動に起因する成分を
除去でき、被検体に存在する孔食の検出精度を大幅に向
上でると共に、被検体の反対表面に存在する孔食も精度
よく検出でき、さらに装置全体を小型化できる鋼体の探
傷方法及び探傷装置を提供することを目的とする。
【0020】
【課題を解決するための手段】上記課題を解消するため
に本発明の鋼体の探傷方法においては、磁化器でもって
被検体を磁化し、この被検体に対して、E型コアの中央
磁極に一次コイルが巻装されかつ両側の各磁極にそれぞ
れ二次コイルが巻装された渦電流検出用プローブコイル
を対向配置し、一次コイルに交流電流を印加して被検体
に渦電流を発生させ、この渦電流によって各二次コイル
に生じる各誘起電圧の差分電圧を抽出し、被検体表面に
存在する孔食をこの抽出された差分電圧でもって検出す
るようにしている。
【0021】また、本発明の鋼体の探傷装置において
は、被検体に対向する一対の磁極を有し、被検体を磁化
する磁化器と、被検体における磁極相互間に対向配置さ
れると共に、E型コアの中央磁極に一次コイルが巻装さ
れかつ両側の各磁極にそれぞれ二次コイルが巻装された
渦電流検出用プローブコイルと、この渦電流検出用プロ
ーブコイルの一次コイルに被検体に渦電流を生起させる
交流電流を印加する発振器と、渦電流にて各二次コイル
に誘起される各誘起電圧の差分電圧を、被検体表面に存
在する孔食に対応する欠陥信号として検出する検出回路
とを備えたものである。さらに別の発明の鋼体の探傷装
置においては、渦電流検出用プローブの被検体に対する
対向面以外の外周を磁気シールド体で覆っている。
【0022】さらに別の発明においては、各誘起電圧の
差分電圧に含まれる交流電流に起因する高周波成分を除
去するとともに被検体に存在する欠陥に起因する漏洩磁
束を抽出するローパスフィルタが設けられている。
【0023】
【作用】このように構成された鋼体の探傷方法及びその
装置であれば、渦電流検出用プローブにおいては、各磁
極が被検体に対向するE型コアの中央磁極に一次コイル
が巻装され、両側の各磁極に二次コイルが巻装されてい
る。そして、一次コイルに交流電流を供給すると、この
一次コイルが巻装された中央磁極から両側に位置する各
磁極向かう磁束が発生する。中央磁極と各磁極とは被検
体に近接配置されているので、この被検体に渦電流が発
生する。そして、両側の磁極に巻装された二次コイルに
前記渦電流に起因する誘起電圧が発生する。
【0024】両側の各磁極が対向する被検体の表面近傍
に発生する誘起電流は全く等しいので、各二次コイルに
生起される誘起電圧は等しい。しかし、いずれか一方の
対向面に孔食が存在すると、該当対向面の渦電流が乱れ
る。したがって、各二次コイルにて検出される各誘起電
圧に差が生じる。よって差分電圧を検出することによっ
て、孔食の有無と孔食の規模が把握できる。
【0025】また、被検体は磁化器によって強く磁化さ
れているので、一次コイルによって被検体に生起される
交流磁束の浸透深さが大幅に増加する。この作用によ
り、被検体の渦電流検出用プローブコイル側面(内面)
近傍に発生する渦電流値が増大すると共に、被検体の渦
電流検出用プローブコイル側と反対面(外面)にも一定
量以上の渦電流が形成される。
【0026】したがって、一方側(内面)に配設された
渦電流検出用プローブコイルでもって、内面の渦電流と
外面の渦電流とを同時に検出できる。なお、中央磁極か
ら出力される磁束は被検体の内を交差する過程で位相遅
れが生じる。したがって、被検体の内面と外面とに存在
する同一形状の孔食を検出すると検出信号波形相互間で
位相差が生じ、ほぼ逆位相関係になる。よって、内面の
孔食と外面の孔食とを区別することが可能である。
【0027】一方、磁化器でもって被検体を磁化してい
るが、磁化器の各磁極をたとえ被検体に接触するまで近
接させたとしても、被検体の周囲には浮遊磁束が発生す
る。そこで、渦電流検出用プローブコイルの外面を磁気
シールド体で覆うことによって、浮遊磁束が渦電流検出
用プローブコイルの二次コイルに交差して、E型コアが
磁気飽和するのが防止される。したがって、反対側の孔
食に対する検出感度低下を未然に防止できる。さらに、
二次コイルの出力信号に浮遊磁束に起因する雑音が混入
しないようにしてる。
【0028】さらに、被検体は磁化器でもって強力に磁
化されている。このため、被検体の表面または内部に欠
陥が存在すると、被検体外に欠陥規模に対応した漏洩磁
束が発生する。二次コイルは磁気センサの機能(差分型
サーチコイル)をも有するので、二次コイルの出力信号
にはこの漏洩磁束に対応する信号成分が含まれる。そこ
で、差分電圧信号をローパスフィルタを用いて発振器の
発振周波数に対応する交流成分を除去すれば、欠陥に対
応する欠陥信号が得られる。
【0029】
【実施例】以下本発明の実施例を図面を用いて説明す
る。図1(a)(b)は本発明の一実施例に係わる鋼体
の探傷方法を採用した鋼体の探傷装置の概略構成を示す
模式図である。
【0030】図1(a)において、磁化器11の磁化鉄
心11aの中央部に励磁コイル11bが例えば2000回巻
装されている。この励磁コイル11bに図示しない励磁
電源から直流の励磁電流Iが印加されている。したがっ
て、各磁気鉄心11aの各磁極11c,11dは例えば
N極およびS極に磁化される。
【0031】磁化器11の各磁極11c,11dの上側
に例えば鋼板等からなる被検体12が近接配置される。
被検体12の上面(内面)12aには渦電流検出用プロ
ーブコイル13が近接配置されている。この渦電流検出
用プローブコイル13に発振器19から例えば10〜1
000kHzの高周波励磁信号aが印加される。また、渦
電流検出用プローブコイル13の出力信号bは検出回路
14へ入力される。検出回路14は、内部に同期検波回
路と増幅器とを内蔵し、入力した高周波の出力信号bを
前記高周波励磁信号aの周波数で同期検波し、出力信号
bに含まれる高周波成分を除去する。さらに、検出回路
14は、高周波成分が除去された出力信号を増幅して、
被検体12の上面(内面)12aまたは下面(外面)1
2bに存在する孔食20a,20bを示す欠陥信号cへ
変換する。検出回路14から出力された欠陥信号cは記
録計15にて記録される。
【0032】図1(b)は渦電流検出用プローブコイル
13を示す断面図である。強磁性体材料で構成されたE
型コア16の中央磁極16aに一次コイル17が巻装さ
れている。一次コイル17に発振器19から前記高周波
励磁信号aが印加される。また両側の各磁極16b,1
6cにそれぞれ二次コイル18a,18bが巻装されて
いる。二次コイル18a,18bの各巻回方向は互いに
逆方向に設定されている。また、二次コイル18a,1
8bは直列接続されている。そして、直列接続された二
次コイル18a,18bの両端端子から出力信号bが前
記検出回路14へ送出される。前記各二次コイル18
a,18bの巻回方向が互いに逆方向であるので、出力
信号bは各二次コイル18a,18bでそれぞれ検出さ
れた誘起電圧の差の電圧、すなわち差分電圧信号とな
る。また、E型コア16の被検体12に対向する面以外
の各外面は磁気シールド体21で覆われている。
【0033】このように構成された鋼板の探傷装置によ
れば、被検体12は磁化器11によって強力に磁化され
ている。そして、被検体12内に一方の磁極11cと他
方の磁極11dとを結ぶ磁束Φm が発生する。また、一
次コイル17に高周波励磁信号aが印加されると、中央
磁極16aとそれぞれ外側の磁極16b,16cとを結
ぶ磁束Φab,Φacが発生する。したがって、被検体12
における両側の磁極16a,16bに対向する位置に前
記各磁束Φab,Φacが交差する。その結果、被検体12
の上面(内面)12aの該当する位置に渦電流が発生す
る。
【0034】よって、各二次コイル18a,18bに各
渦電流に対応する誘起電圧が発生する。二次コイル18
a,18bの直列回路の両端から取出される出力信号d
は各渦電流値の差分電圧信号となる。そして、被検体1
2の各面12a,12bに全く孔食20a,20bが存
在しなければ、各磁極16a,16bに対向する位置に
生起される渦電流は全く等しいので、出力信号bの信号
レベルは0である。被検体12の上面(内面)12aま
たは下面(外面)12bに孔食20a,20bが存在す
ると、該当位置の渦電流が乱れる。よって、出力信号b
は孔食20a,20bの規模に応じた信号レベルとな
る。
【0035】次に、このように構成された鋼体の探傷装
置を用いて、予め規模が既知の孔食を人工的に作成した
試験用の被検体に対する探傷実験を実施した。測定結果
を図2乃至図5に示す。
【0036】厚さtが6.7mmと12.7mmとの2
種類の試験用被検体を用い、かつ孔食の外径は10mm
であり、孔食の深さdは厚さtに対する比率で示し、2
0%,40%,50%,60%の合計4種類の孔食を形
成した。
【0037】図5は、渦電流検出用プローブコイル13
を厚さt=12,7mmの前記人工欠陥が形成された被
検体12上を一定速度で移動させた場合における検出回
路14から出力された欠陥信号cの信号波形図である。
【0038】なお、磁化器11の励磁電流Iは1Aであ
る。また、渦電流検出用プローブコイル13と被検体1
2との間の距離Lは3mmである。さらに、各二次コイ
ル18a,18bと外側の磁気シールド体12との間の
距離Wは1mmである。当然、E型コア16の上端は磁
気シールド体21に固定されているので、E型コア16
と磁気シールド体21との間の距離Hは0mmである。
【0039】この図5からも理解できるように、被検体
12における渦電流検出用プローブコイル13側の上面
(内面)12a側に存在する孔食20aの信号波形と反
渦電流検出用プローブコイル13側の下面(外面)12
b側に存在する孔食20bの信号波形とは位相が大幅に
異なる。すなわち、上面(内面)12a側の孔食20a
においては最初に(+)極性となり、後から(−)極性
となる。逆に、下面(外面)12b側の孔食20bにお
いては最初に(−)極性となり、後から(+)極性とな
る。なお、この極性は二次コイル18a,18bの接続
方法によって反転する。
【0040】図3は、磁気シールド体21が取付けられ
た状態で、同一規模の孔食を測定した場合における欠陥
信号cの位相と信号レベルとの関係を示す実測図であ
る。図示するように、上面12a側の孔食20aの欠陥
信号cは進み位相で最大値を示す。これに対して、下面
12b側の孔食20bの欠陥信号cにおいては、前述し
たように中央磁極16aから出力される磁束は被検体1
2の内を交差する過程で位相遅れが生じるので、90°
遅れで最大値を示す。
【0041】したがって、この欠陥信号cにおける位相
特性を利用することによって欠陥信号cに現れた欠陥波
形が上面(内面)12aに存在する孔食20aに起因す
るものか、下面(外面)12bに存在する孔食20bに
起因するものが判断可能となる。
【0042】図2は、下面(外面)12bに前述した各
種の人工の孔食20bが形成された被検体12に対する
試験を実施した場合における磁化器11の励磁コイル1
1bに印加する励磁電流Iと検出された欠陥信号cの相
対出力との関係を示す実測図である。
【0043】図示するように、励磁電流Iが0の場合、
すなわち、被検体12に磁界が全く印加されていない状
態においては、下面(外面)12b、すなわち渦電流検
出用プローブコイル13の反対側面に存在する孔食20
bは全く検出されない。そして、励磁電流Iを増加する
と、欠陥信号cの検出レベルが上昇していく、そして、
励磁電流Iが0.4A程度(磁化力H=2000T ×0.4A)
で検出可能となり、約2A(磁化力H=2000T ×2.0A)
以上で検出レベルが一定になる。
【0044】したがって、被検体12に予め磁化器11
でもって磁界を印加し、被検体12内に一定の磁束Φm
を発生させておけば、中央磁極18aから出力された磁
束Φab,Φacが効率よく反対面12bまで届いて渦電流
を形成し、この渦電流が各二次コイル18a,18bに
て検出される。よって、被検体12の上面(内面)12
aに存在する孔食20aのみならず、下面(外面)12
bに存在する孔食20bも検出できる。
【0045】また、図2における、点線で示す特性は、
図1(b)における磁気シールド体21を除去した場合
における特性である。すなわち、磁気シールド体21が
存在しないと、磁化器11にて被検体12を磁化した場
合における浮遊磁束Φaiが渦電流検出用プローブコイル
13内の二次コイル18a,18bに交差して、E型コ
ア16が磁気飽和する。したがって、E型コア16の透
磁率が減少し、下面(外面)12bに存在する孔食20
bに対する検出感度が極端に減少する。そして、励磁電
流Iが1A以上になると、検出感度がほぼ0となる。
【0046】また、被検体12は磁化器11でもって強
力に磁化されているので、たとえ被検体12に磁気的特
性が異なる位置が存在したとしても、その磁気的特性の
変化が渦電流のレベルに大きく影響を与えない。
【0047】このように、磁化器11でもって被検体1
2を磁化し、かつ磁気シールド体21を設けることによ
って、たとえ渦電流検出用プローブコイル13の反対面
12bに存在する孔食20bであっても、確実にかつ精
度よく検出できる。
【0048】図4は上面(内面)12aおよび下面(外
面)12bに形成された孔食20a,20bの孔深さd
と欠陥信号cの信号レベルの相対値との関係を示す実測
図である。図示するように、孔深さdと欠陥信号cの信
号レベルとはよい直線関係にある。したがって、孔食2
0a,20bの存在のみならず、孔食20a,20bの
規模も確実に検出できる。
【0049】また、中央磁極16aと外側の各磁極16
b,16cとを結ぶ磁束Φab,Φacは外側に配設されて
いる磁気シールド体21にほとんど影響されないので、
磁気シールド体21と各二次コイル18a,18bとの
間の距離Wを図12で示した従来装置に比較して大幅に
短縮できる。実施例装置においては、前述したようにW
=1mmに設定している。さらに、E型コア16と磁気
シールド体21との間の距離Hも設ける必要がない。よ
って、従来装置に比較して、装置全体を大幅に小型化で
きる。
【0050】図6(a)(b)は本発明の他の実施例に
係わる鋼体の探傷装置の概略構成を示す断面図である。
この鋼体の探傷装置は鋼管の内面および外面に存在する
孔食を検出する。
【0051】厚肉の鋼管31内に測定ヘッド32が挿入
されている。この測定ヘッド32内には、筒状の永久磁
石からなる磁化器33が組込まれている。磁化器33の
外周面の両端には鋼管31の内面31aに接触する環状
のワイヤブラシ33a,33bが取付けられている。し
たがって、各ワイヤブラシ33a,33bは磁化器33
の各磁極を構成する。よって、鋼管31は磁化器33で
もって磁化される。磁化器33の各ワイヤブラシ33
a,33bの中間位置に多数の渦電流検出用プローブコ
イル34が配設されている。具体的には、図6(b)に
示すように、鋼管31の内面31aに対向するように、
周上に等間隔で配設されている。各渦電流検出用プロー
ブコイル34は図1(b)に示した渦電流検出用プロー
ブコイル13と同一構成を有する。図7は、図6に示す
鋼体の探傷装置の電気的構成を示すブロック図である。
【0052】発振器19から出力された高周波励磁信号
aは各渦電流検出用プローブコイル34の各一次コイル
17へ印加される。各渦電流検出用プローブコイル34
の各二次コイル18a,18bは互いに巻回方向が逆向
きになるように直列接続されている。そして、各渦電流
検出用プローブコイル34の出力信号dがマルチプレク
サ回路35へ入力される。マルチプレクサ回路35は各
出力信号bを順番に選択し、検出回路14内の同期検波
回路14aへ送出する。同期検波回路14aにて高周波
信号成分が除去された出力信号はデータ処理部14bで
各渦電流検出用プローブコイル34毎の欠陥信号cに分
解されて記録計15へ入力される。
【0053】このような構成の鋼体の探傷装置におい
て、測定ヘッド32を鋼管31の軸方向に一定速度で移
動させると、鋼管31の内面31aおよび外面31bに
孔食が存在すると、記録計15に孔食の周上の発生位置
と、内面か外面可の区別と、その規模とが記録される。
図8は本発明の他の実施例に係わる鋼体の探傷装置の電
気的構成を示すブロック図である。図7に示す実施例と
同一部分には同一符号が付してある。したがって、重複
する部分の詳細説明は省略されている。
【0054】この実施例においては、各渦電流検出用プ
ローブコイル34から出力される各出力信号bは前記マ
ルチプレクサ回路35へ入力されると共に、それぞれロ
ーパスフィルタ36を介して別のマルチプレクサ37へ
入力される。このマルチプレクサ回路37から出力され
た欠陥信号eは図示しないデータ処理部へ入力される。
【0055】一般に、磁界内に配設されたコイルにおい
て、この磁界による磁束がコイルに交差するとコイルに
誘導電流が流れる。したがって、各渦電流検出用プロー
ブコイル34の各二次コイル18a,18bは前述した
ように渦電流を検出する機能の他に、磁気を検出する磁
気センサ(差動型サーチコイル)の機能を有する。
【0056】そして、被検体12内には磁化器11によ
って磁束Φが形成されているが、鋼管31の表面または
内部に欠陥が存在すると、鋼管31の外部に磁束が漏洩
する。したがって、前記各二次コイル18a,18bに
よって欠陥に起因する漏洩磁束が検出される。そして、
この検出信号bに含まれる欠陥に起因するろ漏洩磁束の
周波数成分を前記渦電流の成分と区別して検出するため
に、ローパスフィルタ36でもって、発振器19に起因
する高周波成分を除去している。そして、マルチプレク
サ回路37およびデータ処理部でもって、鋼管31の各
渦電流検出用プローブコイル34の対向位置毎の欠陥信
号が取出されて、記録計に記録される。
【0057】なお、磁気シールド体21が設けてあるの
で、磁気センサとして機能する各二次コイル18a,1
8bに浮遊磁束が交差しないので、欠陥信号のS/Nを
大幅に向上できる。このように、鋼管31の内面31
a,外面31bに存在する孔食の他に、鋼管31内部に
存在する欠陥も検出することが可能である。
【0058】
【発明の効果】以上説明したように、本発明の鋼体の探
傷方法及びその装置によれば、磁化器でもって被検体を
強く磁化しておき、被検体に対向配置された渦電流検出
用プローブコイルを、E型コアの中央磁極に巻装された
一次コイルと両側の各磁極に巻装された二次コイルとで
構成している。したがって、渦電流検出用プローブコイ
ルにおける渦電流の検出感度を上昇でき、かつ検出され
る欠陥信号に含まれる被検体の磁気的特性変動に起因す
る成分を除去でき、被検体に存在する孔食の検出精度を
大幅に向上でると共に、被検体の反対表面に存在する孔
食も高い検出精度で検出できる。さらに装置全体を小型
化ではる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施例に係わる鋼体の探傷装置の
概略構成図、
【図2】 同実施例装置を用いて測定された励磁電流と
反対面に存在する孔食の検出レベルとの関係を示す図、
【図3】 同実施例装置を用いて測定された上面および
下面に存在する孔食の検出信号の位相関係を示す図、
【図4】 同実施例装置を用いて測定された孔食の深さ
と検出レベルとの関係を示す図、
【図5】 同実施例装置を用いて測定された孔食の検出
信号波形図、
【図6】 本発明の他の実施例の鋼体の探傷装置の概略
構成図、
【図7】 同実施例装置の電気的構成を示す回路図、
【図8】 本発明のさらに別の実施例の鋼体の探傷装置
の電気的構成を示す回路図、
【図9】 従来の孔食検出装置を示す概略構成図、
【図10】 他の従来孔食検出装置を示す概略構成図、
【図11】 同孔食検出装置の電気回路図、
【図12】 同孔食検出装置の問題点を説明するための
図。
【符号の説明】
11,33…磁化器、12…被検体,13,34…渦電
流検出用プローブコイル、14…検出回路、16…E型
コア、17…一次コイル、18a,18b…二次コイ
ル、19…発振器、20a,20b…孔食、21…磁気
シールド体、35,37…マルチプレクサ回路、36…
ローパスフィルタ。

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 磁化器でもって被検体を磁化し、この被
    検体に対して、E型コアの中央磁極に一次コイルが巻装
    されかつ両側の各磁極にそれぞれ二次コイルが巻装され
    た渦電流検出用プローブコイルを対向配置し、前記一次
    コイルに交流電流を印加して前記被検体に渦電流を発生
    させ、この渦電流によって前記各二次コイルに生じる各
    誘起電圧の差分電圧を抽出し、前記被検体表面に存在す
    る孔食を前記抽出された差分電圧でもって検出する鋼体
    の探傷方法。
  2. 【請求項2】 被検体に対向する一対の磁極を有し、前
    記被検体を磁化する磁化器と、前記被検体における前記
    磁極相互間に対向配置されると共に、E型コアの中央磁
    極に一次コイルが巻装されかつ両側の各磁極にそれぞれ
    二次コイルが巻装された渦電流検出用プローブコイル
    と、この渦電流検出用プローブコイルの一次コイルに前
    記被検体に渦電流を生起させる交流電流を印加する発振
    器と、前記渦電流にて前記各二次コイルに誘起される各
    誘起電圧の差分電圧を、前記被検体表面に存在する孔食
    に対応する欠陥信号として検出する検出回路とを備えた
    鋼体の探傷装置。
  3. 【請求項3】 前記渦電流検出用プローブコイルの被検
    体に対向する面以外の外周面を覆う磁気シールド体を設
    けたこと特徴とする請求項2記載の鋼体の探傷装置。
  4. 【請求項4】 前記各誘起電圧の差分電圧に含まれる前
    記交流電流に起因する高周波成分を除去するとともに前
    記被検体に存在する欠陥に起因する漏洩磁束を抽出する
    ローパスフィルタを設けたこと特徴とする請求項2記載
    の鋼体の探傷装置。
JP3330399A 1991-12-13 1991-12-13 鋼体の探傷装置 Expired - Fee Related JP2639264B2 (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3330399A JP2639264B2 (ja) 1991-12-13 1991-12-13 鋼体の探傷装置
GB9225190A GB2262346B (en) 1991-12-13 1992-12-02 Method and apparatus for detecting defects of a steel material

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP3330399A JP2639264B2 (ja) 1991-12-13 1991-12-13 鋼体の探傷装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH05164745A true JPH05164745A (ja) 1993-06-29
JP2639264B2 JP2639264B2 (ja) 1997-08-06

Family

ID=18232169

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP3330399A Expired - Fee Related JP2639264B2 (ja) 1991-12-13 1991-12-13 鋼体の探傷装置

Country Status (2)

Country Link
JP (1) JP2639264B2 (ja)
GB (1) GB2262346B (ja)

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000241393A (ja) * 1999-02-24 2000-09-08 Hitachi Building Systems Co Ltd エレベータ用ロープの磁気探傷装置
JP2001108658A (ja) * 1999-10-05 2001-04-20 Kyosan Electric Mfg Co Ltd ワイヤロープ探傷器
JP2006284191A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Jfe Steel Kk 渦流式センサによる表面欠陥検出方法
WO2010077840A3 (en) * 2008-12-17 2010-10-21 Ndt Technologies, Inc. Magnetic inspection device
US7872472B2 (en) 2006-09-29 2011-01-18 Hitachi, Ltd. Eddy current testing apparatus and eddy current testing method
JP2011191326A (ja) * 2011-07-08 2011-09-29 Jfe Steel Corp 渦流式センサによる厚板の表面欠陥検出方法
KR101388773B1 (ko) * 2010-01-14 2014-04-23 도요타 지도샤(주) 와전류 계측 센서 및 이 와전류 계측 센서를 이용한 검사 방법
CN105241954A (zh) * 2015-11-13 2016-01-13 国家电网公司 水力发电机磁极连接引线涡流检测阵列换能装置
CN105823797A (zh) * 2016-03-21 2016-08-03 电子科技大学 一种基于共生式磁轭线圈的感应热像无损检测装置
JP2016197085A (ja) * 2015-04-06 2016-11-24 新日鐵住金株式会社 磁気探傷方法
WO2017010215A1 (ja) * 2015-07-16 2017-01-19 住友化学株式会社 欠陥測定方法、欠陥測定装置、および検査プローブ

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6057684A (en) * 1995-10-31 2000-05-02 Yoshihiro Murakami Magnetic flaw detection apparatus using an E-shaped magnetic sensor and high-pass filter
FR2811076B1 (fr) * 2000-06-29 2002-09-20 Snecma Moteurs Procede de mesure d'epaisseur de paroi d'une aube creuse
CN1311235C (zh) * 2003-08-13 2007-04-18 杰富意钢铁株式会社 钢带或表面处理钢带的制造方法
WO2008034867A2 (en) 2006-09-21 2008-03-27 Shell Internationale Research Maatschappij B.V. Device and method for detecting an anomaly in an assembly of a first and a second object
CN106770632B (zh) * 2015-11-24 2023-06-16 核动力运行研究所 一种适用于ω焊缝的基于收发式线圈的直流磁化探头
JP7205642B2 (ja) * 2020-07-31 2023-01-17 Jfeスチール株式会社 検査装置、検査システムおよび検査方法、ならびに部材の補修方法
CN112834606B (zh) * 2021-01-07 2022-11-29 清华大学 基于聚焦漏磁复合检测的内外壁缺陷识别的方法和装置
CN113866261B (zh) * 2021-09-09 2023-09-26 内蒙古科技大学 一种钢板缺陷测量装置及方法

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6341764U (ja) * 1986-09-04 1988-03-18
JPH0260804U (ja) * 1988-04-23 1990-05-07

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1231641A (ja) * 1968-02-13 1971-05-12
GB2067766B (en) * 1980-01-15 1984-07-04 Bicc Ltd Testing elongate bodies of ferrous metals

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6341764U (ja) * 1986-09-04 1988-03-18
JPH0260804U (ja) * 1988-04-23 1990-05-07

Cited By (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000241393A (ja) * 1999-02-24 2000-09-08 Hitachi Building Systems Co Ltd エレベータ用ロープの磁気探傷装置
JP2001108658A (ja) * 1999-10-05 2001-04-20 Kyosan Electric Mfg Co Ltd ワイヤロープ探傷器
JP2006284191A (ja) * 2005-03-31 2006-10-19 Jfe Steel Kk 渦流式センサによる表面欠陥検出方法
US7872472B2 (en) 2006-09-29 2011-01-18 Hitachi, Ltd. Eddy current testing apparatus and eddy current testing method
US8368395B2 (en) 2008-12-17 2013-02-05 Ndt Technologies, Inc. Magnetic inspection device and method for detecting loss in metallic cross section
WO2010077840A3 (en) * 2008-12-17 2010-10-21 Ndt Technologies, Inc. Magnetic inspection device
KR101388773B1 (ko) * 2010-01-14 2014-04-23 도요타 지도샤(주) 와전류 계측 센서 및 이 와전류 계측 센서를 이용한 검사 방법
JP2011191326A (ja) * 2011-07-08 2011-09-29 Jfe Steel Corp 渦流式センサによる厚板の表面欠陥検出方法
JP2016197085A (ja) * 2015-04-06 2016-11-24 新日鐵住金株式会社 磁気探傷方法
WO2017010215A1 (ja) * 2015-07-16 2017-01-19 住友化学株式会社 欠陥測定方法、欠陥測定装置、および検査プローブ
JP2017026354A (ja) * 2015-07-16 2017-02-02 住友化学株式会社 欠陥測定方法、欠陥測定装置、および検査プローブ
US10539535B2 (en) 2015-07-16 2020-01-21 Sumitomo Chemical Company, Limited Defect measurement method, defect measurement device, and testing probe
CN105241954A (zh) * 2015-11-13 2016-01-13 国家电网公司 水力发电机磁极连接引线涡流检测阵列换能装置
CN105823797A (zh) * 2016-03-21 2016-08-03 电子科技大学 一种基于共生式磁轭线圈的感应热像无损检测装置

Also Published As

Publication number Publication date
GB2262346B (en) 1995-05-31
GB9225190D0 (en) 1993-01-20
JP2639264B2 (ja) 1997-08-06
GB2262346A (en) 1993-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2639264B2 (ja) 鋼体の探傷装置
JPS61223549A (ja) パイプラインの孔食検出装置
JP6452880B1 (ja) 管状体のきず又は欠陥の検査方法及び装置
Wei et al. A transducer made up of fluxgate sensors for testing wire rope defects
US2258837A (en) Electrical testing
GB881495A (en) Probe device for flaw detection
RU2566416C1 (ru) Устройство для вихретоко-магнитной дефектоскопии ферромагнитных объектов
KR100626228B1 (ko) 교류자기장을 이용한 유도자속 탐상장치 및 그 방법
JP2666301B2 (ja) 磁気探傷法
US4675605A (en) Eddy current probe and method for flaw detection in metals
JPH0989843A (ja) 渦流探傷方法及び渦流探傷装置
JPS6232355A (ja) 渦流探傷試験装置
JPH0335624B2 (ja)
JP2798199B2 (ja) 渦流探傷法におけるノイズ除去方法
JPS61198055A (ja) 渦流探傷用内插型プロ−プ
GB2230341A (en) Apparatus for measuring magnetic flux density
JPH09269316A (ja) 渦流探傷方法及び渦流探傷器
JPH03118465A (ja) 管内欠陥検出装置
RU2634544C2 (ru) Устройство для вихретоковой дефектоскопии ферромагнитных труб со стороны их внутренней поверхности
JPH10160710A (ja) 分割型探傷センサ及び導電性管探傷方法
JPS6345555A (ja) 鋼管の孔食探査方法
RU103926U1 (ru) Электромагнитный преобразователь к дефектоскопу
KR102283396B1 (ko) 와전류 비파괴검사를 위한 센서프로브 검사장치
RU2079809C1 (ru) Параметрический накладной датчик
JPH0534319A (ja) 渦流探傷用検出ヘツド

Legal Events

Date Code Title Description
FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080425

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090425

Year of fee payment: 12

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100425

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100425

Year of fee payment: 13

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110425

Year of fee payment: 14

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees