JPH0534319A - 渦流探傷用検出ヘツド - Google Patents
渦流探傷用検出ヘツドInfo
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- JPH0534319A JPH0534319A JP3276045A JP27604591A JPH0534319A JP H0534319 A JPH0534319 A JP H0534319A JP 3276045 A JP3276045 A JP 3276045A JP 27604591 A JP27604591 A JP 27604591A JP H0534319 A JPH0534319 A JP H0534319A
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Abstract
(57)【要約】 （修正有）
【目的】本発明は、渦流探傷法における検出感度及びＳ
／Ｎを向上させ、微小欠陥の検出性能を飛躍的にアップ
させることを目的とする。 【構成】被検査材２を渦流探傷法にて検査するとき、被
検査材２の局部的に渦電流を発生するための１対の１次
コイルＣ１，Ｃ２を配置し、前記１対の１次コイルＣ
１，Ｃ２の中央に前記被検査材２に存在する欠陥Ｉを検
出するための２次コイルＳを１個設置する。次に前記し
た１対の１次コイルＣ１，Ｃ２を相互に逆位相に結線
（直列又は並列結線）して交流電流を供給し、前記した
２次コイルＳに誘起した電圧を抽出するための渦流探傷
用検出ヘッド。
／Ｎを向上させ、微小欠陥の検出性能を飛躍的にアップ
させることを目的とする。 【構成】被検査材２を渦流探傷法にて検査するとき、被
検査材２の局部的に渦電流を発生するための１対の１次
コイルＣ１，Ｃ２を配置し、前記１対の１次コイルＣ
１，Ｃ２の中央に前記被検査材２に存在する欠陥Ｉを検
出するための２次コイルＳを１個設置する。次に前記し
た１対の１次コイルＣ１，Ｃ２を相互に逆位相に結線
（直列又は並列結線）して交流電流を供給し、前記した
２次コイルＳに誘起した電圧を抽出するための渦流探傷
用検出ヘッド。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は電磁誘導法を適用した渦
流探傷法に関する技術である。この渦流探傷法に用いる
検出ヘッドを改良することにより、微小欠陥の検出性能
を飛躍的に向上する新しい技術を提供する。
流探傷法に関する技術である。この渦流探傷法に用いる
検出ヘッドを改良することにより、微小欠陥の検出性能
を飛躍的に向上する新しい技術を提供する。
【０００２】
【従来の技術】各種パイプや、棒材を検査する公知技術
としては、超音波探傷法、Ｘ線法、渦電流法が存在す
る。
としては、超音波探傷法、Ｘ線法、渦電流法が存在す
る。
【０００３】超音波探傷法は微小欠陥に対する検出感度
が高く精密探傷には適しているが、検査時接触媒質を必
要としオンライン検査に適さない。また、Ｘ線法は微小
欠陥に対する検出感度は極めて高い、しかし装置が大型
でかつ複雑である。渦流探傷法は他の探傷法と比較して
検出感度はそこそこであるが、非接触で探傷でき、オン
ラインでの高速検査に適している。
が高く精密探傷には適しているが、検査時接触媒質を必
要としオンライン検査に適さない。また、Ｘ線法は微小
欠陥に対する検出感度は極めて高い、しかし装置が大型
でかつ複雑である。渦流探傷法は他の探傷法と比較して
検出感度はそこそこであるが、非接触で探傷でき、オン
ラインでの高速検査に適している。
【０００４】図８渦流法を用いた探傷装置の基本構成を
示す。図８において１は発振器、２は被検査用パイプ、
３は信号増幅器、４は移相器、５は同期検波器、ＣはＡ
Ｃブリッジ、Ｃ１，Ｃ２はＡＣブリッジに結線された１
対のコイル。
示す。図８において１は発振器、２は被検査用パイプ、
３は信号増幅器、４は移相器、５は同期検波器、ＣはＡ
Ｃブリッジ、Ｃ１，Ｃ２はＡＣブリッジに結線された１
対のコイル。
【０００５】以下、図８を用いて公知技術を簡単に説明
する。図８に示す如く、被検査パイプ２の外側に１対の
貫通型コイルＣ１，Ｃ２を配置し、この１対のコイルに
１対のインピーダンスＺ１，Ｚ２を結線して交流ブリッ
ジを構成する。この交流ブリッジＣに発振器１から交流
電流を供給すると、１対の貫通型コイルから交流磁界が
発生し、被検査パイプ２の局部に渦電流を発生させる。
する。図８に示す如く、被検査パイプ２の外側に１対の
貫通型コイルＣ１，Ｃ２を配置し、この１対のコイルに
１対のインピーダンスＺ１，Ｚ２を結線して交流ブリッ
ジを構成する。この交流ブリッジＣに発振器１から交流
電流を供給すると、１対の貫通型コイルから交流磁界が
発生し、被検査パイプ２の局部に渦電流を発生させる。
【０００６】この条件下で、１対のインピーダンスＺ
１，Ｚ２の値を調整して交流ブリッジＣを平衡させる
と、ブリッジの出力電圧は零ボルトになる。次に被検査
パイプが矢印方向に移動し、被検査パイプの欠陥部、Ｉ
がＣ１およびＣ２のコイルを通過するとき、欠陥Ｉによ
って被検査パイプに発生する渦電流の値が変化する。
１，Ｚ２の値を調整して交流ブリッジＣを平衡させる
と、ブリッジの出力電圧は零ボルトになる。次に被検査
パイプが矢印方向に移動し、被検査パイプの欠陥部、Ｉ
がＣ１およびＣ２のコイルを通過するとき、欠陥Ｉによ
って被検査パイプに発生する渦電流の値が変化する。
【０００７】この反作用として１対のコイルＣ１，Ｃ２
のインピーダンスＺｃ１，Ｚｃ２が時間差を得て変化す
る。この結果ブリッジの出力には欠陥Ｉに対応したアン
バランス電圧Ｖｓが発生する。このアンバランス電圧Ｖ
ｓは、信号増幅器３で所期値に増幅された後、同期検波
器５に加えられる。又、同期検波器５には発振器１から
移相器４を介して基準電圧が印加される。
のインピーダンスＺｃ１，Ｚｃ２が時間差を得て変化す
る。この結果ブリッジの出力には欠陥Ｉに対応したアン
バランス電圧Ｖｓが発生する。このアンバランス電圧Ｖ
ｓは、信号増幅器３で所期値に増幅された後、同期検波
器５に加えられる。又、同期検波器５には発振器１から
移相器４を介して基準電圧が印加される。
【０００８】前記したアンバランス電圧Ｖｓは基準電圧
ＥＲによって検波され直流電圧に変換され、同期検波器
の出力端子から得られる。この出力電圧を測定すること
により間接的に非検査パイプに存在する欠陥Ｉを検出す
ることができる。
ＥＲによって検波され直流電圧に変換され、同期検波器
の出力端子から得られる。この出力電圧を測定すること
により間接的に非検査パイプに存在する欠陥Ｉを検出す
ることができる。
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】渦流探傷法は被検査材
を非接触で探傷できる特徴を有しているが下記に示す欠
点が存在し、その改良技術が強く要望されている。
を非接触で探傷できる特徴を有しているが下記に示す欠
点が存在し、その改良技術が強く要望されている。
【００１０】図９に示す如く人工欠陥（貫通孔の孔径に
対して、非線形特性の出力電圧である。このため、微小
欠陥（０．３ｍｍΦ以下）の検出感度が急に減少する。
対して、非線形特性の出力電圧である。このため、微小
欠陥（０．３ｍｍΦ以下）の検出感度が急に減少する。
【００１１】図に示す如く、実用上のＳ／ＮをＳ／Ｎ≧
３に設定すると、人工欠陥の検出限界は０．３ｍｍΦと
なり高性能探傷の目的を達することができない。
３に設定すると、人工欠陥の検出限界は０．３ｍｍΦと
なり高性能探傷の目的を達することができない。
【００１２】
【課題を解決するための手段】本願技術は、従来技術の
問題点を解決し微小欠陥に対する検出感度及びＳ／Ｎの
向上を目的として発明された技術である。
問題点を解決し微小欠陥に対する検出感度及びＳ／Ｎの
向上を目的として発明された技術である。
【００１３】
【作用】本願の基本構成を第１図に示す。図においてＣ
１，Ｃ２は１対の１次コイル、Ｓは２次コイル、Ｓ１，
Ｓ２は２次コイルＳの等価コイル、２は被検査パイプ、
４は移相器、１は発振器、６は差動増幅器、５は同期検
波器以下、図１を用いて本願技術とその作業について説
明する。
１，Ｃ２は１対の１次コイル、Ｓは２次コイル、Ｓ１，
Ｓ２は２次コイルＳの等価コイル、２は被検査パイプ、
４は移相器、１は発振器、６は差動増幅器、５は同期検
波器以下、図１を用いて本願技術とその作業について説
明する。
【００１４】図１に示す如く、１対の１次コイルＣ１，
Ｃ２を逆接続に結線して、発振器１から交流電流を供給
して１対の１次コイルＣ１，Ｃ２から被検査パイプの軸
方向の局部的に相互に逆位相の渦電流を発生させる。
Ｃ２を逆接続に結線して、発振器１から交流電流を供給
して１対の１次コイルＣ１，Ｃ２から被検査パイプの軸
方向の局部的に相互に逆位相の渦電流を発生させる。
【００１５】今図１に示す如く、被検査パイプの健全部
が１対の１次コイルＣ１，Ｃ２に存在するときは、１対
の１次コイルＣ１，Ｃ２の中央に配置された２次コイル
Ｓは２次コイルの巻幅の中心を堺にして相互に逆位相の
磁束Φ１，Φ２が交差するので、２次コイルＳには電圧
が誘起されるが総和が零ボルトになる。
が１対の１次コイルＣ１，Ｃ２に存在するときは、１対
の１次コイルＣ１，Ｃ２の中央に配置された２次コイル
Ｓは２次コイルの巻幅の中心を堺にして相互に逆位相の
磁束Φ１，Φ２が交差するので、２次コイルＳには電圧
が誘起されるが総和が零ボルトになる。
【００１６】このことは図１にしめす如く、１個の２次
コイルが等価的に２個の２次コイル、として動作してい
る。２次コイルＳに誘起される電圧は（１）式で表示さ
れる。 ｅｓ＝ｅｃ１／Ｚｃ１・Ｋ１−ｅｃ２／Ｚｃ２・Ｋ２・・・（１） （１）式において母材健全部では ｅｃ１＝ｅｃ２ Ｚｃ１＝Ｚｃ２ Ｋ１＝Ｋ２が成
立する。 （１）式において ｅｃ１，ｅｃ２：１対の１次コイルの電圧 Ｚｃ１，Ｚｃ２：１対の１次コイルのインピーダンス Ｋ１，Ｋ２は１対の１次コイルＣ１，Ｃ２と、２次コイ
ルＳの等価な２個の２次コイルＳ１，Ｓ２との各結合係
数。
コイルが等価的に２個の２次コイル、として動作してい
る。２次コイルＳに誘起される電圧は（１）式で表示さ
れる。 ｅｓ＝ｅｃ１／Ｚｃ１・Ｋ１−ｅｃ２／Ｚｃ２・Ｋ２・・・（１） （１）式において母材健全部では ｅｃ１＝ｅｃ２ Ｚｃ１＝Ｚｃ２ Ｋ１＝Ｋ２が成
立する。 （１）式において ｅｃ１，ｅｃ２：１対の１次コイルの電圧 Ｚｃ１，Ｚｃ２：１対の１次コイルのインピーダンス Ｋ１，Ｋ２は１対の１次コイルＣ１，Ｃ２と、２次コイ
ルＳの等価な２個の２次コイルＳ１，Ｓ２との各結合係
数。
【００１７】次に図１に示す如く、被検査パイプが矢印
方向に移動して欠陥部が各１次コイル下を通過すると欠
陥Ｉによって、被検査パイプへの渦電流の発生が変化す
る。この反作業として１対の１次コイルと２次コイルＳ
の等価１対の２次コイルＳ１，Ｓ２との結合係数Ｋ１，
Ｋ２に差が発生しＫ１≠Ｋ２となり｜Ｋ１−Ｋ２｜に対
応した出力電圧が２次コイルＳに誘起される。
方向に移動して欠陥部が各１次コイル下を通過すると欠
陥Ｉによって、被検査パイプへの渦電流の発生が変化す
る。この反作業として１対の１次コイルと２次コイルＳ
の等価１対の２次コイルＳ１，Ｓ２との結合係数Ｋ１，
Ｋ２に差が発生しＫ１≠Ｋ２となり｜Ｋ１−Ｋ２｜に対
応した出力電圧が２次コイルＳに誘起される。
【００１８】この出力電圧を差動増幅器６に印加して所
期に増幅した後、同期検波器５に加え従来技術と同様に
基準電圧で検波して直流電圧に変換する。この出力電圧
を計測することで、被検査パイプに存在する欠陥を間接
的に検出することができる。
期に増幅した後、同期検波器５に加え従来技術と同様に
基準電圧で検波して直流電圧に変換する。この出力電圧
を計測することで、被検査パイプに存在する欠陥を間接
的に検出することができる。
【００１９】
【発明の実施例】図２は、本願技術の１実施例を示す渦
流探傷用検出ヘッドの概略寸法を示す。
流探傷用検出ヘッドの概略寸法を示す。
【００２０】図２において、ＣＢはコイルボビン、Ｃ
１，Ｃ２は１対の１次コイル、Ｓは１対の１次コイルの
中央に配置した２次コイル、以下図２と本願の基本構成
図１とを用いて動作を説明する。図１に示す検出ヘッド
（Ｃ１，Ｃ２及びＳ、とで構成）に図２に示す検出ヘッ
ドを結線する。被検査パイプとしては、銅パイプで外径
１４ｍｍを用いた。
１，Ｃ２は１対の１次コイル、Ｓは１対の１次コイルの
中央に配置した２次コイル、以下図２と本願の基本構成
図１とを用いて動作を説明する。図１に示す検出ヘッド
（Ｃ１，Ｃ２及びＳ、とで構成）に図２に示す検出ヘッ
ドを結線する。被検査パイプとしては、銅パイプで外径
１４ｍｍを用いた。
【００２１】この条件下で、発振器１から１対の１次コ
イルＣ１，Ｃ２（相互に逆接続）に交流電流を供給する
と被検査パイプ（銅パイプ）に局部的に渦電流が発生す
る。銅パイプの母材健全部では１対の１次コイルＣ１，
Ｃ２による渦電流の発生は、相等しいので２次コイルＳ
は図１で説明した如く、コイル巻幅が０，５ｍｍの２個
の２次コイルとして動作し、２次コイルＳの両端子には
電圧が誘起されない。
イルＣ１，Ｃ２（相互に逆接続）に交流電流を供給する
と被検査パイプ（銅パイプ）に局部的に渦電流が発生す
る。銅パイプの母材健全部では１対の１次コイルＣ１，
Ｃ２による渦電流の発生は、相等しいので２次コイルＳ
は図１で説明した如く、コイル巻幅が０，５ｍｍの２個
の２次コイルとして動作し、２次コイルＳの両端子には
電圧が誘起されない。
【００２２】この条件下で被検査材が移動し、欠陥部Ｉ
が１対の１次コイルを通過すると、欠陥による微小な渦
電流の変化の反作用として、前記した２次コイルに欠陥
による欠陥信号が誘起される。この電圧は差動増幅期６
で所期値に増幅後同期検波器５で基準電圧によりＤＣ電
圧に変換する。この出力電圧を計測することにより、微
小欠陥を高感度で、かつ高Ｓ／Ｎで検出することができ
る。
が１対の１次コイルを通過すると、欠陥による微小な渦
電流の変化の反作用として、前記した２次コイルに欠陥
による欠陥信号が誘起される。この電圧は差動増幅期６
で所期値に増幅後同期検波器５で基準電圧によりＤＣ電
圧に変換する。この出力電圧を計測することにより、微
小欠陥を高感度で、かつ高Ｓ／Ｎで検出することができ
る。
【００２３】図３は本願技術を用い微小欠陥に対する検
出感度およびＳ／Ｎ特性を示す。図３に示すごとく、欠
陥の孔径に対して、ほぼ線形の出力特性が得られる。ま
た、微小欠陥に対するＳ／Ｎ特性も向上し、０．２Φの
貫通孔で約５のＳ／Ｎが得られる。
出感度およびＳ／Ｎ特性を示す。図３に示すごとく、欠
陥の孔径に対して、ほぼ線形の出力特性が得られる。ま
た、微小欠陥に対するＳ／Ｎ特性も向上し、０．２Φの
貫通孔で約５のＳ／Ｎが得られる。
【００２４】図４は本願技術による実測結果の１例で、
人工欠陥の孔径が０，２ｍｍΦで２次コイルの幅を人工
欠陥の径ｄと対比して変化したときのＳ／Ｎを示す。
人工欠陥の孔径が０，２ｍｍΦで２次コイルの幅を人工
欠陥の径ｄと対比して変化したときのＳ／Ｎを示す。
【００２５】図４に示す如く、０，２ｍｍΦの人工欠陥
に対して２次コイルの巻幅が人工欠陥と対比してＷ／ｄ
が４〜６近辺で最大値が得られる。なお図４でＷ／ｄが
２に設定するとコイル巻幅が０，４ｍｍと縮小し、欠陥
の検出感度が極端に減少し、外部電気ノイズの混入によ
りＳ／Ｎも低下する。
に対して２次コイルの巻幅が人工欠陥と対比してＷ／ｄ
が４〜６近辺で最大値が得られる。なお図４でＷ／ｄが
２に設定するとコイル巻幅が０，４ｍｍと縮小し、欠陥
の検出感度が極端に減少し、外部電気ノイズの混入によ
りＳ／Ｎも低下する。
【００２６】図５は本願技術の渦流検出ヘッドを各種ボ
イラパイプの探傷に応用した例について説明する。図５
において、Ｎｍ，Ｓｍは強磁性パイプを磁気飽和するた
めの磁石、Ｎｐ，Ｓｐは１対の磁化ポール、Ｃ１，Ｃ２
は１対の１次コイル、Ｓは１対の１次コイルの中央に配
置した２次コイル、Ｐは被強磁性パイプ、Ｉは欠陥。
イラパイプの探傷に応用した例について説明する。図５
において、Ｎｍ，Ｓｍは強磁性パイプを磁気飽和するた
めの磁石、Ｎｐ，Ｓｐは１対の磁化ポール、Ｃ１，Ｃ２
は１対の１次コイル、Ｓは１対の１次コイルの中央に配
置した２次コイル、Ｐは被強磁性パイプ、Ｉは欠陥。
【００２７】以下図５を用いて、本願の応用例について
説明する。本検出ヘッドの結線方法は、本願の基本構成
図１と相等しい。図５に示す渦流検出ヘッドを強磁性パ
イプ内に挿入し、強磁性パイプの軸方向を局部的に磁化
する。
説明する。本検出ヘッドの結線方法は、本願の基本構成
図１と相等しい。図５に示す渦流検出ヘッドを強磁性パ
イプ内に挿入し、強磁性パイプの軸方向を局部的に磁化
する。
【００２８】次に、図１に示す発振器１から１対の１次
コイル（Ｃ１，Ｃ２相互に逆相に結線）に交流電流を供
給して、被強磁性体パイプの内側から交流磁束を発生さ
せてパイプに渦電流を発生させる。この反作用として、
１対の１次コイルＣ１，Ｃ２の中央に配置した２次コイ
ルに欠陥に対応した欠陥信号が誘起される。この欠陥信
号を、図１に示す基本構成の差動増幅器６を介して、同
期検波器５で直流電圧に変換する。この直流電圧を計測
することにより、強磁性パイプに存在する欠陥Ｉを検出
することができる。なお図５では被検査パイプを磁化し
たが被検査材が非磁性（例は銅、ステンレス、アルミ管
等）では、磁化する必要がない。
コイル（Ｃ１，Ｃ２相互に逆相に結線）に交流電流を供
給して、被強磁性体パイプの内側から交流磁束を発生さ
せてパイプに渦電流を発生させる。この反作用として、
１対の１次コイルＣ１，Ｃ２の中央に配置した２次コイ
ルに欠陥に対応した欠陥信号が誘起される。この欠陥信
号を、図１に示す基本構成の差動増幅器６を介して、同
期検波器５で直流電圧に変換する。この直流電圧を計測
することにより、強磁性パイプに存在する欠陥Ｉを検出
することができる。なお図５では被検査パイプを磁化し
たが被検査材が非磁性（例は銅、ステンレス、アルミ管
等）では、磁化する必要がない。
【００２９】図６は図５に示す渦流検出ヘッドでボイラ
用鋼管を検査したときのＳ／Ｎ特性の１例である。図６
において、同じ被検査パイプを従来技術（図８に示す）
と本願によるＳ／Ｎの比較特性で実線の特性が本願技術
によるＳ／Ｎ特性。点線が、従来技術のＳ／Ｎ特性を示
す。
用鋼管を検査したときのＳ／Ｎ特性の１例である。図６
において、同じ被検査パイプを従来技術（図８に示す）
と本願によるＳ／Ｎの比較特性で実線の特性が本願技術
によるＳ／Ｎ特性。点線が、従来技術のＳ／Ｎ特性を示
す。
【００３０】また図７は本願技術により外面欠陥径と、
２次コイルＳのコイル巻き幅によるＳ／Ｎ特性を示した
特性である。孔径が２ｍｍΦで孔深さがパイプ肉厚５０
％の欠陥に対して、Ｓ／Ｎが最大値を示すＷ／ｄは０，
５〜１，０（ｍｍ）である。２次コイルの巻幅が１，０
〜１，５ｍｍ時最もＳ／Ｎが良好となる。また、図７に
おいてもＷ／ｄ＝０，２５（ｍｍ）ではＳ／Ｎ悪化して
いる。この原因はコイルの巻き幅が０，５（ｍｍ）と極
端に狭く、欠陥による信号振幅レベルが小さいためであ
る。
２次コイルＳのコイル巻き幅によるＳ／Ｎ特性を示した
特性である。孔径が２ｍｍΦで孔深さがパイプ肉厚５０
％の欠陥に対して、Ｓ／Ｎが最大値を示すＷ／ｄは０，
５〜１，０（ｍｍ）である。２次コイルの巻幅が１，０
〜１，５ｍｍ時最もＳ／Ｎが良好となる。また、図７に
おいてもＷ／ｄ＝０，２５（ｍｍ）ではＳ／Ｎ悪化して
いる。この原因はコイルの巻き幅が０，５（ｍｍ）と極
端に狭く、欠陥による信号振幅レベルが小さいためであ
る。
【００３１】なお本願実施例では貫通型コイルについて
説明したが、本願は貫通型コイルに限定されることはな
くボイラ管の内挿型コイルや、平板試験片用のプローブ
コイルに適用することが出来る。
説明したが、本願は貫通型コイルに限定されることはな
くボイラ管の内挿型コイルや、平板試験片用のプローブ
コイルに適用することが出来る。
【００３２】
【発明の効果】１個の２次コイルを電気回路の等価回路
として２等分に分割した動作をする。このため、微小欠
陥による局部的な渦電流の変化を効率よく検出すること
が可能となった。
として２等分に分割した動作をする。このため、微小欠
陥による局部的な渦電流の変化を効率よく検出すること
が可能となった。
【００３３】このため、微小欠陥に対する検出感度特性
が極めて良好となった。（図３に示す）
が極めて良好となった。（図３に示す）
【００３４】微小欠陥に対するＳ／Ｎが向上従来の渦流
探傷法と比較して約４倍（０，２Φ貫通孔欠陥）も向上
した。
探傷法と比較して約４倍（０，２Φ貫通孔欠陥）も向上
した。
【００３５】２次コイルは１個ですみ、検出ヘッド製作
時の手間を省略することが可能である。さらに等価的に
コイル巻き幅が０，５ｍｍに製作可能となり微小欠陥に
対する検出性能を飛躍的に向上することができた。
時の手間を省略することが可能である。さらに等価的に
コイル巻き幅が０，５ｍｍに製作可能となり微小欠陥に
対する検出性能を飛躍的に向上することができた。
【図１】 本願の基本構成を示すブロック図。
【図２】 本願技術１実施例の渦流探傷検出ヘッド。
【図３】 本願技術による欠陥径に対する検出感度特
性。
性。
【図４】 人工欠陥の孔径ｄと２次コイルＷとの比、Ｗ
／ｄに対するＳ／Ｎ特性。
／ｄに対するＳ／Ｎ特性。
【図５】 内挿型渦流探傷ヘッド。
【図６】 本願技術（図５）と従来技術による欠陥の孔
深さに対するＳ／Ｎ特性。
深さに対するＳ／Ｎ特性。
【図７】 本願技術による欠陥の孔径ｄと、２次コイル
の巻幅Ｗの比Ｗ／ｄによるＳ／Ｎ特性。
の巻幅Ｗの比Ｗ／ｄによるＳ／Ｎ特性。
【図８】 従来技術の基本構成。
【図９】 従来技術による欠陥検出性能特性。
１は発振器、２は被検査パイプ、３は信号増幅器、４は
移相器、５は同期検波器、６は差動増幅器、ＣはＡＣブ
リッジ、Ｉは欠陥、Ｓは２次コイル、Ｃ１，Ｃ２は一対
の一次コイル、Ｓ１，Ｓ２は２次コイルＳの等価コイ
ル、Ｚ１，Ｚ２は１対のインビーダンス、Φ１，Φ２は
磁束、ＣＢはコイルボビン、Ｐは被強磁性パイプ、Ｎ
ｍ，Ｓｍは強磁性パイプを磁気飽和するための磁石、Ｎ
ｐ，Ｓｐは１対の磁化ポール、
移相器、５は同期検波器、６は差動増幅器、ＣはＡＣブ
リッジ、Ｉは欠陥、Ｓは２次コイル、Ｃ１，Ｃ２は一対
の一次コイル、Ｓ１，Ｓ２は２次コイルＳの等価コイ
ル、Ｚ１，Ｚ２は１対のインビーダンス、Φ１，Φ２は
磁束、ＣＢはコイルボビン、Ｐは被強磁性パイプ、Ｎ
ｍ，Ｓｍは強磁性パイプを磁気飽和するための磁石、Ｎ
ｐ，Ｓｐは１対の磁化ポール、
Claims (3)
- 【請求項１】 被検査材にコイルを設置して交流電源か
ら交流電流を流して被検査材に渦電流を発生させ、前記
被検査材に存在する欠陥を渦電流の差として検出する渦
流探傷法において、渦電流を発生する為のコイルに１対
の１次コイルを併設して配置するとともに、１対のコイ
ルから発生する磁束が相互に逆位相になるように結線
し、前記した１対の１次コイルの中央に一個の２次コイ
ルを設置して、被検査材の欠陥によって２次コイルに誘
起される電圧の変化から欠陥を検出する渦流探傷用検出
ヘッド。 - 【請求項２】 「請求項１」の構成による渦流探傷用検
出ヘッドに置いて、１対の１次コイルの中央に配置した
２次コイルの巻幅Ｗを下記に示す設定にすることを特長
とする渦流探傷用検出ヘッド。 欠陥の孔径が１，０（ｍｍ）より小さいとき ３≦Ｗ／ｄ≦１０・・・・・・・（１） 欠陥の孔径が１，０＜ｄ＜２，０の時 ０，３≦Ｗ／ｄ≦１，５・・・・（２） - 【請求項３】 「請求項１」の構成による渦流探傷用検
出ヘッドに置いて、１対の１次コイルの両側に被検査材
を磁化する為の磁化ポールを設置し、被検査パイプの内
側に本検出ヘッドを挿入して、被検査パイプの軸方向に
局部的に磁化することを特徴とする渦流探傷用検出ヘッ
ド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3276045A JPH0534319A (ja) | 1991-07-29 | 1991-07-29 | 渦流探傷用検出ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3276045A JPH0534319A (ja) | 1991-07-29 | 1991-07-29 | 渦流探傷用検出ヘツド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0534319A true JPH0534319A (ja) | 1993-02-09 |
Family
ID=17564024
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3276045A Pending JPH0534319A (ja) | 1991-07-29 | 1991-07-29 | 渦流探傷用検出ヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0534319A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006208312A (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Jfe Steel Kk | 内部欠陥測定方法および装置 |
| CN110006992A (zh) * | 2019-03-28 | 2019-07-12 | 仓信无损检测设备苏州有限公司 | 穿过式涡流传感器及检测方法 |
-
1991
- 1991-07-29 JP JP3276045A patent/JPH0534319A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2006208312A (ja) * | 2005-01-31 | 2006-08-10 | Jfe Steel Kk | 内部欠陥測定方法および装置 |
| CN110006992A (zh) * | 2019-03-28 | 2019-07-12 | 仓信无损检测设备苏州有限公司 | 穿过式涡流传感器及检测方法 |
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