JPS62172259A - 渦流探傷装置 - Google Patents
渦流探傷装置Info
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- JPS62172259A JPS62172259A JP61013443A JP1344386A JPS62172259A JP S62172259 A JPS62172259 A JP S62172259A JP 61013443 A JP61013443 A JP 61013443A JP 1344386 A JP1344386 A JP 1344386A JP S62172259 A JPS62172259 A JP S62172259A
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Landscapes
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、全屈材料の型造現場における非破壊検査など
に用いられる渦流探傷装置に関する。
に用いられる渦流探傷装置に関する。
（従来の技術〕
オーステナイ１−系ステンレス１し１管など、円筒又は
円柱状非磁性材料の軸方同表、１面欠陥（シーム状割れ
疵など）を連続的に検出する装置として、回転プローブ
式渦ｉ％Ｍ探（ｇ装置が実用されている。
円柱状非磁性材料の軸方同表、１面欠陥（シーム状割れ
疵など）を連続的に検出する装置として、回転プローブ
式渦ｉ％Ｍ探（ｇ装置が実用されている。
回・耘プローブ式渦流深傷装置は例えば第１Ｏ図に示す
ように回転ディスクに複数個のプローブを、ロータリソ
レノイド、支持腕、バランスウェイトなどからなる機構
で取付け、これらのプローブが囲む中空部に被検材を通
し、プーリー及びモータで回転ディスクを回転させ、被
検材は直進させ、プローブで被検材表面をスパイラル状
に探傷してそのプローブ出力を、回転トランスまたはス
リップリングを通して外部へ取出して図示しない信号処
理回路へ導き、該回路に探傷信号を出力させる。
ように回転ディスクに複数個のプローブを、ロータリソ
レノイド、支持腕、バランスウェイトなどからなる機構
で取付け、これらのプローブが囲む中空部に被検材を通
し、プーリー及びモータで回転ディスクを回転させ、被
検材は直進させ、プローブで被検材表面をスパイラル状
に探傷してそのプローブ出力を、回転トランスまたはス
リップリングを通して外部へ取出して図示しない信号処
理回路へ導き、該回路に探傷信号を出力させる。
回転プローブ式渦流深傷装置の欠点は、全て、プローブ
を機械的に回転させる事に由来する。その主なものを列
挙すると、■装置（回転機構）が大がかりなものとなり
、且つ精密な仕上げを必要とするのでコスト高である。
を機械的に回転させる事に由来する。その主なものを列
挙すると、■装置（回転機構）が大がかりなものとなり
、且つ精密な仕上げを必要とするのでコスト高である。
■プローブを被検材表面に至近（０，５ｍｍ程度）距離
に支持して回転させる必要があり、被検材の進入時や、
被検材に小さな突起があった場合などプローブを破壊し
ゃすい。■プローブの励磁信号と検出信号を回転トラン
スなどで伝達させる必要上、伝達ロスが避けられず信号
ス１ノイズ比（Ｓ／Ｎ）が低下する。０回転数が機構上
制約されるから、探傷速度（処理能力）が低い。
に支持して回転させる必要があり、被検材の進入時や、
被検材に小さな突起があった場合などプローブを破壊し
ゃすい。■プローブの励磁信号と検出信号を回転トラン
スなどで伝達させる必要上、伝達ロスが避けられず信号
ス１ノイズ比（Ｓ／Ｎ）が低下する。０回転数が機構上
制約されるから、探傷速度（処理能力）が低い。
本発明は、回転プローブ式渦流深傷装置に於けるプロー
ブの機構的回転にともなうか＼る欠点を除去し、且つ機
械的回転型と同等又はそれ以上の疵検山姥を持つ渦流探
傷装置を提供しようとするものである。
ブの機構的回転にともなうか＼る欠点を除去し、且つ機
械的回転型と同等又はそれ以上の疵検山姥を持つ渦流探
傷装置を提供しようとするものである。
本発明は、検査周波で各相独立に平衡変調された多相交
流を出力する電源回路と、該多相交流で励磁され、被検
材を通される中空円筒状回転磁界発生器と、該回転磁界
発生器の円筒内壁に沿って円周方向に配列された多数の
磁気センサと、該センサの出力電圧をそれぞれ独立に検
査周波で位相検波する検波器と、位相検波出力から回転
磁界と同一周期の正弦波をそれぞれ抽出するローパスフ
ィルタと、該フィルタの出力電圧を前記回転磁界と同期
して順次サンプリングする回路と、該サンプリング出力
から疵情報以外の成分を除去するバントパスフィルタと
を備えることを特徴とするものである。
流を出力する電源回路と、該多相交流で励磁され、被検
材を通される中空円筒状回転磁界発生器と、該回転磁界
発生器の円筒内壁に沿って円周方向に配列された多数の
磁気センサと、該センサの出力電圧をそれぞれ独立に検
査周波で位相検波する検波器と、位相検波出力から回転
磁界と同一周期の正弦波をそれぞれ抽出するローパスフ
ィルタと、該フィルタの出力電圧を前記回転磁界と同期
して順次サンプリングする回路と、該サンプリング出力
から疵情報以外の成分を除去するバントパスフィルタと
を備えることを特徴とするものである。
（作用〕
上記装置では励磁磁界は機械的にではなく電気的に回転
するので、大損りになる機械的回転機構を必要とせず、
また高速回転も自在である（周波数及び又は極数を変え
るだけでよい）。電気的な回転で、機構としては静止部
材でよいのでセンサ数の増加も容易になり、センサリー
ド線の処理も簡単である（スリップリング又は回転トラ
ンスなどを必要としない）。またセンサ出力は最大検出
出力が得られるＳ ／ Ｎのよい点でサンプリングする
ので、正確な疵検出を行なうことができ、このザンブリ
ング点は位相シフＩ・回路により容易に調整できる。
するので、大損りになる機械的回転機構を必要とせず、
また高速回転も自在である（周波数及び又は極数を変え
るだけでよい）。電気的な回転で、機構としては静止部
材でよいのでセンサ数の増加も容易になり、センサリー
ド線の処理も簡単である（スリップリング又は回転トラ
ンスなどを必要としない）。またセンサ出力は最大検出
出力が得られるＳ ／ Ｎのよい点でサンプリングする
ので、正確な疵検出を行なうことができ、このザンブリ
ング点は位相シフＩ・回路により容易に調整できる。
第１図に本発明の実施例を示す。この図で１０は回転磁
界発生器でこれは第４図に示すように巻線１２、鉄心１
４、円筒状外側支持体１Ｇ、内側絶縁円ｆ：＋ １８を
有し、内側絶縁円筒１８内にセンサ一群２０が収容され
る。巻線１２は２π／３ずつ離して置いた３個のコイル
からなり、３相交流で励磁されて回転磁界を発生する。
界発生器でこれは第４図に示すように巻線１２、鉄心１
４、円筒状外側支持体１Ｇ、内側絶縁円ｆ：＋ １８を
有し、内側絶縁円筒１８内にセンサ一群２０が収容され
る。巻線１２は２π／３ずつ離して置いた３個のコイル
からなり、３相交流で励磁されて回転磁界を発生する。
周知のよ・うにこの回転磁界の回転数Ｒ（ｒｐｍ）は、
極数をＰ、３相交流の周波数をｒ （Ｈｚ）としてＲ
＝１２０ｆ／Ｐである。３相交流発生器７２は２相交流
発賑器７０．２４０°位１目シフト回路６８ａ、および
１２０°位和シフト回路６８ｂからなり、これらで互い
に１２０°ずつずれた３相交流を発生ずる。これらは平
衡変調器６６ａ、６６ｂ、６６ｃに加えられ、検査周波
発生器６０が出力する該３相交流より遥かに高い周波数
である検査周波数で平衡変調される。変調器ｔ３６ａ、
６６ｂ、Ｇ６ｃの出力を第５図に示す。か＼る３相平衡
変調波が増幅器６４ａ、６４ｂ、６４ｃを介して回転磁
界発生器１０に加えられ、検査周波磁束の富度分布が、
前記回転数（Ｒ）で■・耘する。
極数をＰ、３相交流の周波数をｒ （Ｈｚ）としてＲ
＝１２０ｆ／Ｐである。３相交流発生器７２は２相交流
発賑器７０．２４０°位１目シフト回路６８ａ、および
１２０°位和シフト回路６８ｂからなり、これらで互い
に１２０°ずつずれた３相交流を発生ずる。これらは平
衡変調器６６ａ、６６ｂ、６６ｃに加えられ、検査周波
発生器６０が出力する該３相交流より遥かに高い周波数
である検査周波数で平衡変調される。変調器ｔ３６ａ、
６６ｂ、Ｇ６ｃの出力を第５図に示す。か＼る３相平衡
変調波が増幅器６４ａ、６４ｂ、６４ｃを介して回転磁
界発生器１０に加えられ、検査周波磁束の富度分布が、
前記回転数（Ｒ）で■・耘する。
センサ一群２０は第６図に示すように内側絶縁円筒１８
の内窒に沿って円周方向に一列に配列され、リード線群
２２によりコネクタ群２４に接続される。コネクタ群２
４は絶縁円筒１８より大径の円板上に配列され、素子間
々隔が十分とれるようにしである。センサとしてはホー
ル素子、ＳＭＤ（商品名）、磁気抵抗素子、およびコイ
ルなどの磁気検出素子であればいずれでもよ（、また検
出する磁束の向きは垂直、水平いずれでもよい。
の内窒に沿って円周方向に一列に配列され、リード線群
２２によりコネクタ群２４に接続される。コネクタ群２
４は絶縁円筒１８より大径の円板上に配列され、素子間
々隔が十分とれるようにしである。センサとしてはホー
ル素子、ＳＭＤ（商品名）、磁気抵抗素子、およびコイ
ルなどの磁気検出素子であればいずれでもよ（、また検
出する磁束の向きは垂直、水平いずれでもよい。
第７図はセンサとしてコイルを用い、渦流が作る磁界の
水平成分を検出する場合のコイル姿勢を示す。垂直成分
を検出する場合は、第６図（ａｌでコイルを９０゛回転
させ、水平状態にすればよい。
水平成分を検出する場合のコイル姿勢を示す。垂直成分
を検出する場合は、第６図（ａｌでコイルを９０゛回転
させ、水平状態にすればよい。
第１図ではセンサとしてコイルを用いている。
各コイル２０ａ、２０ｂ、 ・・・・・・の一端は接地
され、他端はリード線およびコネクタを介して増幅器３
２ａ、３２ｂ、 ・・・・・・に接続される。これらの
増幅器の出力は位相検波器３８ａ、３８ｂ、・・・・・
・に入力され、検波周波発生器６０の出力を位相シフト
回路６２で位相シフトしたものを基ｆ波として位相検波
される。各コイルの出力電圧は、被検体が無い場合には
コイルと鎖交する磁束がないから零であり、又、円周面
が一様な無疵の被検体が貢挿された場合は、各コイルに
一様な渦電流リアクションが検出されるが、該信号群は
位相検波の基準位相を適当に設定すると消去でき、位相
検波器３３ａ、３８ｂ、・・・・・・には現われない。
され、他端はリード線およびコネクタを介して増幅器３
２ａ、３２ｂ、 ・・・・・・に接続される。これらの
増幅器の出力は位相検波器３８ａ、３８ｂ、・・・・・
・に入力され、検波周波発生器６０の出力を位相シフト
回路６２で位相シフトしたものを基ｆ波として位相検波
される。各コイルの出力電圧は、被検体が無い場合には
コイルと鎖交する磁束がないから零であり、又、円周面
が一様な無疵の被検体が貢挿された場合は、各コイルに
一様な渦電流リアクションが検出されるが、該信号群は
位相検波の基準位相を適当に設定すると消去でき、位相
検波器３３ａ、３８ｂ、・・・・・・には現われない。
位相シフト回路６２は位相検波器の出力が零になるよう
に位１・目δ周接する。
に位１・目δ周接する。
被検体に疵があると渦電流が局部的に乱れ、その疵の近
くにあるコイルは他のコイルと位相及び（膜幅の異なる
誘起電圧を生じ、かつ磁界の回転につれて誘起電圧が変
化するから、該コイルの誘起電圧の位相検波出力は回転
磁界と同し周期の正弦波になる。そして疵に最も近いコ
イルの出力の振幅が最大となり、底位置から離れるにつ
れてコイル出力の振幅は小になる。この様子を第８図に
示す。この図ではあるコイルｎｃｈが疵の直上にあると
しており、 （ｎ−１） ｃ）＋、 （ｎ＋１） ｃ
ｌ＋はコイルｎｃｂの左、右にあるコイル、（ｎ−２）
ｃｂ。
くにあるコイルは他のコイルと位相及び（膜幅の異なる
誘起電圧を生じ、かつ磁界の回転につれて誘起電圧が変
化するから、該コイルの誘起電圧の位相検波出力は回転
磁界と同し周期の正弦波になる。そして疵に最も近いコ
イルの出力の振幅が最大となり、底位置から離れるにつ
れてコイル出力の振幅は小になる。この様子を第８図に
示す。この図ではあるコイルｎｃｈが疵の直上にあると
しており、 （ｎ−１） ｃ）＋、 （ｎ＋１） ｃ
ｌ＋はコイルｎｃｂの左、右にあるコイル、（ｎ−２）
ｃｂ。
（ｎ＋２）ｃｈは更にその左、右にあるコイルを示し、
以下これに準する。なおこの波形は検査周波のフィルタ
を兼ねたローパスフィルタ５０ａ、 ５０ｂ。
以下これに準する。なおこの波形は検査周波のフィルタ
を兼ねたローパスフィルタ５０ａ、 ５０ｂ。
・・・・・・を経たあとのものである。
コイル２０ａ、２０ｂ、・・・・・・の出力は増幅器３
２．３２ｂ、・・・・・・位相検波器３８ａ、３８ｂ、
・・・・・・、ローパスフィルタ５０ａ、５Ｑｂ、・・
・・・・ヲ経てアナログスイッチ３４ａ、３４ｂ、・・
・・・・に送られる。これらのスイッチ３４ａ、３４ｂ
、・・・・・・は例えば電界効果トランジスタで構成さ
れ、リングカウンタ４４の出力により開閉される。回転
磁界を発生させる３相交流の１相は位相シフト回路４０
に入力し、こ−でＯ〜３６０°の範囲内の任意の位相に
移相されたのち位相口・／り式の周波数てい倍器４２に
入力する。コイル２０ａ、２０ｂ。
２．３２ｂ、・・・・・・位相検波器３８ａ、３８ｂ、
・・・・・・、ローパスフィルタ５０ａ、５Ｑｂ、・・
・・・・ヲ経てアナログスイッチ３４ａ、３４ｂ、・・
・・・・に送られる。これらのスイッチ３４ａ、３４ｂ
、・・・・・・は例えば電界効果トランジスタで構成さ
れ、リングカウンタ４４の出力により開閉される。回転
磁界を発生させる３相交流の１相は位相シフト回路４０
に入力し、こ−でＯ〜３６０°の範囲内の任意の位相に
移相されたのち位相口・／り式の周波数てい倍器４２に
入力する。コイル２０ａ、２０ｂ。
・・・・・・の個数をｎとすると、周波数てい倍器４２
はｎてい倍を行ない、従って３相交流の周波数を「とす
ればｎｆを出力してこれをｎステップ（ｌ進）リングカ
ウンタ４４に供給する。リングカウンタｌｌ ４のスイ
ッチ制御出力はｎ個あり、従ってスイッチ３４ａ、３４
ｂ、・・・・・・は３相交流の１周期の間に１回オンに
される。各スイッチのオンである時間は３相交流の１／
ｎ周期であり、ｎは例えば１２０である。第８図では各
コイルのオン期間に斜線を付して示す。オン期間は波形
のピーク部分にされるが、このような調整は位相シフト
回路４０により行なえる。被検体がない場合ローパスフ
ィルタ５０ａ、５０ｂ、・・・・・・の出力は零であり
、スイッチ３４ａ、３４ｂ、・・・・・・のサンプリン
グ出力も零である。無疵の被検体が挿貫されている場合
は、その挿貫偏心や材料の偏平度や偏肉などにより、回
転磁界と同−周期又は１／２程度の周期の比較的小さい
振幅の出力がある。スイッチ３４ａ、３４ｂ、・・・・
・・からのサンプリング出力はバンドパスフィルタ３６
に送られ、こ＼で疵清報以外の信号部ら前記偏肉などに
よる緩やかな信号及びスイッチングに伴なうスパイク信
号などが除去される。
はｎてい倍を行ない、従って３相交流の周波数を「とす
ればｎｆを出力してこれをｎステップ（ｌ進）リングカ
ウンタ４４に供給する。リングカウンタｌｌ ４のスイ
ッチ制御出力はｎ個あり、従ってスイッチ３４ａ、３４
ｂ、・・・・・・は３相交流の１周期の間に１回オンに
される。各スイッチのオンである時間は３相交流の１／
ｎ周期であり、ｎは例えば１２０である。第８図では各
コイルのオン期間に斜線を付して示す。オン期間は波形
のピーク部分にされるが、このような調整は位相シフト
回路４０により行なえる。被検体がない場合ローパスフ
ィルタ５０ａ、５０ｂ、・・・・・・の出力は零であり
、スイッチ３４ａ、３４ｂ、・・・・・・のサンプリン
グ出力も零である。無疵の被検体が挿貫されている場合
は、その挿貫偏心や材料の偏平度や偏肉などにより、回
転磁界と同−周期又は１／２程度の周期の比較的小さい
振幅の出力がある。スイッチ３４ａ、３４ｂ、・・・・
・・からのサンプリング出力はバンドパスフィルタ３６
に送られ、こ＼で疵清報以外の信号部ら前記偏肉などに
よる緩やかな信号及びスイッチングに伴なうスパイク信
号などが除去される。
周波数てい倍器４２はリングカウンタ４４の出力が帰還
され、該カウンタの最終段出力パルスが位相シフト回路
４０の出力正弦波の基準位相例えばゼロクロス点の位相
にロックされるようにする。
され、該カウンタの最終段出力パルスが位相シフト回路
４０の出力正弦波の基準位相例えばゼロクロス点の位相
にロックされるようにする。
位相シフト回路４０て位相シフトを行なえば、回転磁界
の位置と検出コイル出力のサンプリングタイミングとの
相対関係が変り、回転磁界の最大磁束密度部が作用する
位置の検出コイル出力をサンプリングすることも、また
零磁束密度部が作用する位置の検出コイル出力をサンプ
リングすることもできる。
の位置と検出コイル出力のサンプリングタイミングとの
相対関係が変り、回転磁界の最大磁束密度部が作用する
位置の検出コイル出力をサンプリングすることも、また
零磁束密度部が作用する位置の検出コイル出力をサンプ
リングすることもできる。
第２図は第１図の改良型で、第１図に更に打消し電圧発
生器４（ｉａ、４６ｂ、・・・・・・及び差動増幅器４
．８ａ、４８ｂ、・・・・・・が追加されている。これ
らは回転磁界発生器の磁極や巻線の不揃い、あるいはセ
ンサ群の組立て不揃いなどに起因するセット固有の出力
（これはノイズ）を消去するＩＩＪきをする。即ち位相
検波器３８ａ、３８ｂ、・・・・・・の出力は被検体が
ない場合、理想的には零になるが実際には上記不揃いの
ため歪波出力がある。これは各コイルまちまちであり、
ローパスフィルタ５゜ａ、５Ｑｂ、・・・・・・により
回転磁界と同一周期の正弦波としたときその波高値がま
ちまちになる。従ってこれを前記サンプリング処理すれ
ば不規則信号が発生し、ノイズが生じる。この各コイル
にっき波高値がまちまちな信号を、差動アンプ４８ａ。
生器４（ｉａ、４６ｂ、・・・・・・及び差動増幅器４
．８ａ、４８ｂ、・・・・・・が追加されている。これ
らは回転磁界発生器の磁極や巻線の不揃い、あるいはセ
ンサ群の組立て不揃いなどに起因するセット固有の出力
（これはノイズ）を消去するＩＩＪきをする。即ち位相
検波器３８ａ、３８ｂ、・・・・・・の出力は被検体が
ない場合、理想的には零になるが実際には上記不揃いの
ため歪波出力がある。これは各コイルまちまちであり、
ローパスフィルタ５゜ａ、５Ｑｂ、・・・・・・により
回転磁界と同一周期の正弦波としたときその波高値がま
ちまちになる。従ってこれを前記サンプリング処理すれ
ば不規則信号が発生し、ノイズが生じる。この各コイル
にっき波高値がまちまちな信号を、差動アンプ４８ａ。
４８ｂ、・・・・・・及び打消し電圧発生器４６ａ、４
６ｂ、・・・・・・で消去する。打消し電圧発生器群＝
１６．１１ 。
６ｂ、・・・・・・で消去する。打消し電圧発生器群＝
１６．１１ 。
４６ｂ、・・・・・・は回転磁界と同一周期で振幅およ
び位相が可変の正弦波を発生ずるもので、これらの振幅
及び位相は被検材がないときのフィルタ５０ａ、５０ｂ
、・・・・・・の出力に合わせ、増幅器４８ａ。
び位相が可変の正弦波を発生ずるもので、これらの振幅
及び位相は被検材がないときのフィルタ５０ａ、５０ｂ
、・・・・・・の出力に合わせ、増幅器４８ａ。
４８ｂ、・・・・・・で打消ず。この振幅及び位相調整
は人為的に行なう。
は人為的に行なう。
第３図は第２図を更に改良したもので、被検材の振動に
よるノイズを消去することができる。アナログスイッチ
５２ａ、５２ｂ、・・・・・・および差動増幅器５４が
そのための手段で、スイッチ５２ａ。
よるノイズを消去することができる。アナログスイッチ
５２ａ、５２ｂ、・・・・・・および差動増幅器５４が
そのための手段で、スイッチ５２ａ。
５２ｂ、・・・・・・は１つづつずれてリングカウンタ
４４の出力で制御される。即しスイッチ５２ａは３４ｂ
と、５２ｂは３４ｃと、−−５２ｎは３４．３と同じ出
力でオンオフされ、スイッチ３４ａ、３４ｂ、 ・・・
・・・の出力とスイッチ５２ａ、５２ｂ、 ・・・・・
・の出力の差が増幅器５４で求められ、該差がバンドパ
スフィルタ３６に加わる。
４４の出力で制御される。即しスイッチ５２ａは３４ｂ
と、５２ｂは３４ｃと、−−５２ｎは３４．３と同じ出
力でオンオフされ、スイッチ３４ａ、３４ｂ、 ・・・
・・・の出力とスイッチ５２ａ、５２ｂ、 ・・・・・
・の出力の差が増幅器５４で求められ、該差がバンドパ
スフィルタ３６に加わる。
上記差のイメージを第９図で説明すると、コイル出力は
第９図（ａ）の棒グラフの如くで、差動増幅器５４はこ
れらの隣接２出力Ａ、Ｂの差を逐次求めるから（Ａ−Ｂ
）出力は第８図（ｂｌの如くなる。
第９図（ａ）の棒グラフの如くで、差動増幅器５４はこ
れらの隣接２出力Ａ、Ｂの差を逐次求めるから（Ａ−Ｂ
）出力は第８図（ｂｌの如くなる。
被検材の振動によるコイル出力変化はＩＩＡ接２コイル
（本例では１周に１２０個のコイルを配設するからコイ
ル間隔は３“）では同じに現われるとしてよいから上記
差演算で消去され（Ａ−Ｂ）出力の零クロス点が疵位置
としてよい。
（本例では１周に１２０個のコイルを配設するからコイ
ル間隔は３“）では同じに現われるとしてよいから上記
差演算で消去され（Ａ−Ｂ）出力の零クロス点が疵位置
としてよい。
回・骸磁界の発生は３相交流に限らず、任意のｍ（囚の
コイルを２π／ｍずらして配置してｒｎ相交流で励磁し
てもよく、本発明はか＼る多相交流方式％式％ 〔発明の効果〕 以上の説明から明らかなように、本発明では励磁磁界は
機ｔＪ＆的にではなく電気的に回転するので、大Ｉ卦り
になる機械的回転機構を必要とせず、また高速回転も自
在である（周波数及び又は極数を変えるだけでよい）。
コイルを２π／ｍずらして配置してｒｎ相交流で励磁し
てもよく、本発明はか＼る多相交流方式％式％ 〔発明の効果〕 以上の説明から明らかなように、本発明では励磁磁界は
機ｔＪ＆的にではなく電気的に回転するので、大Ｉ卦り
になる機械的回転機構を必要とせず、また高速回転も自
在である（周波数及び又は極数を変えるだけでよい）。
電気的な回転で、機構としては静止部材てよいのでセン
サ数の増加も容易になり、センサリード線の処理も簡単
である（スリップリング又は回転トランスなどを必要と
しない）。
サ数の増加も容易になり、センサリード線の処理も簡単
である（スリップリング又は回転トランスなどを必要と
しない）。
サンプリング点は位相シフト回路により容易に調整でき
、センサ出力が最大のところをサンプリングする等も容
易にできる。また渦流型であるから、被検体が導電性で
あれば磁性体でなくても探傷できる。更に打消し電圧に
よる相殺、隣接２センサ出力の差出力を行なうことがで
き、これらによりノイズを除去して一層正確な疵検出を
行なうことができる。
、センサ出力が最大のところをサンプリングする等も容
易にできる。また渦流型であるから、被検体が導電性で
あれば磁性体でなくても探傷できる。更に打消し電圧に
よる相殺、隣接２センサ出力の差出力を行なうことがで
き、これらによりノイズを除去して一層正確な疵検出を
行なうことができる。
第１図〜第３図は本発明の実施例を示す回路図、第４図
は回転磁界発生器の説明図で（ａｌはｙ１１１面図そし
て（ｂｌは側面図、第５図は変調された３相交流の波形
図、第６図（ａｌ ｆｂ）はセンザ配列の説明図でｔａ
＋は端面図そして（ｂ）は側面図、第７図はセンザ配置
状態の説明図で（ａ）は正面図そして（ｂ）は側面図、
第８図はセンサ出力の説明図、第９図（ａｌ （ｂｌは
差出力の説明図、第１０図（ａ） （ｂ）は回・耘プロ
ーブ式渦流探錫装置の説明図である。 図面で１０は回転磁界発生器、２０ａ、２０ｂ。 ・・・・・・はセンサ、３４ａ、３４ｂ、 ・・・・・
・及び４０゜４２．４４． はサンプリング回路、３６
はバンドパスフィルタ、３８ａ、３８ｂ、・・・・・・
は位相検波器、５０ａ、５０ｂ、・・・・・・はローパ
スフィルタ、４６ ａ、 ４６ ｂ、 ・−・−・及
び４８ ａ、 ４８ ｂ、 −−−−”は打消し回路
、５２ａ、５２ｂ、・・・・・・はもうｌ系列のサンプ
リング回路、５４は差動増幅器である。 出 願 人 原電子測器株式会社 出 願 人 新日本製鐵株式会社 代理人弁理士 青 柳 稔 ＠４ （ｂ） 銖・踊４ 図 第９図 第１０図
は回転磁界発生器の説明図で（ａｌはｙ１１１面図そし
て（ｂｌは側面図、第５図は変調された３相交流の波形
図、第６図（ａｌ ｆｂ）はセンザ配列の説明図でｔａ
＋は端面図そして（ｂ）は側面図、第７図はセンザ配置
状態の説明図で（ａ）は正面図そして（ｂ）は側面図、
第８図はセンサ出力の説明図、第９図（ａｌ （ｂｌは
差出力の説明図、第１０図（ａ） （ｂ）は回・耘プロ
ーブ式渦流探錫装置の説明図である。 図面で１０は回転磁界発生器、２０ａ、２０ｂ。 ・・・・・・はセンサ、３４ａ、３４ｂ、 ・・・・・
・及び４０゜４２．４４． はサンプリング回路、３６
はバンドパスフィルタ、３８ａ、３８ｂ、・・・・・・
は位相検波器、５０ａ、５０ｂ、・・・・・・はローパ
スフィルタ、４６ ａ、 ４６ ｂ、 ・−・−・及
び４８ ａ、 ４８ ｂ、 −−−−”は打消し回路
、５２ａ、５２ｂ、・・・・・・はもうｌ系列のサンプ
リング回路、５４は差動増幅器である。 出 願 人 原電子測器株式会社 出 願 人 新日本製鐵株式会社 代理人弁理士 青 柳 稔 ＠４ （ｂ） 銖・踊４ 図 第９図 第１０図
Claims (3)
- （１）検査周波で各相独立に平衡変調された多相交流を
出力する電源回路と、 該多相交流で励磁され、被検材を通される中空円筒状回
転磁界発生器と、 該回転磁界発生器の円筒内壁に沿って円周方向に配列さ
れた多数の磁気センサと、 該センサの出力電圧をそれぞれ独立に検査周波で位相検
波する検波器と、 位相検波出力から回転磁界と同一周期の正弦波をそれぞ
れ抽出するローパスフィルタと、 該フィルタの出力電圧を前記回転磁界と同期して順次サ
ンプリングする回路と、 該サンプリング出力から疵情報以外の成分を除去するバ
ンドパスフィルタとを備えることを特徴とする回転磁界
式渦流探傷装置。 - （２）各センサの出力は、被検材がない状態でのローパ
スフィルタの出力を打消す回路を通した後、サンプリン
グ回路へ入力するようにしてなることを特徴とする特許
請求の範囲第１項記載の渦流探傷装置。 - （３）サンプリング回路は２系列設けられ、逐次隣接２
センサの出力がサンプリングされ、差動増幅器でこれら
の差が求められ、該差動増幅器の出力がバンドパスフィ
ルタに入力されるようにしてなることを特徴とする特許
請求の範囲第１項または第２項記載の渦流探傷装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61013443A JPH061262B2 (ja) | 1986-01-24 | 1986-01-24 | 渦流探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61013443A JPH061262B2 (ja) | 1986-01-24 | 1986-01-24 | 渦流探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62172259A true JPS62172259A (ja) | 1987-07-29 |
| JPH061262B2 JPH061262B2 (ja) | 1994-01-05 |
Family
ID=11833277
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61013443A Expired - Lifetime JPH061262B2 (ja) | 1986-01-24 | 1986-01-24 | 渦流探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH061262B2 (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63120110U (ja) * | 1987-01-30 | 1988-08-03 | ||
| JPH03274456A (ja) * | 1990-03-26 | 1991-12-05 | Osaka Gas Co Ltd | 金属材探傷装置 |
| JPH09127062A (ja) * | 1995-11-02 | 1997-05-16 | Nippon Steel Corp | 導電体の疵検出装置 |
| JP2008128733A (ja) * | 2006-11-17 | 2008-06-05 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 磁気探傷方法及び磁気探傷装置 |
| JP2013195202A (ja) * | 2012-03-19 | 2013-09-30 | Hitachi Ltd | 渦電流検査装置、渦電流検査プローブ、及び渦電流検査方法 |
| JP2013242205A (ja) * | 2012-05-18 | 2013-12-05 | Toshiba Corp | 渦電流探傷装置および方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5834357A (ja) * | 1981-08-26 | 1983-02-28 | Kawasaki Steel Corp | 渦流探傷方法および装置 |
| JPS60230054A (ja) * | 1984-04-11 | 1985-11-15 | ピ−エ− インコ−ポレイテイド | 管状ストリングの欠陥検出装置および方法 |
-
1986
- 1986-01-24 JP JP61013443A patent/JPH061262B2/ja not_active Expired - Lifetime
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5834357A (ja) * | 1981-08-26 | 1983-02-28 | Kawasaki Steel Corp | 渦流探傷方法および装置 |
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2013195202A (ja) * | 2012-03-19 | 2013-09-30 | Hitachi Ltd | 渦電流検査装置、渦電流検査プローブ、及び渦電流検査方法 |
| US9274085B2 (en) | 2012-03-19 | 2016-03-01 | Hitachi, Ltd. | Eddy current inspection device, eddy current inspection probe, and eddy current inspection method |
| JP2013242205A (ja) * | 2012-05-18 | 2013-12-05 | Toshiba Corp | 渦電流探傷装置および方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH061262B2 (ja) | 1994-01-05 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |