JPH061262B2 - 渦流探傷装置 - Google Patents
渦流探傷装置Info
- Publication number
- JPH061262B2 JPH061262B2 JP61013443A JP1344386A JPH061262B2 JP H061262 B2 JPH061262 B2 JP H061262B2 JP 61013443 A JP61013443 A JP 61013443A JP 1344386 A JP1344386 A JP 1344386A JP H061262 B2 JPH061262 B2 JP H061262B2
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- magnetic field
- phase
- rotating magnetic
- circuit
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、金属材料の製造現場における非破壊検査など
に用いられる渦流探傷装置に関する。
に用いられる渦流探傷装置に関する。
オーステナイト系ステンレス鋼管など、円筒又は円柱状
非磁性材料の軸方向表層面欠陥（シーム状割れ疵など）
を連続的に検出する装置として、回転プローブ式渦流探
傷装置が実用されている。
非磁性材料の軸方向表層面欠陥（シーム状割れ疵など）
を連続的に検出する装置として、回転プローブ式渦流探
傷装置が実用されている。
回転プローブ式渦流探傷装置は例えば第１０図に示すよ
うに回転ディスクに複数個のプローブを、ロータリソレ
ノイド、支持腕、パランスウエイトなどからなる機構で
取付け、これらのプローブが囲む中空部に被検材を通
し、プーリー及びモータで回転ディスクを回転させ、被
検体は直進させ、プローブで被検材表面をスパイラル状
に探傷してそのプローブ出力を、回転トランスまたはス
リップリングを通して外部へ取出して図示しない信号処
理回路へ導き、該回路に探傷信号を出力させる。
うに回転ディスクに複数個のプローブを、ロータリソレ
ノイド、支持腕、パランスウエイトなどからなる機構で
取付け、これらのプローブが囲む中空部に被検材を通
し、プーリー及びモータで回転ディスクを回転させ、被
検体は直進させ、プローブで被検材表面をスパイラル状
に探傷してそのプローブ出力を、回転トランスまたはス
リップリングを通して外部へ取出して図示しない信号処
理回路へ導き、該回路に探傷信号を出力させる。
回転プローブ式渦流探傷装置の欠点は、全て、プローブ
を機械的に回転させる事に由来する。その主なものを列
挙すると、装置（回転機構）が大がかりなものとな
り、且つ精密な仕上げを必要とするのでコスト高であ
る。プローブを被検材表面に至近（0.５mm程度）距離
に支持して回転させる必要があり、被検材の進入時や、
被検材に小さな突起があった場合などプローブを破壊し
やすい。プローブの励磁信号と検出信号を回転トアン
スなどで伝達させる必要上、伝達ロスが避けられず信号
対ノイズ比（Ｓ／Ｎ）が低下する。回転数が機構上制
約されるから、探傷速度（処理能力）が低い。
を機械的に回転させる事に由来する。その主なものを列
挙すると、装置（回転機構）が大がかりなものとな
り、且つ精密な仕上げを必要とするのでコスト高であ
る。プローブを被検材表面に至近（0.５mm程度）距離
に支持して回転させる必要があり、被検材の進入時や、
被検材に小さな突起があった場合などプローブを破壊し
やすい。プローブの励磁信号と検出信号を回転トアン
スなどで伝達させる必要上、伝達ロスが避けられず信号
対ノイズ比（Ｓ／Ｎ）が低下する。回転数が機構上制
約されるから、探傷速度（処理能力）が低い。
本発明は、回転プローブ式渦流探傷装置に於けるプロー
ブの機械的回転にともなうかゝる欠点を除去し、且つ機
械的回転型と同等又はそれ以上の疵検出能を持つ渦流探
傷装置を提供しようとするものである。
ブの機械的回転にともなうかゝる欠点を除去し、且つ機
械的回転型と同等又はそれ以上の疵検出能を持つ渦流探
傷装置を提供しようとするものである。
本発明は、検査周波で各相独立に平衡変調された多相交
流を出力する電源回路と、該多相交流で励磁され、被検
材を通される中級円筒状回転磁界発生器と、該回転磁界
発生器の円筒内壁に沿って円周方向に配列された多数の
磁気センサと、該センサの出力電圧をそれぞれ独立に検
査周波で位相検波する検波器と、位相検波出力から回転
磁界と同一周期の正弦波をそれぞれ抽出するローパスフ
ィルタと、該フィルタの出力電圧を前記回転磁界と同期
して順次サンプリングする回路と、該サンプリング出力
から疵情報以外の成分を除去するバンドパスフィルタと
を備えることを特徴とするものである。
流を出力する電源回路と、該多相交流で励磁され、被検
材を通される中級円筒状回転磁界発生器と、該回転磁界
発生器の円筒内壁に沿って円周方向に配列された多数の
磁気センサと、該センサの出力電圧をそれぞれ独立に検
査周波で位相検波する検波器と、位相検波出力から回転
磁界と同一周期の正弦波をそれぞれ抽出するローパスフ
ィルタと、該フィルタの出力電圧を前記回転磁界と同期
して順次サンプリングする回路と、該サンプリング出力
から疵情報以外の成分を除去するバンドパスフィルタと
を備えることを特徴とするものである。
上記装置では励磁磁界は機械的にではなく電気的に回転
するので、大掛りになる機械的回転機構を必要とせず、
また高速回転も自在である（周波数及び又は極数を変え
るだけでよい）。電気的な回転で、機構としては静止部
材でよいのでセンサ数の増加も容易になり、センサリー
ド線の処理も簡単である（スリップリング又は回転トラ
ンスなどを必要としない）。またセンサ出力は最大検出
出力が得られるＳ／Ｎのよい点でサンプリングするの
で、正確な疵検出を行なうことができ、このサンプリン
グ点は位相シフト回路により容易に調整できる。
するので、大掛りになる機械的回転機構を必要とせず、
また高速回転も自在である（周波数及び又は極数を変え
るだけでよい）。電気的な回転で、機構としては静止部
材でよいのでセンサ数の増加も容易になり、センサリー
ド線の処理も簡単である（スリップリング又は回転トラ
ンスなどを必要としない）。またセンサ出力は最大検出
出力が得られるＳ／Ｎのよい点でサンプリングするの
で、正確な疵検出を行なうことができ、このサンプリン
グ点は位相シフト回路により容易に調整できる。
第１図に本発明の実施例を示す。この図で１０は回転磁
界発生器でこれは第４図に示すように巻線１２、鉄心１
４、円筒状外側支持体１６、内側絶縁円筒１８を有し、
内側絶縁円筒１８内にセンサー群２０が収容される。巻
線１２は２π／３ずつ離して置いた３個のコイルからな
り、３相交流で励磁されて回転磁界を発生する。周知の
ようにこの回転磁界の回転数Ｒ(rpm)は、極数をＰ、３
相交流の周波数をｆ（ＨＺ）としてＲ＝１２０ｆ／Ｐで
ある。３相交流発生器７２は２相交流発生器７０、２４
０°位相シフト回路６８ａ、および１２０°位相シフト
回路６８ｂからなり、これらで互いに１２０°ずつずれ
た３相交流を発生する。これらは平衡変調器６６ａ，６
６ｂ，６６ｃに加えられ、検査周波発生器６０が出力す
る該３相交流より遥かに高い周波数である検査周波数で
平衡変調される。変調器６６ａ，６６ｂ，６６ｃの出力
を第５図に示す。かゝる３相平衡変調波が増幅器６４
ａ，６４ｂ，６４ｃを介して回転磁界発生器１０に加え
られ、検査周波磁束の密度分布が、前記回転数（Ｒ）で
回転する。
界発生器でこれは第４図に示すように巻線１２、鉄心１
４、円筒状外側支持体１６、内側絶縁円筒１８を有し、
内側絶縁円筒１８内にセンサー群２０が収容される。巻
線１２は２π／３ずつ離して置いた３個のコイルからな
り、３相交流で励磁されて回転磁界を発生する。周知の
ようにこの回転磁界の回転数Ｒ(rpm)は、極数をＰ、３
相交流の周波数をｆ（ＨＺ）としてＲ＝１２０ｆ／Ｐで
ある。３相交流発生器７２は２相交流発生器７０、２４
０°位相シフト回路６８ａ、および１２０°位相シフト
回路６８ｂからなり、これらで互いに１２０°ずつずれ
た３相交流を発生する。これらは平衡変調器６６ａ，６
６ｂ，６６ｃに加えられ、検査周波発生器６０が出力す
る該３相交流より遥かに高い周波数である検査周波数で
平衡変調される。変調器６６ａ，６６ｂ，６６ｃの出力
を第５図に示す。かゝる３相平衡変調波が増幅器６４
ａ，６４ｂ，６４ｃを介して回転磁界発生器１０に加え
られ、検査周波磁束の密度分布が、前記回転数（Ｒ）で
回転する。
センサー群２０は第６図に示すように内側絶縁円筒１８
の内壁に沿って円周方向に一例に配列され、リード線群
２２によりコネクタ群２４に接続される。コネクタ群２
４は絶縁円筒１８より大径の円板上に配列され、素子間
々隔が十分とれるようにしてある。センサとしてはホー
ル素子、ＳＭＤ（商品名）、磁気抵抗素子、およびコイ
ルなどの磁気検出素子であればいずれでもよく、また検
出する磁束の向きは垂直、水平いずれでもよい。第７図
はセンサとしてコイルを用い、渦流が作る磁界の水平成
分を検出する場合のコイル姿勢を示す。垂直成分を検出
する場合は、第６図(a)でコイルを９０°回転させ、水
平状態にすればよい。
の内壁に沿って円周方向に一例に配列され、リード線群
２２によりコネクタ群２４に接続される。コネクタ群２
４は絶縁円筒１８より大径の円板上に配列され、素子間
々隔が十分とれるようにしてある。センサとしてはホー
ル素子、ＳＭＤ（商品名）、磁気抵抗素子、およびコイ
ルなどの磁気検出素子であればいずれでもよく、また検
出する磁束の向きは垂直、水平いずれでもよい。第７図
はセンサとしてコイルを用い、渦流が作る磁界の水平成
分を検出する場合のコイル姿勢を示す。垂直成分を検出
する場合は、第６図(a)でコイルを９０°回転させ、水
平状態にすればよい。
第１図ではセンサとしてコイルを用いている。各コイル
２０ａ，２０ｂ，……の一端は接地され、他端はリード
線およびコネクタを介して増幅器３２ａ，３２ｂ，……
に接続される。これらの増幅器の出力は位相検波器３８
ａ，３８ｂ，……に入力され、検波周波発生器６０の出
力を位相シフト回路６２で位相シフトしたものを基準波
として位相検波される。各コイルの出力電圧は、被検体
が無い場合にはコイルと鎖交する磁束がないから零であ
り、又、円周面が一様な無疵の被検体が貫挿された場合
は、各コイルに一様な渦電流リアクションが検出される
が、該信号群は位相検波の基準位相を適当に設定すると
消去でき、位相検波器３８ａ，３８ｂ，……には現われ
ない。位相シフト回路６２は位相検波器の出力が零にな
るように位相調整する。
２０ａ，２０ｂ，……の一端は接地され、他端はリード
線およびコネクタを介して増幅器３２ａ，３２ｂ，……
に接続される。これらの増幅器の出力は位相検波器３８
ａ，３８ｂ，……に入力され、検波周波発生器６０の出
力を位相シフト回路６２で位相シフトしたものを基準波
として位相検波される。各コイルの出力電圧は、被検体
が無い場合にはコイルと鎖交する磁束がないから零であ
り、又、円周面が一様な無疵の被検体が貫挿された場合
は、各コイルに一様な渦電流リアクションが検出される
が、該信号群は位相検波の基準位相を適当に設定すると
消去でき、位相検波器３８ａ，３８ｂ，……には現われ
ない。位相シフト回路６２は位相検波器の出力が零にな
るように位相調整する。
被検体に疵があると渦電流が局部的に乱れ、その疵の近
くにあるコイルは他のコイルと位相及び振幅の異なる誘
起電圧を生じ、かつ磁界の回転につれて誘起電圧が変化
するから、該コイルの誘起電圧の位相検波出力は回転磁
界と同じ周期の正弦波になる。そして疵に最も近いコイ
ルの出力の振幅が最大となり、疵位置から離れるにつれ
てコイル出力の振幅は小になる。この様子を第８図に示
す。この図ではあるコイルｎchが疵の直上にあるとして
おり、（ｎ−１）ch、（ｎ＋１）chはコイルｎchの左，
右にあるコイル、（ｎ−２）ch, （ｎ＋２）chは更にその左，右にあるコイルを示し、以
下これに準ずる。なおこの波形は検査周波のフィルタを
兼ねたローパスフィルタ50ａ，50ｂ，……を経たあとの
ものである。
くにあるコイルは他のコイルと位相及び振幅の異なる誘
起電圧を生じ、かつ磁界の回転につれて誘起電圧が変化
するから、該コイルの誘起電圧の位相検波出力は回転磁
界と同じ周期の正弦波になる。そして疵に最も近いコイ
ルの出力の振幅が最大となり、疵位置から離れるにつれ
てコイル出力の振幅は小になる。この様子を第８図に示
す。この図ではあるコイルｎchが疵の直上にあるとして
おり、（ｎ−１）ch、（ｎ＋１）chはコイルｎchの左，
右にあるコイル、（ｎ−２）ch, （ｎ＋２）chは更にその左，右にあるコイルを示し、以
下これに準ずる。なおこの波形は検査周波のフィルタを
兼ねたローパスフィルタ50ａ，50ｂ，……を経たあとの
ものである。
コイル２０ａ，２０ｂ，……の出力は増幅器３２，３２
ｂ，……位相検波器３８ａ，３８ｂ，……，ローパスフ
ィルタ５０ａ，５０ｂ，……を経てアナログスイッチ３
４ａ，３４ｂ，……に送られる。これらのスイッチ３４
ａ，３４ｂ，……は例えば電界効果トランジスタで構成
され、リングカウンタ４４の出力により開閉される。回
転磁界を発生させる３相交流の１相は位相シフト回路４
０に入力し、こゝで０〜３６０°の範囲内の任意の位相
に移相されたのち位相ロック式の周波数てい倍器４２に
入力する。コイル２０ａ，２０ｂ，……の個数をｎとす
ると、周波数てい倍器４２はｎてい倍を行ない、従って
３相交流の周波数をｆとすればｎｆを出力してこれをｎ
ステップ（ｎ進）リングカウンタ４４に供給する。リン
グカウンタ４４のスイッチ制御出力はｎ個あり、従って
スイッチ３４ａ，３４ｂ，……は３相交流の１周期の間
に１回オンにされる。各スイッチのオンである時間は３
相交流の１／ｎ周期であり、ｎは例えば１２０である。
第８図では各コイルのオン期間に斜線に付して示す。オ
ン期間は波形のピーク部分にされるが、こような調整は
位相シフト回路４０により行なえる。被検体がない場合
ローパスフィルタ５０ａ，５０ｂ，……の出力は零であ
り、スイッチ３４ａ，３４ｂ，……のサンプリング出力
も零である。無疵の被検体が挿貫されている場合は、そ
の挿貫偏心や材料の偏平度や偏肉などにより、回転磁界
と同一周期又は１／２程度の周期と比較的小さい振幅の
出力がある。スイッチ３４ａ，３４ｂ，……からのサン
プリング出力はバンドパスフィルタ３６に送られ、こゝ
で疵情報以外の信号即ち前記偏肉などによる緩やかな信
号及びスイッチングに伴なうスパイク信号などが除去さ
れる。
ｂ，……位相検波器３８ａ，３８ｂ，……，ローパスフ
ィルタ５０ａ，５０ｂ，……を経てアナログスイッチ３
４ａ，３４ｂ，……に送られる。これらのスイッチ３４
ａ，３４ｂ，……は例えば電界効果トランジスタで構成
され、リングカウンタ４４の出力により開閉される。回
転磁界を発生させる３相交流の１相は位相シフト回路４
０に入力し、こゝで０〜３６０°の範囲内の任意の位相
に移相されたのち位相ロック式の周波数てい倍器４２に
入力する。コイル２０ａ，２０ｂ，……の個数をｎとす
ると、周波数てい倍器４２はｎてい倍を行ない、従って
３相交流の周波数をｆとすればｎｆを出力してこれをｎ
ステップ（ｎ進）リングカウンタ４４に供給する。リン
グカウンタ４４のスイッチ制御出力はｎ個あり、従って
スイッチ３４ａ，３４ｂ，……は３相交流の１周期の間
に１回オンにされる。各スイッチのオンである時間は３
相交流の１／ｎ周期であり、ｎは例えば１２０である。
第８図では各コイルのオン期間に斜線に付して示す。オ
ン期間は波形のピーク部分にされるが、こような調整は
位相シフト回路４０により行なえる。被検体がない場合
ローパスフィルタ５０ａ，５０ｂ，……の出力は零であ
り、スイッチ３４ａ，３４ｂ，……のサンプリング出力
も零である。無疵の被検体が挿貫されている場合は、そ
の挿貫偏心や材料の偏平度や偏肉などにより、回転磁界
と同一周期又は１／２程度の周期と比較的小さい振幅の
出力がある。スイッチ３４ａ，３４ｂ，……からのサン
プリング出力はバンドパスフィルタ３６に送られ、こゝ
で疵情報以外の信号即ち前記偏肉などによる緩やかな信
号及びスイッチングに伴なうスパイク信号などが除去さ
れる。
周波数てい倍器４２はリングカウンタ４４の出力が帰還
され、該カウンタの最終段出力パルスが位相シフト回路
４０の出力正弦波の基準位相例えばゼロクロス点の位相
にロックされるようにする。
され、該カウンタの最終段出力パルスが位相シフト回路
４０の出力正弦波の基準位相例えばゼロクロス点の位相
にロックされるようにする。
位相シフト回路４０で位相シフトを行なえば、回転磁界
の位置と検出コイル出力のサンプリングタイミングとの
相対関係に変り、回転磁界の最大磁束密度部が作用する
位置の検出コイル出力をサンプリングすることも、また
零磁束密度部が作用する位置の検出コイル出力をサンプ
リングすることもできる。
の位置と検出コイル出力のサンプリングタイミングとの
相対関係に変り、回転磁界の最大磁束密度部が作用する
位置の検出コイル出力をサンプリングすることも、また
零磁束密度部が作用する位置の検出コイル出力をサンプ
リングすることもできる。
第２図は第１図の改良型で、第１図に更に打消し電圧発
生器４６ａ，４６ｂ，……及び差動増幅器４８ａ，４８
ｂ，……が追加されている。これらは回転磁界発生器の
磁極や巻線の不揃い、あるいはセンサ群の組立て不揃い
などに起因するセット固有の出力（これはノイズ）を消
去する働きをする。即ち位相検波器３８ａ，３８ｂ，…
…の出力は被検体がない場合、理想的には零になるか実
際には上記不揃いのため歪波出力がある。これは各コイ
ルまちまちであり、ローパスフィルタ５０ａ，５０ｂ，
……により回転磁界と同一周期の正弦波としたときその
波高値がまちまちになる。従ってこれを前記サンプリン
グ処理すれば不規則信号が発生し、ノイズが生じる。こ
の各コイルにつき波高値がまちまちな信号を、差動アン
プ４８ａ，４８ｂ，……及び打消し電圧発生器４６ａ，
４６ｂ，……で消去する。打消し電圧発生器群４６ａ，
４６ｂ，……は回転磁界と同一周期で振幅および位相が
可変の正弦波を発生するもので、これらの振幅及び位相
は被検材がないときのフィルタ５０ａ，５０ｂ，……の
出力に合わせ、増幅器４８ａ，４８ｂ，……で打消す。
この振幅及び位相調整は人為的に行なう。
生器４６ａ，４６ｂ，……及び差動増幅器４８ａ，４８
ｂ，……が追加されている。これらは回転磁界発生器の
磁極や巻線の不揃い、あるいはセンサ群の組立て不揃い
などに起因するセット固有の出力（これはノイズ）を消
去する働きをする。即ち位相検波器３８ａ，３８ｂ，…
…の出力は被検体がない場合、理想的には零になるか実
際には上記不揃いのため歪波出力がある。これは各コイ
ルまちまちであり、ローパスフィルタ５０ａ，５０ｂ，
……により回転磁界と同一周期の正弦波としたときその
波高値がまちまちになる。従ってこれを前記サンプリン
グ処理すれば不規則信号が発生し、ノイズが生じる。こ
の各コイルにつき波高値がまちまちな信号を、差動アン
プ４８ａ，４８ｂ，……及び打消し電圧発生器４６ａ，
４６ｂ，……で消去する。打消し電圧発生器群４６ａ，
４６ｂ，……は回転磁界と同一周期で振幅および位相が
可変の正弦波を発生するもので、これらの振幅及び位相
は被検材がないときのフィルタ５０ａ，５０ｂ，……の
出力に合わせ、増幅器４８ａ，４８ｂ，……で打消す。
この振幅及び位相調整は人為的に行なう。
第３図は第２図を更に改良したもので、被検材の振動に
よるノイズを消去することができる。アナログスイッチ
５２ａ，５２ｂ，……および差動増幅器５４がそのため
の手段で、スイッチ５２ａ，５２ｂ，……は１つづつず
れてリングカウンタ４４の出力で制御される。即ちスイ
ッチ５２ａは３４ｂと、５２ｂは３４ｃと、……５２ｎ
は３４ａと同じ出力でオンオフされ、スイッチ３４ａ，
３４ｂ，……の出力とスイッチ５２ａ，５２ｂ，……の
出力の差が増幅器５４で求められ、誤差がバンドパスフ
ィルタ３６に加わる。
よるノイズを消去することができる。アナログスイッチ
５２ａ，５２ｂ，……および差動増幅器５４がそのため
の手段で、スイッチ５２ａ，５２ｂ，……は１つづつず
れてリングカウンタ４４の出力で制御される。即ちスイ
ッチ５２ａは３４ｂと、５２ｂは３４ｃと、……５２ｎ
は３４ａと同じ出力でオンオフされ、スイッチ３４ａ，
３４ｂ，……の出力とスイッチ５２ａ，５２ｂ，……の
出力の差が増幅器５４で求められ、誤差がバンドパスフ
ィルタ３６に加わる。
上記差のイメージを第９図で説明すると、コイル出力は
第９図(a)の棒グラフの如くで、差動増幅器５４はこれ
らの隣接２出力Ａ，Ｂの差を逐次求めるから（Ａ−Ｂ）
出力は第８図(b)の如くなる。被検材の振動によるコイ
ル出力変化は隣接２コイル（本例では１周に１２０個の
コイルを配設するからコイル間隔は３°）では同じに現
われるとしてよいから上記差演算で消去され（Ａ−Ｂ）
出力の零クロス点が疵位置としてよい。
第９図(a)の棒グラフの如くで、差動増幅器５４はこれ
らの隣接２出力Ａ，Ｂの差を逐次求めるから（Ａ−Ｂ）
出力は第８図(b)の如くなる。被検材の振動によるコイ
ル出力変化は隣接２コイル（本例では１周に１２０個の
コイルを配設するからコイル間隔は３°）では同じに現
われるとしてよいから上記差演算で消去され（Ａ−Ｂ）
出力の零クロス点が疵位置としてよい。
回転磁界の発生は３相交流に限らず、任意のｍ個のコイ
ルを２π／ｍずらして配置してｍ相交流で励磁してもよ
く、本発明はかゝる多相交流方式を用いることもでき
る。
ルを２π／ｍずらして配置してｍ相交流で励磁してもよ
く、本発明はかゝる多相交流方式を用いることもでき
る。
以上の説明から明らかなように、本発明では励磁磁界は
機械的にではなく電気的に回転するので、大掛りになる
機械的回転機構を必要とせず、また高速回転も自在であ
る（周波数及び又は極数を変えるだけでよい）。電気的
な回転で、機構としては静止部材でよいのでセンサ数の
増加も容易になり、センサリード線の処理も簡単である
（スリップリング回転トランスなどを必要としない）。
サンプリング点は位相シフト回路により容易に調整で
き、センサ出力が最大のところサンプリングする等も容
易にできる。また渦流型であるから、被検体が導電性で
あれば磁性体でなくても深傷できる。検査周波数で変調
した多相交流で回転磁界を発生させるので、検査周波数
と回転速度を互いに独立に任意に選定できる。更に打消
し電圧による相殺、隣接２センサ出力の差出力を行なう
ことができ、これらによりノイズを除去して一層正確な
疵検出を行なうことができる。
機械的にではなく電気的に回転するので、大掛りになる
機械的回転機構を必要とせず、また高速回転も自在であ
る（周波数及び又は極数を変えるだけでよい）。電気的
な回転で、機構としては静止部材でよいのでセンサ数の
増加も容易になり、センサリード線の処理も簡単である
（スリップリング回転トランスなどを必要としない）。
サンプリング点は位相シフト回路により容易に調整で
き、センサ出力が最大のところサンプリングする等も容
易にできる。また渦流型であるから、被検体が導電性で
あれば磁性体でなくても深傷できる。検査周波数で変調
した多相交流で回転磁界を発生させるので、検査周波数
と回転速度を互いに独立に任意に選定できる。更に打消
し電圧による相殺、隣接２センサ出力の差出力を行なう
ことができ、これらによりノイズを除去して一層正確な
疵検出を行なうことができる。
第１図〜第３図は本発明の実施例を示す回路図、第４図
は回転磁界発生器の説明図で(a)は端面図そして(b)は側
面図、第５図は変調された３相交流の波形図、第６図
(a)(b)はセンサ配列の説明図で(a)は端面図そして(b)は
側面図、第７図はセンサ配置状態の説明図で(a)は正面
図そして(b)は側面図、第８図はセンサ出力の説明図、
第９図(a)(b)は差出力の説明図、第１０図(a)(b)は回転
プローブ式渦流探傷装置の説明図である。 図面で１０は回転磁界発生器、２０ａ，２０ｂ，……は
センサ、３４ａ，３４ｂ，……及び４０，４２，４４，
はサンプリング回路、３６はバンドパスフィルタ、３８
ａ，３８ｂ，……は位相検波器、５０ａ，５０ｂ，……
はローパスフィルタ、４６ａ，４ｂ，……及び４８ａ，
４８ｂ，……は打消し回路、５２ａ，５２ｂ，……はも
う１系列のサンプリング回路、５４は差動増幅器であ
る。
は回転磁界発生器の説明図で(a)は端面図そして(b)は側
面図、第５図は変調された３相交流の波形図、第６図
(a)(b)はセンサ配列の説明図で(a)は端面図そして(b)は
側面図、第７図はセンサ配置状態の説明図で(a)は正面
図そして(b)は側面図、第８図はセンサ出力の説明図、
第９図(a)(b)は差出力の説明図、第１０図(a)(b)は回転
プローブ式渦流探傷装置の説明図である。 図面で１０は回転磁界発生器、２０ａ，２０ｂ，……は
センサ、３４ａ，３４ｂ，……及び４０，４２，４４，
はサンプリング回路、３６はバンドパスフィルタ、３８
ａ，３８ｂ，……は位相検波器、５０ａ，５０ｂ，……
はローパスフィルタ、４６ａ，４ｂ，……及び４８ａ，
４８ｂ，……は打消し回路、５２ａ，５２ｂ，……はも
う１系列のサンプリング回路、５４は差動増幅器であ
る。
フロントページの続き (72)発明者 ▲吉▼田 三男 北海道室蘭市仲町12番地 新日本製鐵株式 会社室蘭製鐵所内 (72)発明者 新田 重幸 北海道室蘭市仲町12番地 新日本製鐵株式 会社室蘭製鐵所内 (56)参考文献 特開 昭60−230054（ＪＰ，Ａ) 特開 昭58−34357（ＪＰ，Ａ) 特開 昭59−114456（ＪＰ，Ａ) 国際公開第8700287
Claims (3)
- 【請求項１】検査周波で各相独立に平衡変調された多相
交流を出力する電源回路と、 該多相交流で励磁され、被検材を通される中空円筒状回
転磁界発生器と、 該回転磁界発生器の円筒内壁に沿って円周方向に配列さ
れた多数の磁気センサと、 該センサの出力電圧をそれぞれ独立に検査周波で位相検
波する検波器と、 位相検波出力から回転磁界と同一周期の正磁波をそれぞ
れ抽出するローパスフィルタと、 該フィルタの出力電圧を前記回転磁界と同期して順次サ
ンプリングする回路と、 該サンプリング出力から疵情報以外の成分を除去するバ
ンドパスフィルタとを備えることを特徴とする回転磁界
式渦流探傷装置。 - 【請求項２】各センサの出力は、被検材がない状態での
ローパスフィルタの出力を打消す回路を通した後、サン
プリング回路へ入力するようにしてなることを特徴とす
る特許請求の範囲第１項記載の渦流探傷装置。 - 【請求項３】サンプリング回路は２系列設けられ、逐次
隣接２センサの出力がサンプリングされ、差動増幅器で
これらの差が求められ、該差動増幅器の出力がバンドパ
スフィルタに入力されるようにしてなることを特徴とす
る特許請求の範囲第１項または第２項記載の渦流探傷装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61013443A JPH061262B2 (ja) | 1986-01-24 | 1986-01-24 | 渦流探傷装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61013443A JPH061262B2 (ja) | 1986-01-24 | 1986-01-24 | 渦流探傷装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62172259A JPS62172259A (ja) | 1987-07-29 |
| JPH061262B2 true JPH061262B2 (ja) | 1994-01-05 |
Family
ID=11833277
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61013443A Expired - Lifetime JPH061262B2 (ja) | 1986-01-24 | 1986-01-24 | 渦流探傷装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH061262B2 (ja) |
Families Citing this family (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63120110U (ja) * | 1987-01-30 | 1988-08-03 | ||
| JP2693009B2 (ja) * | 1990-03-26 | 1997-12-17 | 大阪瓦斯株式会社 | 金属材探傷装置 |
| JP3243402B2 (ja) * | 1995-11-02 | 2002-01-07 | 新日本製鐵株式会社 | 導電体の疵検出装置 |
| JP4835995B2 (ja) * | 2006-11-17 | 2011-12-14 | 住友金属工業株式会社 | 漏洩磁束探傷法及び漏洩磁束探傷装置 |
| JP5946086B2 (ja) * | 2012-03-19 | 2016-07-05 | 株式会社日立製作所 | 渦電流検査装置、渦電流検査プローブ、及び渦電流検査方法 |
| JP6062158B2 (ja) * | 2012-05-18 | 2017-01-18 | 株式会社東芝 | 渦電流探傷装置および方法 |
Family Cites Families (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5834357A (ja) * | 1981-08-26 | 1983-02-28 | Kawasaki Steel Corp | 渦流探傷方法および装置 |
| US4492115A (en) * | 1984-04-11 | 1985-01-08 | Pa Incorporated | Method and apparatus for measuring defects in ferromagnetic tubing |
-
1986
- 1986-01-24 JP JP61013443A patent/JPH061262B2/ja not_active Expired - Lifetime
Non-Patent Citations (1)
| Title |
|---|
| 国際公開第８７００２８７ |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS62172259A (ja) | 1987-07-29 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |