JPS5884181A - カ−ボン部材の純化処理方法 - Google Patents

カ−ボン部材の純化処理方法

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JPS5884181A
JPS5884181A JP56180845A JP18084581A JPS5884181A JP S5884181 A JPS5884181 A JP S5884181A JP 56180845 A JP56180845 A JP 56180845A JP 18084581 A JP18084581 A JP 18084581A JP S5884181 A JPS5884181 A JP S5884181A
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JP
Japan
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carbon
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boat
carbon member
impurities
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川端 敏治
進 古池
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は半導体基板へのエピタキシャル成長。
不純物ドーピングなどに用いるカーボンボート。
基板支持などのカーボン部材の純化処理方法に関する。
エピタキシャル成最の技術は半導体素子の形成に当り広
く用いられ、特に燐化ガリウム(GaP) 。
砒化ガリウム(GaAs)等のm−v化合物半導体素子
の形成に欠くことのできない方法である。そしてm−v
(ヒ合物半導体の不純物としてドーピングされる元素は
、ドナーとしてS、To、Si等が、アクセプタとして
Zn 、 Mg 、、St等が用いられる。
通常エピタキシャル成長用ボート部材には石英あるいは
カーボンが用いられるが、酸素やStの汚染を防止する
ためにはカーボンを用りなければならない。しかしなが
ら一般にボートのカーボン部材には非結晶粒子の焼結体
が用いられ、これは、しばしば不純物を吸収、吸着した
り、あるいは不純物と化学反応を起すことがある。とり
わけ、エピタキシャル成長時にカーボンボートu上述の
ように種々の不純物と接するため、この工程で汚染され
る。そして、カーボンボートが汚染されたまま、あるい
はその純化処理が不十分であれば、次に成長するエピタ
キシャル層は汚染され半導体素子の特性は大きな影響を
受ける。特に低不純物濃度のエピタキシャル層を成長す
る場合、その影響は大きい。
たとえば、n型基板上にn型エピタキシャル層を形成し
さらにp型層を形成した構造の窒素(N)ドープGaP
(緑色)あるいはGaAsP(黄色)発光ダイオード(
LFD)は、U型層のドナー!1度が低下する程発光出
力は増加するため、低ドナー濃変のエピタキシャル層を
成長することが必要となる。
しかしカーボンボートの141b処理が不十分でドナー
不純物が残っていた場合、低濃度のエピタキシャル層の
成長は不可能で、発光出力は低下する。
またドナー不純物を取除いてもアクセプタ不純物が残っ
ていた場合、n型層の一部がp型に反転する特性不良が
発生する。
一般に、エピタキシャル層にドルピングされる元素のう
ち、n族元素のZn 、 Mg等や■族元素のSi等は
蒸発しにぐく、単に熱処理するだけではカーボンボート
から完全に取除くことはできない。
捷た■族元素のS 、 To等はそれ自身は蒸発しゃす
いが、カーボンと化合物を形成しやすく、単に熱処理す
るだけでは完全に増除くことはできない。
本発明は上述の問題を解決するものであり、すべての不
純物を完全に除去し高純度なエピタキシャル層を得るた
めのカーボンボートのNlrと処理方法を提供するもの
である〇 図に本発明の方法を実施するためのカーボンポード純化
処理装置の一例の何略図を示す。まず第1工稈として、
n族元素のZn 、 Mg等や1族元素のSi等を取除
くために、ハロゲンを含むガス雰囲気たとえば塩化水素
中でカーボンボート1を石英炉管2内に配置し、ヒータ
3でこれらを1000℃に保ち、3時間和度熱処理する
。この工程で、これらの元素は塩化物となり蒸発しやす
くなる。しかし塩「ヒ物でもカーボンボートの奥深くに
吸着されたものは完全に取除くことはできない。そこで
第2工程として塩化物となったH族あるいは■族元素を
完全に取除くために、真空ポンプ4で排気した減圧中で
このカーボンボートを1ooo℃で4時間和度熱処理す
る。減圧によりカーボンボートの奥深く吸着された塩化
物も蒸発してカーボンボートから取除くことができる。
さらに第3工程として■族元素のS 、 To等を取除
くために還元性雰囲気たとえば水素中でカーボンボート
を1000℃で6時間和度熱処理する。この工程により
、カーボンと化合物を形成している■族元素も水素化物
となり蒸発してカーボンボートから増除くことができる
〇 このようにして純化したカーボンボートを用いGaP(
緑色)LEDを液相エピタキシャル成長により形成した
場合゛、発光出力が高く、かつ素子としての特性が優れ
たものが得られた。一方、かかる効果を確認するために
、第1あるいは第2工程を省略した場合、n型層の1部
がp型層になる特性不良が発生した。また第3工程を省
略した場合、高ドナー濃変層が成長し発光出力が極端に
低下した0 このようにカーボンボートの純fと処理は第1゜第2.
さらに第3工程を引続き行うことが必要で、どれ1つ欠
けても高純度なエピタキシャル層の成長は不可能である
。またドナーかアクセプタ不純物のどちらか1方しかド
ーピングしないエピタキシャル成長であっても、水や石
英等からのStやその他の物質の汚染は避けられない0
従って上記の3つの工8は必要となるとともK、各工程
の熱処理湯度は960’C〜1200℃が望ましい0以
上説明してきたところから明らかなように、本発明によ
ればカーボンボートに吸着したすべての不純物を完全に
取除くことができ、高純度なエピタキシャル層の成長が
可能となる。かかる本発明の方法によれば、高純度なエ
ピタキシャル層を有する高効率発光ダイオードや他の素
子を生産することが可能である。
【図面の簡単な説明】
図はカーボンボートの純化処理装置の概略図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ハロゲンを含むガス雰囲気中で熱処理する第1工程と、
    減圧あるいは真空中で熱処理する第2工程と、還元性ガ
    ス雰囲気中で熱処理する第3工程とを備えたことを特徴
    とするカーボン部材の純化処理方法。
JP56180845A 1981-11-11 1981-11-11 カ−ボン部材の純化処理方法 Granted JPS5884181A (ja)

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