JPH0797300A - 窒化ガリウム系結晶の熱処理方法 - Google Patents

窒化ガリウム系結晶の熱処理方法

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JPH0797300A
JPH0797300A JP23974893A JP23974893A JPH0797300A JP H0797300 A JPH0797300 A JP H0797300A JP 23974893 A JP23974893 A JP 23974893A JP 23974893 A JP23974893 A JP 23974893A JP H0797300 A JPH0797300 A JP H0797300A
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JP
Japan
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crystal
gallium nitride
type impurity
type
doped
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JP23974893A
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Ryuichi Nakazono
隆一 中園
Tsunehiro Unno
恒弘 海野
Shoji Kuma
彰二 隈
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Hitachi Cable Ltd
Original Assignee
Hitachi Cable Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【目的】少ないドープ量で十分なp型キャリアを得るた
めにp型不純物の活性化を高め、多量の不純物による結
晶欠陥の発生を抑え、より発光出力の高い青色発光ダイ
オードを得る。 【構成】Alx Ga1-x NやIny Ga1-y N層を有す
るGaNエピタキシャルウェハ1は、有機金属気相成長
法を用い、窒素原料にアンモニアを使って形成する。エ
ピタキシャル層をp型結晶とするために、成長時Mgや
Znなどのp型不純物をドープする。ドープしたp型不
純物を活性化するために、GaNエピタキシャルウェハ
1を抵抗加熱ヒータ5を巻いた反応管3内に入れて治具
2上に載置し、窒化ガリウム系結晶を窒素雰囲気中で熱
処理する。その際、水銀ランプ4を使って紫外線を照射
する。その波長は、結晶中にp型不純物と共に取り込ま
れた水素の電荷を価電子帯へ励起するために200nm〜
350nmとする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は窒化ガリウム系結晶の熱
処理方法に係り、特にp型不純物を活性化するための熱
処理方法を改善したものに関する。
【0002】
【従来の技術】低消費電力で長寿命な発光素子である発
光ダイオードは、インジケータランプ、警告表示、広告
表示などに広く用いられている。現在、実用化されてい
る発光ダイオードの発光色は、赤色、橙色、黄色、緑色
である。赤・緑・青の光の三原色のうち、青色だけが実
用化されていない。青色発光ダイオードが実用化できれ
ばフルカラー表示が可能となり、情報表示を多彩に行う
ことができる。
【0003】青色を発光させるためには、広い禁制帯幅
をもつ半導体結晶が必要であり、その開発が盛んに行わ
れている。窒化ガリウム系化合物半導体は、広い禁制帯
幅をもち、発光効率の高い直接遷移型であることから注
目されている。
【0004】窒化ガリウム系の発光ダイオードは、サフ
ァイア基板上に窒化アルミニウムや窒化ガリウムのバッ
ファ層を設け、その上に、n型窒化ガリウムとp型窒化
ガリウムとを成長させた構造となっている。p型窒化ガ
リウムを得るためには、不純物を結晶成長時にドープ
し、その後、活性化のために真空中で電子線照射や窒素
雰囲気中で熱処理することが行われている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述した従来
方法で得られる発光ダイオードでも、未だ外部量子効率
で約0.2%であり、赤色発光ダイオードの数%に対し
て低く、実用には耐えられない。このように発光効率が
低いのは、窒化ガリウムをp型化するために、1019
1020cm-3という多量の不純物をドープしなければなら
ず、その結果、非発光再結合中心となる格子欠陥が多く
なってしまうからである。
【0006】多量に不純物をドープするのは、その活性
化が低いからである。ドープする不純物の種類はII族元
素であるZnもしくはMgであるが、それらの活性化が
低いのは結晶成長に用いる窒素原料に起因すると思われ
る。
【0007】すなわち、窒化ガリウムの結晶成長は気相
成長で行われるが、窒素の原料ガスとして通常アンモニ
アガスを使用する。ところが、このアンモニアのN−H
結合が十分に解離されないまま、水素が結晶に取り込ま
れてしまい、この水素がp型不純物と結び付き、不純物
の活性化を抑え込んでいると考えられる。
【0008】そこで、このp型不純物を活性化させるた
めに、真空中にて結晶に電子線照射を行ったり、窒素中
で600℃以上の熱処理を施したりする方法が検討さ
れ、活性化の改善が進められてきた。しかし、まだ十分
でなく、それを補完するために、上記したような多量の
不純物のドープを必要としているのである。
【0009】本発明の目的は、前記した従来技術の欠点
を解消し、高い発光効率をもつ青色発光ダイオードを実
現させることができる新規な窒化ガリウム系結晶の熱処
理方法を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明の窒化ガリウム系
結晶の熱処理方法は、p型不純物をドープした窒化ガリ
ウム系結晶Alx Ga1-x N、Iny Ga1-y N(ただ
し、0≦x≦1、0≦y≦1)を窒素雰囲気中で熱処理
する際に、紫外線を照射するようにしたものである。
【0011】また、本発明の窒化ガリウム系結晶の熱処
理方法は、窒化ガリウム系結晶が、窒素の原料ガスにア
ンモニアガスを用いた気相成長法により形成されたもの
であり、その場合に熱処理する際の紫外線の波長を、p
型不純物の活性化をより高めるために、200nm〜35
0nmとするようにしたものである。
【0012】
【作用】窒化ガリウム系結晶を窒素雰囲気中で熱処理す
る際に、紫外線を照射すると、解離されないまま結晶中
にに取り込まれてp型不純物と結びつき、p型不純物の
活性化を抑え込んでいた結晶原料原子の結びつきが解か
れて、結晶中にドープしたp型不純物原子の活性化ある
いはp型不純物原子への分解が促進される。その結果、
p型不純物の活性化が向上する。
【0013】窒化ガリウム結晶が、窒素の原料ガスにア
ンモニアガスを用いた気相成長法により形成されている
場合には、アンモニアのN−H結合が十分に解離されな
いまま、水素が結晶に取り込まれ、この水素がp型不純
物と結びつき、不純物の活性化を抑え込んでいる。従っ
て、照射する紫外線の波長が200〜350nmである
と、p型不純物にトラップされている水素の電荷が価電
子帯へ励起され、その結果、p型不純物の活性化率が大
幅に高まる。
【0014】なお、窒化ガリウムの熱処理時の雰囲気を
構成する窒素の圧力は、熱処理温度によって異なるが、
104 〜105 Pa程度でよい。
【0015】
【実施例】以下、本発明の窒化ガリウム系結晶の熱処理
方法を窒化ガリウム結晶に適用した実施例を説明する
が、ここでは、次の2つの特性比較に基づいて説明して
いく。
【0016】(1) p型不純物をドープした窒化ガリウム
のエピタキシャル成長を行い、従来技術で処理した比較
例の結晶と、本発明方法で処理をした実施例の結晶との
特性比較をウェハレベルで行った。
【0017】(2) pn接合を有する窒化ガリウムのエピ
タキシャル成長を行い、比較例の処理をした結晶と本実
施例の処理をした結晶とのそれぞれから発光ダイオード
を作製し、ダイオードレベルの特性比較を行った。
【0018】ウェハレベルの特性比較 窒化ガリウムのエピタキシャル成長は、有機金属気相成
長法(MOVPE法)により行った。横型炉を使用し、
成長圧力は1.33×104 Paで行った。基板には、表
面を鏡面仕上げしたサファイア基板を用いた。
【0019】成長は、まず、流量10l/minの水素雰囲
気下で1125℃にサファイア基板を20分間保持し表
面処理を行った。
【0020】次に、550℃に降温させた後、25μmo
l/min のトリメチルアルミニウム(TMA)と5l/min
のアンモニアを3分間流し、窒化アルミニウムのバッフ
ァ層を成長させた。
【0021】そして、次に1000℃に昇温し、80μ
mol/min のトリメチルガリウム(TMG)と5l/minの
アンモニアおよび2nmol/min のビスシクロペンタディ
エニルマグネシウム(Cp2 Mg)を流し、窒化ガリウ
ムのエピタキシャル成長を60分間行った。
【0022】窒化ガリウム(GaN)は約3μm 成長し
た。成長したGaN結晶のキャリア濃度をホール測定し
たところ、1015cm-3以下の低キャリア濃度であった。
【0023】ここで、図1に示す熱処理装置を用いて、
この結晶の成長したエピタキシャルウェハを2分割し、
従来技術による比較例の方法と、本実施例による方法と
でそれぞれ個別に処理し、両者の特性の比較を行った。
熱処理装置の概要は次の通りである。
【0024】石英反応管3の中に炭素治具2を設置し、
その上にGaNエピタキシャルウェハ1を表面が上にな
るようにセットする。この反応管3の周囲には管状の抵
抗加熱ヒータ5を巻いてある。この抵抗加熱ヒータ5の
ウェハ1が置かれている上部は、ヒータを除いてあり、
代りに紫外線を出す水銀ランプ4を配置した。反応管3
内には、精製装置により高純度化された窒素ガスを流
す。
【0025】まず、比較例の方法で熱処理した。炭素治
具2の上に分割した一方のGaNエピタキシャルウェハ
1を置き、水銀ランプ4を消灯したままで、650℃に
ヒータ5で加熱し、30分間保持した。この時、流した
窒素ガス流量は2l/minであった。
【0026】次に、もう片方のGaNエピタキシャルウ
ェハ1を、今度は本実施例の方法である水銀ランプ4を
点灯させ、紫外線を照射した状態で650℃に加熱し、
30分間保持した。窒素ガス流量は先程と同様に2l/m
inであった。
【0027】この2つのウェハ1のp型キャリア濃度を
ホール測定したところ、比較例の方法で処理した結晶で
はキャリア濃度は5×1017cm-3であり、本実施例の方
法では、キャリア濃度は2×1018cm-3であった。本実
施例の処理方法の方が4倍も高いキャリア濃度を得るこ
とができ、p型不純物の活性化に非常に有効であること
が分かった。
【0028】発光ダイオードレベルの特性比較 次に、図2に示した青色発光ダイオードチップを製作
し、発光出力を比較した。結晶成長は上記したMOVP
E法を用いて同様に行った。すなわち、サファイア基板
6上に、AlNバッファ層7を成長した後、Siを不純
物としてドープして2.5μm 厚,キャリア濃度1×1
18cm-3のn型GaN層8を成長させ、その上にMgを
ドープして1.5μm のGaN層9を成長させた。
【0029】Mgのドープ量は、比較例の熱処理を施す
結晶と本実施例の上記処理を施す結晶とでは変えるよう
にした。両結晶とも、処理後のp型キャリア濃度が1×
1018cm-3となるように調節した。つまり、比較例の熱
処理を施す結晶には、本実施例の処理を施す結晶の4倍
のMg量をドープした。これらの結晶に所定のプロセス
を施し、電極10を取り付けて図2の発光ダイオードチ
ップを得た。
【0030】得られた各チップに電流20mAを流し、発
光出力を測定した。比較例で処理した発光ダイオードチ
ップの出力は90μWであったが、本実施例で処理した
発光ダイオードチップの出力は、215μWであった。
本実施例の方が約2.3倍発光出力が大きくなった。
【0031】このように本実施例によれば、窒化ガリウ
ム化合物半導体結晶にドープしたp型不純物Mgの活性
化を高めることができ、少ないドープ量で十分なp型キ
ャリアを得ることが可能となる。その結果、不純物によ
る非発光中心となる結晶欠陥の導入を抑えることができ
発光ダイオードの発光効率を高めることができ、発光出
力の高い青色発光ダイオードの作製が可能となる。
【0032】なお、本発明の熱処理方法は窒化ガリウム
結晶に限定されない。アンモニアを用いて成長させた窒
化ガリウムアルミニウム(Alx Ga1-x N、x=1を
含む)、窒化ガリウムインジウム(Iny Ga1-y N、
y=1を含む)に対しても有効である。
【0033】
【発明の効果】
(1) 請求項1に記載の発明によれば、窒化ガリウム系結
晶にドープしたp型不純物の活性化を高めることがで
き、少ないドープ量で十分なp型キャリアを得ることが
可能となる。従って、この不純物による非発光中心とな
る結晶欠陥の導入を抑えることができ、高い発光効率を
もつ青色発光ダイオードの実現が可能となる。
【0034】(2) 請求項2に記載の発明によれば、p型
不純物の活性化をより高めることができ、発光効率のよ
り高い青色発光ダイオードを得ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の実施例による熱処理方法と従来技術の
比較例による熱処理方法とを比較検討するために用いた
熱処理装置の概略構成図である。
【図2】本実施例と比較例の特性比較に用いた青色発光
ダイオードチップの構造図である。
【符号の説明】
1 GaNエピタキシャルウェハ 2 炭素治具 3 石英反応管 4 水銀ランプ 5 抵抗加熱ヒータ 6 サファイア基板 7 AlNバッファ層 8 n型GaN層 9 p型GaN層 10 電極

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】p型不純物をドープした窒化ガリウム系結
    晶Alx Ga1-x N、Iny Ga1-y N(ただし、0≦
    x≦1、0≦y≦1)を窒素雰囲気中で熱処理する際
    に、紫外線を照射することを特徴とする窒化ガリウム系
    結晶の熱処理方法。
  2. 【請求項2】窒素の原料ガスにアンモニアガスを用いた
    気相成長法により上記窒化ガリウム系結晶が形成された
    請求項1に記載の窒化ガリウム系結晶の熱処理方法にお
    いて、上記紫外線の波長が200nm〜350nmであるこ
    とを特徴とする窒化ガリウム系結晶の熱処理方法。
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