JPS5849062B2 - 画像形成装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は変調信号により変調された光ビームを用いて画
像を形成する装置に関する。

従来、レーザ光等の光ビームを用いた記録又は表示等の
装置に於いては、光ビームの発振、変調が正常であるか
否かを検知する確認工程を有しておらず、よって光ビー
ムの動作の信頼性の点に関し問題があった。

例えば、変調されないままの光ビームが発振、走査され
るとこれをスクリーン又は記録体に入射せしめても、情
報化された像が全く得られない。

更に、レーザ発振器等の光ビーム発振器そのものに欠陥
があると、光ビームの発生がなされず、結果的に光ビー
ムを利用した記録や表示が行われない。

本発明は如上の不都合を解決することを主な目的とする
。

以下図面を参照して説明する。

第１図Ａは、モニター光の集光手段を除けば本発明が適
用できる画像形成装置の一例である。

レーザ発振器１より発振されたレーザビームは、反射ミ
ラー２を介して変調器３の入力開口に導かれる。

反射鏡２は、装置のスペースを小さくすべく光路を屈曲
させるために挿入されるもので、必要なければ、除去さ
れるものである。

変調器３には、公知の音響光学効果を利用した音響光学
変調素子又は、電気光学効果を利用した電気光学素子が
用いられる。

変調器３において、レーザビームは、変調器３への入力
信号に従って、強弱の変調を受ける。

また、レーザ発振器１が、半導体レーザの場合、あるい
は、ガスレーザ等においても電流変調が可能な型あるい
は、変調素子を発振光路中に組み込んだ型の内部変調型
のレーザを使用するにあたっては、変調器３ぱ省略され
直接ビームエキスパンダー４に導かれる。

変調器３からのレーザビームはビームエキスパンダーに
より千行光のままビーム径が拡大される。

さらに、ビーム径が拡大されたレーザビームは鏡面を１
個ないし複数個有する多面体回転鏡５に入射される。

多面体回転鏡５は高精度の軸受（例えば、空気軸受）に
支えられた軸に取り付けられ、定速回転（例えばヒステ
リシスシンクロナスモータ、ＤＣサーボモータ）のモー
タ６により駆動される多面体回転鏡５により、水平に掃
引されるレーザビーム１２はｆ−θ特性を有する結像レ
ンズ７により、感光ドラム８上にスポットとして結像さ
れる。

一般の結像レンズでは、光線の入射角θの時、像面上で
の結像する位置ｒについて、ｒ＝ｆ−ｔａｎθ一（１）
（ｆ：結像レンズの焦点距離）なる関係があり、本実施
例のように、回転一定の多面体回転鏡５により、反射さ
れるレーザビーム１２は結像レンズ７への入射角が、時
間と共に一次関数的に変化する。

従って、像面たる感光ドラム８上での結像されたスポッ
ト位置の移動速度は、非直線的に変化し一定ではない。

すなわち、入射角が大きくなる点で移動速度が増加する
。

従って、一定時間間隔で、レーザビームをオンにして、
スポット列を感光ドラムＢ上に描くと、それらの間隔は
両端が、中央部に比較して広くなる。

この現象を避けるため、結像レンズ７は、ｒ ＝ ｆ・
θ−（２） なる特性を有するべく設計される。

この様な結像レンズ７をｆ−θレンズと称する。

さらに、千行光を結像レンズでスポット状に結像させる
場合、そのスポット最小径ｄｍｉｎは、で与えられ、ｆ
，λが一定の場合Ａを大きくすればより小さいスポット
径ｄｍｉｎが得られる。

先に述べたビームエキスパンダー４は、この効果を与え
るために用いられる。

従って、必要なｄｍｉｎがレーザ発振器のビーム径によ
って得られる場合にはビームエキスパンダー４は省略さ
れる。

ビーム検出器１８は、小さな入射スリットと、応答時間
の速い光電変換素子（例えばＰＩＮダイオード）から成
る。

ビーム検出器１８は、掃引されるレーザビーム１２の位
置を検出し、この検出信号をもって、感光ドラム上に所
望の光情報を与えるための変調器３への入力信号のスタ
ートのタイミングを決定する。

これにより、多面体回転鏡５の各反射面の分割精度の誤
差および、回転ムラによる、水平方向の信号の同期ずれ
を、大巾に軽減でき、質の良い画像が得られると共に、
多面体回転鏡５及び駆動モーター６に要求される精度の
許容範囲が大きくなり、より安価に製作できるものであ
る。

上記のごとく、偏向、変調されたレーザビーム１２ぱ、
感光ドラム８に照射され、電子写真処理プロセスにより
顕像化された後、普通紙に転写、定着されハードコピー
として出力される。

本実施例に適用される電子写真プロセスとして、本出願
人の特公昭４２−２３９１０号公報に記載されたプロセ
ス、特公昭４２−１９７４８号公報に記載されたプロセ
ス、更に特公昭４３ ２４７４８号公報に記載されたプロセスがある。

又上記電子写真プロセスに限定されることなくあらゆる
電子写真プロセスに適用可能である。

第１図Ａに示される通り感光ドラム８に入射された光信
号は反射（又は散乱）されその反射（又は散乱）光の一
部が第１図Ａ中、ｆ一θレンズの上方に配設された集光
レンズ９２により集光され、ビームモニター用光検出器
９１に入力する。

この光検出信号と変調器３への入力信号（即ち、光ビー
ムを情報化するための外部入力信号）とを比較すること
によりレーザー光の走査状態、発振状態、変調状態を検
出し、これが正常であるか否かチェックすることができ
る。

この具体的方法についてはその詳細を後述する。

なお感光ドラム８からの反射（又は散乱）光が光検出器
９１に対して、検出するに充分の強度をもつ時は集光レ
ンズ９２を省くことが可能である。

又、集光レンズ９２及びビームモニター用光検出器９１
の配置場所は、より効率よく感光ドラム８からの反射（
散乱）光を検出できるよう充分に配慮されねばならない
。

次に、コンピュータからの図形・文字情報を受け取り、
本実施態様（第１図Ａ、参照）に示した装置にて、所望
のハードコピーを作製するまでの動作を、第３図を参照
しながら説明する。

コンピュータからの情報は直接あるいは、磁気テープ、
磁気ディスク等の記憶媒体を介して、第３図に示したブ
ロック回路を包含する装置のインターフエース回路２２
に定められたフォーマットで入力される。

コンピュータからの種々の命令は、インストラクション
実行回路２４で解読されかつ実行される。

データはデータメモリー２３に一定の量づつ貯えられる
。

データの形式は、文字情報の場合には、２進コードで与
えられ、図形情報の場合には、図形を構成する画素単位
のデータである場合又は、図形を構戊する線のデータ（
いわゆるベクトルデータ）である場合がある。

これらのモードは、データに先立って指定され、インス
トラクション実行回路２４は、前記指定モードに従って
、データを処理する様にデータメモリー２３、ラインデ
ータジエネレータ２６を制御する。

ラインデークジエネレータ２６では１スキャンライン分
の最終データを発生させる。

すなわち、データが文字コードで与えられた時は、キャ
ラクタジエネレータ２５から文字パターンを読み出し、
１行分の文字パターンを並べてバツファするか、或いは
一行分の文字コードをバツファし逐次キャラクタジエネ
レーク２５より文字パターンを読み出して１スキャンラ
イン分のレーザ光を変調するためのデータを順次作成す
る。

データが図形情報である場合にも、データをスキャンラ
インデークに変換して順次１ラインスキャン分のレーザ
光を変調するためのデータを作り出すつ１スキャンライ
ン分のデータは、１スキャンライン分の画素数に等しい
数のビット数を持つシフトレジスタ等からなるラインバ
ツファ１およびラインバツファ２に、バツファスイッチ
匍脚回路の制御により交互に入力される。

さらに、ラインバツファ１（２７）およびラインバツフ
ァ２（２Ｂ）のデータは、ビーム検出器３２からのビー
ム検出信号をトリが信号として、１スキャンライン分１
ビットずつ順次読み出さ札変調器制御回路に加えられる
。

１つの反射面が、感光ドラム上を回転方向に垂直な線に
沿って走査する間に、ラインバツファに貯えられた１ス
キャンライン分のデータが変調器に加えられ、１スキャ
ンラインの明暗のパターンが感光ドラム８に与えられる
。

ラインバツファ１，２からは、バツファスイッチ制御回
路の制御により交互に読み出される。

これらの時間的関係を第４図に示す。すなわちラインバ
ツファの片方から読み出している時、他方のラインバツ
ファへ書き込んでいる。

この方式により、多面体回転鏡が感光ドラム上を掃引す
るのに、一つの反射面と次に続く反射面への間隔が非常
に短い時に、もれなくデータを変調器に加えることがで
きる。

１スキャンラインを走査する間に、感光ドラムは定速回
転を続け、適当なスキャンライン間隔分だけ移動する。

さらに、プリンタ制御回路３３は、インストラクション
実行回路２４からのスタート命令を受けると、プリンタ
動作を開始させると共に、プリンタレディの信号をイン
ストラクション実行回路２４に返す。

変調器３に信号が加えられ、感光ドラムへ１頁の最初の
データが書き込まれると、この書き込まれたデータが、
転写位置に於いて、丁度ページの頭の部分に転写される
べく、タイミングを取って、記録紙１１が給紙機構によ
り送り出される。

かくして、コンピュータ２１からの文字・図形情報は、
普通紙上に鮮明なハードコピーとして出力される。

第１図Ｂは、同図Ａに示した集光レンズ及びビーム検出
器の配設場所を変更した変更態様を示すもので、感光ド
ラム８に照射された光は、反射又は散乱（以下簡単のた
め反射と呼ぶ）され再びｆθレンズ７の方に向かう。

反射光又は散乱光（以下簡単のため反射光と呼ぶ）を、
ビームエクスパンダ−４からの出力光がミラースキャン
ナー５へ入力する際、第２図に示される如く防害されな
いように配設された反射ミラー９０、及び、集光レンズ
９２′、を介しモニター用光検出器９１′により検出し
、レーザービームのチェックを行う。

次に感光体８からの反射光をモニター用光検出器９１′
により検出する方法について第２図を用い詳述する。

ビームエクスパンダ−４と、ミラースキャンナー５との
中間に反射ミラー９０が、ビームエクスパングーからの
出力光に対し４５°の角度を持つように配置されている
。

反射ミラー９０は、ビームエクスパンダー、４からの出
力光がミラースキャンナー５に何ら防害なく到達される
べく中心付近に穴があけられてある。

感光ドラム８上のビーム結像点からの反射光又は散乱光
はその一部がｆθレンズを再び通過し、ｆ一θレンズへ
のビームエクスパングー４からの入射光と平行に逆進す
る。

逆進してきた光のうち、ミラースキャンナーのレーザー
光の走査を行ったミラー面によって反射された光は、ビ
ームエクスパングーからの出射光と平行に進み反射ミラ
ー９０に入射し、集光レンズ９２′により、モニター用
光検出器９１′に入射する。

ここでモニター用光検出器９１′への入射光は、ミラー
スキャンナ−５が回転しても常に正しく検出することが
できる。

この第１図Ｂに示した態様は、第１図Ａに示した実施態
様の変形例であり、共通する要素は同図Ａと同一の符号
を付して表示し、その説明を省略する。

次に前述の第１図Ａ，Ｂに示したビームモニター用光検
知器９１ ，９１’からの光検知信号と変調器３への人
力信号とを比較する方法について第３図、第５図、第６
図、を用い詳述する。

第３図にブロック図にて示すごとく、モニター用光検出
器９１，変調状態をチェックするビームチェック回路９
３を主構戊とするレーザ光検出回路を設けるビームチェ
ック回路９３は、第６図に示した回路構成を有している
。

変調器３へのレーザ光を情報化するための入力信号２（
第５図参照）とモニター用光検知器９１，９１’からの
光検知信号３（第５図参照）とのイクスクルーシブ・オ
ア（ＥＸＣＬＵＳＩＶＥ ＯＲ）をとりその出力信号
４をＪＫフリツプ・フロツプ回路に入力させる。

このＪＫフリツプ・フロツプ回路は、クロツク信号のポ
ジティブエッジにおいてその出力の状態が変化するもの
とする。

このＪＫフリツプ・フロツプ回路の出力５が本発明に係
るレーザ光の検出に使用する信号である。

この出力信号５をエラー表示ランプを点灯させたり、警
告手段を動作させたり、又レーザ光プリンターの動作を
静止させる等の信号として使用する。

なお、ＪＫフリツプ・フロツプ回路は、ビームエラーの
検出動作をする前にリセソト信号によりリセットされて
いるものとする。

次に第５図のタイミングチャートを用い第６図に示した
回路図の各部における信号を説明する。

クロツク信号ｌぱ、変調器３への人力信号をつくりだす
基準クロック信号である。

この基準クロツク信号ｌをもとにして作り出された変調
信号が今、２のようになっていると仮定する。

モニター用光検出器９１，９１’からの光検出信号は、
変調器の動作がそれへの人力信号とそれからの出力信号
との間におくれ及び非線型性を持つため、３のような形
で得られる。

なお、■点において例らかのエラーにより光検出信号が
得られなかったとする。

すると上記２種の信号（２及び３）のイクスクルーシブ
・オア出力信号は４のようになり、その結果ＪＫフリツ
プ・フロツプ回路の出力信号として５のような信号を得
ることができ、Ａ点において、エラーが発生したことが
わかる。

以上の方法によりビームのあらゆる状態例えば、レーザ
光の発振状態、光学系の配置状態、変調器の動作状態、
ミラースキャンナーの回転状態等の不良がチェックでき
る。

又光がオンになりっぱなしの場合も検出できる。

以上の比較法は、あらかじめ一つの仮定があった。

即ち、検出信号３の変調信号２に対する遅れが、クロツ
ク信号ｌの１周期以上遅れないという仮定である。

次に検出信号３の変調信号２に対する遅れが、クロツク
信号１の数周期に達する場合についての比較法を第１２
図を用い説明する。

第１２図は前者が後者に対し、２周期以上３周期以下の
遅れを持つ場合のタイムチャートである。

この場合は、検出信号３と比較すべき信号は、変調信号
２を直接用いるのではなく、該変調信号２を２周期遅ら
せた遅延された変調信号４と比較するようにする。

具体的な比較法は、前記例と同じである。

変調信号２から遅延された変調信号４を作り出すには、
シフトレジスタを用いればよい。

その例を第１３図に示した。

遅延された変調信号４を作り出す方法は第１３図の回路
例に限ることなく、変調信号を遅らせることのできる回
路であるならばその選択を問わない。

例えばデレイ・ライン（ＤＥＬＡＹＬＩＮＥ）等。

又遅れが、１周期以上、２周期以下あるいは、３周期以
上であっても同様の方法により遅延された変調信号４を
作り出すことができる。

予め正確な遅れの値が不明である時は、遅延された変調
信号４の変調信号２に対する遅れを可変にしておき、そ
の遅れを調整できるようにすることが望ましい。

その例を第１４図第１５図に示した。

両図に於で、セレクターにより遅延周期の異なる複数の
信号２．４’，４．４“の選択を外部より実行できるよ
うにし、その選択された出力を、第６図のＪＫフリップ
・フロップ回路の端子Ｊに入力させ、エラー信号の出力
を得る。

第１６図は、セレクタを用いず、何種類かの遅延された
変調信号を、それぞれ検出信号と比較し、複数のＪＫフ
リツプ・フロツプ回路に入力させ、すべてのＪＫフリッ
プ・フロツプ回路の出力が高レベルになった時、エラー
信号が高レベルになるようにしてある。

これによりあらかじめ遅れの時間が明らかでない場合に
おいても両者の正しい比較が可能となる。

第１７図は、第１６図のＪＫフリツプ・フロツプ回路の
かわりにシフトレジスター４個を用いたＥＲＲＯＲ検出
回路例であり、動作は第１６図に示したＪＫフリツプ・
フロツプ回路の動作は同様であるので省略する。

この際クロツク信号周期を１／２にし比較する時点を増
やすことも可能である。

以上の方法は、デイジクル的に変調信号と検出信号を比
較する方法であったが、両者を比較する方法であれば、
その方法は限定されない。

例えば、両者の相関をとり、その値をあるしきい値と比
較し、エラー状態か否かを判別することも可能である。

以上は、ビームモニター用光検出器９１からの光検出信
号を変調器３への人力信号と比較することにより、光ビ
ームの種々の状態をチェックする方法であった。

次に述べる方法は、前述した比較法とは違い、光ビーム
の正常な発振状態、走査状態又は変調状態をチェックす
るものである。

この実施例を第１８図をもとに説明する。

即ちビームモニター用光検出器９１ ，９１’からの検
出信号１を従来周知の信号欠落検出回路１５１に通すこ
とによりエラー信号２をとりだす。

ここで、信号欠落検出回路１５１は、一定時間、検出信
号が現われない時又は、一定時間、検出信号のレベル変
化が生じない時に、その状態を知らせる機能を有するも
のである。

例えばＩＪ ｌ− ＩＪガブル単安定マルチバイブレー
クーを使用すればよい。

本方法では、変調状態等の完全なチェックはできないが
非常に簡便に、光ビームの正常な発振状態、走査状態、
変調状態をチェックできるという点ですぐれている。

以上詳細に説明したごとく、本実施態様によれば、コン
ピューター等からの文字、図形情報を、従来の装置では
到底得られなかった程度に高速度、高分解能（品質）で
得ることができ、その際、レーザビームの検出が同時で
きるという高信頼性を伴ったレーザー記録装置を得るこ
とができる。

本発明はこの実施態様に述べたようなレーザー記録装置
に於けるレーザ光検出法に限らず、走査用ミラーにより
光ビームを走査するあらゆる装置に応用できる。

第７図は別の例である。

感光ドラム８がレーザビームに対し透過性を持つ時は、
感光ドラム８からの反射（散乱）光をモニター用光検出
器により検出するかわりに透過（散乱）光をモニター用
光検出器９４により検出する方法が採用できる。

第１７図においては、モニター用光検出器９４の前部に
集光レンズがおかれていないが、透過（散乱）光の強度
が光を検知するに充分な強度を持たない時は、実施態様
１のごとく、モニター用光検出器の前に集光レンズを置
くようにするとよし）。

他の構或要素は第１図Ａ，Ｂに示したものと同じである
ので説明を省略する。

以下本発明の実施例を説明する。

以下の実施例では、モニター光検出器で受光する光が静
止ゴースト光である以外、前記各例と同様であるので、
前記各例と同一の部分については煩雑を避ける為、特に
必要のない限り説明は省略する。

反射散乱光を検出する手段として、走査光学装置及びそ
の一部を占める結像光学系により形成される静止ゴース
ト光を利用する実施態様を説明する前に先ずこの態様で
利用する静止ゴース１・光につき説明する。

前に詳説したレーザー記録装置（第１図参照）において
静止ゴーストが発生する理由を、第９図、第１０図を参
照して詳述する。

第９図は、多面体回転鏡（ミラースキャンナー）５、ｆ
一θレンズ７、感光ドラム８の位置的関係を説明のため
に誇張して図示したものである。

ビームエクスパンダー４からの出力光７１は多面体回転
鏡５に入射し、多面体回転鏡の第１（，ｌぱ整数）面８
１上の点８０で反射される。

反射光７２はｆ一θレンズ７に入射し、ｆ一θレ〉′ズ
からの出力光７３ぱ、感光ドラム上の点７８に結像され
る。

結像点７８からは反射鏡（又は散乱光）が四面に発散す
る。

散乱光のうちｆ一θレンズ７に向かった光７４は、ｆ一
θレンズ７により平行光線７５になる。

この平行光線のうち多面体回転鏡５における面８１に隣
接する第Ａ＋１面８２により反射された光７６は、平行
光線７５と同じく平行光線を形成する。

平行光線７６はｆ−θレンズ７により再び感光ドラム８
上の点７９へ結像されることになる。

ところでこの結像点７９が多面体回転鏡が回転し、メイ
ンの結像点７８が走査した時にも静止状態にあることを
証明する。

今多面体回転鏡がｎ（ｎは整数）面鏡を形成していると
仮定する。

ｎ面鏡であるから第ｌ面の法線と第（ｌ＋１）面の法線
とのなす角ぱ２π／である。

従って光線７２と第ｌ千１面８２の法線の威す角は である。

但しＺＢｏＯｌＮｌ一光線７２とｍｅ面８１の法線との
成す角とし、これをａとする。

又ＺＳｉＯ１＋ＩＮｌ＋１は平行光線７５と第ｌ＋１面
８２の法線との成す角とする（第１０図参照鳳従って平
行光線７５は第ｌ＋１面８２の法線に２π 対し（−−−ａ）の角度で反射される。

となりａに関係なく一定である。

但しＺＢ ｉ ０ １１ Ｂ ｏは光線７１と光線７２
の威す角 ＺＳｉＯｌ＋１Ｓｏは平行光線７５と平行光
線１６の成す角である。

前記の実施態様では８面鏡ミラーを用い、感光ドラム８
と平行に光線７１が入射している。

従ってゴースト光は である点７９に静止状態で結像されることになる。

以上はビーム走査面と１面だけ隣り合う鏡面で感光ドラ
ム８上の点７８からの散乱光が入射、反射する場合を考
えたが、一般にα面だけ隣り合う鏡面でこの現象が生じ
るとすると、第ｌ面と第ｌ＋α面の法線の成す角は となり、やはり感光ドラム上静止する他のゴースト光と
なる。

以上が静止ゴーストの発生する理由である。

この静止ゴーストが通常のレーザ光の入射位置に対して
感光ドラム上異なる位置に入射する位置関係を第８図に
示した。

第８図中、７６，７７，７９の各要素はそれぞれ、第９
図第１０図における要素７６，７７，７９に対応するも
のであり、ドラム面上走査ビーム１２の結像点の軌跡上
に静止ゴースト光７９が存在していることがわかる。

以上説明した静止ゴースト光は次に述べる方法で電気的
に検出することができる。

その実施態様を第１１図を参照して説明する。

この実施態様は、先述した他の実施態様に光路変更用の
反射ミラー８３を加えたものから、構成される。

即ちビームエクスパンダ−４からの出射光が、多面体回
転鏡５へ入射する際、その入射方向を多面体回転鏡の回
転軸に対し９０°からずらすようにする。

その結果多面体回転鏡から反射される走査ビーム１２も
、多面体回転鏡の回転軸に対し９０’とは違う方向に向
かう。

そのため感光ドラム８の位置は、前記走査ビームが、ｆ
一θレンズ７により結像される近傍に変更されることに
なる。

その他に関しては、先述した実施態様と同じである。

ところで本実施態様において、前記静止ゴースト光の感
光ドラム８に対する影響を防ぐことができることを説明
する。

感光ドラム８上の走査ビーム１２による結像点からの散
乱光は、前記実施態様と同様ｆ一θレンズにより千行光
にされた後、多面体回転鏡５により反射され、再びｆ一
θレンズにより点７９に結像される。

しかし点７９の位置は、前記散乱光から作られた平行光
線の多面体回転鏡の回転軸に対して成す角度が９０°か
らはずれているため、走査ビーム１２の結像点から作ら
れる軌跡上には、存在しなくなる。

なお、多面体回転鏡５への走査すべき光線の入射方向を
上記のごとく変更する方法は、上記のごとく反射ミラー
８３を用いる方法に限らず、多面体回転鏡５の回転軸と
入射光線の方向の威す角が９０’よりはずれるような方
法でありさえすれば充分である。

例えばレーザー発振器１自体を水平方向からずらして置
いてもよい。

又多面体回転鏡の回転軸を鉛直方向からずらすことによ
り、ビームエクスパンダーからの出力光方向と多面体回
転鏡の回転軸との相対的角度を９００からずらす方法で
あってもよい。

この静止ゴーストの結像点近傍にモニター用光検出器９
０を配置することにより、感光板８からの反射散乱光を
有効に検知することができる。

静止ゴースト光を検知するには、上記方法に限ることな
く、静止ゴーストを、感光体への影響がない位置に移動
させ、移動させた静止ゴースト光を検知するいかなる手
段であってもよい。

もちろん静止ゴースト位置を上記のような方法で移動さ
せる必要がない場合には、その位置にモニター用光検出
器を置けばよい。

以上の各実施態様に於けるレーザ光発振器は、他の光ビ
ーム発振器を用いることを可能で、従って本発明は、斯
かるレーザ光以外に一般にこの種装置に使用される光ビ
ーム検出に適用されること勿論である。

本発明はレーザ光等の光ビームを用いて光情報信号の記
録、表示等を行う画像形成装置において、該光ビーム適
正に発振しているか否か、適正な変調を設けているか否
力入の検出するに際して静止ゴースト光束を利用するも
のである。

即ち、光ビームが回転多面鏡と結像レンズを含む走査光
学装置により走査される際、該光学装置により形成され
る静止ゴースト光束は通常の光像記録や表示には邪魔に
なるものであるが、本発明はこれをより積極的に利用し
て光ビームの存在検出に供せんとするもので、画像形成
面から反射されたモニター光を集光する為に、画像形成
面の広い範囲全域をカバーする大径レンズを結像レンズ
とは別に設けたリせずとも効率よく光を受光でき、精度
の高い検出が可能となる。

【図面の簡単な説明】

第１図Ａ，Ｂは、モニター光の集光手段を除けば本発明
と共通する装置の概略説明用斜視図、第２図は第１図Ｂ
に示した装置の原理説明用平面図、第３図は第１図Ａ，
Ｈに示した装置の動作を制御するブロック回路図、第４
図は、第３図に示したブロック回路の内数個のものの出
力信号波形図、第５図は光ビーム検出回路の検出信号を
出力するまでの各部信号波形図、第６図はその検出信号
出力回路の一例を示す結線図、第７図は第１図Ａ，Ｂの
他の変形態様を示す実施態様の概略説明用斜視図、第８
図はゴースト光を利用する場合のゴースト光発生の位置
・関係を示す斜視図、第９図及び第１０図はゴースト光
発生部の拡大説明用平面図、第１１図はゴースト光を利
用した本発明の実施態様の概略説明用斜視図、第１２図
は第５図に示した信号波形図に遅延された信号波形図を
加えた信号波形図、第１３図はその信号出力回路の一例
を示す結線図、第１４図は、第１２図に更に複数個の遅
延された信号波形図を加えた信号波形図、第１５図はそ
の信号出力回路の一例を示す結線図、第１６図及び第１
７図は、第６図、第１３図、第１５図とは更に異なる光
ビーム検出信号発生回路の回路結線図、第１８図は検出
信号を信号欠落検出回路を用いる回路図を夫々示すもの
である。 ９０，９１，９１’，９４・・・・・・光ビーム検出器
、９３・・・・・・光ビーム・チェック回路。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 被形戒画像に対応する変調信号により変調された光
   ビームを形成する手段と、この光ビームを掃引する回転
   多面鏡と、掃引された光ビームを画像形成面にスポット
   状に結像する結像レンズとを有する画像形成装置におい
   て、上記画像形成面上での上記光ビームの結像点で散乱
   反射して再び上記結像レンズを通過し、回転多面鏡を反
   射して再再度結像レンズを通過した静止ゴースト光束を
   受光する光検出手段と、この光検出手段からの信号を用
   いて、上記変調信号に対応する光ビームが画偉形或面を
   照射しているか否かを検出する手段と、を備えたことを
   特徴とする画像形成装置。