JPS6033526A - 広域光走査装置 - Google Patents
広域光走査装置Info
- Publication number
- JPS6033526A JPS6033526A JP58143169A JP14316983A JPS6033526A JP S6033526 A JPS6033526 A JP S6033526A JP 58143169 A JP58143169 A JP 58143169A JP 14316983 A JP14316983 A JP 14316983A JP S6033526 A JPS6033526 A JP S6033526A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- scanning
- light
- mirror
- area
- partial
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B26/00—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements
- G02B26/08—Optical devices or arrangements for the control of light using movable or deformable optical elements for controlling the direction of light
- G02B26/10—Scanning systems
- G02B26/12—Scanning systems using multifaceted mirrors
- G02B26/123—Multibeam scanners, e.g. using multiple light sources or beam splitters
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ）発明の技術分野
この発明は光走査装置に関し、特に１つの走査領域を走
査方向に分割して部分走査領域とし、各部分走査領域を
唯１つの回転多面鏡の□複数の鏡面を使用して走査する
広域光走査装置の改良に関する。
査方向に分割して部分走査領域とし、各部分走査領域を
唯１つの回転多面鏡の□複数の鏡面を使用して走査する
広域光走査装置の改良に関する。
ｆｂｌ 技術の背景
電子写真方式の印刷装置では潜像を形成するに際してレ
ーザビームが用いられる。そしてががるレーザビームを
光感光ドラム上に走査するために光走査機構が具備され
ている。光走査機構は光源からのビームを回転多面鏡に
よって走査光とし、該走査光を走査用レンズを介して感
光ドラム上を走査する。
ーザビームが用いられる。そしてががるレーザビームを
光感光ドラム上に走査するために光走査機構が具備され
ている。光走査機構は光源からのビームを回転多面鏡に
よって走査光とし、該走査光を走査用レンズを介して感
光ドラム上を走査する。
このような光走査機構を使用してより幅の広い走査領域
を走査することを考えると、走査用レンズは走査幅の増
大にともなってその焦点距離も増加しなければｔ【らず
、また回転多面鏡の各鏡面の幅も増大しなければならな
い。この結果、走査用レンズ・回転多面鏡の設置スペー
スが増大して装置が大型となるだけでなく、回転多面鏡
の重量も増加するのでそれを駆動するモータも必然的に
大容量とならざるをえない。
を走査することを考えると、走査用レンズは走査幅の増
大にともなってその焦点距離も増加しなければｔ【らず
、また回転多面鏡の各鏡面の幅も増大しなければならな
い。この結果、走査用レンズ・回転多面鏡の設置スペー
スが増大して装置が大型となるだけでなく、回転多面鏡
の重量も増加するのでそれを駆動するモータも必然的に
大容量とならざるをえない。
（Ｃ） 従来技術と問題点
このような問題点を解決するために所謂広域光走査装置
が提案されている（特願昭５６−２０３３６１号）。こ
の広域光走査装置は第１図に示すように、１個の回転多
面鏡ＩＬ複数個の光源１２ａ ・１２ｂ。
が提案されている（特願昭５６−２０３３６１号）。こ
の広域光走査装置は第１図に示すように、１個の回転多
面鏡ＩＬ複数個の光源１２ａ ・１２ｂ。
結像光学系１３ａ・１３ｂ、平面鏡１４ａ−１４ｂとよ
りなる。光源１２ａからの光ビームは１０個の鏡面から
なる回転多面鏡１１の１つの鏡面にて反射され、結像光
学系１３ａ ・平面鏡１４ａを介して部分走査領域Ａ１
を走査し、光源１２ｂからの光ビームは他の鏡面にて反
射され、結像光学系１３ｂ ・平面鏡１４ｂを介して部
分走査領域Ａ２を走査する。すなわち、走査すべき領域
は複数の部分走査領域に分割され、１つの光学系が１つ
の部分走査領域を走査するものである。したがって、回
転多面鏡・結像光学系を大型とすることなく全走査領域
の幅を拡大することが可能である。
りなる。光源１２ａからの光ビームは１０個の鏡面から
なる回転多面鏡１１の１つの鏡面にて反射され、結像光
学系１３ａ ・平面鏡１４ａを介して部分走査領域Ａ１
を走査し、光源１２ｂからの光ビームは他の鏡面にて反
射され、結像光学系１３ｂ ・平面鏡１４ｂを介して部
分走査領域Ａ２を走査する。すなわち、走査すべき領域
は複数の部分走査領域に分割され、１つの光学系が１つ
の部分走査領域を走査するものである。したがって、回
転多面鏡・結像光学系を大型とすることなく全走査領域
の幅を拡大することが可能である。
このような広域走査装置は各部分走査領域の境界におい
て走査線を正確に接続できるかどうかが記録画像の品位
を大きく左右する。すなわち、部分走査領域へ１におけ
る走査線と部分走査領域Ａ２における走査線とが互いに
隣接する部分走査領域の境昇点にて完全に一致すること
が望ましいが、現実には、回転多面鏡の各鏡面が工作精
度により真の平面ではなく （平面誤差）、それにより
各部分走査領域を走査する２本の走査線を連続させるこ
とは困難である。すなわち、鏡面の平面誤差は走査領域
における走査光の走査速度のバラツキを生じ、その結果
として一方の部分走査領域を走査した走査光と他方の部
分走査領域を走査する走査光とがその境界付近で接続し
ながったり、あるいはその走査線同士が互いに重複する
こととなる。
て走査線を正確に接続できるかどうかが記録画像の品位
を大きく左右する。すなわち、部分走査領域へ１におけ
る走査線と部分走査領域Ａ２における走査線とが互いに
隣接する部分走査領域の境昇点にて完全に一致すること
が望ましいが、現実には、回転多面鏡の各鏡面が工作精
度により真の平面ではなく （平面誤差）、それにより
各部分走査領域を走査する２本の走査線を連続させるこ
とは困難である。すなわち、鏡面の平面誤差は走査領域
における走査光の走査速度のバラツキを生じ、その結果
として一方の部分走査領域を走査した走査光と他方の部
分走査領域を走査する走査光とがその境界付近で接続し
ながったり、あるいはその走査線同士が互いに重複する
こととなる。
（ｄｌ 発明の目的
本発明はかかる点に着目してなされたものであり、全走
査領域を複数の部分走査領域に分割して走査する場合に
、鏡面に平面誤差が在っても各部分走査領域の境界付近
における走査線を正確に接続することにより記録品位の
低下を防止した走査装置を提供することを目的としたも
のである。
査領域を複数の部分走査領域に分割して走査する場合に
、鏡面に平面誤差が在っても各部分走査領域の境界付近
における走査線を正確に接続することにより記録品位の
低下を防止した走査装置を提供することを目的としたも
のである。
ｔｅｌ 発明の構成
かかる目的のために本発明による広域光走査装置は鏡面
の数がｎ個（ｎ≧３の整数）の回転多面鏡と、該回転多
面鏡のＮ個（２≦Ｎ≦ｎの整数）の鏡面に光を入射する
光源と、各鏡面からの反射光のそれぞれを全走査領域を
走査方向に分割したＮ個の部分走査領域にそれぞれ反射
させる平面鏡と、各鏡面からの反射光を走査領域上に結
像する結像光学系を有する光走査装置において、少なく
とも１つの部分走査領域における走査開始前の走査光お
よび走査終了後の走査光を検知する光検知機構を有し、
該検知機構からの出力により部分走査領域の走査時間を
得て、これにより光源からの光の変調タイミングを制御
することを特徴とするものである。
の数がｎ個（ｎ≧３の整数）の回転多面鏡と、該回転多
面鏡のＮ個（２≦Ｎ≦ｎの整数）の鏡面に光を入射する
光源と、各鏡面からの反射光のそれぞれを全走査領域を
走査方向に分割したＮ個の部分走査領域にそれぞれ反射
させる平面鏡と、各鏡面からの反射光を走査領域上に結
像する結像光学系を有する光走査装置において、少なく
とも１つの部分走査領域における走査開始前の走査光お
よび走査終了後の走査光を検知する光検知機構を有し、
該検知機構からの出力により部分走査領域の走査時間を
得て、これにより光源からの光の変調タイミングを制御
することを特徴とするものである。
（ｆ） 発明の実施例
以下に本発明による広域光走査装置の実施例を詳細に説
明する。
明する。
第２図は本発明による広域光走査装置の一実施例を示す
上面図であり、ｎ＝１０．Ｎ＝２の例である。図におい
て、２１は回転多面鏡、２２ａ ・２２ｂは例えばレー
ザダイオードなどの光源、２０ａ ・２０ｂは光変調器
、２３ａ ・２３ｂはｆ・θレンズを含む結像光学系、
２４ａ ・２４ｂは平面鏡、Ａは走査領域、ＡＩ −Ａ
２は部分走査領域、２５・２８は光検知器、２７・３０
ａ ・３０ｂは光反射用のミラー、２６・２９はスリッ
ト板である。
上面図であり、ｎ＝１０．Ｎ＝２の例である。図におい
て、２１は回転多面鏡、２２ａ ・２２ｂは例えばレー
ザダイオードなどの光源、２０ａ ・２０ｂは光変調器
、２３ａ ・２３ｂはｆ・θレンズを含む結像光学系、
２４ａ ・２４ｂは平面鏡、Ａは走査領域、ＡＩ −Ａ
２は部分走査領域、２５・２８は光検知器、２７・３０
ａ ・３０ｂは光反射用のミラー、２６・２９はスリッ
ト板である。
回転多面鏡２１は１０個の鏡面を有し、図示しないモー
タにより例えば２０，０００〜３０，０００ （ｒ ｐ
ｍ）の回転速度で高速回転される。光源２２ａからの
光は光変調器２０ａにより露光すべき情報に応じてオン
・オフされ、回転多面鏡２１のうちの１つの鏡面２１−
０に入射している。一方、光源２２ｂからの光は光変調
器２０ｂにより露光すべき情報に応じてオン・オフされ
、回転多面鏡２１の別の鏡面２１−４に入射している。
タにより例えば２０，０００〜３０，０００ （ｒ ｐ
ｍ）の回転速度で高速回転される。光源２２ａからの
光は光変調器２０ａにより露光すべき情報に応じてオン
・オフされ、回転多面鏡２１のうちの１つの鏡面２１−
０に入射している。一方、光源２２ｂからの光は光変調
器２０ｂにより露光すべき情報に応じてオン・オフされ
、回転多面鏡２１の別の鏡面２１−４に入射している。
鏡面２１−Ｏの反射光は結像光学系２３ａ ・平面鏡２
４ａを介して走査領域Ａに到る。同様にして鏡面２１−
４の反射光は結像光学系２３ｂ ・平面鏡２４ｂを介し
て走査領域Ａに到る。光源２２ａからの走査光は走査領
域Ａのうち部分走査領域へ１を走査し、光源２２ｂから
の走査光は部分走査領域＾２を走査するように各光源・
光変調器・結像光学系および平面鏡の位置が決定される
。
４ａを介して走査領域Ａに到る。同様にして鏡面２１−
４の反射光は結像光学系２３ｂ ・平面鏡２４ｂを介し
て走査領域Ａに到る。光源２２ａからの走査光は走査領
域Ａのうち部分走査領域へ１を走査し、光源２２ｂから
の走査光は部分走査領域＾２を走査するように各光源・
光変調器・結像光学系および平面鏡の位置が決定される
。
回転多面鏡２１の図示する位置では鏡面２１−０が部分
走査領域ＡＩの走査に使用されるが、回転に伴って部分
走査領域＾２の走査にも使用される。同じようにして鏡
面２１〜４も部分走査領域Ａ２だけでなく部分走査領域
Ａ１の走査にも利用される。したがって各鏡面は回転多
面鏡２１の１回転中に部分走査領域＾１・Ａ２の両方の
走査に利用される。
走査領域ＡＩの走査に使用されるが、回転に伴って部分
走査領域＾２の走査にも使用される。同じようにして鏡
面２１〜４も部分走査領域Ａ２だけでなく部分走査領域
Ａ１の走査にも利用される。したがって各鏡面は回転多
面鏡２１の１回転中に部分走査領域＾１・Ａ２の両方の
走査に利用される。
部分走査領域ＡＩの走査開始前の走査光を検出するため
に光検知機構が設けられる。この検知機構はミラー２７
・スリット板２６および光検知器２５よりなる。また、
部分走査領域＾１の走査終了後の走査光を検出するため
に光検知機構が設けられる。この検知機構はミラー３０
ａ ・スリット板２９および光検知器２８よりなる。な
お、この例では部分走査領域Ａ２の走査開始前の走査光
を検出するための検知機構と部分走査領域ＡＩの走査終
了後の走査光を検知するための機構が兼用されており、
部分走査領域Ａ２の走査開始前の光を検出するためにミ
ラー３０ｂが設けられている。
に光検知機構が設けられる。この検知機構はミラー２７
・スリット板２６および光検知器２５よりなる。また、
部分走査領域＾１の走査終了後の走査光を検出するため
に光検知機構が設けられる。この検知機構はミラー３０
ａ ・スリット板２９および光検知器２８よりなる。な
お、この例では部分走査領域Ａ２の走査開始前の走査光
を検出するための検知機構と部分走査領域ＡＩの走査終
了後の走査光を検知するための機構が兼用されており、
部分走査領域Ａ２の走査開始前の光を検出するためにミ
ラー３０ｂが設けられている。
前記し７たにうに、回転多面鏡２１力月回転すると各鏡
面ば１回だけ部分走査領域＾１の走査に利用されるので
、光検知器２５の出力と光検知器２８の出力により、各
鏡面の走査領域における走査時間を知ることができる。
面ば１回だけ部分走査領域＾１の走査に利用されるので
、光検知器２５の出力と光検知器２８の出力により、各
鏡面の走査領域における走査時間を知ることができる。
第３図は走査制御回路の実施例を示すブロック図であり
、３Ｉ・３２は光検知器、３３はクロック信号発生器、
３４・３５４Ｊカウンタ、３６はメモリ制御回路、３７
は続出・書込可能なメモリ （ＲＡＭ） 、３Ｂは続出
専用のメモリ （ＲＯＭ） 、３９−１・３９−２は１
次関数発生器、４０〜１・４０−２は電圧制御遅延回路
、４１−１・４１−２は同期信号発生回路である。
、３Ｉ・３２は光検知器、３３はクロック信号発生器、
３４・３５４Ｊカウンタ、３６はメモリ制御回路、３７
は続出・書込可能なメモリ （ＲＡＭ） 、３Ｂは続出
専用のメモリ （ＲＯＭ） 、３９−１・３９−２は１
次関数発生器、４０〜１・４０−２は電圧制御遅延回路
、４１−１・４１−２は同期信号発生回路である。
光検知器３１・３２は第２図における光検知器２５・２
８に相等し、光検知器３１の出力はクロックゲート回路
Ｇ１・ｎ進のカウンタ３４および同期信号回路回路旧ａ
に入力し、光検知器３２の出力はクロックゲート回路Ｇ
１と同期信号発生回路４１ｂに入力している。クロック
ゲート回路Ｇ１は光検知器３１の出力が°１′になると
クロック信号発生器３３からのクロック信号を通過し、
光検知器３２の出力が′１°になるとその通過を阻止す
る。したがって、カウンタ３４の計数値は回転多面鏡の
鏡番号を示し、カウンタ３５の計数値はその鏡面による
走査領域の走査時間を表す。
８に相等し、光検知器３１の出力はクロックゲート回路
Ｇ１・ｎ進のカウンタ３４および同期信号回路回路旧ａ
に入力し、光検知器３２の出力はクロックゲート回路Ｇ
１と同期信号発生回路４１ｂに入力している。クロック
ゲート回路Ｇ１は光検知器３１の出力が°１′になると
クロック信号発生器３３からのクロック信号を通過し、
光検知器３２の出力が′１°になるとその通過を阻止す
る。したがって、カウンタ３４の計数値は回転多面鏡の
鏡番号を示し、カウンタ３５の計数値はその鏡面による
走査領域の走査時間を表す。
メモリ制御回路３６は制御信号Ｓ１が“ｌｏの時（実際
の露光開始前の段階）にカウンタ３４の計数値Ｃ２をア
ドレスとしてＲＡＭ３７にカウンタ３５の計数値ＣＩを
記憶する。したがって、回転多面鏡が１回転することに
より、各鏡面に固有の走査時間がＲＡＭ３７に記憶され
る。
の露光開始前の段階）にカウンタ３４の計数値Ｃ２をア
ドレスとしてＲＡＭ３７にカウンタ３５の計数値ＣＩを
記憶する。したがって、回転多面鏡が１回転することに
より、各鏡面に固有の走査時間がＲＡＭ３７に記憶され
る。
メモリ制御回路３６は制御信号Ｓ１が“０“の時（実際
の霞光時）にカウンタ３４の計数値に基づいてＮ＝２個
の互いに異なるアドレスをシリアルにＲＡＭ３７に出力
する。ＲＡＭ３７はそのアドレスに対応する記憶値Ｃ１
をシリアルに読みだしてＲＯＭ３８に出力する。すなわ
ち、記憶値はＲＯＭ３８に対するアドレスになる。ＲＯ
Ｍ３Ｂには予め走査光の走査時間に応じて定めた制御デ
ータＤＣが記憶されている。前記のようにＲＯＭ３８に
は２つのアドレスがシリアルに供給されるので、ＲＯＭ
３Ｂは２つの異なった値を出力する。タイミング制御信
号ｓ２はこの２つの出力値を関数発生器３９−１と３９
−２にゲー）Ｇ２・Ｇ３を介して分配する。１次関数発
生器３９−■・３９−２は制御データｒｌｃ−１・ＤＣ
−２に応じた１次関数の制御電圧ＶＣ−１・ＶＣ−２を
電圧制御遅延回路４０−１・４０−２にそれぞれ出力す
る。
の霞光時）にカウンタ３４の計数値に基づいてＮ＝２個
の互いに異なるアドレスをシリアルにＲＡＭ３７に出力
する。ＲＡＭ３７はそのアドレスに対応する記憶値Ｃ１
をシリアルに読みだしてＲＯＭ３８に出力する。すなわ
ち、記憶値はＲＯＭ３８に対するアドレスになる。ＲＯ
Ｍ３Ｂには予め走査光の走査時間に応じて定めた制御デ
ータＤＣが記憶されている。前記のようにＲＯＭ３８に
は２つのアドレスがシリアルに供給されるので、ＲＯＭ
３Ｂは２つの異なった値を出力する。タイミング制御信
号ｓ２はこの２つの出力値を関数発生器３９−１と３９
−２にゲー）Ｇ２・Ｇ３を介して分配する。１次関数発
生器３９−■・３９−２は制御データｒｌｃ−１・ＤＣ
−２に応じた１次関数の制御電圧ＶＣ−１・ＶＣ−２を
電圧制御遅延回路４０−１・４０−２にそれぞれ出力す
る。
簡単に動作を説明する。まず、実際の露光に先立ってＲ
ＡＭ３７に各鏡面の走査時間を記憶するには、回転多面
鏡を１回転する。その時、カウンタ３４は光検知器３１
からの出力が“１゛になるたびにカウントアツプして鏡
面番号を指示するので、光検知器３１が光を検知してか
ら光検知器３２が光を検知するまでの時間が各鏡面の走
査時間になる。このとき、同期信号回路４１ａ ・４１
ｂは制御信号が“１°なので同期信号Ｓ−１・ｓ −２
を出力することはない。
ＡＭ３７に各鏡面の走査時間を記憶するには、回転多面
鏡を１回転する。その時、カウンタ３４は光検知器３１
からの出力が“１゛になるたびにカウントアツプして鏡
面番号を指示するので、光検知器３１が光を検知してか
ら光検知器３２が光を検知するまでの時間が各鏡面の走
査時間になる。このとき、同期信号回路４１ａ ・４１
ｂは制御信号が“１°なので同期信号Ｓ−１・ｓ −２
を出力することはない。
実際の露光に際しては第２図のように、鏡面２１−Ｏと
２１−４が部分走査領域ＡＩ −Ａ２の走査に供してい
るとすると、カウンタ３４は鏡面２１−０を示すので、
制御回路３６はＲＡＭ３７に対するアドレスとして鏡面
２１−０と２１−４に対応するアドレスをシリアルに送
出する。したがって、ＲＡＭ３７では先のようにして記
憶された鏡面２１−０と２１−４に対応する走査時間が
シリアルに読みだされ、その走査時間をアドレスとして
ＲＯＭ３８からは制御データＤＣ−１が関数発生器３９
−１に供給され、制御データＤＣ−２は関数発生器３９
−２に供給される。したがって、クロック信号）Ｇｌを
介して供給されるクロック信号は遅延回路４０−１・４
０−２において関数発生器からの制御電圧ＶＣ−１・Ｖ
Ｃ−２に応じてその周波数が変調される。
２１−４が部分走査領域ＡＩ −Ａ２の走査に供してい
るとすると、カウンタ３４は鏡面２１−０を示すので、
制御回路３６はＲＡＭ３７に対するアドレスとして鏡面
２１−０と２１−４に対応するアドレスをシリアルに送
出する。したがって、ＲＡＭ３７では先のようにして記
憶された鏡面２１−０と２１−４に対応する走査時間が
シリアルに読みだされ、その走査時間をアドレスとして
ＲＯＭ３８からは制御データＤＣ−１が関数発生器３９
−１に供給され、制御データＤＣ−２は関数発生器３９
−２に供給される。したがって、クロック信号）Ｇｌを
介して供給されるクロック信号は遅延回路４０−１・４
０−２において関数発生器からの制御電圧ＶＣ−１・Ｖ
Ｃ−２に応じてその周波数が変調される。
このようにして、変調された制御クロック信号ＣＩ、Ｋ
ｌ ・ＣＬＫ２は第２図における光変調器２０ａ・２０
ｂに供給される。したがって、鏡面に平面誤差が在って
も情報のオン・オフを制御するための制御クロック信号
が予め測定した各鏡面に固有の走査時間に応じて周波数
が変調されるために、各部分走査領域における走査線が
正確に接続できる。
ｌ ・ＣＬＫ２は第２図における光変調器２０ａ・２０
ｂに供給される。したがって、鏡面に平面誤差が在って
も情報のオン・オフを制御するための制御クロック信号
が予め測定した各鏡面に固有の走査時間に応じて周波数
が変調されるために、各部分走査領域における走査線が
正確に接続できる。
なお、同期信号発生回路４１ａ ・４１ｂは各鏡面の走
査方向の走査開始位置を規定するための同期信号Ｓ、−
１・Ｓ−２を光検知器３１の出力と光検知器３２の光源
２２ｂからの光検知による出力により作成するものであ
り、この信号は制御クロック信号と同様にして第２図に
おける光変調器に供給される。これにより、回転多面鏡
の分割角度誤差による走査方向の走査線の位置ずれが補
正される。
査方向の走査開始位置を規定するための同期信号Ｓ、−
１・Ｓ−２を光検知器３１の出力と光検知器３２の光源
２２ｂからの光検知による出力により作成するものであ
り、この信号は制御クロック信号と同様にして第２図に
おける光変調器に供給される。これにより、回転多面鏡
の分割角度誤差による走査方向の走査線の位置ずれが補
正される。
なお、第２図・第３図の実施例では１つの部分走査領域
Ａ１において各鏡面の走査時間を測定したが、各部分走
査領域にそれぞれ光検知機構を設けて各鏡面の走査時間
を測定するようにしてもよい。
Ａ１において各鏡面の走査時間を測定したが、各部分走
査領域にそれぞれ光検知機構を設けて各鏡面の走査時間
を測定するようにしてもよい。
また、基準クロック信号の周波数を変調するための回路
構成は図示するものに限定されることなく、種々の回路
構成をとることができる。
構成は図示するものに限定されることなく、種々の回路
構成をとることができる。
ｆｇ） 発明の詳細
な説明したように本発明によれば、部分走査領域におけ
る走査開始前の走査光および走査終了後の走査光を検知
する光検知機構を設け、該検知機構からの出力により各
鏡面に固有の走査時間を得て、これにより光源からの光
の変調タイミング１ を制御するものであるから、部分走査領域の境界付近で
各走査光を正確に接続することが可能となり、印字品位
の低下を防止できる。
る走査開始前の走査光および走査終了後の走査光を検知
する光検知機構を設け、該検知機構からの出力により各
鏡面に固有の走査時間を得て、これにより光源からの光
の変調タイミング１ を制御するものであるから、部分走査領域の境界付近で
各走査光を正確に接続することが可能となり、印字品位
の低下を防止できる。
第１図は従来の広域光走査装置を示す上面図、第２図は
本発明による広域光走査装置の一実施例を示す上面図、
第３図は走査制御回路の実施例を示すブロック図である
。 図中、１１．２１は回転多面鏡、１２ａ ・１２ｂ 、
２２ａ・２２ｂは例えばレーザダイオードなどの光源
、１３ａ ・１３ｂ 、 ２３ａ ・２３ｂはｆ・θレ
ンズを含む結像光学系、１４ａ・１４ｂ、２４ａ・２４
ｂは平面鏡、２０ａ・２０ｂは光変調器、Ａは走査領域
、Ａ１・Ａ２は部分走査領域、２５・２８は光検知器、
２７・３０・３０ｂは光反射用のミラー、２６・２９は
スリット板、２５・２８・３１・３２は光検知器、３３
はクロック信号発生器、３４・３５はカウンタ、３６は
メモリ制御回路、３７は続出・書込可能なメモリ （Ｒ
ＡＭ） 、３８は続出専用のメモリ （ＲＯＭ） 、３
９−１・３９−２は１次関数発生器、４０−１・４０−
２は電圧制御遅延回路を示す。 ２
本発明による広域光走査装置の一実施例を示す上面図、
第３図は走査制御回路の実施例を示すブロック図である
。 図中、１１．２１は回転多面鏡、１２ａ ・１２ｂ 、
２２ａ・２２ｂは例えばレーザダイオードなどの光源
、１３ａ ・１３ｂ 、 ２３ａ ・２３ｂはｆ・θレ
ンズを含む結像光学系、１４ａ・１４ｂ、２４ａ・２４
ｂは平面鏡、２０ａ・２０ｂは光変調器、Ａは走査領域
、Ａ１・Ａ２は部分走査領域、２５・２８は光検知器、
２７・３０・３０ｂは光反射用のミラー、２６・２９は
スリット板、２５・２８・３１・３２は光検知器、３３
はクロック信号発生器、３４・３５はカウンタ、３６は
メモリ制御回路、３７は続出・書込可能なメモリ （Ｒ
ＡＭ） 、３８は続出専用のメモリ （ＲＯＭ） 、３
９−１・３９−２は１次関数発生器、４０−１・４０−
２は電圧制御遅延回路を示す。 ２
Claims (1)
- （１） 鏡面の数がｎ個（ｎ≧３の整数）の回転多面鏡
と、該回転多面鏡のＮ個（２≦Ｎ≦ｎの整数）の鏡面に
光を入射する光源と、各鏡面からの反射光のそれぞれを
全走査領域を走査方向に分割したＮ個の部分走査領域に
それぞれ反射させる平面鏡と、各鏡面からの反射光を走
査領域上に結像する結像光学系を有する光走査装置にお
いて、少なくとも１つの部分走査領域における走査開始
前の走査光および走査終了後の走査光を検知する光検知
機構を有し、該検知機構からの出力により各鏡面に固有
の走査時間を得て、これにより光源からの光の変調タイ
ミングを制御することを特徴とする広域光走査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58143169A JPS6033526A (ja) | 1983-08-04 | 1983-08-04 | 広域光走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP58143169A JPS6033526A (ja) | 1983-08-04 | 1983-08-04 | 広域光走査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6033526A true JPS6033526A (ja) | 1985-02-20 |
Family
ID=15332517
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP58143169A Pending JPS6033526A (ja) | 1983-08-04 | 1983-08-04 | 広域光走査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6033526A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63124664A (ja) * | 1986-11-13 | 1988-05-28 | Fuji Xerox Co Ltd | マルチビ−ムレ−ザプリンタ |
| FR2630222A1 (fr) * | 1988-04-19 | 1989-10-20 | Sfena | Dispositif de detection de projectiles |
-
1983
- 1983-08-04 JP JP58143169A patent/JPS6033526A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS63124664A (ja) * | 1986-11-13 | 1988-05-28 | Fuji Xerox Co Ltd | マルチビ−ムレ−ザプリンタ |
| FR2630222A1 (fr) * | 1988-04-19 | 1989-10-20 | Sfena | Dispositif de detection de projectiles |
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