JPS5818177A - 磁気デイスク装置における磁気ディスク媒体の検査方法 - Google Patents
磁気デイスク装置における磁気ディスク媒体の検査方法Info
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- JPS5818177A JPS5818177A JP11590881A JP11590881A JPS5818177A JP S5818177 A JPS5818177 A JP S5818177A JP 11590881 A JP11590881 A JP 11590881A JP 11590881 A JP11590881 A JP 11590881A JP S5818177 A JPS5818177 A JP S5818177A
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/12—Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
- G01R33/1207—Testing individual magnetic storage devices, e.g. records carriers or digital storage elements
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- Physics & Mathematics (AREA)
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- Measuring Magnetic Variables (AREA)
- Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は磁気ディスク装量の記録媒体の表面分析（媒体
にテストデータを書込み、これを読み取り記録媒体の正
常性をチェックする）をする際にトラック容量の変換を
行なりでいる装置の試験も容易に適用＋きるよう属した
磁気ディスク装置の試験法に関する。
にテストデータを書込み、これを読み取り記録媒体の正
常性をチェックする）をする際にトラック容量の変換を
行なりでいる装置の試験も容易に適用＋きるよう属した
磁気ディスク装置の試験法に関する。
磁気ディスク装置では記録媒体に多数の２値データを磁
気記録して保存するものであるが、この媒体上の１部に
欠陥があるとデータ記録にｗＡシが発生し、情報処理の
信頼度を低下させる〇従って仁のような媒体上の欠陥を
事前に発見することが必要であシ、そのため試験装置か
ら種々のテストデータを媒体に書込み、これを読み取っ
てチェックすゐ所謂表面分析することが必要であるＯ 磁気ディスク媒体面は複数のトラックで構成され、各ト
ラックにはインデックスマークがあ夛、磁気ディスク装
置はこのインデックスマークを起点として各トラックに
データを格納し、また各トラックからデータを読み出す
。
気記録して保存するものであるが、この媒体上の１部に
欠陥があるとデータ記録にｗＡシが発生し、情報処理の
信頼度を低下させる〇従って仁のような媒体上の欠陥を
事前に発見することが必要であシ、そのため試験装置か
ら種々のテストデータを媒体に書込み、これを読み取っ
てチェックすゐ所謂表面分析することが必要であるＯ 磁気ディスク媒体面は複数のトラックで構成され、各ト
ラックにはインデックスマークがあ夛、磁気ディスク装
置はこのインデックスマークを起点として各トラックに
データを格納し、また各トラックからデータを読み出す
。
このデータの読み書きを行うえめのプログラムは、一定
のトラック容量を有する媒体を対象として設計されてい
る６更にトラック容量の大き込媒体に対する読み書きを
行なうために７＃ログラムを新たに作ることはばく大な
工数を要し得策でない場合には、トラック容量の小さい
媒体に対して開発された従来のプ四グラムをトラック容
量の大きい媒体の読み書きＫも適用できるように１装量
の側でトラック容量の変換が行なわれる。
のトラック容量を有する媒体を対象として設計されてい
る６更にトラック容量の大き込媒体に対する読み書きを
行なうために７＃ログラムを新たに作ることはばく大な
工数を要し得策でない場合には、トラック容量の小さい
媒体に対して開発された従来のプ四グラムをトラック容
量の大きい媒体の読み書きＫも適用できるように１装量
の側でトラック容量の変換が行なわれる。
第１図（ａ）は回転時間を一定とし、記録密度の小さい
従ってトラック容量の小さい媒体に対して試験装置から
のデータフォーマットを記録した状態を示し、第１図缶
）は記録密度の大なる従ってトラック容量の大なる媒体
に対して試験装置からのデータフォーマットの記録状態
を示す。
従ってトラック容量の小さい媒体に対して試験装置から
のデータフォーマットを記録した状態を示し、第１図缶
）は記録密度の大なる従ってトラック容量の大なる媒体
に対して試験装置からのデータフォーマットの記録状態
を示す。
第１図（ａ）に示すと同じデータを記録密度の大なる媒
体に記録すると第２図缶）に示すようにきよシ的に圧縮
されたデータフォーマットとなる。
体に記録すると第２図缶）に示すようにきよシ的に圧縮
されたデータフォーマットとなる。
しかしギャップＧの長さは入出力制御装置（ＩＯＣ）の
制御時間によシ規定されるものであるから記録密度の大
小に関係なく第１図（ａ）と第１図缶）とけ時間を等し
くする必要がある第２図は従来の試験装置のブロック図
である０ シーケンス発生回路１からフォーマット発生回路２が起
動されると、フォーミツト発生回路２は磁気ディスク装
置３の媒体上に第１図に示すようなフォーマットを書込
む０ そして次に判定回路５で媒体上に記録されているデータ
を読み取シ、この読み取ったデータをチェックして媒体
の正常性を調べる０そして−この結果はシーケンス発生
回路へ送られシーケンス発生口路次の７−ケンスを発生
する０ とζろで記録密度の大なる媒体上では第１図Ｃｂ）のよ
うになるが、この場合トラックの途中で疑似インデック
ス信号が発生される。従ってこの疑似インデックス信号
発生点（疑似インデックスマーク）よシ先の領域の媒体
は表面分析ができないことになる。
制御時間によシ規定されるものであるから記録密度の大
小に関係なく第１図（ａ）と第１図缶）とけ時間を等し
くする必要がある第２図は従来の試験装置のブロック図
である０ シーケンス発生回路１からフォーマット発生回路２が起
動されると、フォーミツト発生回路２は磁気ディスク装
置３の媒体上に第１図に示すようなフォーマットを書込
む０ そして次に判定回路５で媒体上に記録されているデータ
を読み取シ、この読み取ったデータをチェックして媒体
の正常性を調べる０そして−この結果はシーケンス発生
回路へ送られシーケンス発生口路次の７−ケンスを発生
する０ とζろで記録密度の大なる媒体上では第１図Ｃｂ）のよ
うになるが、この場合トラックの途中で疑似インデック
ス信号が発生される。従ってこの疑似インデックス信号
発生点（疑似インデックスマーク）よシ先の領域の媒体
は表面分析ができないことになる。
従ってこの部分の媒体上に欠陥があると発見できないこ
とになる。
とになる。
本発明の目酌社以上の欠点を解消するものでこの本発明
の目的社、記録密度の小壜る媒体のトラック記鎌影丈に
相当する分のデータバイト数を計数して疑似インデック
メ信号を発生するむとによ））チック容量の変換を行表
っている記録密度の大なる磁気ディスク記像媒体の表面
分析を行う磁気ディスク装置の試験法において、１個の
レコード記録による表面分析を行って疑似インデックス
信号を発生せしめ、次に該レコード部分に複数の小さな
レコードを記録す石ヒとにより＊配疑似インデックス信
号発生点よシ先の領域にデータを記録可能とし、誼領域
の表面分析を行ない、次に峡領域のデータ部分に複数の
小さなレコードを記−し以下同様の操作を〈ヤ返すとと
Ｋよ〉トラック全部の表面分析を行うことを特徴とする
磁気ディスク装置の試験法により達成される。
の目的社、記録密度の小壜る媒体のトラック記鎌影丈に
相当する分のデータバイト数を計数して疑似インデック
メ信号を発生するむとによ））チック容量の変換を行表
っている記録密度の大なる磁気ディスク記像媒体の表面
分析を行う磁気ディスク装置の試験法において、１個の
レコード記録による表面分析を行って疑似インデックス
信号を発生せしめ、次に該レコード部分に複数の小さな
レコードを記録す石ヒとにより＊配疑似インデックス信
号発生点よシ先の領域にデータを記録可能とし、誼領域
の表面分析を行ない、次に峡領域のデータ部分に複数の
小さなレコードを記−し以下同様の操作を〈ヤ返すとと
Ｋよ〉トラック全部の表面分析を行うことを特徴とする
磁気ディスク装置の試験法により達成される。
次に図面により本発明の詳細な説明する０第３図は本発
明の実＊例による試験装置プ胃ツタ図、第４図は本発明
の実施例によるデータ記録フォーマットを示す０ 本発明の試験装置ではシーケンス発生回路１内０デー−
ダ１−ＩＫより、まずフォーｉｐ）発生回路２−１が起
動され、フォーマット発生回路２−１は第４図（１）に
示すようなフォーマツＦを磁気ディスク装置３の媒体上
記像する。そして記録完了信号がシーケンス発生回路！
へ送られると次に判定回路４−１を起動する。判定回路
４−１は媒体上に記録されたデータＲＯ，Ｒ１を読み取
り、との読み取ったデータの正常性をチェックする。と
の段階では前述したように疑似インデックス信号発生点
以降の媒体の表面分析ができなくなる〇そζで次にデコ
ーダ１−１に：よシフオーマット発生回路２−２が起動
され、第４図（２）に示すフォーマットを発生し、媒体
上に記録する＠つｔシ第４図（１）において１個のデー
タＲ１の部分に複数の小さなデータＲ１〜ＲＬｔ１ｅ録
する０とのようＫすると個々の小さなデータ間ＫＦｉ必
ずギャップを必要とするため、第４図（１）の疑似イン
デックス信号発生点までの実際のデータ記録バイト数は
第４図（１）Ｋ比べ第４図（３）の方が少なくなゐ・つ
ｔ〉第４図（２）ＩＣ＄Ｐいて第４図（１）と同じだけ
のデータ記録バイト数とするには更にデータＲｊ＋１を
書込んだ点で疑似インデックス信号が発生されることと
なる。そしてとのＦ４図偉）のフォーマットを書込むと
と（でより第４図（１］に比べ更に拡大された領域まで
表面分析が可能となる。次にフォーマット発生回路２−
３を起墾して、第４図＠Ｋ＞けるデータＲｊ＋１の部分
に小さなデータを書込むことにより第４図（３）に示す
ごとくデータＲｍ＋１を書込んだ点に疑似インデックス
信号発生点を移動するととができる。ヒのため第禰図（
ｆｉＫ比べ更に拡大された領域まで表面分析が可能とな
る。
明の実＊例による試験装置プ胃ツタ図、第４図は本発明
の実施例によるデータ記録フォーマットを示す０ 本発明の試験装置ではシーケンス発生回路１内０デー−
ダ１−ＩＫより、まずフォーｉｐ）発生回路２−１が起
動され、フォーマット発生回路２−１は第４図（１）に
示すようなフォーマツＦを磁気ディスク装置３の媒体上
記像する。そして記録完了信号がシーケンス発生回路！
へ送られると次に判定回路４−１を起動する。判定回路
４−１は媒体上に記録されたデータＲＯ，Ｒ１を読み取
り、との読み取ったデータの正常性をチェックする。と
の段階では前述したように疑似インデックス信号発生点
以降の媒体の表面分析ができなくなる〇そζで次にデコ
ーダ１−１に：よシフオーマット発生回路２−２が起動
され、第４図（２）に示すフォーマットを発生し、媒体
上に記録する＠つｔシ第４図（１）において１個のデー
タＲ１の部分に複数の小さなデータＲ１〜ＲＬｔ１ｅ録
する０とのようＫすると個々の小さなデータ間ＫＦｉ必
ずギャップを必要とするため、第４図（１）の疑似イン
デックス信号発生点までの実際のデータ記録バイト数は
第４図（１）Ｋ比べ第４図（３）の方が少なくなゐ・つ
ｔ〉第４図（２）ＩＣ＄Ｐいて第４図（１）と同じだけ
のデータ記録バイト数とするには更にデータＲｊ＋１を
書込んだ点で疑似インデックス信号が発生されることと
なる。そしてとのＦ４図偉）のフォーマットを書込むと
と（でより第４図（１］に比べ更に拡大された領域まで
表面分析が可能となる。次にフォーマット発生回路２−
３を起墾して、第４図＠Ｋ＞けるデータＲｊ＋１の部分
に小さなデータを書込むことにより第４図（３）に示す
ごとくデータＲｍ＋１を書込んだ点に疑似インデックス
信号発生点を移動するととができる。ヒのため第禰図（
ｆｉＫ比べ更に拡大された領域まで表面分析が可能とな
る。
同様の操作によシデコーダ１−１はフォーマット発生回
路２−４を起動して、第４図（４）のフォーマットを媒
体に書込むことによ秒トラック全体の表面分析ができる
ことになる。
路２−４を起動して、第４図（４）のフォーマットを媒
体に書込むことによ秒トラック全体の表面分析ができる
ことになる。
以上説明したように従来開発された磁気ディスク装置の
試唆装看を記礫密度の異なる媒体の試験にも従来と同一
試験モードを、くり返すことにより表置分析することが
できるので試映装置を新設計すゐととなく運用効率の向
上が計れるという利点がある。
試唆装看を記礫密度の異なる媒体の試験にも従来と同一
試験モードを、くり返すことにより表置分析することが
できるので試映装置を新設計すゐととなく運用効率の向
上が計れるという利点がある。
第１図は磁気ディスク記鎌媒体上のデータフォーマット
記録例、第２図は従来の試験装置のプ四ツク図、第３図
は本発明の実施例による試験装置のブロック図を示す。 第４図は本発明の実施例によるデータ記録フォーマツ）
を示す。図において１はシーケンス発生 ′回路、
２はフォーマット発生回路、３は磁気ディヌク装！、４
は判定回路、１−１はデコーダを示すＯ
記録例、第２図は従来の試験装置のプ四ツク図、第３図
は本発明の実施例による試験装置のブロック図を示す。 第４図は本発明の実施例によるデータ記録フォーマツ）
を示す。図において１はシーケンス発生 ′回路、
２はフォーマット発生回路、３は磁気ディヌク装！、４
は判定回路、１−１はデコーダを示すＯ
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 記録密度の小なる媒体のトラック記録形式に相当する分
のデータバイト数を計数して疑似インデックス信号を発
生することによ））ラック容量の変換を行なっている。 記録密度の大なる磁気ディスク記録媒体の表面分析の試
験法にシいて、１個のレコード記録による表面分析を疑
似インデックス信号まで行ない、次に該レコード部分に
複数の小さなレーードを記録することにより前記疑似イ
ンデックス信号発生点よシ先の領域にデータを記録可能
とし、該領域の表面分析を行ない、次に核領域のデータ
部分に複数の小さなレコードを記録し以下同様の操作を
くり返すことによ〕トラック全部の表面分析を行うこと
を特徴とする磁気ディスク装置の試験法・−
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11590881A JPS5818177A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | 磁気デイスク装置における磁気ディスク媒体の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP11590881A JPS5818177A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | 磁気デイスク装置における磁気ディスク媒体の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5818177A true JPS5818177A (ja) | 1983-02-02 |
| JPH0252832B2 JPH0252832B2 (ja) | 1990-11-14 |
Family
ID=14674179
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP11590881A Granted JPS5818177A (ja) | 1981-07-24 | 1981-07-24 | 磁気デイスク装置における磁気ディスク媒体の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5818177A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02262931A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-25 | Musashi Seimitsu Ind Co Ltd | ボールジョイントの割りピン孔位置決め装置 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56159841A (en) * | 1980-05-10 | 1981-12-09 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Magnetic disc medium and its defect inspection device |
-
1981
- 1981-07-24 JP JP11590881A patent/JPS5818177A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS56159841A (en) * | 1980-05-10 | 1981-12-09 | Hitachi Electronics Eng Co Ltd | Magnetic disc medium and its defect inspection device |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02262931A (ja) * | 1989-03-31 | 1990-10-25 | Musashi Seimitsu Ind Co Ltd | ボールジョイントの割りピン孔位置決め装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0252832B2 (ja) | 1990-11-14 |
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