JPS58158454U - 半導体メモリセル - Google Patents
半導体メモリセルInfo
- Publication number
- JPS58158454U JPS58158454U JP1982054658U JP5465882U JPS58158454U JP S58158454 U JPS58158454 U JP S58158454U JP 1982054658 U JP1982054658 U JP 1982054658U JP 5465882 U JP5465882 U JP 5465882U JP S58158454 U JPS58158454 U JP S58158454U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- semiconductor substrate
- conductivity type
- diffusion
- diffusion region
- epitaxial layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 9
- 238000009792 diffusion process Methods 0.000 claims description 10
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 9
- 238000002955 isolation Methods 0.000 claims description 3
- 238000000926 separation method Methods 0.000 claims 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000012535 impurity Substances 0.000 description 1
- 229910021420 polycrystalline silicon Inorganic materials 0.000 description 1
Landscapes
- Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Metal-Oxide And Bipolar Metal-Oxide Semiconductor Integrated Circuits (AREA)
- Semiconductor Memories (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
第1図は1素子型メモリセルの原理を説明するための図
、第2図a、 bは従来の1.素子型メモリセルの一
例を示す図、第3図a、 bは本考案を説明するため
に用いられる2重拡散型MOSトランジスタの一例を示
す図、第4図は本考案の一実施例を示す図である。 記号の説明、20:p型半導体基板、21:エピタキシ
ャル層、21′ 二島状のエピタキシャル領域、22:
絶縁分離領域、23:n型領域、24:n型領域、30
:ゲート絶縁膜、32:多結晶シリコン層、”33ニア
ルミニウム配線層、40:高不純物濃度埋込層。
、第2図a、 bは従来の1.素子型メモリセルの一
例を示す図、第3図a、 bは本考案を説明するため
に用いられる2重拡散型MOSトランジスタの一例を示
す図、第4図は本考案の一実施例を示す図である。 記号の説明、20:p型半導体基板、21:エピタキシ
ャル層、21′ 二島状のエピタキシャル領域、22:
絶縁分離領域、23:n型領域、24:n型領域、30
:ゲート絶縁膜、32:多結晶シリコン層、”33ニア
ルミニウム配線層、40:高不純物濃度埋込層。
Claims (1)
- 一導電型の半導体基板と、前記半導体基板上に設けられ
た前記半導体基板と逆導電型のエピタキシャル層と、前
記エピタキシャル層を拡散分離するように設けられた前
記半導体基板と同一導電型の拡散分離領域と、前記拡散
分離領域で分離された前記エピタキシャル層内に形成さ
れた前記基板と同一導電型の第1の拡散領域と、第1の
拡散領域内に形成された前記基板と逆導電型の第2の拡
散領域と、前記拡散分離領域で分散されたエピタキシャ
ル層と前記半導体基板との境界部分に設けられた高濃度
埋込層と、前記第1の拡散領域上に被着された絶縁膜と
、前記絶縁膜上から取り出された第1の導電ラインと、
前記第2の拡散領域から取り出され、前記第1の導電ラ
インとは絶縁されている第2の導電ラインとを備え、前
記第1及び第2の導電ラインを選択線とし、且つ、前記
半導体基板を接地することを特徴とする半導体メモリセ
ル。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1982054658U JPS58158454U (ja) | 1982-04-15 | 1982-04-15 | 半導体メモリセル |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP1982054658U JPS58158454U (ja) | 1982-04-15 | 1982-04-15 | 半導体メモリセル |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58158454U true JPS58158454U (ja) | 1983-10-22 |
Family
ID=30065273
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP1982054658U Pending JPS58158454U (ja) | 1982-04-15 | 1982-04-15 | 半導体メモリセル |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58158454U (ja) |
-
1982
- 1982-04-15 JP JP1982054658U patent/JPS58158454U/ja active Pending
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