JPH1195070A - 光通信用パッケージ - Google Patents

光通信用パッケージ

Info

Publication number
JPH1195070A
JPH1195070A JP9258173A JP25817397A JPH1195070A JP H1195070 A JPH1195070 A JP H1195070A JP 9258173 A JP9258173 A JP 9258173A JP 25817397 A JP25817397 A JP 25817397A JP H1195070 A JPH1195070 A JP H1195070A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
lens
lens holder
package
plating
bonding
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP9258173A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3222815B2 (ja
Inventor
Keiji Narushige
恵二 成重
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sumitomo Metal SMI Electronics Device Inc
Original Assignee
Sumitomo Metal SMI Electronics Device Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Sumitomo Metal SMI Electronics Device Inc filed Critical Sumitomo Metal SMI Electronics Device Inc
Priority to JP25817397A priority Critical patent/JP3222815B2/ja
Publication of JPH1195070A publication Critical patent/JPH1195070A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3222815B2 publication Critical patent/JP3222815B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Optical Couplings Of Light Guides (AREA)
  • Semiconductor Lasers (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 光通信用パッケージの信頼性向上、歩留り向
上を実現する。 【解決手段】 レンズホルダ43のうち、レンズ45を
接合する接合面と、光ファイバ44の保持部材をレーザ
接合するレーザ接合面は、Niめっきのみで被膜し、パ
ッケージ本体31にAu−Snろう材47で接合するレ
ンズホルダ43のAu−Sn接合面は、Niめっきを下
地とするAuめっきで被膜する。このレンズホルダ43
のレンズ接合面(Niめっき面)にレンズ45を低融点
ガラス46で接合する。この後、パッケージ本体31の
貫通孔39にレンズホルダ43を挿入し、該パッケージ
本体31のAu−Sn接合面(Auめっき面)に該レン
ズホルダ43をAu−Snろう材47によりろう付けす
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、光ファイバの先端
と対向させるレンズを内蔵した光通信用パッケージに関
するものである。
【0002】
【従来の技術】この種の光通信用パッケージは、本体が
セラミック製のものと金属製のものがあるが、前者のも
のは、例えば図5に示すように、セラミック製のパッケ
ージ本体11内に、光通信用のレーザダイオード(L
D)、発光ダイオード(PD)等の半導体素子12を搭
載するキャビティ13を形成すると共に、該パッケージ
本体11の側面に、キャビティ13に連通する貫通孔1
4を形成すると共に、この貫通孔14に対応する部位に
シールリング15をAgろう材でろう付けし、金属製の
レンズホルダ16の内部に、光ファイバ17の先端と対
向させるためのレンズ18を接着樹脂19で接合すると
共に、該レンズホルダ16をシールリング15及び貫通
孔14内に挿入し、該レンズホルダ16の鍔部をシール
リング15に抵抗溶接したものがある。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来構成では、次のような欠点があった。
【0004】(1)レンズホルダ16の鍔部をシールリ
ング15に抵抗溶接する際に、パッケージ本体11をレ
ンズホルダ16側に押し付けた状態で抵抗溶接するよう
にしているが、この抵抗溶接時にパッケージ本体11の
押圧力を大きくし過ぎると、パッケージ本体11にクラ
ックが発生しやすくなり、反対に、パッケージ本体11
の押圧力を弱くすると、溶接不良によるリークが発生し
やすい。
【0005】(2)レンズホルダ16とシールリング1
5との接合を、抵抗溶接からAu−Snろう付けに変更
することが考えられるが、レンズホルダ16にレンズ1
8を接着樹脂19で接合しているため、後工程で、レン
ズホルダ16をシールリング15にAu−Snろう付け
する際に、ろう材を加熱溶融する熱(300〜400
℃)で、接着樹脂19が熱分解して(熱分解温度:20
0℃)、レンズ18の接合部がシール不良となり、リー
クが発生しやすい。
【0006】(3)レンズホルダ16の表面は、Niめ
っきを下地としてAuめっきが施されているが、レンズ
18を接合する接合面や光ファイバ17の保持部材(図
示せず)をレーザ接合する接合面がAuめっきされてい
ると、レーザ光がAuめっき面に反射されてレンズ18
の接合やレーザ接合が困難となる。
【0007】本発明はこのような事情を考慮してなされ
たものであり、従ってその目的は、パッケージ本体のク
ラックや接合部の不良を防止できて、信頼性向上、歩留
り向上を実現できる光通信用パッケージを提供すること
にある。
【0008】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明の光通信用パッケージは、レンズホルダのう
ち、レンズを接合する接合面及び光ファイバの保持部材
をレーザ接合する接合面をNiめっきで被膜し、パッケ
ージ本体に接合する接合面をAuめっきで被膜し、前記
レンズホルダのNiめっき面に前記レンズを低融点ガラ
スで接合すると共に、前記レンズホルダのAuめっき面
を前記パッケージ本体にAu−Snろう材で接合した構
成としたものである。
【0009】この構成では、レンズホルダのNiめっき
面にレンズを低融点ガラスで接合するようにしたので、
レンズが確実に接合されると共に、レンズホルダをパッ
ケージ本体にAu−Snろう付けする際に、ろう材を加
熱溶融する熱(350℃)によって、レンズの接合材で
ある低融点ガラス(融点:450℃)が熱分解すること
がなく、レンズの接合信頼性が向上する。しかも、レン
ズホルダのAuめっき面をパッケージ本体にAu−Sn
ろう材で接合するようにしたので、抵抗溶接で発生して
いたパッケージ本体のクラックや溶接不良がなくなると
共に、レンズホルダのAu−Snろう材の接合面をAu
めっき面とすることで、確実なろう付けが可能となる。
更に、レンズホルダのレーザ接合面をNiめっき面とす
ることで、確実なレーザ接合が可能となる。
【0010】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を図1
乃至図4に基づいて説明する。まず、図1及び図2に基
づいて光通信用パッケージ全体の構成を説明する。セラ
ミック製のパッケージ本体31は、アルミナ等のセラミ
ックグリーンシートを積層・焼成して製造したものであ
り、該パッケージ本体31の内部には、光通信用のレー
ザダイオード(LD)、発光ダイオード(PD)等の半
導体素子32を搭載するキャビティ33が形成されてい
る。
【0011】このパッケージ本体31のキャビティ33
の内面には、半導体素子32をワイヤボンディング等で
接続するための導体パターン34(図2参照)がW,M
o等で形成され、該パッケージ本体31の対向する2つ
の側面には、キャビティ33内の導体パターン34と導
通する導体パターン35がW,Mo等で形成され、この
導体パターン35にリードフレーム36がAgろう材4
1で接合されている。
【0012】一方、パッケージ本体31の上面には、シ
ール用メタライズパターン37がW,Mo等で形成さ
れ、このシール用メタライズパターン37にコバール等
の金属で形成されたシールリング38がAgろう材41
で気密に接合されている。そして、キャビティ33内に
半導体素子32を搭載した後に、シールリング38に金
属製のキャップ(図示せず)をシーム溶接等により接合
することで、キャビティ33を封止する。
【0013】パッケージ本体31のリードフレーム36
が接合されていない方の側面には、キャビティ33に連
通する貫通孔39が形成され、該側面に、シール用メタ
ライズパターン40がW,Mo等で形成されている。
【0014】一方、レンズホルダ43は、例えばコバー
ル、Fe−Ni合金等の金属により鍔部43a付きの筒
状に形成され、その内部には、光ファイバ44の先端と
対向させるためのレンズ45が低融点ガラス46で気密
に接合されている。このレンズホルダ43は、貫通孔3
9内に挿入され、該レンズホルダ43の鍔部43aの全
周がパッケージ本体31側面のシール用メタライズパタ
ーン40にAu−Snろう材47でろう付けされてい
る。
【0015】レンズホルダ43には、図3に示すような
めっき処理が施されている。すなわち、レンズ45を接
合する接合面Aと、光ファイバ44の保持部材(図示せ
ず)をレーザ接合するレーザ接合面Bは、Niめっきの
みで被膜し、パッケージ本体31にAu−Snろう材4
7で接合する接合面Cは、Niめっきを下地とするAu
めっきで被膜している。また、レンズホルダ43の鍔部
43aの外周面Dのうち、レーザ接合面Bに近い部分
は、レーザ接合面であるため、Niめっきのみで被膜
し、その他の部分は、Niめっきのみ、又はNiめっき
を下地とするAuめっきで被膜している。また、レンズ
ホルダ43の内周面Eは、Niめっきのみ、又はNiめ
っきを下地とするAuめっきで被膜している。
【0016】次に、上記構成の光通信用パッケージの製
造工程を図4に基づいて説明する。まず、レンズホルダ
43の全面にNiめっきを施した後、レンズ接合面A及
びレーザ接合面B等、Niめっき面を露出させる部分を
マスクして、Au−Sn接合面C等にAuめっきを施
す。この後、レンズホルダ43のレンズ接合面A(Ni
めっき面)にレンズ45を低融点ガラス46(融点:4
50℃)で接合する。この際、Niめっき面と低融点ガ
ラス46との相性は良く、レンズ45の接合状態は良好
となる。
【0017】一方、パッケージ本体31に対して、リー
ドフレーム36、シールリング38をAgろう材41で
ろう付けする。この後、リードフレーム36、シールリ
ング38、パッケージ本体31側面のシール用メタライ
ズパターン40等に、Niめっきを施し、その上からA
uめっきを施す。
【0018】この後、このパッケージ本体31の貫通孔
39にレンズホルダ43を挿入し、該パッケージ本体3
1のAu−Sn接合面C(Auめっき面)に該レンズホ
ルダ43をAu−Snろう材47により300〜400
℃でろう付けする。この際、Auめっき面とAu−Sn
ろう材47との相性は良く、レンズホルダ43の接合状
態は良好となる。また、レンズ45の接合材である低融
点ガラス46の融点はAu−Snろう付け温度よりも高
いため、Au−Snろう付け時に低融点ガラス46が溶
融することがなく、レンズ45の接合状態が良好に保た
れる。
【0019】以上のようにして製造した光通信用パッケ
ージの品質を評価する試験を行ったので、その試験結果
について説明する。まず、上記製造工程で製造した実施
例のサンプルと、レンズホルダの全面にAuめっきを施
した比較例のサンプルをそれぞれ30個ずつ用意し、レ
ンズ接合不良とレーザ接合不良を評価する試験を行った
ので、その試験結果を下記の表1に示す。
【0020】
【表1】
【0021】この試験結果によれば、部分Auめっきし
た実施例では、レンズ接合面A(Niめっき面)と低融
点ガラスとの接合状態が良好であり、レンズ接合不良は
発生しなかった。また、レーザ接合面Bのレーザ接合状
態も良好であり、レーザ接合不良は発生しなかった。
【0022】これに対し、レンズホルダの全面をAuめ
っきした比較例では、レンズ接合面(Auめっき面)と
低融点ガラスとの相性が悪く、全てのサンプルがレンズ
接合不良となった。また、レーザ接合面(Auめっき
面)とレーザ接合との相性も悪く、30サンプル中、2
8個もレーザ接合不良が発生した。
【0023】以上の試験結果から、低融点ガラスで接合
するレンズ接合面Aとレーザ接合面Bは、Niめっき面
とすることで、レンズ接合状態とレーザ接合状態が共に
良好になることが確認された。
【0024】また、実施例のサンプル(30個)につい
て熱衝撃試験と温度サイクル試験を行ったので、その試
験結果を下記の表2に示す。
【0025】
【表2】
【0026】ここで、熱衝撃試験の条件は、MIL−S
TD(米軍規格)のコンディションCに従い、サンプル
を150℃の液中に浸漬して加熱した後、−65℃の液
中に5分以上浸漬して冷却し、これを再び150℃の液
中で加熱するというサイクルを15サイクル繰り返す。
この際、サンプルを低温の液と高温の液との間で移動さ
せる時間は10秒以下とする。この熱衝撃試験を行った
30個のサンプルについてグロスリーク試験を行ったと
ころ、全てのサンプルのリーク率がMIL−STDの規
格値である1×10-8atm cc/secよりも少なく、不良は
全く発生せず、全てのサンプルが熱衝撃試験で合格とな
った。
【0027】また、温度サイクル試験の条件は、MIL
−STD(米軍規格)のコンディションCに従い、サン
プルを−65℃の気中で冷却した後、150℃の気中で
加熱し、これを再び−65℃の気中で冷却するというサ
イクルを1000サイクル繰り返す。この際、サンプル
を低温の気中と高温の気中との間で移動させる時間は5
分以下とする。この温度サイクル試験を行った30個の
サンプルについてグロスリーク試験を行ったところ、全
てのサンプルのリーク率がMIL−STDの規格値であ
る1×10-8atm cc/secよりも少なく、不良は全く発生
せず、全てのサンプルが温度サイクル試験で合格となっ
た。
【0028】以上の試験結果から明らかなように、上記
実施形態では、レンズホルダ43のNiめっき面Aにレ
ンズ45を低融点ガラス46で接合するようにしたの
で、レンズホルダ43にレンズ45を確実に接合できる
と共に、レンズホルダ43をパッケージ本体31にAu
−Snろう付けする際に、Au−Snろう材47を加熱
溶融する熱(300〜400℃)で、レンズ45の接合
材である低融点ガラス46(融点:450℃)が熱分解
することがなく、レンズ45の接合信頼性を向上でき
る。しかも、レンズホルダ43のAuめっき面Cをパッ
ケージ本体31にAu−Snろう材47で接合するよう
にしたので、抵抗溶接で発生していたパッケージ本体3
1のクラックや溶接不良がなくなると共に、レンズホル
ダ43のAu−Snろう材47の接合面CをAuめっき
面とすることで、確実なろう付けが可能となり、レンズ
ホルダ43の接合不良を防止できる。更に、レンズホル
ダ43のレーザ接合面BをNiめっき面とすることで、
確実なレーザ接合が可能となり、レーザ接合不良を防止
できる。
【0029】尚、上記実施形態では、レンズホルダ43
の左端面Aのみをレンズ接合面(Niめっき面)とした
が、レンズホルダ43の内周面Eもレンズ接合面(Ni
めっき面)として、内周面Eにも低融点ガラスでレンズ
45を接合するようにしても良い。
【0030】また、上記実施形態では、パッケージ本体
31をセラミックで構成したが、金属で構成したパッケ
ージ本体を用いても良く、例えば本体側壁をコバール、
底板をCu−W等の金属で形成しても良い。
【0031】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、本発明
の光通信用パッケージによれば、レンズホルダのレンズ
接合面及びレーザ接合面をNiめっきで被膜し、パッケ
ージ本体に接合する接合面をAuめっきで被膜し、レン
ズホルダのNiめっき面にレンズを低融点ガラスで接合
すると共に、レンズホルダのAuめっき面をパッケージ
本体にAu−Snろう材で接合するようにしたので、レ
ンズ接合不良やレーザ接合不良が発生しなくなると共
に、熱衝撃試験や温度サイクル試験でもリークが発生せ
ず、信頼性向上、歩留り向上を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態を示す光通信用パッケージ
の縦断面図
【図2】光通信用パッケージを部分的に破断して示す斜
視図
【図3】レンズを接合したレンズホルダの拡大縦断面図
【図4】光通信用パッケージの製造工程を示す工程図
【図5】従来例を示す光通信用パッケージの縦断正面図
【符号の説明】
31…パッケージ本体、32…半導体素子、33…キャ
ビティ、36…リードフレーム、38…シールリング、
39…貫通孔、40…シール用メタライズパターン、4
1…Agろう材、43…レンズホルダ、43a…鍔部、
44…光ファイバ、45…レンズ、46…低融点ガラ
ス、47…Au−Snろう材。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 パッケージ本体がセラミック製または金
    属製で、その内部に光通信用の半導体素子を搭載するキ
    ャビティを形成すると共に、該パッケージ本体の側面
    に、該キャビティに連通する貫通孔を形成し、筒状に形
    成された金属製のレンズホルダの内部に、光ファイバの
    先端と対向させるためのレンズを接合すると共に、該レ
    ンズホルダを前記貫通孔に挿入して前記パッケージ本体
    に接合して成る光通信用パッケージにおいて、 前記レンズホルダのうち、前記レンズを接合する接合面
    及び前記光ファイバの保持部材をレーザ接合する接合面
    をNiめっきで被膜し、前記パッケージ本体に接合する
    接合面をAuめっきで被膜し、 前記レンズホルダのNiめっき面に前記レンズを低融点
    ガラスで接合し、 前記レンズホルダのAuめっき面を前記パッケージ本体
    にAu−Snろう材で接合したことを特徴とする光通信
    用パッケージ。
JP25817397A 1997-09-24 1997-09-24 光通信用パッケージ Expired - Lifetime JP3222815B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25817397A JP3222815B2 (ja) 1997-09-24 1997-09-24 光通信用パッケージ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP25817397A JP3222815B2 (ja) 1997-09-24 1997-09-24 光通信用パッケージ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH1195070A true JPH1195070A (ja) 1999-04-09
JP3222815B2 JP3222815B2 (ja) 2001-10-29

Family

ID=17316548

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP25817397A Expired - Lifetime JP3222815B2 (ja) 1997-09-24 1997-09-24 光通信用パッケージ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3222815B2 (ja)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002014260A (ja) * 2000-04-25 2002-01-18 Oki Electric Ind Co Ltd 平面実装型光モジュールおよびこれを用いた伝送基板
US6715937B2 (en) * 2002-03-19 2004-04-06 The Furukawa Electric Co., Ltd. Optical module
JP2006041213A (ja) * 2004-07-28 2006-02-09 Nichia Chem Ind Ltd 半導体レーザパッケージおよび半導体レーザパッケージの製造方法
US7015558B2 (en) 2001-08-06 2006-03-21 Yamaha Corporation Optical device free from stress due to difference in thermal expansion coefficient between parts and process for fabrication thereof
EP1610380A3 (en) * 2004-06-21 2007-08-29 Tanaka Kikinzoku Kogyo Kabushiki Kaisha Hermetic seal cover and manufacturing method thereof

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002014260A (ja) * 2000-04-25 2002-01-18 Oki Electric Ind Co Ltd 平面実装型光モジュールおよびこれを用いた伝送基板
US7015558B2 (en) 2001-08-06 2006-03-21 Yamaha Corporation Optical device free from stress due to difference in thermal expansion coefficient between parts and process for fabrication thereof
US6715937B2 (en) * 2002-03-19 2004-04-06 The Furukawa Electric Co., Ltd. Optical module
EP1610380A3 (en) * 2004-06-21 2007-08-29 Tanaka Kikinzoku Kogyo Kabushiki Kaisha Hermetic seal cover and manufacturing method thereof
US7495333B2 (en) 2004-06-21 2009-02-24 Tanaka Kikinzoku Kogyo K.K. Seal cover structure comprising a nickel-tin (Ni—Sn) alloy barrier layer formed between a nickel (Ni) plating layer and a gold-tin (Au—Sn) brazing layer having Sn content of 20.65 to 25 WT % formed on the seal cover main body
JP2006041213A (ja) * 2004-07-28 2006-02-09 Nichia Chem Ind Ltd 半導体レーザパッケージおよび半導体レーザパッケージの製造方法
JP4678154B2 (ja) * 2004-07-28 2011-04-27 日亜化学工業株式会社 半導体レーザパッケージおよび半導体レーザパッケージの製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
JP3222815B2 (ja) 2001-10-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3222815B2 (ja) 光通信用パッケージ
US5945735A (en) Hermetic sealing of a substrate of high thermal conductivity using an interposer of low thermal conductivity
US6037193A (en) Hermetic sealing of a substrate of high thermal conductivity using an interposer of low thermal conductivity
JP2002033519A (ja) 光通信用パッケージ及びその窓部材並びにその製造方法
JP3500304B2 (ja) 半導体素子支持部材及びこれを用いた半導体素子収納用パッケージ
JPS60180183A (ja) 光半導体素子気密パツケ−ジ
JPH0760906B2 (ja) 光素子用パツケ−ジ
JP2970635B2 (ja) 半導体レーザーモジュール及び金属フェルール
JPS62580B2 (ja)
JPH10148736A (ja) 光通信用パッケージ
JP2005165200A (ja) 光デバイスとその製造方法
JPS62581B2 (ja)
JP2002313973A (ja) 光通信用パッケージ
JPH11248973A (ja) 光モジュール
JP3502756B2 (ja) 光半導体素子収納用パッケージ
JP2003344722A (ja) 光通信用パッケージ及びその製造方法
JPH06252278A (ja) 光半導体素子収納用パッケージ
JP2947317B2 (ja) 光結合器
JPH07106458A (ja) 気密封止形半導体装置
JPS635234Y2 (ja)
JP2002311303A (ja) 光通信用パッケージ
JPH081938B2 (ja) 半導体装置
JP2000208679A (ja) 化合物半導体素子
JP2003197797A (ja) 圧電素子の気密封止方法
JPH09325247A (ja) 光ファイバモジュール

Legal Events

Date Code Title Description
S202 Request for registration of non-exclusive licence

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R315201

R360 Written notification for declining of transfer of rights

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R360

R371 Transfer withdrawn

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R371

S202 Request for registration of non-exclusive licence

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R315201

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20070817

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080817

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090817

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090817

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100817

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100817

Year of fee payment: 9

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110817

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110817

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110817

Year of fee payment: 10

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120817

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120817

Year of fee payment: 11

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130817

Year of fee payment: 12

S533 Written request for registration of change of name

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313533

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130817

Year of fee payment: 12

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term