JPH1192269A - 結晶製造装置および方法 - Google Patents
結晶製造装置および方法Info
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- JPH1192269A JPH1192269A JP9246898A JP24689897A JPH1192269A JP H1192269 A JPH1192269 A JP H1192269A JP 9246898 A JP9246898 A JP 9246898A JP 24689897 A JP24689897 A JP 24689897A JP H1192269 A JPH1192269 A JP H1192269A
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Abstract
簡単な結晶製造装置及び方法を提供すること。 【解決手段】 坩堝引き下げ法により円筒形の坩堝1中
で熔融させた結晶性物質の原料を冷却することで結晶化
させる結晶製造装置において、坩堝1内部領域の底の中
心部もしくは底と仕切り板の中心部を局部的に低温にす
る手段を有することを特徴とする。坩堝1の内部領域の
底の周辺部、もしくは底と仕切り板の周辺部に断熱手段
11を有することを特徴とする。坩堝1の内部領域の底
の中心部、もしくは底と仕切り板の中心部に良伝熱手段
12を有することを特徴とする。
Description
の光学部材に用いられる石英、蛍石等の結晶材料(硝
材)を製造するための結晶製造装置及び結晶製造方法に
関するものである。
半導体集積回路製造用の露光装置等に用いられている。
とりわけ、露光装置では高品質の光学部材が望まれてい
る。
超微細パターン形成への要求が益々高まっている。微細
パターンをウェハ上に転写する装置としては、ステップ
・アンド・リピート方式の縮小投影小型露光装置(ステ
ッパー)が多用されている。高集積化するためには、ス
テッパー投影レンズの解像度を上げる必要がある。そし
て、投影レンズの解像度を上げるには短波長の露光光を
用い、投影レンズの開口数を大きく(大口径化)する必
要がある。
6nm)、h線(波長405nm)、i線(波長365
nm)と進んできており、今後はKr−Fエキシマレー
ザー光(波長248nm)、Ar−Fエキシマレーザー
光(波長193nm)の使用が有望視されている。
学レンズを使用することが可能であったが、Kr−Fエ
キシマレーザー光、Ar−Fエキシマレーザー光の波長
域では、透過率が低く、従来の光学ガラスを使用するこ
とは不可能である。
学系には、短波長光の透過率の高い石英ガラスまたは蛍
石を使用するのが一般的になっている。
折率の異なる2つ以上の硝材があることが望ましい。
レンズは、極限の面精度で研磨されるが、多結晶になっ
ていると結晶方位によって研磨速度が異なるため、レン
ズの面精度を確保することが困難になる。
物が偏析しやすく、屈折率の均一性を損ねたり、レーザ
ー照射により傾向を発したりする。
装置の投影レンズでは、大口径の単結晶蛍石が望まれて
いる。
リッジマン法)で製造されており、その製造装置には図
5に示す1室タイプと、図6に示す2室タイプ(米国特
許公報2,214,976号参照)がある。図5は従来
の1室タイプの結晶製造装置の模式的な断面図である。
この装置は、主として炉室6を形成する筐体5と炉室内
に配置されたグラファイト製の側面ヒーター3とで構成
される。側面ヒーター3は側面ヒーター用電源8から電
力が供給されるが、その電力は、ヒーター用制御装置9
によって制御される。
が炉室6に達し、この坩堝支持棒2の上端に坩堝1が取
り付けられる。この坩堝1に原料を入れ、炉室6内を真
空にし、炉温を蛍石の融点以上(通常摂氏1390〜1
450度まで)上げ、熔融する。結晶成長させる時は、
0.1〜5mm/時ぐらいの速度で坩堝1を降下させ、
下部の方から結晶化させていく。
模式的な断面図である。図5,6両図の右側のグラフ
は、炉の中心部の鉛直方向にそった温度を示すが、1室
タイプでは炉の中心に沿った温度分布が、図5右側に示
すように一つ山型となるのに対し、2室タイプでは図6
の右側に示すように2つ山型となる。
を遅くする、坩堝内面を滑らかに仕上げる、結晶起点を
坩堝最下瑞の一点とする等、幾つか配慮すべき点があ
る。
の等温線(固液界面に相当)を出来るだけ水平に保つこ
とが重要であることを知見した。
レンズひいては坩堝の大口径に伴い、結晶融液の炉壁近
傍と中心部との間に温度差が生じ、温度分布の制御が困
難になる。その対策として炉液の上部または下部にヒー
ターを付加して温度制御する装置が提案されている(特
開平4−34198号公報、特開平4−349199号
公報参照)。しかしながら、こうした装置は、その構造
が複雑になる。
夫し、結晶溶液の温度分布の改良を図ったものに、図7
に示すように仕切り板1aで複数の領域に分けられたタ
イプ(ディスクタイプ)がある。(チェレドフ・V・
N.,ニェオルガニーチェスキーマテリアル、No.
3、vol.28、(1992)550)。
けられる。上下の坩堝の仕切り板の中央の孔1bを介し
て各領域7が連通し、坩堝1の上部へ進む。
結果、上記図7の従来例でも、蛍石の融点付近の溶液の
温度分布で、結晶溶液の温度分布で等温線が十分水平に
保たれず、高品質の結晶、特に大口径(例えば直径25
0ミリ以上)の結晶が得にくい。
板による放熱・輻射を制御し、固液界面を水平に均一に
保ち、坩堝内の融液の温度分布(等温線)を水平方向に
均一にし、全域で均一な結晶成長を行う技術を別途提案
している。
に均一に維持しても、このような大口径(250mm以
上)の結晶の場合、必ずしも均一な結晶体を得ることが
できるとは限らないことを本発明者は見いだした。
たところその原因は、このような大口径の結晶では融液
の温度分布を水平方向に均一にすると、結晶水平方向で
温度が同時に凝固点に達してしまい結晶化開始点が複数
になる可能性がある。すなわち、結晶化開始点が複数に
なるとそれぞれの結晶化開始点から結晶成長が始まり、
結晶成長が進み、やがて結晶同士がぶつかり合いその境
界が結晶粒界となってしまう。
晶の場合、結晶起点を坩堝最下端の一点とすることが出
来ず、高品質の結晶が得にくいことが知見し、そしてそ
の原因は、坩堝の内部領域の底、もしくは底と仕切り板
の温度分布が水平方向に均一になってしまうためである
ことが判明したのである。
質の大口径の単結晶を製造できる、構造の簡単な結晶製
造装置、及び方法を提供することにある。
は、坩堝引き下げ法により円筒形の坩堝中で熔融させた
結晶性物質の原料を冷却することで結晶化させる結晶製
造装置において、坩堝内部領域の底の中心部もしくは底
と仕切り板の中心部を局部的に低温にする手段を有する
ことを特徴とする。
により円筒形の坩堝中で熔融させた結晶性物質の原料を
冷却することで結晶化させる結晶製造装置において、前
記坩堝の内部領域の底の周辺部、もしくは底と仕切り板
の周辺部に断熱手段を有することを特徴とする。
により円筒形の坩堝中で熔融させた結晶性物質の原料を
冷却することで結晶化させる結晶製造方法において、坩
堝の内部領域の底の周辺部、もしくは底と仕切り板の周
辺部を断熱しながら該坩堝を下方から徐々に冷却して該
原料を結晶化させることを特徴とする。
により円筒形の坩堝中で熔融させた結晶性物質の原料を
冷却することで結晶化させる結晶製造装置において、前
記坩堝の内部領域の底の中心部、もしくは底と仕切り板
の中心部に良伝熱手段を有することを特徴とする。
により円筒形の坩堝中で熔融させた結晶性物質の原料を
冷却することで結晶化させる結晶製造方法において、坩
堝の内部領域の底の中心部、もしくは底と仕切り板の中
心部に良伝熱手段を有することを特徴とする坩堝を用い
て、該坩堝を下方から徐々に冷却して該原料を結晶化さ
せることを特徴とする。
部、もしくは底と仕切り板の中心部を、坩堝の内部領域
の底の周辺部、もしくは底と仕切り板の周辺部よりも低
温化させることが出来る。これにより、高品質、大口径
の単結晶が得られる。
8は、従来の1室タイプの坩堝の熱の流れを説明するた
めの模式図である。図9は従来のディスクタイプの坩堝
の熱の流れを説明するための模式図である。この図8、
図9において、坩堝内の伝熱状態を考えると、融液は、
坩堝1から主に熱伝導により、また図9のディスクタイ
プの結晶製造装置では、坩堝内の仕切り板1aからも伝
導により熱を受ける。また坩堝1は側面ヒーター3から
坩堝1の上面と側面に熱を与えられ、坩堝下面から下の
空間へは幅射により、坩堝下面から坩堝支持棒2へ伝導
により、熱が奪われる。結局、結晶溶液内の温度分布
は、側面ヒーター3から坩堝1への伝熱量をQ1、坩堝
1の底面から下方への伝熱量をQ2の総合的なバランス
により決定される。そして結晶化の起点が一点になるか
否かは、坩堝底や仕切り板1aの面上の温度分布におい
て、その中心が局部的に低温であるか否かの問題であ
る。
様である場合、中心に極小点を持つ温度分布の実現は困
難である。例えば図10のように坩堝の底部の周部から
下方への伝熱量をQ3、中心下方への熱伝量をQ4とする
と、Q3とQ4は等しくなり、溶液の中心部のみを冷却す
ることはできない。
しくは底部と仕切り板の構造を改良することにより、上
述した温度分布の問題を解決する。図11は、坩堝の周
辺部に断熱手段を有しているため、周辺部から下方へ流
れる熱が塞き止められ、Q4がQ3に比べて著しく大きな
る。また図12では底部に加え、仕切り板にも断熱手段
を有しているため、底と仕切り板の周辺部から下方へ流
れる熱が塞き止められ、Q4がQ3に比べて著しく大きく
なる。前記坩堝の底部及び仕切り板の面上の温度分布
は、その中心が局部的に低温になる。その結果、結晶化
の起点は中心の一点のみになる。よって本発明により高
品質の単結晶の光学材を製造することが可能になる。
部の中心部に良伝熱部材を有しているため底の中心部か
ら下方へ流れ易くなっている。従って、Q4がQ3に比べ
て著しく大きくなる。また、図12では底部に加え、仕
切り板にも断熱手段を有しているため、底と仕切り板の
中心部から下方へ流れる熱量が増加し、Q4がQ3に比べ
て著しく大きくなる。前記坩堝の底部及び仕切り板の面
上の温度分布は、その中心が局部的に低温になる。その
結果、結晶化の起点は中心の一点のみになる。よって本
発明により高品質の単結晶の光学材を製造することが可
能になる。
説明するが、本発明はこれらの実施例に限られるもので
はなく、本発明の目的が達成されるものであれば、各構
成要素が代替物に置換されたものであってもよい。
施の形態を説明する。図示した実施の形態の装置で原料
を収容する領域は図示されている場合以外でも構わな
い。
1の実施例に関わる結晶製造装置の模式的な断面図であ
る。第1の実施の形態は、坩堝の内部領域の底の周辺部
に断熱部材を有する形態である。
る筐体5と炉室内に配置されたグラファイト製の側面ヒ
ーター3からなる。側面ヒーター3は、側面ヒーター用
電源8から電力を供給されるが、その電力はヒーター用
制御装置9によって制御される。ここで坩堝1はグラフ
ァイトもしくはプラチナ製である。
れたグラファイト製の側面断熱部材4が設置され筐体5
を高熱から保護する。筐体5はステンレス製の2重の円
筒であり、円筒間には不図示の断熱部材を備えている。
筐体下手から筐体5を突き抜ける形で坩堝支持棒2が設
置され坩堝1を支えている。坩堝用モーター2a用電源
2bから電力を供給されるが、その電力は昇降用制御装
置10によって制御される。
材11が設けられている。断熱部材の材料としては、例
えば、MgO、セラミック、金属メッシュ、耐熱耐火煉
瓦、多孔カーボンから選択される材料が好適に用いられ
る。
ュ、耐熱耐火煉瓦、多孔カーボンの各組み合わせから選
択される材料が用いられる。
周辺部から下方への熱の流れが塞き止められているた
め、坩堝1が大口径になっても結晶化の起点が、前記領
域の底の中心の一点のみになっている。また、炉室6の
上下に必要に応じて断熱部材を設けてもよい。
2の実施例に関わる結晶製造装置の模式的な断面図であ
る。第2の実施例は、第1の実施例の形態と同じである
が、坩堝1内が仕切り板1aにより複数の領域7に分け
られている点と仕切り板の周辺部に断熱部材11が設置
されている点が異なる。
みにすることを大きな特徴とするが、そのためには水平
方向における温度分布がるつぼ底中心付近以外で均一で
あるほど効果的である。本実施の形態では、仕切り板1
aにより複数の領域7に分けられており、より水平方向
における温度分布の均一性は保ちやすくなっている。
前記仕切り板の周辺部から下方への熱の流れが塞き止め
らているため、坩堝1が大口径になっても結晶化の起点
が、前記領域の底と仕切り板の中心になっている。ま
た、炉室6の上下に必要に応じて断熱部材を設けてもよ
い。
3の実施例に関わる結晶製造装置の模式的な断面図であ
る。第3の実施の形態は坩堝の内部領域の底の中心部に
良伝熱部材を有する形態である。
る筐体5と炉室内に配置されたグラファイト製の側面ヒ
ーター3からなる。側面ヒーター3は、側面ヒーター用
電源8から電力を供給されるが、その電力はヒーター用
制御装置9によって制御される。ここで坩堝1はグラフ
ァイトもしくはプラチナ製である。また、筐体5の内側
には表面を良く研磨されたグラファイト製の側面断熱部
材4が設置され筐体5を高熱から保護する。
り、円筒間には不図示の断熱部材を備えている。また筐
体5を突き抜ける形で坩堝支持棒2が設置され、坩堝1
を支えている。坩堝昇降用モーター2aは坩堝昇降用電
源2bから電力を供給されるが、その電力は昇降用制御
装置10によって制御される。
部材12が設置されている。この良伝熱部材の材料とし
ては、例えば、Pt、PBN(Pyrolytic Born Nitrid
e)、アルミナ、カーボンから選択される材料が好まし
い。また、Pt、PBN、アルミナ、カーボンの各組み
合わせから選択される材料が好ましい。
中心部から下方へ、熱が流れ易くなっているため、坩堝
1が大口径になっても結晶化の起点が、前記領域の底の
中心の1点のみになっている。また、炉室6の上下に必
要に応じて断熱部材を設けてもよい。
4の実施例に関わる結晶製造装置の模式的な断面図であ
る。第4の実施例は、第3の実施例の形態と同じである
が、坩堝1内が仕切り板1aにより複数の領域7に分け
られている点と、仕切り板1aの中心部に良電部材12
が設置されている点が異なる。
前記仕切り板の中心部から下方へ流れ易くなっているた
め、坩堝1が大口径になっても結晶化の起点が、前記領
域の底と仕切り板の中心になっている。また、炉室6の
上下に必要に応じて断熱部材を設けてもよい。
坩堝内部領域の底、もしくは底と仕切り板の周辺部に断
熱手段を設置するという簡単な方法で、坩堝が大口径に
なっても結晶化の起点が前記領域の底と仕切り板の中心
になり、良質な大口径蛍石等の結晶を製造することがで
きる。
底、もしくは底と仕切り板の中心に良伝熱部材を設置す
るという簡単な方法で、坩堝が大口径になっても結晶化
の起点が、前記領域の底と仕切り板の中心になり、良質
な大口径蛍石等の結晶を製造することができる。
断面図である。
断面図である。
断面図である。
断面図である。
下法製造装置」の概略垂直断面図である。
下法製造装置」の概略垂直断面図である。
置」の概略垂直断面図である。
を示す模式図である。
を示す模式図である。
ける熱の流れを示す模式図である。
熱の流れを示す模式図である。
熱の流れを示す模式図である。
熱の流れを示す模式図である。
る熱の流れを示す模式図である。
Claims (19)
- 【請求項1】 坩堝引き下げ法により円筒形の坩堝中で
熔融させた結晶性物質の原料を冷却することで結晶化さ
せる結晶製造装置において、坩堝内部領域の底の中心部
もしくは底と仕切り板の中心部を局部的に低温にする手
段を有することを特徴とする結晶製造装置。 - 【請求項2】 坩堝引き下げ法により円筒形の坩堝中で
熔融させた結晶性物質の原料を冷却することで結晶化さ
せる結晶製造装置において、前記坩堝の内部領域の底の
周辺部、もしくは底と仕切り板の周辺部に断熱手段を有
することを特徴とする結晶製造装置。 - 【請求項3】 前記断熱手段は、断熱部材である請求項
2記載の結晶製造装置。 - 【請求項4】 前記坩堝は、前記原料を収容する領域を
唯一有していることを特徴とする請求項2記載の結晶製
造装置。 - 【請求項5】 前記坩堝は、仕切り板を備え、前記原料
を収容する領域が複数に分けられていることを特徴とす
る請求項2記載の結晶製造装置。 - 【請求項6】 前記仕切り板の少なくとも1つは、中央
に孔を有し、該孔を介して上下の前記領域が連通してい
ることを特徴とする請求項5記載の結晶製造装置。 - 【請求項7】 前記断熱部材は、MgO、セラミック、
金属メッシュ、耐熱耐火煉瓦、多孔カーボンから選択さ
れる材料からなる請求項3記載の結晶製造装置。 - 【請求項8】 前記断熱部材は、MgO、セラミック、
金属メッシュ、耐熱耐火煉瓦、多孔カーボンの各組み合
わせから選択される材料からなる請求項3記載の結晶製
造装置。 - 【請求項9】 坩堝引き下げ法により円筒形の坩堝中で
熔融させた結晶性物質の原料を冷却することで結晶化さ
せる結晶製造方法において、坩堝の内部領域の底の周辺
部、もしくは底と仕切り板の周辺部を断熱しながら該坩
堝を下方から徐々に冷却して該原料を結晶化させること
を特徴とする結晶製造方法。 - 【請求項10】 前記結晶性物質は蛍石である請求項9
記載の結晶製造方法。 - 【請求項11】 坩堝引き下げ法により円筒形の坩堝中
で熔融させた結晶性物質の原料を冷却することで結晶化
させる結晶製造装置において、前記坩堝の内部領域の底
の中心部、もしくは底と仕切り板の中心部に良伝熱手段
を有することを特徴とする結晶製造装置。 - 【請求項12】 前記良伝熱手段は、良伝熱部材である
請求項11記載の結晶製造装置。 - 【請求項13】 前記坩堝は、前記原料を収容する領域
を唯一有していることを特徴とする請求項11記載の結
晶製造装置。 - 【請求項14】 前記坩堝は、仕切り板を備え、前記原
料を収容する領域が複数に分けられていることを特徴と
する請求項11記載の結晶製造装置。 - 【請求項15】 前記仕切り板の少なくとも1つは、中
央に孔を有し、該孔を介して上下の前記領域が連通して
いることを特徴とする請求項11記載の結晶製造装置。 - 【請求項16】 前記良伝熱部材は、Pt、PBN(Pyr
olytic Born Nitride)、アルミナ、カーボンから選択
される材料からなる請求項12記載の結晶製造装置。 - 【請求項17】 前記良伝熱部材は、Pt、PBN(Pyr
olytic Born Nitride)、アルミナ、カーボンの各組み
合わせから選択される材料からなる請求項12記載の結
晶製造装置。 - 【請求項18】 坩堝引き下げ法により円筒形の坩堝中
で熔融させた結晶性物質の原料を冷却することで結晶化
させる結晶製造方法において、坩堝の内部領域の底の中
心部、もしくは底と仕切り板の中心部に良伝熱手段を有
することを特徴とする坩堝を用いて、該坩堝を下方から
徐々に冷却して該原料を結晶化させることを特徴とする
結晶製造方法。 - 【請求項19】 前記結晶性物質は蛍石である請求項1
5記載の結晶製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9246898A JPH1192269A (ja) | 1997-09-11 | 1997-09-11 | 結晶製造装置および方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9246898A JPH1192269A (ja) | 1997-09-11 | 1997-09-11 | 結晶製造装置および方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1192269A true JPH1192269A (ja) | 1999-04-06 |
Family
ID=17155393
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP9246898A Pending JPH1192269A (ja) | 1997-09-11 | 1997-09-11 | 結晶製造装置および方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH1192269A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6309461B1 (en) | 1999-06-07 | 2001-10-30 | Sandia Corporation | Crystal growth and annealing method and apparatus |
CN113529161A (zh) * | 2021-07-16 | 2021-10-22 | 沈阳工程学院 | 一种焰熔法钛酸锶单晶体生长装置 |
-
1997
- 1997-09-11 JP JP9246898A patent/JPH1192269A/ja active Pending
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6309461B1 (en) | 1999-06-07 | 2001-10-30 | Sandia Corporation | Crystal growth and annealing method and apparatus |
CN113529161A (zh) * | 2021-07-16 | 2021-10-22 | 沈阳工程学院 | 一种焰熔法钛酸锶单晶体生长装置 |
CN113529161B (zh) * | 2021-07-16 | 2023-06-27 | 沈阳工程学院 | 一种焰熔法钛酸锶单晶体生长装置 |
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