JP2002293526A - 多結晶シリコンの製造装置 - Google Patents

多結晶シリコンの製造装置

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JP2002293526A JP2001096477A JP2001096477A JP2002293526A JP 2002293526 A JP2002293526 A JP 2002293526A JP 2001096477 A JP2001096477 A JP 2001096477A JP 2001096477 A JP2001096477 A JP 2001096477A JP 2002293526 A JP2002293526 A JP 2002293526A
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silicon
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Kazuaki Hara
一晃 原
Kazuhiro Hanazawa
和浩 花澤
Hiroyuki Baba
裕幸 馬場
Kenkichi Yushimo
憲吉 湯下
Shoichi Hiwasa
章一 日和佐
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Kawasaki Steel Corp
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    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • C30B11/003Heating or cooling of the melt or the crystallised material

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Abstract

(57)【要約】 【課題】 鋳型の底部からの抜熱によって鋳型内の溶融
シリコンの凝固速度を適切に制御することが可能な、新
規な構造の多結晶シリコンの製造装置について提案す
る。 【解決手段】 加熱機能を有する上部室と、冷却機能を
有する下部室とを、断熱材による隔壁で仕切るととも
に、該隔壁の一部を開口して設けた上部室と下部室との
連通口内に鋳型の置台を昇降可能に配置し、下部室にお
ける上記置台の昇降経路を囲む位置に冷却板を設置す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明が属する技術分野】この発明は、 太陽電池などに
用いられる多結晶シリコンの製造装置に関するものであ
る。
【0002】
【従来の技術】主に太陽電池に用いられる多結晶シリコ
ンは、鋳型内で溶解したシリコンを鋳型の底部から徐々
に冷却して、鋳型底部から上方に一方向凝固する手法に
よって製造されるのが一般的である。
【0003】例えば、特開昭63−166711号公報には、底
部が開口した炉の下方に昇降可能に水冷チルプレートを
設け、炉内に配置した鋳型内にシリコンを装入して溶解
するとともに、水冷チルプレートを鋳型の底面まで上昇
させて、鋳型と水冷チルプレートとの接触を保持したま
ま両者を下降させて鋳型を炉外に移動し、ここでシリコ
ンの一方向凝固を行う装置が、記載されている。
【0004】ここで、太陽電池の変換効率を高めるに
は、大きな結晶粒径を有する多結晶シリコンを提供する
ことが有効であるため、その製造においては、鋳型底部
からの抜熱量の調整によって、特に凝固速度を適切に制
御することが望まれる。しかしながら、上記公報に記載
の装置は、主に鋳塊の凝固速度を速めるところに特徴が
あるから、抜熱量の調整によって凝固速度を微妙に制御
することが難しい。とりわけ、上記公報に記載の技術で
は、鋳型を下降した際に、発熱体のない炉内壁と鋳型側
壁とが向き合うため、ここで鋳型側壁からも抜熱が生じ
て熱バランスが崩れるため、凝固速度の制御は極めて難
しくなる。そのため、鋳型底部近傍に微細組織が多量に
生成するのを回避することが困難であった。
【0005】なお、鋳型からの抜熱量の調整として、水
冷チルプレートの材質を選択したり、鋳型と水冷チルプ
レートとの間に両者間の熱伝導を変化させるための断熱
材などの介在物を配置する、等の手段が考えられる。し
かし、前者は所期する凝固速度毎に材質を変更する必要
があるから極めて不経済であり、一方後者は鋳型の荷重
変動や複数回の使用に伴って、鋳型と水冷チルプレート
との間の熱伝導率が容易に変動するため、凝固速度を制
御することは難しい。
【0006】また、特開平10−130088号公報には、イン
ゴット周囲の数カ所に熱電対を設置して凝固速度を制御
することが提案されているが、1ヒート毎に熱電対をセ
ットするという煩雑な作業が必要であり、さらに凝固時
の抜熱量は微少であるため、熱電対先端の接触状態や位
置によって測定誤差が大きくなる不利があり、熱電対の
損耗が激しいことも問題になる。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】そこで、この発明は、
上記した諸問題を解消し、鋳型の底部からの抜熱によっ
て鋳型内の溶融シリコンの凝固速度を適切に制御するこ
とが可能な、新規な構造の多結晶シリコンの製造装置に
ついて、提案することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】すなわち、この発明の要
旨構成は、次のとおりである。 (1) 加熱機能を有する上部室と、冷却機能を有する下部
室とを、断熱材による隔壁で仕切るとともに、該隔壁の
一部を開口して設けた上部室と下部室との連通口内に鋳
型の置台を昇降可能に配置し、下部室における上記置台
の昇降経路を囲む位置に冷却板を設置して成ることを特
徴とする多結晶シリコンの製造装置。
【0009】(2) 上記(1) において、置台は熱伝導率の
高い材質から成ることを特徴とする多結晶シリコンの製
造装置。
【0010】(3) 上記(1) または(2) において、置台の
底面に断熱材を配設したことを特徴とする多結晶シリコ
ンの製造装置。
【0011】(4) 上記(1) ないし(3) のいずれかにおい
て、置台の厚さが隔壁の厚さよりも厚いことを特徴とす
る多結晶シリコンの製造装置。
【0012】(5) 上記(1) ないし(4) のいずれかにおい
て、置台の径dに対する厚さtの比d/tが5.0 以下で
あることを特徴とする多結晶シリコンの製造装置。
【0013】(6) 上記(1) ないし(5) のいずれかにおい
て、上部室内に、該室温を測定するための複数の温度計
を配置したことを特徴とする多結晶シリコンの製造装
置。
【0014】
【発明の実施の形態】以下、 この発明の製造装置につい
て、図面を参照して詳細に説明する。すなわち、この発
明の多結晶シリコンの製造装置は、図1及び図2に示す
ように、断熱材で区画された上下2室構造を有し、その
上部室1と下部室2とを断熱材による隔壁3で仕切って
成る。
【0015】上部室1は、その内壁面に沿って設置され
るヒータ4をそなえる。例えば、図示例の上部室1は直
方体状であるから、その底面となる隔壁3を除く5つの
内壁面をそれぞれヒータ4で覆って成る。これらヒータ
4によって、室内を所望の温度雰囲気に加熱、保持し
て、シリコンの溶解をはかることができる。
【0016】また、上部室1の底面を構成する隔壁3
は、その一部、図示例でほぼ中央部を、例えば矩形状に
開口して設けた、上部室1と下部室2との連通口5を有
する。この連通口5には、連通口5と平面形状がほぼ同
等でかつ隔壁3よりも厚みのある置台6を配置し、置台
6は装置外から下部室2内に延びる、モーターや油圧シ
リンダーを駆動源とする昇降機7によって、昇降可能に
支持されている。そして、置台6に鋳型8を載せて鋳型
8を上部室1内に配置し、鋳型8内に装入したシリコン
9の溶解を行う。
【0017】なお、置台6は、熱伝導率の高い、カーボ
ン、SiC またはCrなどの材料から形成することが好まし
い。熱伝導率としては、40kcal/m・h・℃以上あれば
よい。すなわち、後述のように、置台6を介して鋳型8
の底部から抜熱する際に、鋳型8底面に対して抜熱を均
等に行う必要があり、そのために置台6は抜熱の整流化
を果たさなくてはならないため、熱伝導率が高く、しか
も耐熱温度の高い、カーボンを典型例とする材料から構
成することが好ましい。
【0018】また、置台6の厚さtが隔壁3の厚さより
も厚いことが好ましい。なぜなら、溶解したシリコンを
凝固するには、置台6を下部室2内まで下降して、その
側壁部6aを後述の冷却板と対面させる必要があるとこ
ろ、隔壁3の厚みより置台6の厚みが小さいと、置台6
の下降時に鋳型8が下部室2内の冷却域に晒されて、鋳
型8の側壁からの抜熱も生じる結果、一方向凝固が難し
くなるからである。従って、置台6の厚さtは隔壁3の
厚さよりも厚くする必要がある。
【0019】同様に、置台6の径dに対する厚さtの比
d/tが5.0 以下であることが好ましい。すなわち、d
/tが5.0 をこえると、鋳型下面から抜熱される際の、
置台による整流作用が不十分となる。その結果、凝固界
面が凹型となり、インゴット上端での最終凝固の不均一
性からシリコンの凝固膨張による残留応力が生じ、イン
ゴットにクラックが発生しやすくなる。従って、d/t
を5.0 以下に規制することが好ましい。なお、置台6の
径dとは、置台が矩形状の場合は円相当径を指し、置台
が円形状の場合はその径を指す。
【0020】さらに、図示例のように、置台6と昇降機
7との間に断熱材10を配置すれば、置台6が上部室1側
まで上昇している場合に、上部室1と下部室2との間の
断熱を強化することができるため、好ましい。
【0021】一方、下部室2には、上記した置台6の昇
降経路を囲む位置に、冷却板11を設置し、該昇降経路の
冷却を可能とする。かように、冷却板11で囲まれた区画
に置台6を露出することによって、この置台6を介して
鋳型8底部からの均一冷却が実現するため、装置として
の構造は極めて簡素であり、凝固速度の制御が容易であ
ることは勿論、装置のメンテナンスも容易であるから、
建造並びに維持に要するコストの低減が可能である。
【0022】なお、図示例の場合は、置台6が矩形であ
るから、その昇降経路を囲む冷却板11は、直方体の側面
を構成するように4面にわたって設ければよい。従っ
て、鋳型8や置台6が円筒状であれば、冷却板11を円筒
状に設けることが好ましい。なお、冷却板11としては、
例えば内部に冷却水の配管を敷設して冷却水12を循環供
給する構造が有利に適合する。
【0023】さらに、冷却板11は隔壁3の下面に接触さ
せて設置することが望ましい。なぜなら、冷却板11を隔
壁3の下面に接触させると、置台6からの抜熱時、冷却
板11以外への熱漏れがほどんどなくなり、シリコンから
の抜熱量を、冷却板11を通過する冷却水の温度及び流量
から正確に把握することができるからである。この抜熱
量を正確に把握できれば、溶融シリコンの凝固制御を高
精度に行って良質なインゴットを作製することができ
る。従って、冷却板11が隔壁3の下面との接触配置が難
しい場合にあっても、両者間の隙間は10mm以下に抑制す
ることが有利である。
【0024】次に、この発明の製造装置を用いて多結晶
シリコンを製造する際の手順について、具体的に説明す
る。まず、図1に示すように、置台6上にシリコン9を
装入した鋳型8を載置し、上部室1内の温度をシリコン
の融点(約1410℃)より高くすることによって、シリコ
ン9を溶解する。上部室1内の温度は、シリコンの融点
よりも十分に高い、1450〜1550℃の範囲に制御すること
が好ましい。
【0025】ここで、太陽電池用多結晶シリコンでは、
結晶組織が微細になると、太陽電池特性が著しく劣化す
るのが一般的であり、とりわけ径が5mm以下の微細な結
晶組織が有害である。すなわち、径が5mm以下の微細組
織が一旦生じると、通常の大粒径組織となるまでに、鋳
型底部から数10mmの高さ範囲にまで微細組織が生成し、
この範囲は不良部分として切除せざるを得なくなる。
【0026】この点、シリコン溶解時の上部室1内温度
を1450℃以上にすることによって、有害な微細組織の生
成を僅かな範囲に止めることができる。これは、シリコ
ン溶解時の上部室1内温度が1450℃未満では、鋳型底部
の冷却を開始した直後から凝固が始まり、この初期の凝
固速度の制御が難しくなるからである。
【0027】一方、シリコン溶解時の上部室1内温度が
1550℃をこえると、まず鋳型内壁に剥離剤として窒化珪
素を塗布する場合に、この窒化珪素が炭化珪素となって
シリコンとの濡れ性が良好になる結果、剥離剤としての
機能が消失する、おそれがある。また、鋳型に石英を使
用した場合は、その変形が許容範囲をこえる、おそれが
あり、さらに省エネルギーの観点からも好ましくない。
【0028】上記に従ってシリコン9を溶解したなら
ば、次いで上部室1内の温度を、好ましくは1420〜1440
℃に調整してから、図2に示すように、置台6を下降し
て置台6の側壁6aを下部室1内に露出し、上部室1内
の温度を1420〜1440℃の温度域に保持したまま、該側壁
6aからの抜熱(図中白抜き矢印で示す)によって鋳型
8底部を冷却し、溶融シリコンを鋳型8底部から上方へ
向かって一方向凝固させる。
【0029】ここで、シリコン溶解後の上部室1内温度
を1420℃以上にすることによって、有害な微細組織の生
成を僅かな範囲に止めることが好ましい。なぜなら、シ
リコン溶解後の上部室1内温度が1420℃未満では、溶融
シリコンの鋳型高さ方向の温度勾配が小さくなりすぎ
て、一方向凝固が難しくなるからである。
【0030】一方、シリコン溶解後の上部室1内温度が
1440℃をこえると、鋳型側壁からの入熱が大きくなって
側壁側のシリコンの凝固が遅滞し、凝固界面が平滑でな
く鋳型中央で膨らむ凸型になる結果、インゴット端部で
の最終凝固が不均一となり、この部分でのシリコンの凝
固膨張により残留応力が生じ、切断後または鋳型からの
取り出し直後にクラックが発生する。
【0031】さらに、有害な微細組織の生成を抑制する
観点から、シリコンの溶解完了から上部室1内の温度を
1420〜1440℃の温度域まで下げるに当り、上部室1内で
の温度降下速度を20℃/h以下に制限することが有利で
ある。
【0032】かくして上部室1内の温度を1420〜1440℃
の範囲に調整したのち置台6を下降すれば、置台6の側
壁6aが下部室1内に露出され、該側壁6aからの抜熱
によって鋳型8底部を冷却することが可能になる。すな
わち、側壁6aの露出面積の調整により、初期凝固の制
御を容易に行えるため、有害な微細組織の生成を抑制す
ることができる。
【0033】ここで、置台6を下降するに当り、その平
均下降速度を1.0 mm/min 以下に制御することが、有害
な微細組織の生成を抑制する上で好ましい。その際、置
台6の下部室2内への下降量は、50〜300mm の範囲とす
ることが、同様の理由から好ましい。この置台6の下降
は、油圧シリンダー等の昇降機7によって、上記の好適
下降速度、そして好適下降量の下に、連続または断続し
て行うことができるが、さらなる微細組織の生成抑制の
観点から、断続の場合は一度の下降量が5mmをこえない
ことが望ましい。
【0034】なお、上部室1内の温度を上述した好適範
囲に制御し、また下部室2における置台6からの抜熱量
を制御するためには、例えば図3に示す制御系を、図1
及び図2に示した製造装置に適用すればよい。すなわ
ち、図3に示すように、各ヒータ4の近傍に適宜本数の
熱電対13を差し込み配置し、これら熱電対13を利用して
上部室1内の雰囲気温度を測定し、その測定結果を演算
器14に入力し、この演算器14において、測定温度と所望
の設定温度とを比較した結果に、各ヒータ4の電流計4
a及び電圧計4bからのヒータ出力情報を加味して、各
ヒータ4に対する出力調整値を決定し、この出力調整値
をコントローラー15から各ヒータ4の電源(図示せず)
に出力し、各ヒータ4の出力調整を行って、上部室1内
温度を制御する。
【0035】一方、置台6からの抜熱量は、まず冷却板
11へ供給する冷却水12の温度及び流量をそれぞれ温度計
12a及び流量計12bにて測定し、その測定値を演算器14
において所望の設定値と比較した結果に基づいて、変位
計7a及びモータ7bにて置台6の下降量及び下降速度
を調節することによって、置台6からの抜熱量を制御で
きる。
【0036】なお、上記の実施形態では、上部室内の温
度を1450〜1550℃の範囲から1420〜1440℃の範囲へ調整
した後、置台を下降させることとしたが、上部室内の温
度を調整しながら置台を下降してもよい。また、上記の
実施形態では、上部室内の雰囲気温度を熱電対で測定し
ているが、放射温度計を用いることも可能である。
【0037】さらに、上記の実施形態では、上部室に1
つの鋳型を配置する例を示したが、複数の鋳型を上部室
内に配置し、各鋳型毎に連通口を介して昇降する置台を
組み合わせて、上記した一方向凝固を行うことによっ
て、同時に複数のインゴットを作製可能とする装置とし
てもよい。
【0038】
【発明の効果】この発明の装置を用いることによって、
鋳型の底部からの抜熱によって鋳型内の溶融シリコンを
一方向凝固させる際に、その凝固速度の適切な制御が実
現されるから、とりわけ太陽電池として供する場合に問
題となる、微細結晶組織の生成を最小限に抑制して優れ
た品質の多結晶シリコンを製造することができる。ま
た、この発明の装置は、従来の装置と比較して構造が簡
素化されているため、その操作やメンテナンスが容易で
あり、建造並びに維持に要するコストの低減が可能であ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】 この発明の多結晶シリコンの製造装置を示す
図である。
【図2】 多結晶シリコンの製造装置の動作を示す図で
ある。
【図3】 この発明の多結晶シリコンの製造装置におけ
る制御系を示す図である。
【符号の説明】
1 上部室 2 下部室 3 隔壁 4 ヒータ 5 連通口 6 置台 7 昇降機 8 鋳型 9 シリコン 10 断熱材 11 冷却板 12 冷却水 13 熱電対
フロントページの続き (72)発明者 馬場 裕幸 岡山県倉敷市水島川崎通1丁目(番地な し) 川崎製鉄株式会社水島製鉄所内 (72)発明者 湯下 憲吉 岡山県倉敷市水島川崎通1丁目(番地な し) 川崎製鉄株式会社水島製鉄所内 (72)発明者 日和佐 章一 岡山県倉敷市水島川崎通1丁目(番地な し) 川崎製鉄株式会社水島製鉄所内 Fターム(参考) 4G072 AA01 BB01 BB12 GG03 GG05 HH01 LL03 NN02 QQ16 UU02 5F051 AA03 CB05

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 加熱機能を有する上部室と、冷却機能を
    有する下部室とを、断熱材による隔壁で仕切るととも
    に、該隔壁の一部を開口して設けた上部室と下部室との
    連通口内に鋳型の置台を昇降可能に配置し、下部室にお
    ける上記置台の昇降経路を囲む位置に冷却板を設置して
    成ることを特徴とする多結晶シリコンの製造装置。
  2. 【請求項2】 請求項1において、置台は熱伝導率の高
    い材質から成ることを特徴とする多結晶シリコンの製造
    装置。
  3. 【請求項3】 請求項1または2において、置台の底面
    に断熱材を配設したことを特徴とする多結晶シリコンの
    製造装置。
  4. 【請求項4】 請求項1ないし3のいずれかにおいて、
    置台の厚さが隔壁の厚さよりも厚いことを特徴とする多
    結晶シリコンの製造装置。
  5. 【請求項5】 請求項1ないし4のいずれかにおいて、
    置台の径dに対する厚さtの比d/tが5.0 以下である
    ことを特徴とする多結晶シリコンの製造装置。
  6. 【請求項6】 請求項1ないし5のいずれかにおいて、
    上部室内に、該室温を測定するための複数の温度計を配
    置したことを特徴とする多結晶シリコンの製造装置。
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