JP2007284343A - 単結晶または多結晶材料、特に多結晶シリコンの製造装置及び製造方法本特許出願は、2006年4月12日付けで出願されたドイツ特許出願No.102006017621.9−43、発明の名称「単結晶または多結晶材料、特に多結晶シリコンの製造方法」を基礎として優先権主張されている出願である。この優先権主張の基礎となる出願はその開示内容の参照書類として本願書類中に含まれている。 - Google Patents

単結晶または多結晶材料、特に多結晶シリコンの製造装置及び製造方法本特許出願は、2006年4月12日付けで出願されたドイツ特許出願No.102006017621.9−43、発明の名称「単結晶または多結晶材料、特に多結晶シリコンの製造方法」を基礎として優先権主張されている出願である。この優先権主張の基礎となる出願はその開示内容の参照書類として本願書類中に含まれている。 Download PDF

Info

Publication number
JP2007284343A
JP2007284343A JP2007099038A JP2007099038A JP2007284343A JP 2007284343 A JP2007284343 A JP 2007284343A JP 2007099038 A JP2007099038 A JP 2007099038A JP 2007099038 A JP2007099038 A JP 2007099038A JP 2007284343 A JP2007284343 A JP 2007284343A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
crucible
heating element
section
web
planar heating
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2007099038A
Other languages
English (en)
Other versions
JP4533398B2 (ja
JP2007284343A5 (ja
Inventor
Matthias Mueller
ミューラー、マチアス
Markus Finkbeiner
フィンクバイナー、マルクス
Uwe Sahr
ザール、ウベ
Ingo Schwirtlich
シュビルトリッヒ、インゴ
Michael Clauss
クラウス、ミヒャエル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Schott AG
Original Assignee
Schott AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Schott AG filed Critical Schott AG
Publication of JP2007284343A publication Critical patent/JP2007284343A/ja
Publication of JP2007284343A5 publication Critical patent/JP2007284343A5/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP4533398B2 publication Critical patent/JP4533398B2/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B29/00Single crystals or homogeneous polycrystalline material with defined structure characterised by the material or by their shape
    • C30B29/02Elements
    • C30B29/06Silicon
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B11/00Single-crystal growth by normal freezing or freezing under temperature gradient, e.g. Bridgman-Stockbarger method
    • C30B11/003Heating or cooling of the melt or the crystallised material
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B35/00Apparatus not otherwise provided for, specially adapted for the growth, production or after-treatment of single crystals or of a homogeneous polycrystalline material with defined structure
    • C30B35/002Crucibles or containers
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/18Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof
    • H01L31/1804Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment of these devices or of parts thereof comprising only elements of Group IV of the Periodic Table
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/546Polycrystalline silicon PV cells
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02PCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
    • Y02P70/00Climate change mitigation technologies in the production process for final industrial or consumer products
    • Y02P70/50Manufacturing or production processes characterised by the final manufactured product
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T117/00Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
    • Y10T117/10Apparatus
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T117/00Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
    • Y10T117/10Apparatus
    • Y10T117/102Apparatus for forming a platelet shape or a small diameter, elongate, generally cylindrical shape [e.g., whisker, fiber, needle, filament]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T117/00Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
    • Y10T117/10Apparatus
    • Y10T117/1024Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state
    • Y10T117/1076Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state having means for producing a moving solid-liquid-solid zone
    • Y10T117/108Including a solid member other than seed or product contacting the liquid [e.g., crucible, immersed heating element]
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T117/00Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
    • Y10T117/10Apparatus
    • Y10T117/1024Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state
    • Y10T117/1076Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state having means for producing a moving solid-liquid-solid zone
    • Y10T117/1088Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state having means for producing a moving solid-liquid-solid zone including heating or cooling details
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T117/00Single-crystal, oriented-crystal, and epitaxy growth processes; non-coating apparatus therefor
    • Y10T117/10Apparatus
    • Y10T117/1024Apparatus for crystallization from liquid or supercritical state
    • Y10T117/1092Shape defined by a solid member other than seed or product [e.g., Bridgman-Stockbarger]

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
  • Silicon Compounds (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Saccharide Compounds (AREA)

Abstract

【課題】垂直勾配凝固法を用いた単結晶あるいは多結晶材料、特に光電池用途のシリコンの製造方法及び装置を提供し、及び坩堝断面を多角形、特に矩形あるいは四角形形状に構成することにより材料の損耗を低減する。
【解決手段】坩堝周囲に均質でない温度分布を形成する平坦な平面状発熱体、特にジャケットヒーターを設置する。この温度分布を坩堝の中心に形成される温度勾配に対応させる。平面状発熱体の熱出力を坩堝の上端から下端へ向けて減ずる。平面状発熱体を縦方向あるいは水平方向へ蛇行して延びる複数の平行な加熱ウェブで構成する。これらウェブからの熱出力を導体断面を相違させることによって設定する。坩堝の角部分における局部的過熱を防止するため、ウェブが蛇行して延びる転回ゾーンにおいて断面を狭窄する。平面状発熱体は複数の相互接続された独立分節から作製可能である。
【選択図】図1

Description

本発明は、概して垂直勾配凝固法(以下、VGF法と記載する)を用いた比較的大形の単結晶あるいは多結晶材料ブランク、特に光電池用途用の多結晶シリコン、単結晶フッ化物及び単結晶ゲルマニウムの製造に関する。
太陽電池は太陽放射線エネルギーを最も高い効率で電流へ変換する変換能力をもつ。この変換効率は、特に出発材料の純度、結晶化中における不純物の坩堝・結晶接触面から結晶内部への侵入、周辺大気からの酸素及び炭素の結晶内部への侵入等の複数のファクターによる他、さらに個々の結晶粒子の成長方位によっても決まる。
大量の溶融シリコンを凝固させてインゴットを形成する公知の製造方法に共通する特徴は、熱が結晶溶融液の底部から消失するため結晶が該底部から上方へと成長することである。通常凝固は急速に起こり、また種結晶を用いないことから、結晶は単結晶としては成長せず、多結晶となる。個々の結晶粒子が局部的に形成される温度勾配に沿って成長し、これら複数の結晶粒子から成る結晶塊が形成される。
ここで、シリコン溶融液中の温度域の等温線が平面的でなく、坩堝底部に対して平行、すなわち水平状でないならば、平面状相界面は形成されず、個々の粒子は互いに対して平行に、及び底部から上方へと垂直方向には成長しない。このような成長には単結晶領域内であっても線状結晶欠陥の形成が伴う。このような望ましくない結晶欠陥は、例えばシリコンウェハーの表面をエッチング仕上げすることによって食刻された窪みとして可視化させることができる。従って上述したような線状結晶欠陥が多数ある場合には食刻密度は高くなる。
食刻窪みの最小化は複数のファクターによって影響されるが、とりわけ平面状相界面の形成がずっと求められてきたことは周知のことである。従って、食刻窪みの密度は平面状相界面を用いたSi粒子の柱状成長の達成度を示す尺度となるものである。大量生産に適する最初の方法としてHEM法(熱交換法)が確立されて以来、坩堝底部にほぼ点状の熱窪みができる欠点を解消し(例えば米国特許4,256,530より公知)、溶融シリコン中において熱を上部から下方へと垂直方向へ流す試みが為されてきた。
それゆえ、第一段階として、坩堝底部の全面に亘って広がる熱窪みを形成することを目的とした種々解決方法が提案されている(例えばEP0631832、EP0996516、DE19855061参照)。本発明は、このような平面的な熱窪みが形成されるという仮定に基づくものである。
太陽電池を可能な限り安価に製造するためには、シリコンインゴット全体がさらに加工可能であることが要求される。しかしながら、そのためには製造方法に制限が加えられる。かかる制限は、一方において坩堝壁に由来する不純物がシリコン溶融液内部へ拡散すること、また他方において偏析によってシリコンインゴットの上側に不純物が蓄積するためシリコンインゴットの縁部分を定期的に取り除くことが必要となることによるものである。また、太陽電池の基本形状が一般的に矩形であることも制限となる。すなわち、かかる形状であることにより、シリコンインゴットを所望の断面形状へ切断することが必要とされる。またこの際に生ずる損耗は可能な限り少ないことが望ましい。
溶融物から多結晶シリコンを製造する際には多量のエネルギーが消費される。そのため、製錬炉には最適段階まで使用でき、有効な断熱性をもつ性能がさらに要求される。またスペースの問題から、製錬炉の底部領域は溶融坩堝の底部領域によって可能な限り多く占められるべきである。
半導体及び半導体部品の製造のための出発材料としてシリコンの製造は経済的に極めて重要であるため、先行技術からシリコン単結晶あるいは多結晶シリコンを成長させる種々取組みが公知である。例えば、US4,256,530には、シリコン溶融液が黒鉛あるいは要素としての炭素と直接接触するとそれら黒鉛等が急速にシリコン溶融液中へ拡散してしまうため、シリコン溶融液がそれら黒鉛等と直接接触しないように、2層化された壁を備えた溶融坩堝を用いてシリコン単結晶を成長させる方法が開示されている。
結晶中における転位密度を最小限に抑えるため、結晶成長中は、固体・液体間の相界面が可能な限り平面となり、該界面が結晶化方向に対して横方向へ延びることを確保できるように注意が払われなければならない。そのためには、放射状に広がる熱放射が可能な限り少なく保持されなければならない。WO01/64975A2においては、溶融容器の底部とその上部開口部との間に平面状相界面を形成するために、垂直に広がる軸方向の温度勾配が与えられ、溶融容器の側壁を通した熱の消失を防止する方策が採られている。そのため、望ましくない制御不能な熱流出を妨げる方策として、すべてのヒーターが溶融容器を取り囲む断熱材から成るジャケット中に収められている。また、さらに熱の放射状流出を妨げる追加的方策としてジャケットヒーターと坩堝の間に断熱材からなるジャケットが配置される。このように構成することにより、上部ヒーター及び底部ヒーターによって軸方向の温度分布が形成される。
EP1147248B1には、溶融物から単結晶を成長させる単結晶の製造装置が開示されている。この装置では、炉は回転対称型に設計され、溶融容器周囲には楔形状の断熱体が設けられ、断熱効果は該容器の縦方向に上部ヒーターから底部ヒーターへ向けて減じられている。その結果、底部ヒーター近くでの熱ロスはカバーヒーター近くの熱ロスよりも大きくなる。これにより、溶融容器の縦方向に上部ヒーターと底部ヒーターの温度差によって定まる温度勾配が保持される。断熱体によっても溶融容器の半径方向への熱流出が大きく制限され、これによって平面状相界面が形成される。
US2004/0079276の対応出願であるDE10239104A1には、VGF法あるいは垂直ブリッジマン法用の結晶成長炉が開示されている。溶融容器の周囲に2個のジャケットヒーターあるいは平坦な平面ヒーターが同軸上に一方が他方の上になるように配置されている。さらに、ジャケットヒーターと溶融容器との間の空間には半径方向の温度差を測定するための測定装置が備えられている。ジャケットヒーターの熱出力は半径方向において測定される温度差がゼロになるように調節装置によって設定される。このような構成によって平面状相界面が形成されることにより高品質かつ低転位性のシリコン単結晶が製造される。
先行技術によれば、多結晶シリコン用結晶化装置のヒーター及び外側輪郭は一般的に回転対称型、すなわち輪郭が環状である。通常四角い形状をしている坩堝がこの円形ヒーターで取り囲まれるため、角部分において過熱が起こることが問題となる。そのため熱応力が生じ、回避されることが望まれる角部分における薄片の生成及びこれによりかなりの量の損耗が生ずる。典型例として、大形フッ化物単結晶及びゲルマニウム結晶の製造においては、円形の坩堝中において丸い結晶が製造される。このような坩堝は、熱放射に関する限り上部と下部に温度差が生じない円筒形ヒーターで取り囲まれている。
従って、本発明は、VGF法を用いた高品質かつ低転位性な単結晶あるいは多結晶材料ブランク、特に多結晶シリコン、大形フッ化物単結晶及びゲルマニウム単結晶の安価な製造装置及び製造方法を提供することを目的とする。
本発明の上記目的及び他の目的は、本発明に従って、請求項1項に限定された特徴をもつ装置及び請求項16項に限定された特徴をもつ方法を提供することによって達成される。他の有利な実施態様は従属請求項の特徴として特許請求の範囲に記載されている。
従って、本発明は、固定型坩堝及び該坩堝中においてシリコンを溶融させる加熱装置を備える装置に関する。本発明では、この加熱装置及び/または該装置用のいずれかの断熱体は坩堝中の縦方向に温度勾配が形成されるように設計される。このような温度勾配は、通常坩堝の基部あるいは底部の温度をその上部よりも低く保持することによって得られる。さらに、この種の装置においては、縦方向に対して垂直方向、すなわち水平方向に外側へ向かう熱流を抑制するために、加熱装置には平坦あるいは平面状のヒーター(以下、ジャケットヒーターと称する)が用いられる。
本発明によれば、前記ジャケットヒーターあるいは平らな平面ヒーターは単一ゾーンヒーターであり、少なくとも坩堝中に形成される温度勾配の保持に役立つように、上部から底部へ向かって縦方向に熱出力が減少するように構成される。言い方を変えれば、坩堝の縦方向にジャケットヒーターの熱出力を連続的あるいは不連続的に変えることにより、坩堝中に所定の温度勾配を形成することが少なくとも補助される。この温度勾配は、それ自体周知であるように、上部ヒーターと底部ヒーターの温度を異ならせることによって溶融坩堝中に形成される。この場合、溶融坩堝の基部あるいは底部における底部ヒーターの温度は、特に処理対象となるシリコンの溶融温度よりも低く設定される。この場合、便宜上、底部ヒーターは必ずしも坩堝の基部全体に亘って広がっている必要はない。結晶化される材料、例えばシリコン中への平面状相界面の形成は、坩堝の基部全体に亘って広がる底部ヒーターを用いて最も正確に実現可能であるが、実用場面において、冷却装置と連動する小面積の底部ヒーターの配置を可能とする坩堝据付板をヒーターと坩堝の間に配置することによっても実現可能である。これにより、本発明に従って、溶融坩堝の縦方向にジャケットヒーターの異なる熱出力によって上部と底部との間の温度勾配を再現することにより、坩堝の断面全体に亘り、特に多角形の坩堝の角部分において、既に結晶化したシリコンと猶溶融しているシリコンとの間に平面状相界面、すなわち水平に広がる相界面が形成される。従って、本発明に従えば、石英坩堝を取り囲む黒鉛坩堝によってジャケットヒーターによって生成される温度分布が十分に均質化されることから、坩堝とジャケットヒーターの間に絶縁体は必要とされない。ここで十分な均質化とは、特に外側坩堝材料である黒鉛が高い熱伝導性をもつ結果、ジャケットヒーターによって放射された熱の局部差が平準化されることを意味している。このようにして黒鉛坩堝中に生成された縦の温度分布は熱転位性の低い石英坩堝の坩堝壁を通して実質的に変化することなく石英坩堝の内壁へ移される。溶融シリコンと石英坩堝との接触面では、温度は上部から下方へ向かって単調かつほぼ直線的に低下する。その結果、断熱材層が用いられないにも拘わらず、結晶化したシリコンと猶溶融しているシリコンとの間に平面状の水平相界面を確保することが可能である。結晶系の外寸が同じであれば坩堝の断面が全体として大きくなってより大形のシリコンインゴットを提供できるため、コスト面で極めて有利である。ジャケットの高さ全体に亘って一定の調節可能な温度分布をもつ本発明に従った単一ゾーンジャケットヒーターは、約250mm以上、特に約300mm以上、さらに好ましくは350mm以上の高さをもつ石英坩堝が用いられる場合において、多結晶シリコンの製造に特に有利である。また、前記ジャケットの高さ全体に亘っての一定の調節可能な温度分布をもつ単一ゾーンジャケットヒーターの使用は、約200mm以上の高さをもつ結晶が製造される場合において、フッ化物単結晶及びゲルマニウム単結晶の製造に特に有利である。
本発明に従って、ジャケットヒーターの熱出力は、簡単な方法、例えばジャケットヒーターの断面形状を変更することによって適切に調整可能である。特にこの方法では、ジャケットヒーターを坩堝の形状に基づく熱特性へ容易に適合させることが可能である。
好ましくは、坩堝はその断面形状が多角形、特に好ましくは矩形あるいは四角形となるように作製される。これにより、多角形、特に矩形あるいは四角形の形状をもつ素子、好ましくはシリコン素子を、損耗が少量となる有利性を伴ってシリコンインゴットから切り出すことが可能となる。従って、本発明に従った装置は、多結晶シリコンの製造に回転対称型溶融坩堝を用いる従来概念から根本的に逸脱したものである。従来技術と異なり、坩堝周囲に配置されるヒーターの輪郭は坩堝の輪郭と同一である。例えば、坩堝が四角形形状を呈している場合には、四角形形状のヒーターによって取り囲まれる。そしてヒーターと坩堝との間への従来用いられていた断熱材の使用は省略される。
別の実施態様においては、前記単一ゾーンジャケットヒーターの熱出力が坩堝の中心の温度勾配に対応して該坩堝の上部から底部へ向かって縦方向に減じられる。特に、ジャケットヒーターの熱出力は、坩堝中の温度勾配が低下するのと長さ単位で正確に同じ割合で低下する。本発明によれば、坩堝の中心にある温度勾配を該坩堝の周囲全体に亘ってそのまま、特に比例的に再現することは、坩堝の断面全体に亘って、特に坩堝の角部分において、既に結晶化したシリコンと猶溶融しているシリコンとの間に平面状相界面を確保するために簡単な方法となる。
別の実施態様においては、ジャケットヒーターによって複数の平面的等温線が坩堝の縦方向に対して垂直に設定あるいは保持される。坩堝の断面全体に亘って平面状相界面が形成されることによる有利な点として、結晶の欠陥が減少し、そのため本発明に従って製造されるシリコンウェハーのエッチング窪み密度が低下することがある。
別の実施態様においては、坩堝壁とジャケットヒーターが坩堝周囲全体に亘って広がる面との間の間隔は一定とされる。これにより、坩堝壁の数箇所に局部的加熱が起きて相界面に歪みが生ずることを防止することができる。特にこの方法では、ジャケットヒーターを坩堝の周囲全体に亘って一様に配置することが可能である。この実施態様に従えば、ジャケットヒーターの断面を従来技術に従った回転対称構成から全く逸脱した多角形形状とすることができ、特に好ましい実施態様においては該断面を矩形あるいは四角形形状とすることが可能である。
特に矩形あるいは四角形の断面形状をもつ坩堝の場合、単位容積当りの放射面が大きいために、より多くの熱損失が起こる。このような熱放射損失の増大は断面が矩形あるいは四角形でない多角形坩堝においても程度は穏やかであるが生ずる。このような望ましくない熱損失の増大を補償するため、坩堝の角部分においてジャケットヒーターの熱出力を高くするか、あるいは坩堝の角部分における坩堝壁とジャケットヒーターとの間の間隔を狭くすることが可能である。この場合、前記角部分におけるジャケットヒーターの熱出力は連続的に増加させるか、あるいは1または2以上の不連続な段階を経て増加させてもよい。あるいは、坩堝壁とジャケットヒーターとの間の間隔を連続的に、あるいは1段階または複数段階に分けて狭窄してもよい。特に、ジャケットヒーターを、坩堝の中心から坩堝の各角部分へ延びる仮想上の延長線上において最小距離となる角部分において連続的に湾曲するように具現化することも可能である。
また別の実施態様において、特に矩形あるいは四角形の断面形状をもつ坩堝の場合、ジャケットヒーターは坩堝側面周囲に配置されるヒーターから構成される。このヒーターは坩堝の縦方向にあるいはそれに対して垂直方向へ蛇行して(折れ曲がって)延びている。このようにして、坩堝壁に対する比較的均質な熱衝突が得られ、さらに溶融坩堝中の温度勾配に対応して簡単な方法でジャケットヒーターの電子的配置を変更することができる。この際、蛇行して延びるジャケットヒーターのウェブ間の隙間幅は、効率的に熱を伝達する黒鉛坩堝壁それ自体によって温度分布が十分に滑らかになるように適宜選定される。従って、ジャケットヒーターのウェブ間の隙間幅も坩堝の内側材料、特に石英坩堝、及び坩堝の外側支持材料、例えば黒鉛坩堝の熱伝導性に依存して定まる。
第一の実施態様においては、発熱体は縦方向に対して垂直に延びる矩形ウェブとして構成され、これらの発熱体は坩堝の縦方向へ蛇行して延び、該発熱体の導体断面は坩堝の上端から下端へ向かって不連続な数段階を経て狭窄されている。このような構成に配置されるジャケットヒーターは予め形状化された黒鉛からなる個々の部品を単純に連結することにより、あるいは適当な熱伝導性材料を適当な形状に鋳造することによって作製可能である。
この場合、ジャケットヒーターのウェブは便宜上互いに等間隔で平行に蛇行して延びている。水平に、あるいは縦方向に対して垂直に延びるウェブによって、坩堝の周囲全体に亘って同じ高さで延びる等温線が画定されるため、坩堝中に平面状の水平相界面が自動的に形成される。この場合、ウェブが延びる方向は坩堝の角部分に対向して位置している転回ゾーンにおいて逆向きとなる。従って、これら転回ゾーンの形状、特にこれらゾーンの導体断面は、坩堝の角部分における熱的条件を選択的に特定するための簡易なパラメータとなる。
特に、矩形あるいは四角形の断面形状をもつ坩堝においては、ジャケットヒーターは坩堝の側面周囲に配置される発熱体から成り、この発熱体は坩堝の縦方向に、あるいは該縦方向に対して垂直に蛇行して延びている。かかる構成により、坩堝壁に対して相対的に均質な熱の衝突が得られ、ジャケットヒーターの電子的配置を溶融坩堝中の温度勾配に対応させて簡易な方法で変更することが可能となる。この場合、蛇行して延びるジャケットヒーターの隙間幅は、効率的に熱を伝導する黒鉛坩堝壁それ自体によって温度分布が十分滑らかになるように考慮して選択される。従って、ジャケットヒーターのウェブ間の隙間幅も、特に坩堝内側材料(例えば石英坩堝)及び外側支持坩堝(例えば黒鉛坩堝)の熱伝導性によって定まる。ここで隙間幅は、坩堝壁によって引き起こされる坩堝壁上の温度分布の差異が所定の温度差、例えば好ましくは5K未満、より好ましくは例えば2K未満、さらに好ましくは例えば1K未満、よりも小さくなるように適宜選択される。
特に、矩形あるいは四角形の断面形状をもつ坩堝においては、前記角部分へ所望の平面的等温線を確保するため前記角部分へ特別な処置を行うことも可能である。前記転回ゾーン内の対角線部分においては、導体断面を減ずるさらなる方策を講じることなく、水平方向へ蛇行する加熱ウェブの場合には垂直方向の加熱ウェブへ転換するだけで、導体断面を局部的に増大させて熱出力を減じ、ヒーター上の表面温度を連続状に減ずることが可能である。これは、坩堝の縦座標に沿って等温性がもはや保証されないことを意味している。それゆえ角部分において望まれない温度低下が不利な影響(角部分における応力、それによって生ずる高い欠陥密度及び微小クラック、その結果としての収率低下)を伴って起こる可能性がある。このような縦方向に沿った所望の熱伝導平衡(等温作用)からの逸脱は本発明に従って種々方法により補正することが可能である。坩堝の角部分における坩堝壁とジャケットヒーターとの間の間隔は、熱伝導平衡は基本的に結晶相中にのみ要求されるため、連続的にあるいは数段階を経て減ずることが可能である。特に、ジャケットヒーターは角部分において連続的に湾曲し、坩堝の中心から角部分へ延びる仮想延長線上において最小間隔となるように形状化することが可能であり、この最小間隔は当該角部分の外側の坩堝壁部分における間隔よりも小さい。
好ましい別の実施態様においては、ウェブの導体断面は蛇行進路の転回ゾーンにおいて、各展開ゾーンの前後にあるウェブの導体断面と等しくなるように対角線方向に狭窄される。これにより電気抵抗が維持され、ウェブの転回ゾーン内において、水平に延びるウェブ領域中と同じ熱出力あるいは表面温度が生ずる。
さらに別の実施態様においては、転回ゾーンにおける前記導体断面の狭窄はウェブ材の中あるいは外にある複数の打抜き穴あるいは窪みによって制御される方式で行われる。これらの打抜き穴あるいは窪みは導体断面に対して横方向に分布するように配置される。このようにして、打抜き穴あるいは窪みの形状及び寸法によって転回ゾーン内の導体断面あるいは電気抵抗をウェブのそれらへ適合させることが可能となる。ここで打抜き穴あるいは窪みの進行方向は種々変形可能であり、いずれによっても各高さ座標において坩堝周辺全体に亘る水平温度分布を一様化することが可能である。ウェブが全体的に矩形状に延びる場合には、打抜き穴あるいは窪みを特にウェブの角部分をつなぐ対角線の一つに沿って延ばすことが可能である。全体として、前記複数の打抜き穴あるいは窪みは2つの隣接ウェブ間の隙間の中心にある仮想的鏡軸に対して鏡面対称的あるいはほぼ鏡面対称的に広がっていると有利である。
本発明の第二の実施態様では、発熱体は縦方向に延びる矩形のウェブとして配置される。これら発熱体の導体断面は坩堝の上端から下端へ向かって連続状に、あるいは不連続な複数段階を経て増大される。この場合、縦方向、あるいは縦方向に対して垂直に延びるすべてのウェブも同様に具現化されるので、坩堝の縦方向に見た場合、複数の平面的な水平等温線がジャケットヒーターによってある程度連続的、あるいは不連続的に画定される。この際、上述したように、ウェブ間の隙間幅は、坩堝の効率的な熱伝導材料によってジャケットヒーターのウェブ間の温度分布が十分一様化されるように選択される。いずれの場合においても、ウェブ間の領域においては、坩堝の増加する縦座標内での単調かつほぼ直線的な温度上昇からの逸脱は起こらず、この坩堝においては結晶化される材料が内側坩堝壁と接触するに至る位置がそれぞれ考慮される。
さらに別の実施態様では、ジャケットヒーターは、例えば局部的な損傷が起こった場合、あるいはジャケットヒーターの配置変更が必要とされた場合に、任意に取り外し、あるいは別の分節と置換えることができるように個別の分節から作製される。このような部品集合設計は蛇行して延びる複数の加熱ウェブから成るジャケットヒーターに特に有用であることが実証されている。かかる構成においては、前記分節は、接続方式及び材料種の選択に関してある程度の妥協が要求される接続点あるいはつなぎ目において電流が妨げられないように接続されなければならない。特に、これらの分節は例えば同一あるいは僅かに高い熱膨張係数をもつ楔状体、ストッパーあるいはピン等の接続部材を用いて、あるいは他の押込みロック、摩擦ロック、あるいは非押込みロック部材、特に螺子またはリベットを用いて相互に取り外し可能に接続できなければならない。別の実施態様において、これら分節を例えばハンダ付けまたは溶接によって相互に接着して確実に結合することも可能である。
さらに別の好ましい実施態様においては、坩堝壁とジャケットヒーター間に断熱材は用いられない。この構成では、同じ断面形状をもつジャケットヒーターを用いて坩堝壁をジャケットヒーターの近くまで引き寄せることにより、同一の結晶化系ベースを用いてより大形の断面をもつシリコンインゴットを製造することができる点で有利である。
上述したように、本発明の別の観点においては、結晶成長されるシリコンの溶融温度の等温線によって溶融坩堝を水平方向に横切るように坩堝中の温度分布を設定する単一ゾーンジャケットヒーターを用いた垂直勾配凝固法(VGF法)による多結晶シリコンの製造方法が提供される。この方法において、垂直温度分布を上方へ移動させると同時に炉全体を緩慢に冷却することにより、結晶化部分が垂直方向へ延びるシリコンの定方位結晶化が達成される。
この方法において結晶欠陥を最小限に抑えるためには、理想的には放射状の熱流が全く生じないように注意が払われなければならない。この対策は坩堝のジャケット面の周囲へ最も理想的な断熱体を与えることによって従来行われてきたが、本発明においては、坩堝周囲に配置されたジャケットヒーターによって坩堝中の温度勾配がシミュレーションされる。そのため、本発明によれば、坩堝及びヒーターを構成するシステムコンポーネントを結晶化装置の外壁から断熱し、及び狭い連結ゆえの急速な熱転移が起こる環境から断熱するために要する労力が軽減される。それゆえ、プロセスの遅延時間が短縮されることによりプロセス制御の可能性が大幅に向上される。
本発明はさらに別の観点として、上述した結晶化系の利用、あるいは特に光電池に用いる多結晶Siウェハーの出発材料としの多結晶シリコンの垂直勾配凝固結晶成長法(VGF)による製造のための対応結晶化方法にも関する。
次に、本発明について実施例を用いて添付図面を参照しながら説明する。なお、これら図面から本発明のさらなる特徴、利点、及び達成されるべき目的が明らかとされる。また、図における同一符号は、同一部材または部材の集合体を表すか、あるいは実質的に同等な技術的機能を果たす部材または部材の集合体を表す。
図1は四角形の断面をもつ坩堝を含む垂直勾配凝固結晶化装置の一例を示した図である。図1においては、坩堝は石英坩堝2から作製され、この石英坩堝は対応形状をもつ支持体としての黒鉛坩堝4内に密着状態で収容されている。それゆえ、坩堝2内に収容されたシリコン3は黒鉛坩堝4と接触することはない。坩堝は、坩堝壁が重力方向に沿って延びるように直立状態で配置される。坩堝の上方及び下方には、上部ヒーター6あるいは底部ヒーター5がそれぞれ設置され、坩堝と底部ヒーター5との間には例えば黒鉛から成る坩堝取り付け板40が設置される。図にはこの取り付け板は模式的にのみ示されている。この場合、実際の坩堝支持体は底部ヒーター5と坩堝を支持する坩堝取り付け板40との間に狭い隙間が形成されるように設置される。坩堝のコア領域は、以下において詳述するジャケットヒーター7、すなわち平面状の扁平な加熱装置で取り囲まれている。VGF結晶化法を用いる場合、すべてのヒーター5〜7は温度制御される。そのため、それらヒーターの表面温度は図1に例示されているような適当な箇所において高温計9a〜9cを用いて測定され、制御装置へ入力され、この制御装置によってヒーター5〜7を一定電流が通過するように制御される。
シリコン溶融液を結晶化させるため、底部ヒーター5及び上部ヒーター6は、上部ヒーターが処理されるシリコンの溶融温度より高い温度に保持され、また底部ヒーター6は処理されるシリコンの溶融温度よりも若干低い温度となるようにまず調節される。これにより、まず坩堝底部において結晶化が起こる。底部ヒーター5は坩堝の底部全体に亘って延びているため、シリコンは坩堝の中心だけでなく、坩堝の底部全体においても微結晶状態で結晶化する。次いで、坩堝中の溶融液が継続的に上方へ結晶化するように図示された3個のヒーターそれぞれの温度が他のヒーターと同時に下げられる。この際、既に結晶化したシリコンと猶溶融しているシリコンとの間に相界面が平面状、すなわち重力方向に対して垂直方向へ広がる。
図1に示すように、坩堝壁2、4とジャケットヒーター7との間にはそれ以上の断熱処理は不要である。それに代えて、以下において詳述するように、ジャケットヒーターを適当な外形とすることにより、坩堝中において上部ヒーター6と底部ヒーター5によって形成された温度勾配がジャケットヒーターからの熱出力によって持続あるいは保持されることが確保される。そのため、シリコン溶融液を徐々に結晶化させる間、ジャケットヒーターからの熱出力は部分的には一定とされず、坩堝の縦方向にその上端から下端へと、すなわち坩堝の中心の温度勾配に対応して減じられる。
図2は本発明の第一の実施態様に従った矩形形状の輪郭をもつ複数の加熱ウェブから成るジャケットヒーター部分を示した図である。このジャケットヒーターは坩堝の縦方向に蛇行上に(曲がりくねって)延びている。より詳細には、図2に従った各ジャケットヒーター分節は、ウェブ10〜13が正確に水平かつ坩堝の縦方向に対して垂直に延びるように一定間隔を置いて坩堝壁へ設置される。ウェブ10〜13の進行方向は転回ゾーンにおいては逆向きとなる。図2に示すように、ウェブ10〜13の断面は坩堝の上端から下端へ向かって不連続な段階を経て増大されている。従って、上端のウェブ10の熱出力が最も高く、ウェブ11、12の導体断面によって熱出力は不連続的かつ段階的に減少し、ウェブ13の断面では最も低い熱出力となる。
別の実施態様(図示せず)においては、ウェブ10〜13の幅は一定とされるが、図2の平面に対して垂直方向へ観た場合、それらウェブの厚さは坩堝の上端から最下端へと不連続的かつ段階的に増大されている。
複数のジャケットヒーター分節から成るジャケットヒーターを通して一定電流が流される。この時、水平に延びるウェブ10、11、12及び13によって等温線(等温平面)が画定され、この等温線は坩堝の幅全体に亘って広がる。このような図2に従った複数のジャケットヒーターが坩堝周囲に等間隔で設置されることにより、ウェブ10〜13によって画定される等温線が坩堝の断面全体に亘って広がり、かかる状態において平面状の水平な等温面が確立される。
図2においてジャケットヒーター7は4個の横方向のウェブから成っているが、本発明において用いる加熱ウェブの個数はいかなる数であってもよい。加熱ウェブの最適数は所望する坩堝中及び坩堝壁上の温度分布の均質性によって決められる。この場合、ジャケットヒーターの具体的構成はウェブ10〜13間の隙間幅14a〜14c、選択されるジャケットヒーター7と坩堝壁との間隔、及び坩堝壁の熱特性によって定まる。この際、適当な厚さをもつ効率的に熱を伝導する黒鉛坩堝4(図1参照)及びその中に配置される石英坩堝によって縦方向の温度分布がある程度滑らかにされる。上記パラメータは、シリコンと石英坩堝の側部内壁との間の界面における温度分布においてジャケットヒーターの1ウェブの位置が実質的に決定できなくなるように選択される。
ウェブの長さ1、ウェブの幅b(iはそのウェブに関する延べ指数を指す)、及び(図2に示した面に対して垂直方向の)厚さdをもつ図2に従ったジャケットヒーターの場合、指数iの加熱ウェブの電気抵抗は下記式で表される。
Ri〜1/Ai
式中、Ai=bi×d
そして、その断面積には下記不等式が適用される。
A1<A2<A3<A4
これにより、個々の蛇行には下記不等式が適用される。
R1<R2<R3<R4
従って、下記不等式となる。
T1<T2<T3<T4
従って、縦方向に上方へ向かって不連続的かつ段階的に温度が上昇する温度分布が得られる。蛇行状発熱体を通して一定電流強度が流れると、断面の大きいウェブ(電気抵抗が小さい)中には、断面の小さいウェブ(電気抵抗が高い)中に生ずる温度よりも低い温度が生ずる。
当業者には容易に理解されるように、導体断面中を通ってウェブからウェブへと電流が流れる該導体断面の変更は、上述したように、ウェブ幅bを変えるのではなく、ウェブの厚さdを変えることによって果たされる。
例示的実施態様においては、図2に従って、下記面積比が確立される。
A1/A1 1
A2/A1 1.055
A3/A1 1.11
A4/A1 1.165
これらの面積比から下記抵抗比が得られる。
R1/R2 1
R2/R1 0.948
R3/R1 0.901
R4/R1 0.858
図2から明らかなように、転回ゾーン15〜17において加熱導体の幅を同じやり方で変えることも可能である。従って、転回ゾーン15の幅は転回ゾーン16の幅よりも狭く、また順に、転回ゾーン16の幅は転回ゾーン17の幅よりも狭くなる。転回ゾーンの幅は形成される温度分布に従って変えられる。
図2に従ったジャケットヒーター7の転回ゾーン15〜17について考えた場合、電流が材料中を流れる該材料中に局部的な断面の拡大が生ずる。何も対策を取らなければ、このような断面の拡大により坩堝の角部分が低温となる。本発明によれば、このような低温化は、転回ゾーン中の導体断面を選択的に狭窄することによって防止される。特に、このような導体断面の狭窄によって、例えば容積単位当りの放射面積が大きくなることによって生ずる高い熱放射ロスによる坩堝の角部分における熱ロスの増加を補償することが可能である。
図3aにおいては、複数の打抜き穴または窪み18が各転回ゾーンの対角線上に対角線に正確に沿って配列されている。全体的には、これら打抜き穴あるいは窪み18は隙間14aの中心線に対して鏡面対称的に配列される。自明であるが、これら打抜き穴あるいは窪みを複数の列状に配列することも可能である。これら打抜き穴あるいは窪みの配列及び個数を選択して、水平方向に延びるウェブ10、11とそれらに付随する転回ゾーン間に適する抵抗比を与えることが可能である。
図3bに示した実施態様では、矩形の窪みが対角線に沿って配列されている。この場合、s/b比を選択することによって最適抵抗比を設定することが可能である。
図3cでは、収縮窪みが対角線に沿って配列され、窪み20の間にはエッヂの内側へ湾曲した凹状部が設けられている。このような窪み11、20は特に加熱導体部材をミリングすることによって作製可能である。
前記ジャケットヒーターのウェブは好ましくは黒鉛を用いて作製される。本発明においては、底部の大きさが680×680mmの坩堝、あるいはさらに大きな坩堝が使用されるが、ジャケットヒーターのウェブの製造に用いられる大形の黒鉛ブロックの入手は全く不可能であるか、あるいはかなりの高額な価格でのみ入手可能であるため、別の実施態様においては、以下において図4a〜4dを参照して説明される複数の小形の分節として作製されるジャケットヒーター分節から成るウェブが作製される。この際、ジャケットヒータ分節間及び前記小形分節間の接合部を流れる電流が可能な限り妨げられることがないよう確保すべく注意が払われなければならない。この目的のため、矩形形状をした押込みロック型噛合い連接部材が用いられる。
図4aの実施態様では、加熱分節100、101の末端は、これら2つの分節100、101間に段状の接続面が形成されるようにほぼL形に形状化されている。図4bの実施態様では、分節100の末端中央にU字形の窪みが配置され、分節101の対向末端には分節100の前記窪み中へぴったり嵌る逆U字形の突起103が形成されている。その結果、分節100、101間に中央に突起を含む接続面102が形成される。図4cの実施態様では、分節100、101の末端に接続部材104を収容するための矩形の窪みが配置されている。
図4dは図4aに示した接続方式を透視図で示した図であり、この図では分節100、101中へ円筒形状の接続部材104が貫入されている。接続部材104は分節100、101に用いられる材料を用いて作製可能である。分節100、101中への接続部材104の噛み合いは押込みロック、摩擦ロック、あるいは非押込みロックのいずれでもよい。接続部材104を、分節100、101に用いた材料と同じあるいは若干高い熱膨張係数をもつ他の材料で作製することも可能である。
黒鉛から成る2つの矩形加熱分節を図4dに示した方式で接続して図4dに示した点線に沿って温度分布を最小識別間隔で測定した。侵食を防止するため、測定は電流を通しながら常圧下で後続の作業温度よりも低い温度で実施した。しかしながら、この低温レベルにおいて測定された温度分布は、後続するより高い作業温度レベルへ完全に置き換えることが可能である。
図5から理解されるように、接続部分あるいは接合部における温度変動の大きさはおよそ±5℃の範囲内である。
多結晶シリコンインゴットの製造に際しては、溶融坩堝内部へ塊状あるいは粒状シリコン原料が満たされる。望ましくない空気中の酸素を除去するため、図1に従った装置は例えばアルゴン等の不活性ガスを用いて洗浄される。次いで、真空下あるいは常圧下で、上部ヒーター、底部ヒーター及びジャケットヒーターを位置決めしてから電力を通してシリコンの溶融が開始される。数時間後、温度は1550℃未満の溶融温度以上の温度に達し、溶融は完了する。次いで底部ヒーターの温度が溶融温度より少なくとも10℃低い所定温度まで下げられる。これにより溶融坩堝の底部において結晶成長が開始される。短時間の後、平衡した温度分布が形成され、開始された結晶成長が止まる。この状態において、上部ヒーターと底部ヒーターとの温度差は、ジャケットヒーターの上端と下端の温度差と同一である望ましい温度差となる。ここでヒーターの一台の出力を他のヒーターに正確に合わせて低下させる。この時点で複数の結晶が柱状に成長している。水平相界面に対応して結晶成長が底部から上方へと垂直方向に起こる。次いでこのようにして得られた多結晶Siインゴットは室温まで冷却されて取り出される。寸法680×680mmの四角形形状のSiインゴットはこのようにして得られる。このようにして得られた多結晶シリコンインゴットは、その結晶容積の全体に亘って結晶欠陥が少ない。
当業者には自明であるように、前記分節化された蛇行型ヒーターの設計は坩堝の上部及び下部ヒーターにも利用可能である。しかしながら、シリコンインゴットの上側及び下側は可能な限り均質に加熱されなければならないため、電流伝導部分を変更する方法はない。坩堝底部下方へ任意にヒーターを設けることにより塊状シリコンの溶融が助長され処理時間を最短化する目的が達せられる。しかしながら、原則として、結晶化処理中は坩堝底部のヒーターは不要である。
坩堝中において塊状シリコンの溶融が起こる時、坩堝上方のヒーターによっても塊状シリコンを溶融する処理時間が短縮される。結晶化処理中における坩堝上方のヒーターの役割は、ジャケットヒーターと共に坩堝全体の温度レベルを低下させて、平面状相界面上において、より正確には結晶化が起こる坩堝の高さに依存することなく、常に結晶化が起こるようにすることである。この場合ヒーターの温度低下は電子的に制御され、坩堝温度を低下させることなく為される。
電子制御可能な温度低下機能を備えたヒーター設計とすることにより、特に下記の利点が得られる。
・すべての結晶化段階において、平面状相界面を形成することによりSi粒子を柱状かつ縦方向に均質構造をもって結晶成長させることが可能となる。
・インゴット中の線状欠陥数が減少していることがSiウェハー上のエッチングピットの密度減少から確認できる。
・相界面上方における猶溶融しているSi中の対流を最小限に抑え、それによって内側がコーティングされた石英坩堝壁から溶融液内部へのSi粒子の移動を最小限に減らし、あるいは溶融Si表面から溶融液内部へのSiCの移動を最小限に減らすことにより、インゴット中への吸蔵が減少し、上記最小限化によって収率及び効率が向上する。
・インゴットの角部分における応力を抑制し、それによって角部分における欠陥密度の増加を防止することにより、後続処理において収量ロスの原因となる応力に起因した微小クラックの生成が抑制される。
本発明に従った多結晶シリコン製造装置の略断面図である。 蛇行状に延びる加熱ウェブを備えるジャケットヒーターの略全体図である。 本発明の第一の実施態様に従った導体断面の狭窄方法を示す概略図である。 本発明の第二の実施態様に従った導体断面の狭窄方法を示す図である。 本発明の第三の実施態様に従った導体断面の狭窄方法を示す図である。 図2に従ったジャケットヒーターのウェブを接続する接続手段の略全体図である。 図2に従ったジャケットヒーターのウェブを接続する別のタイプの接続手段の略全体図である。 図2に従ったジャケットヒーターのウェブを接続する別のタイプの接続手段の略全体図である。 さらに別のタイプの接続手段を示す透視図である。 図4dに従ったタイプの接続手段を用いて接続部分の全体に亘って測定された温度分布を示すグラフである。
符号の説明
1:結晶化装置
2:坩堝
3:溶融液
4:黒鉛容器
5:底部ヒーター
6:上部ヒーター
7:ジャケットヒーター
8:断熱部
9:温度センサ
10:水平ウェブ
100:第一分節
101:第二分節
102:界面
103:中央突起
104:接続部材
11:水平ウェブ
12:水平ウェブ
13:水平ウェブ
14a〜c:隙間
15:縦接続ウェブ
16:縦接続ウェブ
17:縦接続ウェブ
18:打抜き穴または窪み
19:窪み
20:窪み
21:エッヂ

Claims (33)

  1. 縦方向に見た場合に下端部及び上端部を有する多角形断面をもつ固定型坩堝(2、3)、及び
    シリコン溶融用の加熱装置(5〜7)から成り、
    前記坩堝(2,4)中において縦方向に温度勾配を形成するように構成された、垂直勾配凝固法(VGF法)を用いる単結晶あるいは多結晶材料の製造装置であって、
    前記加熱装置は、坩堝(2,4)周囲に設置され、かつ坩堝(2,4)の側面上へ長手方向あるいは垂直方向に延びるように蛇行状に配置される複数の発熱体(10〜13)を含み、長手方向に対して直角な方向への熱流を排した平面状発熱体(7)から成り、
    坩堝(2,4)の角部分における前記蛇行状に延びる発熱体の転回ゾーン(15〜17)において、平面状発熱体(7)の熱出力が他の部分よりも高くされるか、あるいは坩堝壁と平面状発熱体間の間隔が狭窄されることを特徴とする前記製造装置。
  2. 前記角部分において、平面状発熱体の熱出力を一定とするか、あるいは少なくとも1つの不連続な段階を経て増大されるか、あるいは坩堝壁と平面状発熱体間の間隔が少なくとも1つの不連続な段階を経て減じられることを特徴とする請求項1項記載の装置。
  3. 前記発熱体が矩形ウェブ(10〜13)として構成され、前記転回ゾーンにおいて前記ウェブ(10〜13)の導体断面が各転回ゾーン前後の接続ウェブの導体断面と等しくなるように対角線方向へ狭窄されることを特徴とする請求項1または2項記載の装置。
  4. 前記転回ゾーン(15〜17)における導体断面の狭窄が、ウェブ材料の中あるいは外に導体断面に対して横方向に配列された複数の打抜き穴あるいは窪みによって形成されることを特徴とする請求項3項記載の装置。
  5. 前記打抜き穴あるいは窪みが対角線方向へ配列されることを特徴とする請求項4項記載の装置。
  6. 前記打抜き穴あるいは窪みが2つの隣接する発熱体間に形成される隙間(14a)の中心線に対して鏡面対称に配列されることを特徴とする請求項4または5項記載の装置。
  7. ウェブが前記長手方向に対して垂直に延び、及びそれらの導体断面が上端から下端へ向かって不連続かつ段階的に増大されることを特徴とする請求項3〜6のいずれかに記載の装置。
  8. ウェブ長手方向に延び、及びそれらの導体断面が連続的に増大されるか、あるいは上端から下端へ向かって不連続な複数の段階を経て増大されることを特徴とする請求項3〜6のいずれかに記載の装置。
  9. ウェブ(10〜13)が等間隔で互いに平行に延びていることを特徴とする請求項7または8項記載の装置。
  10. 前記平面状発熱体の外側輪郭が、該平面状発熱体と坩堝との間の間隔が一定となるように、坩堝の外側輪郭に一致するように形状化されることを特徴とする請求項1〜9のいずれかに記載の装置。
  11. 前記平面状発熱体(7)の熱出力が坩堝(2,4)の中心の温度勾配に対応して縦方向に減じられることを特徴とする請求項1〜10のいずれかに記載の装置。
  12. 前記平面状発熱体(7)が前記縦方向に対して垂直に複数の等温面を形成あるいは保持するように構成されることを特徴とする請求項1〜11のいずれかに記載の装置。
  13. 平面状発熱体(7)によって、熱出力が上端から下端に向かって減少して坩堝(2,4)中への温度勾配形成の少なくとも一助となるように構成される加熱ゾーンが形成されることを特徴とする請求項1〜12のいずれかに記載の装置。
  14. ウェブ(10〜13)が複数の分節(100,101)から成り、これら分節が接続部材(104)を用いて取り外し可能に相互に接続され、あるいは相互に堅固に結合されることを特徴とする請求項3〜8のいずれかに記載の装置。
  15. 坩堝壁と平面状発熱体(7)との間に断熱材が設けられないことを特徴とする請求項1〜14のいずれかに記載の装置。
  16. 前記多結晶材料が多結晶シリコンであり、前記固定型坩堝の断面が矩形あるいは四角形形状であることを特徴とする請求項1〜15のいずれかに記載の装置。
  17. 縦方向に見た場合に下端部及び上端部を有する多角形断面をもつ固定型坩堝(2、3)中における垂直勾配凝固法(VGF法)を用いた単結晶あるいは多結晶材料の製造方法であって、
    前記固定型坩堝は多角形形状の断面を有し、加熱装置(5〜7)によって坩堝中にその上端から下端に至る温度勾配が形成され、坩堝周囲に設置される平面状発熱体(7)によって縦方向に対して垂直方向に流れる熱流が抑制され、及び平面状発熱体が(7)が坩堝(2,4)の側面上へ配置され長手方向あるいは垂直方向へ蛇行状に延びる複数の発熱体(10〜13)から成り、及び
    坩堝(2,4)の角部分における熱ロスが、平面状発熱体(7)の熱出力の増大、あるいは坩堝(2,4)の角部分において蛇行状に延びる転回ゾーン(15〜17)における坩堝壁と平面状発熱体間の間隔の狭窄によって補償されることを特徴とする前記方法。
  18. 前記角部分において、平面状発熱体(7)の熱出力が連続的に、あるいは少なくとも1つの不連続な段階を経て増大され、あるいは坩堝壁と平面状発熱体間の間隔が少なくとも1つの不連続な段階を経て減じられることを特徴とする請求項17項記載の方法。
  19. 発熱体が、転回ゾーン(15〜17)の前後において接続されるウェブの導体断面と等しくなるように転回ゾーンにおいて対角線方向へ狭窄された導体断面を有する矩形のウェブ(10〜13)として設けられることを特徴とする請求項17または18項記載の方法。
  20. 転回ゾーン(15〜17)における導体断面の狭窄がウェブ材の中側あるいは外側にある複数の打抜き穴あるいは窪みによって形成され、前記打抜き穴あるいは窪みが導体断面に対して横方向に配列形成されることを特徴とする請求項19項記載の方法。
  21. 打抜き穴あるいは窪みが対角線方向へ配列されることを特徴とする請求項20項記載の方法。
  22. 打抜き穴あるいは窪みが2つの隣接する発熱体間に形成される隙間(14a)の中心線に対して鏡面対称に配列されることを特徴とする請求項20または21項記載の方法。
  23. ウェブが縦方向に対して垂直方向へ延びるウェブ(10〜13)として設けられ、これらウェブの導体断面が上端から下端へ向かって不連続かつ段階的に増大していることを特徴とする請求項19〜22のいずれかに記載の方法。
  24. ウェブが縦方向に延びるウェブ(10〜13)として設けられ、これらウェブの導体断面が上端から下端へ向かって連続的に、あるいは複数の不連続な段階を経て増大されることを特徴とする請求項19〜22のいずれかに記載の方法。
  25. ウェブ(10〜13)が等間隔かつ相互に平行に延びるように設けられることを特徴とする請求項23または24項記載の方法。
  26. 坩堝(2,4)及び平面状発熱体(7)が、坩堝壁と平面状発熱体(7)が広がる面との間隔が坩堝(2,4)の周囲全体に亘って一定となるように設けられることを特徴とする請求項17〜25項記載の方法。
  27. 平面状発熱体(7)の熱出力が、坩堝(2,4)の中心の温度勾配に対応して縦方向に減じられることを特徴とする請求項17〜26のいずれかに記載の方法。
  28. 平面状発熱体(7)によって縦方向に対して垂直に複数の等温面が設定あるいは保持されることを特徴とする請求項17〜26のいずれかに記載の方法。
  29. 坩堝(2,4)中に温度勾配を形成する少なくとも一助となるように、加熱ゾーンを形成する平面状発熱体の熱出力が上端から下端に向かって減じられることを特徴とする請求項17〜28のいずれかに記載の方法。
  30. ウェブ(10〜13)に複数の分節(100,101)が設けられ。これら分節が取り外し可能に接続部材(104)を用いて相互に接続されるか、あるいはこれら分節が相互に堅固に結合されることを特徴とする請求項19〜24のいずれかに記載の方法。
  31. 坩堝壁と平面状発熱体(7)との間に断熱材が設けられないことを特徴とする請求項17〜30のいずれかに記載の方法。
  32. 前記多結晶材料が矩形あるいは四角形形状の断面を有する前記固定型坩堝中において成長した多結晶シリコンであることを特徴とする請求項17〜31項記載の方法。
  33. 特に光電池成分用の出発材料として利用可能な、垂直勾配凝固結晶引き上げ法(VGF)を用いた多結晶シリコンの製造のための請求項1〜16のいずれかに記載の装置及び請求項17〜32のいずれかに記載の方法の使用。
JP2007099038A 2006-04-12 2007-04-05 単結晶または多結晶材料、特に多結晶シリコンの製造装置及び製造方法 Expired - Fee Related JP4533398B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102006017621A DE102006017621B4 (de) 2006-04-12 2006-04-12 Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung von multikristallinem Silizium

Publications (3)

Publication Number Publication Date
JP2007284343A true JP2007284343A (ja) 2007-11-01
JP2007284343A5 JP2007284343A5 (ja) 2010-05-06
JP4533398B2 JP4533398B2 (ja) 2010-09-01

Family

ID=38514625

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2007099038A Expired - Fee Related JP4533398B2 (ja) 2006-04-12 2007-04-05 単結晶または多結晶材料、特に多結晶シリコンの製造装置及び製造方法

Country Status (6)

Country Link
US (2) US7597756B2 (ja)
EP (1) EP1857574B1 (ja)
JP (1) JP4533398B2 (ja)
CN (1) CN101074488B (ja)
AT (1) ATE498717T1 (ja)
DE (2) DE102006017621B4 (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012011523A1 (ja) * 2010-07-22 2012-01-26 三菱マテリアル株式会社 多結晶シリコンインゴット製造装置、多結晶シリコンインゴットの製造方法及び多結晶シリコンインゴット
JP2013018700A (ja) * 2011-07-12 2013-01-31 Sino-American Silicon Products Inc 結晶成長装置
JP2017506206A (ja) * 2014-02-21 2017-03-02 モーメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・インク マルチゾーン可変電力密度ヒーター、そのヒーターを含む装置及びそのヒーターを使用する方法

Families Citing this family (33)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006017621B4 (de) 2006-04-12 2008-12-24 Schott Ag Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung von multikristallinem Silizium
TW200840802A (en) * 2007-04-13 2008-10-16 Chung-Wen Lan Method for recycling silicon slurry
TW200914371A (en) * 2007-06-01 2009-04-01 Gt Solar Inc Processing of fine silicon powder to produce bulk silicon
DE102007026298A1 (de) * 2007-06-06 2008-12-11 Freiberger Compound Materials Gmbh Anordnung und Verfahren zur Herstellung eines Kristalls aus der Schmelze eines Rohmaterials sowie Einkristall
US8709154B2 (en) 2007-07-25 2014-04-29 Amg Idealcast Solar Corporation Methods for manufacturing monocrystalline or near-monocrystalline cast materials
DE102007038851A1 (de) * 2007-08-16 2009-02-19 Schott Ag Verfahren zur Herstellung von monokristallinen Metall- oder Halbmetallkörpern
CN101481825B (zh) * 2008-01-08 2010-11-17 绿能科技股份有限公司 具有对流式散热构造的长晶炉
DE102008029951B4 (de) 2008-06-26 2011-06-09 Schott Ag Wärmeisolationsanordnung für Schmelztiegel und deren Verwendung sowie Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung von ein- oder multikristallinen Materialien
DE102008039457A1 (de) 2008-08-25 2009-09-17 Schott Ag Vorrichtung und Verfahren zum gerichteten Erstarren einer Schmelze
KR101136143B1 (ko) * 2009-09-05 2012-04-17 주식회사 크리스텍 사파이어 단결정 성장방법과 그 장치
US20110073039A1 (en) * 2009-09-28 2011-03-31 Ron Colvin Semiconductor deposition system and method
DE102009045680B4 (de) 2009-10-14 2012-03-22 Forschungsverbund Berlin E.V. Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung von Siliziumblöcken aus der Schmelze durch gerichtete Erstarrung
US8647433B2 (en) * 2009-12-13 2014-02-11 Axt, Inc. Germanium ingots/wafers having low micro-pit density (MPD) as well as systems and methods for manufacturing same
DE102010030124B4 (de) * 2010-06-15 2016-07-28 Solarworld Innovations Gmbh Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung von Silizium-Blöcken sowie nach dem Verfahren hergestellter Silizium-Block
EP2582861A1 (en) * 2010-06-16 2013-04-24 Centrotherm Sitec GmbH Process and apparatus for manufacturing polycrystalline silicon ingots
US10138551B2 (en) 2010-07-29 2018-11-27 GES Associates LLC Substrate processing apparatuses and systems
WO2012170124A2 (en) 2011-06-06 2012-12-13 Gtat Corporation Heater assembly for crystal growth apparatus
GB201112610D0 (en) * 2011-07-22 2011-09-07 Rec Wafer Norway As Heating a furnace for the growth of semiconductor material
ITMI20112273A1 (it) * 2011-12-15 2013-06-16 St Microelectronics Srl Metodo per la produzione di una fetta di carburo di silicio e relativa attrezzatura
US9809902B2 (en) * 2011-12-22 2017-11-07 Sumco Corporation Method for evaluating silica glass crucible, method for producing silicon single crystals
DE102012100147A1 (de) 2012-01-10 2012-12-13 Schott Solar Ag Verfahren zur Herstellung von mono-, quasimono- oder multikristallinen Metall- oder Halbmetallkörpern
US20130192516A1 (en) * 2012-01-27 2013-08-01 Memc Singapore Pte. Ltd. (Uen200614794D) Method of preparing cast silicon by directional solidification
US20150086464A1 (en) * 2012-01-27 2015-03-26 Gtat Corporation Method of producing monocrystalline silicon
CN102766901B (zh) * 2012-08-20 2015-09-30 元亮科技有限公司 实时可调温度梯度法生长大尺寸高温晶体的装置及方法
CN103628125A (zh) * 2012-08-21 2014-03-12 浙江昱辉阳光能源有限公司 一种多晶硅铸锭炉和多晶硅铸锭方法
CN105113019B (zh) * 2015-09-29 2018-01-02 何康玉 一种发热钨棒加热电极
US10475673B2 (en) 2016-09-28 2019-11-12 Stmicroelectronics S.R.L. Apparatus for manufacturing a silicon carbide wafer
CN107699943A (zh) * 2017-11-16 2018-02-16 江苏协鑫硅材料科技发展有限公司 制备晶体硅锭的加热器及铸锭炉
DE102018113418A1 (de) * 2018-06-06 2019-12-12 Netzsch - Gerätebau Gesellschaft mit beschränkter Haftung Messanordnung und Verfahren für eine thermische Analyse einer Probe
US11309177B2 (en) 2018-11-06 2022-04-19 Stmicroelectronics S.R.L. Apparatus and method for manufacturing a wafer
IT201900015416A1 (it) 2019-09-03 2021-03-03 St Microelectronics Srl Apparecchio per la crescita di una fetta di materiale semiconduttore, in particolare di carburo di silicio, e procedimento di fabbricazione associato
CN112708932B (zh) * 2020-12-21 2022-05-17 徐州鑫晶半导体科技有限公司 单晶炉的石墨坩埚及其制造方法、坩埚组件和单晶炉
CN114276805B (zh) * 2021-12-17 2024-01-26 郑州大学 一种氟化物单晶红光荧光材料的制备方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0543385A (ja) * 1991-08-16 1993-02-23 Toshiba Ceramics Co Ltd Si単結晶引上炉用炭素ヒーター

Family Cites Families (31)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1020311A (en) * 1961-01-20 1966-02-16 Eisler Paul Electrical heating film
DE10010484A1 (de) 2000-03-03 2001-09-13 Schott Glas Verfahren und Vorrichtung zur Züchtung von großvolumigen orientierten Einkristallen
US4256530A (en) * 1978-12-07 1981-03-17 Crystal Systems Inc. Crystal growing
US4544528A (en) * 1981-08-03 1985-10-01 Mobil Solar Energy Corporation Apparatus for growing tubular crystalline bodies
US4647437A (en) * 1983-05-19 1987-03-03 Mobil Solar Energy Corporation Apparatus for and method of making crystalline bodies
FR2567922B1 (fr) 1984-07-18 1987-05-07 Commissariat Energie Atomique Four de cristallogenese
DE3532131A1 (de) * 1985-09-10 1987-03-12 Bayer Ag Verfahren zur gerichteten erstarrung von metallschmelzen
US5156978A (en) * 1988-11-15 1992-10-20 Mobil Solar Energy Corporation Method of fabricating solar cells
EP0631832B1 (de) 1993-07-02 1998-05-20 ALD Vacuum Technologies GmbH Verfahren zum gerichteten Erstarren einer Metallschmelze und Giessvorrichtung zu seiner Durchführung
US5558712A (en) * 1994-11-04 1996-09-24 Ase Americas, Inc. Contoured inner after-heater shield for reducing stress in growing crystalline bodies
JP3734860B2 (ja) * 1995-08-25 2006-01-11 日本碍子株式会社 酸化物単結晶の製造方法および装置
JPH107493A (ja) 1996-06-20 1998-01-13 Sharp Corp シリコン半導体基板および太陽電池用基板の製造方法
JP2001510095A (ja) * 1997-07-16 2001-07-31 オリーヴァー フーゴ 溶融可能な材料から工作物又はブロックを製造する方法及び装置
DE19855061B4 (de) 1998-11-28 2012-05-16 Ald Vacuum Technologies Ag Schmelzofen zum Schmelzen von Silizium
DE19912484A1 (de) * 1999-03-19 2000-09-28 Freiberger Compound Mat Gmbh Vorrichtung zur Herstellung von Einkristallen
DE19934940C2 (de) * 1999-07-26 2001-12-13 Ald Vacuum Techn Ag Vorrichtung zum Herstellen von gerichtet erstarrten Blöcken und Betriebsverfahren hierfür
JP3929008B2 (ja) * 2000-01-14 2007-06-13 シャープ株式会社 窒化物系化合物半導体発光素子およびその製造方法
US6423136B1 (en) * 2000-03-20 2002-07-23 Carl Francis Swinehart Crucible for growing macrocrystals
US6277351B1 (en) * 2000-03-20 2001-08-21 Carl Francis Swinehart Crucible for growing macrocrystals
US6656272B2 (en) * 2001-03-30 2003-12-02 Technologies And Devices International, Inc. Method of epitaxially growing submicron group III nitride layers utilizing HVPE
US6984263B2 (en) * 2001-11-01 2006-01-10 Midwest Research Institute Shallow melt apparatus for semicontinuous czochralski crystal growth
DE10239104B4 (de) * 2002-08-27 2006-12-14 Crystal Growing Systems Gmbh Kristallzüchtungsofen, nämlich Vertical-Bridgman- oder Vertical-Gradient-Freeze-Kristallzüchtungsofen mit einem Mantelheizer und Verfahren zur Regelung der Heizleistung des Mantelheizers
JP2004299968A (ja) * 2003-03-31 2004-10-28 Toshiba Ceramics Co Ltd 単結晶引上げ用カーボンヒータ
DE102004003035B4 (de) 2004-01-21 2007-05-24 Ruhstrat Gmbh Elektrisches Heizelement aus einem flächigen Heizband
JP2006073578A (ja) * 2004-08-31 2006-03-16 Nokodai Tlo Kk AlGaNの気相成長方法及び気相成長装置
JP2006290677A (ja) * 2005-04-11 2006-10-26 Hitachi Cable Ltd 窒化物系化合物半導体結晶の製造方法及び窒化物系化合物半導体基板の製造方法
JP2007197302A (ja) * 2005-12-28 2007-08-09 Sumitomo Electric Ind Ltd Iii族窒化物結晶の製造方法および製造装置
KR101372593B1 (ko) 2006-01-20 2014-03-10 에이엠지 아이디얼캐스트 솔라 코포레이션 광전 변환 소자용 단결정 캐스트 실리콘 및 단결정 캐스트 실리콘 바디들을 제조하는 방법 및 장치
JP4862442B2 (ja) * 2006-03-15 2012-01-25 日立電線株式会社 Iii−v族窒化物系半導体基板の製造方法及びiii−v族窒化物系デバイスの製造方法
DE102006017621B4 (de) * 2006-04-12 2008-12-24 Schott Ag Vorrichtung und Verfahren zur Herstellung von multikristallinem Silizium
DE102006017622B4 (de) 2006-04-12 2008-03-27 Schott Ag Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung von multikristallinem Silizium

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0543385A (ja) * 1991-08-16 1993-02-23 Toshiba Ceramics Co Ltd Si単結晶引上炉用炭素ヒーター

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2012011523A1 (ja) * 2010-07-22 2012-01-26 三菱マテリアル株式会社 多結晶シリコンインゴット製造装置、多結晶シリコンインゴットの製造方法及び多結晶シリコンインゴット
JP2012025612A (ja) * 2010-07-22 2012-02-09 Mitsubishi Materials Corp 多結晶シリコンインゴット製造装置、多結晶シリコンインゴットの製造方法及び多結晶シリコンインゴット
US20130122278A1 (en) * 2010-07-22 2013-05-16 Mitsubishi Materials Electronic Chemicals Co Ltd Polycrystalline silicon ingot manufacturing apparatus, polycrystalline silicon ingot manufacturing method, and polycrystalline silicon ingot
KR101460918B1 (ko) * 2010-07-22 2014-12-03 미쓰비시 마테리알 가부시키가이샤 다결정 실리콘 잉곳 제조 장치, 다결정 실리콘 잉곳의 제조 방법 및 다결정 실리콘 잉곳
JP2013018700A (ja) * 2011-07-12 2013-01-31 Sino-American Silicon Products Inc 結晶成長装置
JP2017506206A (ja) * 2014-02-21 2017-03-02 モーメンティブ・パフォーマンス・マテリアルズ・インク マルチゾーン可変電力密度ヒーター、そのヒーターを含む装置及びそのヒーターを使用する方法
US10934633B2 (en) 2014-02-21 2021-03-02 Momentive Performance Materials Inc. Multi-zone variable power density heater apparatus containing and methods of using the same

Also Published As

Publication number Publication date
US7597756B2 (en) 2009-10-06
CN101074488A (zh) 2007-11-21
DE502007006490D1 (de) 2011-03-31
DE102006017621B4 (de) 2008-12-24
DE102006017621A1 (de) 2007-10-18
US20090188427A1 (en) 2009-07-30
CN101074488B (zh) 2011-01-26
US20070266931A1 (en) 2007-11-22
JP4533398B2 (ja) 2010-09-01
EP1857574B1 (de) 2011-02-16
EP1857574A2 (de) 2007-11-21
ATE498717T1 (de) 2011-03-15
US7811383B2 (en) 2010-10-12
EP1857574A3 (de) 2007-12-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4533398B2 (ja) 単結晶または多結晶材料、特に多結晶シリコンの製造装置及び製造方法
Wu et al. Bulk multicrystalline silicon growth for photovoltaic (PV) application
TWI534307B (zh) 製造矽晶鑄錠之方法
US20090047203A1 (en) Method for producing monocrystalline metal or semi-metal bodies
JP5405063B2 (ja) 熱伝導率を調整することによって結晶質材料のブロックを製造するための装置
US20100197070A1 (en) Methods and Apparatuses for Manufacturing Cast Silicon From Seed Crystals
JP2011524332A (ja) 方向性凝固によって単結晶シリコンインゴットを成長させるためのシステムおよび方法
JP6013467B2 (ja) 結晶成長装置用の加熱部品
TWI541394B (zh) 多晶矽晶鑄錠之製造方法及其多晶矽晶棒
JP2013503810A (ja) サファイア単結晶成長方法とその装置
KR101336748B1 (ko) 다결정 잉곳 성장장치
JP6077454B2 (ja) 半導体を凝固及び/又は結晶化するためのシステム用の熱交換器
US20160230307A1 (en) Apparatus and methods for producing silicon-ingots
US20150086464A1 (en) Method of producing monocrystalline silicon
JP2006335582A (ja) 結晶シリコン製造装置とその製造方法
US20100148403A1 (en) Systems and Methods For Manufacturing Cast Silicon
JP2002293526A (ja) 多結晶シリコンの製造装置
TWI595124B (zh) 多晶矽鑄錠的製造方法
KR100428699B1 (ko) 수직-수평 온도구배를 갖는 대형 결정 육성장치 및 그육성방법
JP5133848B2 (ja) 下地板製造方法ならびに下地板
JPH0570539B2 (ja)
TWI452184B (zh) 製造矽晶鑄錠之方法
KR20110028155A (ko) 다결정 실리콘 잉곳 제조장치의 하부 구조
JP4282492B2 (ja) 板状シリコンおよびその製造方法ならびに板状シリコン製造用下地板、ならびに太陽電池
JP2006272373A (ja) 鋳型及びこれを用いた鋳造装置並びに多結晶シリコンインゴットの製造方法

Legal Events

Date Code Title Description
A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20071109

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100201

A621 Written request for application examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621

Effective date: 20100201

A871 Explanation of circumstances concerning accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A871

Effective date: 20100201

RD04 Notification of resignation of power of attorney

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A7424

Effective date: 20100216

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100317

A975 Report on accelerated examination

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971005

Effective date: 20100412

A131 Notification of reasons for refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131

Effective date: 20100421

A521 Request for written amendment filed

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523

Effective date: 20100428

TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20100526

A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20100611

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130618

Year of fee payment: 3

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees