JPH1188052A - 温度補償型水晶発振器 - Google Patents

温度補償型水晶発振器

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JPH1188052A
JPH1188052A JP19115098A JP19115098A JPH1188052A JP H1188052 A JPH1188052 A JP H1188052A JP 19115098 A JP19115098 A JP 19115098A JP 19115098 A JP19115098 A JP 19115098A JP H1188052 A JPH1188052 A JP H1188052A
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保宏 桜井
Hiroyuki Miyama
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 温度補償のための制御信号の発生回路を簡略
化でき、制御信号の狭い電圧範囲でも温度補償範囲が広
い温度補償型水晶発振器を安価に提供する。 【解決手段】 ATカット水晶振動子とMOS型コンデ
ンサと第1の固定容量との直列接続と、増幅器と、第2
の固定容量とを並列に接続して水晶発振回路を構成し、
その水晶発振回路のMOS型コンデンサの一方の端子に
直接あるいは第1の入力抵抗を介して温度補償用の第1
の制御信号発生回路を接続し、他方の端子に直接あるい
は第2の入力抵抗を介して温度補償用の第2の制御信号
発生回路を接続する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、携帯電話機など
の通信機器に搭載する温度補償型水晶発振器に関するも
のである。
【0002】
【従来の技術】通信機器に搭載する温度補償型水晶発振
器は、10MHz帯のATカット水晶振動子を振動源と
する水晶発振回路と、その発振周波数を調整するための
周波数調整回路を用いた温度補償回路とからなり、AT
カット水晶振動子の3次曲線の温度特性を打ち消すこと
により発振周波数を安定化させるようにしている。
【0003】この種の温度補償型水晶発振器は、これま
ではディスクリート部品で構成する直接補償方式のアナ
ログ温度補償型水晶発振器が主であった。しかしなが
ら、最近は国際間の通話方式の共通化に向けてCDMA
(codedivision multiple access)方式を採用する気運
が高まりつつあり、温度補償範囲の拡大が可能な間接補
償方式の温度補償型水晶発振器が注目を集めている。
【0004】間接補償方式の温度補償型水晶発振器は、
なんらかの回路を用いて温度補償信号を発生し、その信
号で可変容量回路などを制御して、ATカット水晶振動
子の温度補償を行うものである。その温度補償信号を発
生する回路として、以前はディスクリート部品で構成す
る抵抗回路網などが採用されていたが、最近では半導体
集積回路が使用されることが多くなってきている。
【0005】そして、その温度補償信号は電圧信号とし
て発生することがほとんどである。そのため、周波数調
整回路には電圧制御型の可変容量回路が採用されること
が多い。また、携帯電話機に搭載する温度補償型水晶発
振器の駆動電圧は、5Vから3Vに移行し、さらなる低
電圧化が要求されている。これに伴って、可変容量回路
に印加される信号の電圧幅は次第に狭まってきている。
【0006】そこで、間接補償方式の温度補償型水晶発
振器において温度補償範囲を拡大するためには、狭い電
圧範囲で容量変化率が大きい可変容量回路が必要であ
る。また、温度補償と、外部信号によって発振周波数を
制御する外部周波数制御との相互干渉を排除するため
に、温度補償信号と外部周波数制御信号とを合成し、こ
の合成信号によって可変容量回路を制御するという方式
も提案されている。
【0007】このような提案も、可変容量回路の容量変
化率が大きく、少しの電圧変化によって水晶発振回路の
発振周波数を大幅に変化させることができることが前提
となっている。このようなことから、間接補償方式の温
度補償型水晶発振器においては、可変容量回路がとくに
重要な構成要素となっている。
【0008】可変容量回路は、少なくとも1つの可変容
量素子を使用して構成される。そこで、従来の可変容量
回路の一例を図16に示す。この可変容量回路は、DC
カットコンデンサの役目を果たす固定容量45と、可変
容量素子49とを直列に接続し、可変容量素子49の他
端子をグランドに接続し、固定容量45の他端子46を
出力端子として水晶発振回路に接続する。そして、固定
容量45と可変容量素子49との接続点に入力抵抗47
を接続する。制御信号Aは、この入力抵抗47を介して
印加される。
【0009】入力抵抗47は交流信号を遮断する役目を
果たすものであり、もし制御信号を発生する回路の出力
インピーダンスが充分高ければ、入力抵抗47を省略す
る場合もある。可変容量素子49の他端子の接続先は、
高電位側の電源(Vcc)の場合もある。
【0010】可変容量素子49は、可変容量ダイオード
やMOS型コンデンサなどが代表的なものである。可変
容量ダイオードやMOS型コンデンサは、いずれも半導
体の空乏層幅が電圧によって変化することを利用してお
り、容量変化率を大きくするために、その製造段階でい
くつかの工夫をしている。
【0011】可変容量ダイオードはpn接合ダイオード
の一種であり、空乏層が伸びる側すなわち低濃度側の不
純物濃度分布に傾斜を設けたり、その不純物濃度を薄く
するなどの工夫がみられる。また、MOS型コンデンサ
の場合は、半導体基板の不純物濃度を薄くしたり、ゲー
ト酸化膜の膜厚を薄くするなどの工夫がなされている。
【0012】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、半導体
の不純物濃度を薄くすることには限度があるため、これ
らの可変容量素子の容量の最小値はあまり小さくはでき
ないうえに、不純物濃度によって最小容量値を小さくし
ようとすると、使用電圧範囲での最大容量値も小さくな
ってしまうという問題点がある。
【0013】さらに、MOS型コンデンサの場合は、ゲ
ート酸化膜の膜厚を薄くして物理的な最大容量値を大き
くしても、使用電圧範囲での最大容量値はあまり大きく
はならないという問題点がある。つまり、従来のように
可変容量素子の製造段階で工夫しても、使用電圧範囲で
の容量変化率をあまり大きくできないという課題があ
る。
【0014】そこでこの発明は、使用電圧範囲での周波
数調整範囲が大きく、温度補償のための制御信号の発生
回路を簡略化でき、制御信号の狭い電圧範囲でも温度補
償範囲が広い温度補償型水晶発振器を、低コストで提供
することを目的とする。
【0015】
【課題を解決するための手段】この発明による温度補償
型水晶発振器は、上記の目的を達成するため、ATカッ
ト水晶振動子と発振周波数調整用の可変容量としてのM
OS型コンデンサとを有する水晶発振回路と、そのMO
S型コンデンサの一方の端子に直接あるいは第1の入力
抵抗を介して接続する温度補償用の第1の制御信号発生
回路と、上記MOS型コンデンサの他方の端子に直接あ
るいは第2の入力抵抗を介して接続する温度補償用の第
2の制御信号発生回路とを備えたものである。
【0016】上記水晶発振回路は、ATカット水晶振動
子とMOS型コンデンサと第1の固定容量との直列接続
と、その直列接続に並列に接続する増幅器と、その増幅
器に並列に接続する第2の固定容量とによって構成する
ことができる。
【0017】上記水晶発振回路はまた、ATカット水晶
振動子とMOS型コンデンサと第1の固定容量との直列
接続と、その直列接続に並列に接続する増幅器と、その
増幅器の入力端子および出力端子と任意の定電位源との
間にそれぞれ接続される第2の固定容量および第3の固
定容量とによって構成することもできる。
【0018】上記水晶発振回路はまた、ATカット水晶
振動子とMOS型コンデンサと第1の固定容量との直列
接続と、その直列接続に並列に接続する増幅器と、上記
ATカット水晶振動子とMOS型コンデンサとの直列接
続に並列に接続される第2の固定容量とによって構成す
ることもできる。
【0019】上記水晶発振回路はまた、ATカット水晶
振動子とMOS型コンデンサと第1の固定容量との直列
接続と、その直列接続に並列に接続する増幅器と、その
増幅器とATカット水晶振動子との接続点と任意の定電
位源との間に接続される第2の固定容量と、上記MOS
型コンデンサと第1の固定容量との接続点と任意の定電
位源との間に接続される第3の固定容量とによって構成
することもできる。
【0020】上記水晶発振回路はまた、第1の固定容量
とMOS型コンデンサと第2の固定容量との直列接続
と、その直列接続に並列に接続する増幅器と、その増幅
器に並列に接続するATカット水晶振動子とによって構
成することもできる。
【0021】上記水晶発振回路はまた、第1の固定容量
とMOS型コンデンサと第2の固定容量との直列接続
と、その直列接続に並列に接続する増幅器と、上記MO
S型コンデンサに並列に接続されるATカット水晶振動
子とによって構成することもできる。
【0022】上記水晶発振回路はまた、ATカット水晶
振動子と増幅器との並列接続と、そのATカット水晶振
動子の一方の端子と任意の定電位源との間に接続され
る、第1の固定容量とMOS型コンデンサと第2の固定
容量との直列接続とによって構成することもできる。
【0023】この発明による温度補償型水晶発振器はま
た、ATカット水晶振動子と増幅器との並列接続と、そ
のATカット水晶振動子に並列に接続される、第1の固
定容量と第1のMOS型コンデンサと第2のMOS型コ
ンデンサと第2の固定容量との直列接続と、その第1の
MOS型コンデンサと第2のMOS型コンデンサとの接
続点と任意の定電位源との間に接続される第3の固定容
量とによって水晶発振回路を構成することができる。
【0024】あるいはまた、第1の固定容量とATカッ
ト水晶振動子と第2の固定容量との直列接続と、その直
列接続に並列に接続する増幅器と、上記ATカット水晶
振動子に並列に接続される、第1のMOS型コンデンサ
と第2のMOS型コンデンサとの直列接続と、その第1
のMOS型コンデンサと第2のMOS型コンデンサとの
接続点と任意の定電位源との間に接続される第3の固定
容量ととによって水晶発振回路を構成してもよい。
【0025】これらの場合、上記第1の固定容量と第1
のMOS型コンデンサとの接続点に直接あるいは第1の
入力抵抗を介して温度補償用の第1の制御信号発生回路
を接続し、上記第2の固定容量と第2のMOS型コンデ
ンサとの接続点と第1の制御信号発生回路との間に第2
の入力抵抗を接続し、上記第1のMOS型コンデンサと
第2のMOS型コンデンサとの接続点に直接あるいは第
3の入力抵抗を介して温度補償用の第2の制御信号発生
回路を接続する。
【0026】あるいは、上記第1の固定容量と第1のM
OS型コンデンサとの接続点に直接あるいは第1の入力
抵抗を介して温度補償用の第1の制御信号発生回路を接
続し、上記第2の固定容量と第2のMOS型コンデンサ
との接続点に直接あるいは第2の入力抵抗を介して温度
補償用の第2の制御信号発生回路を接続し、さらに、上
記第1のMOS型コンデンサと第2のMOS型コンデン
サとの接続点に直接あるいは第3の入力抵抗を介して温
度補償用の第3の制御信号発生回路を接続するようにし
てもよい。
【0027】これらの各温度補償型水晶発振器におい
て、上記第1の制御信号発生回路は、ATカット水晶振
動子の温度特性曲線を低温側にて直線化補正するための
信号を発生する低温側直線化補正信号発生回路とし、上
記第2の制御信号発生回路は、ATカット水晶振動子の
温度特性曲線を高温側にて直線化補正するための信号を
発生する高温側直線化補正信号発生回路とするとよい。
【0028】さらに、その低温側直線化補正信号発生回
路を、出力の温度特性がほぼ直線である温度センサと、
その温度センサの出力を低温側にて2乗曲線信号に変換
する低温側2乗変換回路とによって構成し、高温側直線
化補正信号発生回路は、出力の温度特性がほぼ直線であ
る温度センサと、その温度センサの出力を高温側にて2
乗曲線信号に変換する高温側2乗変換回路とによって構
成することができる。
【0029】
【発明の実施の形態】以下、この発明による温度補償型
水晶発振器の種々な実施の形態を図面を参照して説明す
る。
【0030】〔第1の実施形態:図1〜図4〕まず、こ
の発明の第1の実施形態を図1乃至図4を参照して説明
する。この第1の実施形態の温度補償型水晶発振器は、
図1にその構成を示すように、ATカット水晶振動子1
とMOS型コンデンサ3と第1の固定容量5とが直列に
接続されており、この直列接続に、発振インバータ7と
帰還抵抗9との並列接続から成る増幅器11が並列に接
続して、水晶発振回路10を構成している。8はその出
力端子である。
【0031】そして、この水晶発振回路10のATカッ
ト水晶振動子1とMOS型コンデンサ3との接続点に、
温度補償用の第1の制御信号発生回路13が第1の入力
抵抗17を介して接続し、MOS型コンデンサ3と第1
の固定容量5との接続点に、温度補償用の第2の制御信
号発生回路14が第2の入力抵抗18を介して接続して
いる。また、増幅器11と並列に第2の固定容量21が
接続されている。
【0032】第1の入力抵抗17および第2の入力抵抗
18は、直流信号を通し交流信号を遮断する役目を果た
すものであり、もし第1の制御信号発生回路13および
第2の制御信号発生回路14の出力インピーダンスが充
分に高ければ、これらの入力抵抗17,18を省略し
て、第1,第2の制御信号発生回路13,14が出力す
る温度補償用の制御信号を、それぞれMOS型コンデン
サ3の両側の端子に直接印加してもよい。
【0033】第1の制御信号発生回路13および第2の
制御信号発生回路14は、MOS型コンデンサ3の容量
値が電源電圧変動の影響を受けないようにするため、同
一の電位を基準として制御信号を発生する。たとえばど
ちらもグランドを基準とするなどである。
【0034】ATカット水晶振動子には、室温付近(一
般には15℃〜45℃)での周波数に温度による変化が
ない、いわゆるフラット水晶と呼ばれる水晶振動子があ
り、これを使用する水晶発振回路は、温度が15℃〜4
5℃の間での周波数偏差が温度補償型水晶発振器として
の許容偏差以内である。温度が15℃以下の領域および
45℃以上の領域では、3次曲線の温度特性を示す。
【0035】この図1に示す第1の実施形態の有効性を
理解するためには、MOS型コンデンサの電気特性を理
解する必要がある。そこでまず、MOS型コンデンサの
電気特性について説明する。図2は、MOS型コンデン
サの電気特性の1つの例を示す。
【0036】この図2に示す電気特性は、n形半導体基
板とn形ゲート電極とを有するMOS型コンデンサの例
であり、半導体基板(対向電極)を基準とするゲート電
極の電圧と、容量値との関係を表すものである。この電
気特性は、一般にC−Vカーブと呼ばれている。
【0037】図2には、ゲート電圧(V)と容量(C)
の関係を示す2本のC−Vカーブを示しており、それぞ
れ高濃度のn形半導体基板でゲート絶縁膜が厚い場合の
C−Vカーブ23と、低濃度のn形半導体基板でゲート
絶縁膜が薄い場合のC−Vカーブ25とを表している。
【0038】この図から明らかなように、物理的な容量
変化率を大きくするためには、C−Vカーブ23のよう
な厚膜高濃度の条件ではなく、C−Vカーブ25のよう
な薄膜低濃度の条件でMOS型コンデンサを形成する必
要がある。しかし、図2に示すように、薄膜低濃度のC
−Vカーブ25は厚膜高濃度のC−Vカーブ23に比べ
て右方向(ゲート電圧のプラス側)に移動している。
【0039】このC−Vカーブの移動は、MOSトラン
ジスタのスレショールド電圧の移動と同じ現象であり、
ゲート絶縁膜を薄くしたり、半導体基板の不純物濃度を
薄くしたりすれば、このような特性の移動は避けられな
い。そして、従来のように半導体基板を電源やグランド
に接続すると、昇圧回路などを使用しない限り、C−V
カーブのうちゲート電圧がプラス側かマイナス側かのど
ちらかしか使用できない。
【0040】したがって、たとえ物理的な容量変化率を
大きくしても、薄膜低濃度のC−Vカーブ25のような
特性のMOS型コンデンサでは、実際の使用電圧範囲で
の容量変化率が小さくなってしまう。物理的な容量変化
率が大きいままで、C−Vカーブを左方向(ゲート電圧
の負方向)に移動させるためには、ゲート電極材料を、
n形よりももっとn形の傾向が強い物質、すなわち仕事
関数が小さい物質に変更する必要がある。
【0041】しかし、半導体集積回路の電気特性に悪影
響を与えることなく、そのような条件を満たす適当な物
質は、今のところ見つかっていない。そこで、MOS型
コンデンサの電気特性を改良するのではなく、その使用
方法を工夫することによって、使用電圧範囲での容量変
化率を大きくしなければならない。
【0042】この発明の各実施形態においては、このよ
うなMOS型コンデンサの使用方法の工夫をしており、
図1に示した第1の実施形態でもそのような工夫を行っ
ている。図1に示すようMOS型コンデンサ3は、AT
カット水晶振動子1および第1の固定容量5によって、
増幅器11などの直流レベルを有する回路から直流的に
遮断されている。したがって、第1の制御信号発生回路
13および第2の制御信号発生回路14は、電源電圧範
囲内で任意の電圧をそれぞれ出力することができる。
【0043】そこでたとえば、第2の制御信号発生回路
14が電源電圧の半分程度の電圧を出力し、第1の制御
信号発生回路13の出力がグランドレベルから電源電圧
まで変化するならば、図2に示すC−Vカーブをゲート
電圧がマイナスの領域からプラスの領域まで使用するこ
とに相当する。したがって、薄膜低濃度のC−Vカーブ
25のような特性のMOS型コンデンサならば、容量変
化が最も大きい範囲を使用できることになり、従来の構
成に比べて、容量変化率は大幅に向上する。
【0044】MOS型コンデンサ3の容量変化率が向上
することによって、ATカット水晶振動子1の周波数可
変幅も拡大するから、図1に示す第1の実施形態によ
り、温度補償範囲が広い温度補償型水晶発振器を実現す
ることができる。なお、第2の固定容量21は、負荷容
量の調整や周波数可変幅の確保のために設けている。
【0045】ところで、この発明による温度補償型水晶
発振器では、可変容量としてのMOS型コンデンサの容
量変化率の拡大だけではなく、温度補償用の第1の制御
信号と第2の制御信号との信号合成をも実質的に実現し
ている。
【0046】すなわち、図1におけるMOS型コンデン
サ3の容量値は、第1の制御信号発生回路13から出力
される第1の制御信号S1と、第2の制御信号発生回路
14から出力される第2の制御信号S2との電位差によ
り制御され、その容量値の変化により周波数が変化する
から、この第1の実施形態の構成は一種の電位差検出回
路となっている。
【0047】そして電位差は、一方の制御信号を反転し
て他方の制御信号と加算すること、例えば、S1+(−
S2)と等価であり、加算は信号合成の一種である。し
たがって、図1に示す回路構成は、実質的に第1の制御
信号S1と第2の制御信号S2との信号合成回路になっ
ている。このような、MOS型コンデンサ3による信号
合成効果があるために、この発明による温度補償型水晶
発振器は、温度補償信号の発生回路を簡略化できる。
【0048】ここで、水晶発振回路10に使用するAT
カット水晶振動子1が、前述のように温度15℃から4
5℃の室温付近では温度による周波数の変化が殆どな
い、いわゆるフラット水晶と呼ばれる水晶振動子である
場合の温度補償について説明する。
【0049】このようなATカット水晶振動子1を用い
た水晶発振回路10では、15℃より低温側および45
℃より高温側の温度特性を、室温付近の温度特性の延長
線上に直線化補正するのみで温度補償を実現できる。こ
のとき、可変容量素子が1つだけの場合、全温度範囲に
わたって温度補償を行うためには、低温側直線化補正信
号と高温側直線化補正信号とを合成する必要がある。
【0050】しかし、図3の水晶発振回路10における
MOS型コンデンサ3は信号合成回路を兼ねるから、第
1の制御信号発生回路13を低温側直線化補正信号発生
回路とし、第2の制御信号発生回路14を高温側直線化
補正信号発生回路とすることにより、低温から高温まで
の範囲をすべて直線化補正することができる。したがっ
て、制御信号の発生段階で信号合成回路を1つ省略する
ことができ、温度補償信号発生回路を簡略化できる。
【0051】さて、低温側直線化補正信号発生回路ある
いは高温側直線化補正信号発生回路としては、MOSト
ランジスタを使用して構成する例を、本出願人によって
既に出願している(特願平9−156791号)。それ
は、2つのMOSトランジスタがそれぞれ発生する2乗
曲線信号を利用して、ATカット水晶振動子の温度特性
の3次曲線の低温側と高温側とをそれぞれを近似し、直
線化補正を行うものである。
【0052】このような直線化補正回路を、図1に示し
た第1の実施形態に適用する場合の具体的な回路例を図
3に示す。図3は、MOSトランジスタの2乗則領域の
電流電圧特性を利用して2乗曲線信号を発生させ、その
2乗曲線信号を直線化補正信号としてMOS型コンデン
サを制御する例を示す回路図である。
【0053】図3において、nチャネルのMOSトラン
ジスタMP1と抵抗R1との直列接続と、そのMOSト
ランジスタMP1に一定のゲート電圧を印加する直流電
源EBとによって温度センサ27を構成している。その
温度センサ27の出力である温度検知信号が、低温側2
乗変換回路29と高温側2乗変換回路31に入力する。
【0054】低温側2乗変換回路29は、オペアンプに
よる正転増幅器33と、nチャネルのMOSトランジス
タMP2と抵抗R2との直列接続とからなる。また、高
温側2乗変換回路31は、オペアンプによる反転増幅器
35と、nチャネルのMOSトランジスタMP3と抵抗
R3との直列接続とからなる。
【0055】水晶発振回路10の構成は図1に示したも
のと同じであり、ATカット水晶振動子1とMOS型コ
ンデンサ3と第1の固定容量5とが直列に接続され、こ
の直列接続に増幅器11および第2の固定容量21が並
列に接続されている。MOS型コンデンサ3は、n形半
導体基板とn形ゲート電極とを有し、低濃度薄膜構造の
ものとする。
【0056】ここで、温度センサ27と低温側2乗変換
回路29とによって、図1における第1の制御信号発生
回路13に相当する低温側直線化補正信号発生回路を構
成し、MOSトランジスタMP2と抵抗R2との接続点
から低温側直線化補正信号を第1の制御信号S1として
出力し、入力抵抗17を介してMOS型コンデンサ3の
ゲート電極に印加する。
【0057】また、温度センサ27と高温側2乗変換回
路31とによって、図1における第2の制御信号発生回
路14に相当する高温側直線化補正信号発生回路を構成
し、MOSトランジスタMP3と抵抗R3との接続点か
ら高温側直線化補正信号を第2の制御信号S2として出
力し、入力抵抗18を介してMOS型コンデンサ3の対
向電極に印加する。
【0058】温度センサ27は、MOSトランジスタM
P1のゲート電圧が、スレショールド電圧プラス0.2
V程度で一定のとき、そのドレインからの出力(電圧)
は温度変化に対してほぼ直線的に変化する。そして低温
側2乗変換回路29のMOSトランジスタMP2のゲー
トには、温度センサ27の出力を正転増幅器33によっ
て増幅した電圧が印加される。具体的には、温度が下が
るにつれて直線的に増加する電圧である。
【0059】正転増幅器33の増幅率の調整などによ
り、このゲート電圧が、おおよそ温度15℃のときにM
OSトランジスタMP2のスレショールド電圧になるよ
うに設定すれば、15℃以下の温度では、温度が下がる
につれてスレショールド電圧よりも高いゲート電圧がM
OSトランジスタMP2に印加される。
【0060】MOSトランジスタMP2のゲートにスレ
ショールド電圧以上の電圧が印加されるとき、ソース・
ドレイン間に流れる電流は、ゲート電圧とスレショール
ド電圧との差の2乗に比例する。したがって、15℃以
下では温度が降下するにつれて、低温側2乗変換回路2
9は、MOSトランジスタMP2のドレインから2乗曲
線信号を出力する。
【0061】一方、高温側2乗変換回路31のMOSト
ランジスタのゲートには、温度センサ27の出力を反転
増幅器35によって反転増幅した信号(電圧)が印加さ
れる。具体的には、温度が上がるにつれて直線的に増加
する電圧である。反転増幅器35の増幅率の調整などに
より、このゲート電圧が、おおよそ温度45℃のときに
MOSトランジスタMP3のスレショールド電圧になる
ように設定すれば、45℃以上の温度では、温度が上が
るにつれてスレショールド電圧よりも高いゲート電圧
が、MOSトランジスタMP2に印加される。
【0062】したがって、45℃以上では温度が上昇す
るにつれて、高温側2乗変換回路31は、MOSトラン
ジスタMP3のドレインから2乗曲線信号を出力する。
このようなMOSトランジスタの2乗則領域での特性を
利用した2乗曲線信号の一例を図4に示す。
【0063】図4に示すように、低温側2乗変換回路2
9が発生する低温側2乗曲線信号37は、15℃から低
温側に温度が下がるにつれて、15℃との温度差の2乗
に比例して電圧が下がり、15℃以上の温度では一定で
ある。一方、高温側2乗変換回路31が発生する高温側
2乗曲線信号39は、45℃から高温側に温度が上がる
につれて、45℃との温度差の2乗に比例して電圧が下
がり、45℃以下の温度では一定である。
【0064】そして、図3に示すように、低温側2乗変
換回路29の出力は入力抵抗17を介してMOS型コン
デンサ3のゲート電極に入力し、高温側2乗変換回路3
1の出力は入力抵抗18を介してMOS型コンデンサ3
の対向電極に入力している。したがって、15℃以下の
低温側では、MOS型コンデンサ3のゲート電極の電位
が対向電極の電位よりも低くなり、45℃以上の高温側
では、MOS型コンデンサ3のゲート電極の電位が対向
電極の電位よりも高くなる。
【0065】このMOS型コンデンサ3は、n形半導体
基板とn形ゲート電極とを有する低濃度薄膜構造である
から、その特性は図2に示したC−Vカーブ25のよう
になっている。したがって、15℃以下の低温側では、
MOS型コンデンサ3の容量値は減少し、45℃以上の
高温側では、MOS型コンデンサ3の容量値は増加す
る。
【0066】MOS型コンデンサ3の容量値が減少すれ
ば、水晶発振回路10の発振周波数は上昇し、MOS型
コンデンサ3の容量値が増加すれば、水晶発振回路10
の発振周波数は低下する。そして、低温側2乗変換回路
29および高温側2乗変換回路31が発生する2乗曲線
信号は、ATカット水晶振動子の温度特性の曲線部分を
精度良く近似するから、図3に示す構成により、ATカ
ット水晶振動子1としてフラット水晶を使用した水晶発
振回路10の温度補償を実現できる。
【0067】なお、図3に示す温度補償型水晶発振器に
おいては、低温側2乗変換回路29と高温側2乗変換回
路31とで1つの温度センサ27を共用している。しか
し、これは必須の構成ではなく、低温側温度センサと高
温側温度センサとを別に設けてもよい。
【0068】ところで、ATカット水晶振動子はフラッ
ト水晶ばかりではなく、一般的にはフラット水晶の温度
特性に、全温度範囲にわたって一定の勾配が付加された
温度特性を有している。そのようなATカット水晶振動
子の場合でも、図1によって説明した第1の実施形態に
おいて、第1の制御信号発生回路13あるいは第2の制
御信号発生回路14のいずれかに、勾配補正信号を付加
することにより、温度補償を実現することができる。
【0069】その場合の温度補償型水晶発振器は、低温
側直線化補正信号発生回路と、高温側直線化補正信号発
生回路と、勾配補正信号発生回路との3つの信号発生回
路を備える構成とし、このうち任意の2つの信号を合成
する回路を第1の制御信号発生回路13とし、残りの1
つの信号発生回路を第2の制御信号発生回路14とすれ
ばよい。ここで、第2の制御信号発生回路14が任意の
2つの信号を合成する回路であってもよい。
【0070】そして、任意の2つの信号が低温側直線化
補正信号および高温側直線化補正信号の場合は、2つの
抵抗を使用する内分回路で信号合成を行えばよい。ま
た、任意の2つの信号のうちのいずれか一方が勾配補正
信号の場合は、勾配補正信号を反転ポイントとし、他の
信号を入力とする反転増幅器で信号合成を行えばよい。
なお、勾配補正信号発生回路は、温度センサの出力を比
例変換する回路とする。あるいは、ATカット水晶振動
子によっては低温側と高温側とで勾配が異なる場合があ
り、その場合の勾配補正信号発生回路は、折れ線信号発
生回路とする。
【0071】さらに、ATカット水晶振動子は、温度補
償だけではなく、全体的な周波数のシフト調整(fゼロ
調整という)も行わなければならないことが一般的であ
る。そのような場合でも、図1によって説明した第1の
実施形態において、第1の制御信号発生回路13あるい
は第2の制御信号発生回路14のいずれかに、fゼロ調
整信号を付加することにより、周波数精度の良い温度補
償型水晶発振器を実現することができる。
【0072】その場合の温度補償型水晶発振器は、低温
側直線化補正信号発生回路と、高温側直線化補正信号発
生回路と、勾配補正信号発生回路と、fゼロ調整信号発
生回路の4つの信号発生回路を備える構成とする。そし
て、第1の制御信号発生回路13はこのうちの任意の2
つの信号を合成する回路とし、第2の制御信号発生回路
14は残りの2つの信号を合成する回路とすればよい。
【0073】あるいは、第1の制御信号発生回路13は
任意の3つの信号を合成する回路とし、第2の制御信号
発生回路14は残りの信号発生回路としてもよい。ここ
で、第2の制御信号発生回路14が任意の3つの信号を
合成する回路であってもよい。
【0074】任意の3つの信号が、低温側直線化補正信
号と高温側直線化補正信号と勾配補正信号とである場合
は、合成信号は温度補償信号ということである。たとえ
温度補償信号として合成するのであっても、温度補償信
号をいきなり発生させるのではなしに、直線化補正信号
と勾配補正信号とに分けて発生させることが、温度補償
型水晶発振器の低コスト化のために重要である。
【0075】なお、fゼロ調整信号発生回路は、不揮発
性メモリとD/A変換回路とで容易に構成でき、特別な
回路ではないので詳細な説明は省略する。さらに、携帯
電話の仕様によっては、外部周波数制御信号によって、
基地局からの基準周波数に発振周波数を合わせる機能が
必要である。
【0076】そのような場合は、図1に示す第1の実施
形態において、第1の制御信号発生回路13あるいは第
2の制御信号発生回路14のいずれかに、外部周波数制
御信号を付加すればよい。ただし、外部周波数制御信号
の電圧幅は、電源電圧の半分以上を占めるから、これを
そのまま使用する場合は、温度補償などに必要な制御信
号の電圧幅が不足してしまう。
【0077】そこで、外部周波数制御信号を比例変換し
て電圧幅を圧縮するための、外部周波数制御比例信号発
生回路が必要になる。つまり、このような仕様の温度補
償型水晶発振器は、低温側直線化補正信号発生回路と、
高温側直線化補正信号発生回路と、勾配補正信号発生回
路と、fゼロ調整信号発生回路と、外部周波数制御比例
信号発生回路の5つの信号発生回路を備える構成とす
る。
【0078】そして、第1の制御信号発生回路13はこ
のうちの任意の4つの信号を合成する回路とし、第2の
制御信号発生回路14は残りの信号発生回路とすればよ
い。あるいは、第1の制御信号発生回路13は任意の3
つの信号を合成する回路とし、第2の制御信号発生回路
14は残りの2つの信号を合成する回路としてもよい。
【0079】もちろん、第2の制御信号発生回路14が
任意の4つの信号を合成する回路あるいは任意の3つの
信号を合成する回路であってもよい。合成する信号の組
み合わせがどのようなものであっても、MOS型コンデ
ンサ3の両端子を2つの信号で制御することが、一種の
信号合成回路であるから、結局はすべての信号が合成さ
れることになる。
【0080】したがって、図1に示した第1の実施形態
により、温度補償と外部周波数制御との相互干渉の排除
が可能な温度補償型水晶発振器も実現できる。以上の説
明で明らかなように、本発明の第1の実施形態では、2
つの制御信号で容量値を制御する1つのMOS型コンデ
ンサを用いて、温度補償範囲が広い温度補償型水晶発振
器を実現することができる。
【0081】〔第2乃至第7の実施形態:図5乃至図1
1〕ところで、MOS型コンデンサの使い方は第1の実
施形態に限定されるものではない。1つのMOS型コン
デンサを用いて、温度補償範囲が広い温度補償型水晶発
振器を実現するための、いくつかの他の実施形態を以下
に示す。その各実施形態の構成を示す図5乃至図11に
おいて、図1と同じ部分には同一符号を付してあり、そ
れらの説明は省略する。
【0082】図5は、この発明による温度補償型水晶発
振器の第2の実施形態の構成を示すブロック回路図であ
る。図1に示した第1の実施形態においては第2の固定
容量21が増幅器11に並列に接続されていたのに対
し、この第2の実施形態においては、増幅器11の出力
端子及び入力端子と任意の定電圧源(この例ではグラン
ド)との間に、それぞれ第2の固定容量21と第3の固
定容量22とが接続されている点が異なっている。
【0083】交流回路としては、第1の実施形態とは全
く同等である。しかし、この第2の実施形態の場合に
は、電源投入時に増幅器11の両端子が一瞬グランドレ
ベルになるため、第1の実施形態の温度補償型水晶発振
器よりも発振起動性が良好である。
【0084】図6は、この発明による温度補償型水晶発
振器の第3の実施形態の構成を示すブロック回路図であ
る。この第3の実施形態の温度補償型水晶発振器は、図
1に示した第1の実施形態に対して第2の固定容量21
の接続が一部異なるのみであり、その他の構成及び機能
は第1の実施形態の温度補償型水晶発振器と同等であ
る。
【0085】すなわち、この図6に示す第3の実施形態
の温度補償型水晶発振器では、第2の固定容量21が、
ATカット水晶振動子1とMOS型コンデンサ3との直
列接続に並列に接続されている。
【0086】図7は、この発明の第4の実施の形態であ
る温度補償型水晶発振器の構成を示すブロック回路図で
ある。この第4の実施形態は、図5に示した第2の実施
形態の温度補償型水晶発振器に対して、第3の固定容量
22の接続が一部異なるのみである。すなわち、この図
7に示す第4の実施形態では、MOS型コンデンサ3と
第1の固定容量5との接続点と任意の定電圧源(この例
ではグランド)との間に、第2の固定容量21が接続さ
れている。
【0087】図8は、この発明による温度補償型水晶発
振器の第5の実施形態の構成を示すブロック回路図であ
る。この第5の実施形態の温度補償型水晶発振器は、第
1の固定容量5とMOS型コンデンサ3と第2の固定容
量21との直列接続からなる可変容量回路全体が、AT
カット水晶振動子1に並列に接続されている。このよう
な構成は、ATカット水晶振動子1の容量比を直接変化
させる働きがあり、可変容量回路の容量変化がわずかで
あっても、発振周波数を大きく変化させることができ
る。
【0088】図9は、この発明による温度補償型水晶発
振器の第6の実施形態の構成を示すブロック回路図であ
る。第6の実施形態の温度補償型水晶発振器は、第5の
実施形態と同様な第1の固定容量5とMOS型コンデン
サ3と第2の固定容量21との直列接続からなる可変容
量回路を構成しているが、そのMOS型コンデンサ3と
ATカット水晶振動子1とを並列に接続している。この
ような構成では、MOS型コンデンサ3の最大容量値を
10pF以下に小さく設定することができる。
【0089】図10および図11は、この発明による温
度補償型水晶発振器の第7の実施形態の構成を示すブロ
ック回路図である。この第7の実施形態の温度補償型水
晶発振器では、図10および図11に示すように、第1
の固定容量5とMOS型コンデンサ3と第2の固定容量
21との直列接続からなる可変容量回路が、ATカット
水晶振動子1と増幅器11との並列接続の一端と任意の
定電圧源(この例ではグランド)との間に接続されてい
る。
【0090】上記直列接続は、図11に示すように増幅
器11の発振インバータ7の出力側に接続するようにし
てもよいが、図10に示すように発振インバータ7の入
力側に接続する方が、周波数可変幅が大きくなる。
【0091】これらの各実施形態の温度補償型水晶発振
器においても、第1の制御信号発生回路13と第2の制
御信号発生回路14は、第1の実施形態において図3に
示した温度センサ27と低温側2乗変換回路29および
高温側2乗変換回路31からなる、低温側直線化補正信
号発生回路および高温側直線化補正信号発生回路とする
ことができる。
【0092】あるいはさらに、前述した勾配補正信号発
生回路、fゼロ調整信号発生回路、外部周波数制御比例
信号発生回路等も設けて、第1の制御信号発生回路13
はこのうちの任意の4つあるいは3つの信号を合成する
回路とし、第2の制御信号発生回路14は残りの1つの
信号発生回路あるいは残りの2つの信号を合成する回路
などとしてもよい。もちろん、第2の制御信号発生回路
14が任意の4つの信号あるいは3つの信号を合成する
回路であってもよい。
【0093】〔第8乃至第11の実施形態:図12乃至
図15〕つぎに、2つのMOS型コンデンサを用いるこ
の発明の実施形態について説明する。図12は、この発
明による温度補償型水晶発振器の第8の実施形態の構成
を示すブロック回路図である。
【0094】この第8の実施形態の温度補償型水晶発振
器は、図12に示すように、ATカット水晶振動子1と
増幅器11とを並列に接続し、そのATカット水晶振動
子1に並列に、第1の固定容量5と第1のMOS型コン
デンサ3と第2のMOS型コンデンサ4と第2の固定容
量21との直列接続を並列に接続して、水晶発振回路1
0を構成している。さらに、第1のMOS型コンデンサ
3と第2のMOS型コンデンサ4との接続点と任意の定
電位源(この例ではグランド)との間に第3の固定容量
22を接続している。
【0095】増幅器11は、前述の各実施形態と同様に
発振インバータ7と帰還抵抗9との並列接続から成る。
そして、この水晶発振回路10の第1の固定容量5と第
1のMOS型コンデンサ3との接続点に、第1の入力抵
抗17を介して温度補償用の第1の制御信号発生回路1
3の出力端子を接続し、第2の固定容量21と第2のM
OS型コンデンサ4との接続点と第1の制御信号発生回
路13の出力端子との間に、第2の入力抵抗18を接続
する。
【0096】さらに、第1のMOS型コンデンサ3と第
2のMOS型コンデンサ4との接続点に、第3の入力抵
抗19を介して温度補償用の第2の制御信号発生回路1
4の出力端子を接続する。
【0097】第1の入力抵抗17,第2の入力抵抗1
8,および第3の入力抵抗19は、直流信号を通し交流
信号を遮断する役目を果たすものであり、もし第1の制
御信号発生回路13および第2の制御信号発生回路14
の出力インピーダンスが充分に高ければ、その各出力で
ある制御信号を、これらの入力抵抗を介さずに直接MO
S型コンデンサ3,4に印加するようにしてもよい。
【0098】ただし、第1の入力抵抗17と第2の入力
抵抗18とを、両方とも省略することはできない。第1
の制御信号発生回路13および第2の制御信号発生回路
14は、第1のMOS型コンデンサ3および第2のMO
S型コンデンサ4の容量値が電源電圧変動の影響を受け
ないようにするため、同一の電位を基準として制御信号
を発生する。たとえば、いずれもグランドを基準とする
などである。
【0099】第1の実施形態の説明においても述べたよ
うに、一般的なATカット水晶振動子を使用する温度補
償型水晶発振器は、低温側直線化補正信号発生回路と、
高温側直線化補正信号発生回路と、勾配補正信号発生回
路と、fゼロ調整信号発生回路との4つの信号発生回路
を備える構成とすることが、低コスト化のために重要で
ある。
【0100】あるいは、外部周波数制御信号によって基
地局からの基準周波数に発振周波数を合わせる機能が必
要な仕様の場合は、低温側直線化補正信号発生回路と、
高温側直線化補正信号発生回路と、勾配補正信号発生回
路と、fゼロ調整信号発生回路と、外部周波数制御比例
信号発生回路との5つの信号発生回路を備える構成とす
る。
【0101】これら4つあるいは5つの信号発生回路
を、第1の制御信号発生回路13あるいは第2の制御信
号発生回路14にどのように振り分けるかについては、
重複しないこと以外はとくに制限はない。重複しない限
りは、どのように振り分けたとしても、最終的にはすべ
ての信号が合成されるからである。
【0102】この図12に示した第8の実施形態では、
ATカット水晶振動子1の両端子の容量値を同時に変化
させる構成であるため、容量のバランスを最適に保ちな
がら温度補償ができるという効果がある。
【0103】図13は、この発明による温度補償型水晶
発振器の第9の実施形態の構成を示すブロック回路図で
ある。この温度補償型水晶発振器では、図13に示すよ
うに、第1の固定容量5とATカット水晶振動子1と第
2の固定容量21とを直列に接続し、その直列接続と増
幅器11とを並列に接続している。
【0104】さらに、そのATカット水晶振動子1と並
列に、第1のMOS型コンデンサ3と第2のMOS型コ
ンデンサ4との直列接続を接続し、その第1のMOS型
コンデンサ3と第2のMOS型コンデンサ4との接続点
と任意の定電位源(この例ではグランド)との間に、第
3の固定容量22を接続して、水晶発振回路10を構成
している。
【0105】そして、第1の固定容量5と第1のMOS
型コンデンサ3との接続点に、直接あるいは第1の入力
抵抗17を介して温度補償用の第1の制御信号発生回路
13の出力端子を接続する。また、第2の固定容量21
と第2のMOS型コンデンサ4との接続点と第1の制御
信号発生回路13の出力端子との間に、第2の入力抵抗
18を接続する。
【0106】また、第1のMOS型コンデンサ3と第2
のMOS型コンデンサ4との接続点に、直接あるいは第
3の入力抵抗19を介して温度補償用の第2の制御信号
発生回路14の出力端子を接続する。この第9の実施形
態によっても、図12に示した第8の実施形態と同様な
作用効果が得られる。
【0107】図14は、この発明による温度補償型水晶
発振器の第10の実施形態の構成を示すブロック回路図
である。この、温度補償型水晶発振器は、ATカット水
晶振動子1に発振インバータ7と帰還抵抗9との並列接
続から成る増幅器11が並列に接続している。
【0108】そして、第1の固定容量5と第1のMOS
型コンデンサ3と第2のMOS型コンデンサ4と第2の
固定容量21との直列接続が、ATカット水晶振動子1
に並列に接続し、その第1のMOS型コンデンサ3と第
2のMOS型コンデンサ4との接続点と任意の定電圧源
(この例ではグランド)との間に第3の固定容量22を
接続して、水晶発振回路10を構成している。
【0109】この水晶発振回路10の第1の固定容量5
と第1のMOS型コンデンサ3との接続点に、直接ある
いは第1の入力抵抗17を介して第1の制御信号発生回
路13の出力端子を接続する。また、第2の固定容量2
1と第2のMOS型コンデンサ4との接続点に、直接あ
るいは第2の入力抵抗18を介して第2の制御信号発生
回路14の出力端子を接続する。
【0110】さらに、第1のMOS型コンデンサ3と第
2のMOS型コンデンサ4との接続点に、直接あるいは
第3の入力抵抗19を介して第3の制御信号発生回路1
5の出力端子を接続する。
【0111】第1,第2,第3の制御信号発生回路1
3,14,15は、第1のMOS型コンデンサ3および
第2のMOS型コンデンサ4の容量値が電源電圧変動の
影響を受けないようにするため、同一の電位を基準とし
て制御信号を発生する。たとえば、いずれもグランドを
基準とするなどである。そして、これらの各制御信号発
生回路13,14,15は、電源電圧範囲内の任意の電
圧を出力できる。
【0112】このため、第1のMOS型コンデンサ3お
よび第2のMOS型コンデンサ4の物理的な容量変化幅
のすべてを有効に利用することができる。前述のよう
に、第1のMOS型コンデンサ3は、第1の制御信号S
1と第3の制御信号S3との実質的な信号合成回路にな
っている。そして、第1の制御信号S1と第2の制御信
号S2とは同格であるから、第2のMOS型コンデンサ
4は、第2の制御信号S2と第3の制御信号S3との実
質的な信号合成回路になっている。
【0113】したがって、この図14に示す第10の実
施形態における第1のMOS型コンデンサ3と第2のM
OS型コンデンサ4との組は、第1の制御信号S1と第
2の制御信号S2と第3の制御信号S3との、3つの信
号の合成回路になっている。
【0114】第1の実施形態の説明でも述べたように、
一般的なATカット水晶振動子を使用する温度補償型水
晶発振器は、低温側直線化補正信号発生回路と、高温側
直線化補正信号発生回路と、勾配補正信号発生回路と、
fゼロ調整信号発生回路との4つの信号発生回路を備え
る構成とすることが、低コスト化のために重要である。
【0115】あるいは、外部周波数制御信号によって基
地局からの基準周波数に発振周波数を合わせる機能が必
要な仕様の場合は、低温側直線化補正信号発生回路と、
高温側直線化補正信号発生回路と、勾配補正信号発生回
路と、fゼロ調整信号発生回路と、外部周波数制御比例
信号発生回路との5つの信号発生回路を備える構成とす
る。
【0116】これら4つあるいは5つの信号発生回路
を、第1の制御信号発生回路13、第2の制御信号発生
回路14、あるいは第3の制御信号発生回路15にどの
ように振り分けるかについては、重複しないこと以外は
とくに制限はない。重複しない限りは、どのように振り
分けたとしても、最終的にはすべての信号が合成される
からである。
【0117】したがって、この図14に示す第10の実
施形態は、図12および図13に示した第8,第9の実
施形態よりも制御信号発生回路が1つ多いため、最終的
に1つの信号に合成されるという結果は同じであって
も、制御信号発生段階における信号合成回路を1つ少な
くすることができるという効果がある。
【0118】図15は、この発明による温度補償型水晶
発振器の第11の実施形態の構成を示すブロック回路図
である。この第11の実施形態は、その水晶発振回路1
0の構成を図13に示した第9の実施形態における水晶
発振器10と同じ構成にして、それに図14に示した第
10の実施形態と同様に、第1,第2,第3の制御信号
発生回路13,14,15の各出力端子を直接あるいは
各入力抵抗17,18,19を介して接続して、その各
制御信号S1,S2,S3をMOS型コンデンサ3,4
に印加するようにしたものである。
【0119】この第11の実施形態によっても、前述の
第10の実施形態の温度補償型水晶発振器と同様な作用
効果が得られる。さて、上述のようにこの発明において
は、いずれの実施形態においてもMOS型コンデンサの
両端子に制御信号を印加する構成としている。したがっ
て、この発明に使用するMOS型コンデンサは、ゲート
電極のみでなく、対向電極も周囲から電気的に分離する
構造でなければならない。
【0120】MOS型コンデンサの対向電極を電気的に
分離する公知の技術は、pn接合を用いる手段である。
しかしこの手段は、pn接合による浮遊容量の問題の他
に、電圧印加後の周波数のドリフトという致命的な欠点
があるため、この発明には採用できない。
【0121】そこで、この発明において使用するMOS
型コンデンサの対向電極は、周囲から絶縁分離する構造
とする。この絶縁分離の手段として最も容易なものは、
制御信号発生回路などを形成する半導体基板と、MOS
型コンデンサを形成する半導体基板とを分離することで
ある。
【0122】このように半導体基板を分離することは、
MOS型コンデンサのゲート絶縁膜の種類や厚さを、制
御信号発生回路などとは無関係に自由に設定できるた
め、物理的な容量変化率が大きいMOS型コンデンサを
作りやすいという効果がある。
【0123】また、シリコンオンインシュレータによる
絶縁分離という手段を採用してもよい。ただし、この場
合、活性層の厚さが薄すぎて空乏層が活性層の下面に達
してしまうと、容量値が激変するため、活性層はある程
度以上の厚さが必要である。温度補償型水晶発振器の電
源電圧は通常3V以下であるから、活性層の厚さは10
0nm以上あればよい。
【0124】以上、この発明の各種の実施形態にについ
て説明したが、この発明は上述の実施形態に限定される
ものではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々の変更
が可能である。
【0125】たとえば、上述の各実施形態においては、
n形半導体基板とn形ゲート電極とを有するMOS型コ
ンデンサを例にして説明しているが、p形半導体基板と
p形ゲート電極とを有するMOS型コンデンサでもよい
し、半導体基板とゲート電極とが反対導電形でもよい。
【0126】さらに、図5,図7,図10,図11,図
12,図13,図14,および図15に示した各実施形
態においては、第2の固定容量21又は第3の固定容量
22の接続先をグランドとしているが、接続先の直流レ
ベルは任意である。したがって、たとえば高電位側の電
源(Vcc)でもよい。
【0127】また、図12から図15に示した実施形態
において、第1のMOS型コンデンサ3と第2のMOS
型コンデンサ4との対向電極同士を接続しているが、別
チップで構成するなどの手段により半導体基板を分離す
るならば、第2のMOS型コンデンサ4のゲート電極を
第1のMOS型コンデンサ3の対向電極に接続してもよ
い。
【0128】
【発明の効果】以上説明してきたように、この発明によ
る温度補償型水晶発振器においては、MOS型コンデン
サの両端子に制御信号を印加する構成とすることによ
り、温度補償範囲の拡大が可能で、温度補償と外部周波
数制御との相互干渉の排除が可能な温度補償型水晶発振
器を提供することができる。したがって、特にCDMA
仕様が要求される携帯電話機搭載用の温度補償型水晶発
振器に適用すれば、その効果は極めて大きい。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明による温度補償型水晶発振器の第1の
実施形態の構成を示すブロック回路図である。
【図2】この発明による温度補償型水晶発振器で使用す
るMOS型コンデンサのC−Vカーブの特性例を示す線
図である。
【図3】図1の実施形態において第1,第2の制御信号
発生回路の具体例を示した回路図である。
【図4】この発明による温度補償型水晶発振器で使用す
る2乗曲線信号の一例を示す線図である。
【図5】この発明による温度補償型水晶発振器の第2の
実施形態の構成を示すブロック回路図である。
【図6】この発明による温度補償型水晶発振器の第3の
実施の形態の構成を示すブロック回路図である。
【図7】この発明による温度補償型水晶発振器の第4の
実施形態の構成を示すブロック回路図である。
【図8】この発明による温度補償型水晶発振器の第5の
実施形態の構成を示すブロック回路図である。
【図9】この発明による温度補償型水晶発振器の第6の
実施形態の構成を示すブロック回路図である。
【図10】この発明による温度補償型水晶発振器の第7
の実施形態の構成を示すブロック回路図である。
【図11】同じくその変形例を示すブロック回路図であ
る。
【図12】この発明による温度補償型水晶発振器の第8
の実施形態の構成を示すブロック回路図である。
【図13】この発明による温度補償型水晶発振器の第9
の実施形態の構成を示すブロック回路図である。
【図14】この発明による温度補償型水晶発振器の第1
0の実施形態の構成を示すブロック回路図である。
【図15】この発明による温度補償型水晶発振器の第1
1の実施形態の構成を示すブロック回路図である。
【図16】従来の温度補償型水晶発振器に使用されてい
る可変容量回路の一例を示す回路図である。
【符号の説明】
1:ATカット水晶振動子 3,4:MOS型コンデンサ 5,21,22:固定容量 7:発振インバータ 8:出力端子 9:帰還抵抗 11:増幅器 13:第1の制御信号発生回路 14:第2の制御信号発生回路 15:第3の制御信号発生回路 17:第1の入力抵抗 18:第2の入力抵抗 19:第3の入力抵抗 27:温度センサ 29:低温側2乗変換回路 31:高温側2乗変換回路 33:正転増幅器 35:反転増幅器

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 ATカット水晶振動子と発振周波数調整
    用の可変容量としてのMOS型コンデンサとを有する水
    晶発振回路と、 前記MOS型コンデンサの一方の端子に直接あるいは第
    1の入力抵抗を介して接続する温度補償用の第1の制御
    信号発生回路と、 前記MOS型コンデンサの他方の端子に直接あるいは第
    2の入力抵抗を介して接続する温度補償用の第2の制御
    信号発生回路と、 を備えたことを特徴とする温度補償型水晶発振器。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の温度補償型水晶発振器に
    おいて、 前記水晶発振回路が、ATカット水晶振動子とMOS型
    コンデンサと第1の固定容量との直列接続と、該直列接
    続に並列に接続する増幅器と、該増幅器に並列に接続す
    る第2の固定容量とからなることを特徴とする温度補償
    型水晶発振器。
  3. 【請求項3】 請求項1記載の温度補償型水晶発振器に
    おいて、 前記水晶発振回路が、ATカット水晶振動子とMOS型
    コンデンサと第1の固定容量との直列接続と、該直列接
    続に並列に接続する増幅器と、該増幅器の入力端子およ
    び出力端子と任意の定電位源との間にそれぞれ接続され
    る第2の固定容量および第3の固定容量とからなること
    を特徴とする温度補償型水晶発振器。
  4. 【請求項4】 請求項1記載の温度補償型水晶発振器に
    おいて、 前記水晶発振回路が、ATカット水晶振動子とMOS型
    コンデンサと第1の固定容量との直列接続と、該直列接
    続に並列に接続する増幅器と、前記ATカット水晶振動
    子とMOS型コンデンサとの直列接続に並列に接続され
    る第2の固定容量とからなることを特徴とする温度補償
    型水晶発振器。
  5. 【請求項5】 請求項1記載の温度補償型水晶発振器に
    おいて、 前記水晶発振回路が、ATカット水晶振動子とMOS型
    コンデンサと第1の固定容量との直列接続と、該直列接
    続に並列に接続する増幅器と、該増幅器と前記ATカッ
    ト水晶振動子との接続点と任意の定電位源との間に接続
    される第2の固定容量と、前記MOS型コンデンサと第
    1の固定容量との接続点と任意の定電位源との間に接続
    される第3の固定容量とからなることを特徴とする温度
    補償型水晶発振器。
  6. 【請求項6】 請求項1記載の温度補償型水晶発振器に
    おいて、 前記水晶発振回路が、第1の固定容量とMOS型コンデ
    ンサと第2の固定容量との直列接続と、該直列接続に並
    列に接続する幅器と、該増幅器に並列に接続するATカ
    ット水晶振動子とからなることを特徴とする温度補償型
    水晶発振器。
  7. 【請求項7】 請求項1記載の温度補償型水晶発振器に
    おいて、 前記水晶発振回路が、第1の固定容量とMOS型コンデ
    ンサと第2の固定容量との直列接続と、該直列接続に並
    列に接続する増幅器と、前記MOS型コンデンサに並列
    に接続されるATカット水晶振動子とからなることを特
    徴とする温度補償型水晶発振器。
  8. 【請求項8】 請求項1記載の温度補償型水晶発振器に
    おいて、 前記水晶発振回路が、ATカット水晶振動子と増幅器と
    の並列接続と、前記ATカット水晶振動子の一方の端子
    と任意の定電位源との間に接続される、第1の固定容量
    とMOS型コンデンサと第2の固定容量との直列接続と
    からなることを特徴とする温度補償型水晶発振器。
  9. 【請求項9】 ATカット水晶振動子と増幅器との並列
    接続と、 前記ATカット水晶振動子に並列に接続される、第1の
    固定容量と第1のMOS型コンデンサと第2のMOS型
    コンデンサと第2の固定容量との直列接続と、 前記第1のMOS型コンデンサと前記第2のMOS型コ
    ンデンサとの接続点と任意の定電位源との間に接続され
    る第3の固定容量と、 前記第1の固定容量と前記第1のMOS型コンデンサと
    の接続点に直接あるいは第1の入力抵抗を介して接続す
    る温度補償用の第1の制御信号発生回路と、 前記第2の固定容量と前記第2のMOS型コンデンサと
    の接続点と前記第1の制御信号発生回路との間に接続さ
    れる第2の入力抵抗と、 前記第1のMOS型コンデンサと前記第2のMOS型コ
    ンデンサとの接続点に直接あるいは第3の入力抵抗を介
    して接続する温度補償用の第2の制御信号発生回路と、 からなることを特徴とする温度補償型水晶発振器。
  10. 【請求項10】 第1の固定容量とATカット水晶振動
    子と第2の固定容量との直列接続と、 該直列接続に並列に接続する増幅器と、 前記ATカット水晶振動子に並列に接続される、第1の
    MOS型コンデンサと第2のMOS型コンデンサとの直
    列接続と、 その第1のMOS型コンデンサと第2のMOS型コンデ
    ンサとの接続点と任意の定電位源との間に接続される第
    3の固定容量と、 前記第1の固定容量と前記第1のMOS型コンデンサと
    の接続点に直接あるいは第1の入力抵抗を介して接続す
    る温度補償用の第1の制御信号発生回路と、 前記第2の固定容量と前記第2のMOS型コンデンサと
    の接続点と前記第1の制御信号発生回路との間に接続さ
    れる第2の入力抵抗と、 前記第1のMOS型コンデンサと前記第2のMOS型コ
    ンデンサとの接続点に直接あるいは第3の入力抵抗を介
    して接続する温度補償用の第2の制御信号発生回路と、 からなることを特徴とする温度補償型水晶発振器。
  11. 【請求項11】 ATカット水晶振動子と増幅器との並
    列接続と、 前記ATカット水晶振動子に並列に接続される、第1の
    固定容量と第1のMOS型コンデンサと第2のMOS型
    コンデンサと第2の固定容量との直列接続と、 前記第1のMOS型コンデンサと前記第2のMOS型コ
    ンデンサとの接続点と任意の定電位源との間に接続され
    る第3の固定容量と、 前記第1の固定容量と前記第1のMOS型コンデンサと
    の接続点に直接あるいは第1の入力抵抗を介して接続す
    る温度補償用の第1の制御信号発生回路と、 前記第2の固定容量と前記第2のMOS型コンデンサと
    の接続点に直接あるいは第2の入力抵抗を介して接続す
    る温度補償用の第2の制御信号発生回路と、 前記第1のMOS型コンデンサと前記第2のMOS型コ
    ンデンサとの接続点に直接あるいは第3の入力抵抗を介
    して接続する温度補償用の第3の制御信号発生回路と、 からなることを特徴とする温度補償型水晶発振器。
  12. 【請求項12】 第1の固定容量とATカット水晶振動
    子と第2の固定容量との直列接続と、 この直列接続に並列に接続する増幅器と、 前記ATカット水晶振動子に並列に接続される、第1の
    MOS型コンデンサと第2のMOS型コンデンサとの直
    列接続と、 その第1のMOS型コンデンサと第2のMOS型コンデ
    ンサとの接続点と任意の定電位源との間に接続される第
    3の固定容量と、 前記第1の固定容量と前記第1のMOS型コンデンサと
    の接続点に直接あるいは第1の入力抵抗を介して接続す
    る温度補償用の第1の制御信号発生回路と、 前記第2の固定容量と前記第2のMOS型コンデンサと
    の接続点に直接あるいは第2の入力抵抗を介して接続す
    る温度補償用の第2の制御信号発生回路と、 前記第1のMOS型コンデンサと前記第2のMOS型コ
    ンデンサとの接続点に直接あるいは第3の入力抵抗を介
    して接続する温度補償用の第3の制御信号発生回路と、 からなることを特徴とする温度補償型水晶発振器。
  13. 【請求項13】 請求項1乃至10のいずれか一項に記
    載の温度補償型水晶発振器において、 前記第1の制御信号発生回路は、前記ATカット水晶振
    動子の温度特性曲線を低温側にて直線化補正するための
    信号を発生する低温側直線化補正信号発生回路であり、 前記第2の制御信号発生回路は、前記ATカット水晶振
    動子の温度特性曲線を高温側にて直線化補正するための
    信号を発生する高温側直線化補正信号発生回路であるこ
    とを特徴とする温度補償型水晶発振器。
  14. 【請求項14】 請求項13記載の温度補償型水晶発振
    器において、 前記低温側直線化補正信号発生回路は、出力の温度特性
    がほぼ直線である温度センサと、該温度センサの出力を
    低温側にて2乗曲線信号に変換する低温側2乗変換回路
    とからなり、 前記高温側直線化補正信号発生回路は、出力の温度特性
    がほぼ直線である温度センサと、該温度センサの出力を
    高温側にて2乗曲線信号に変換する高温側2乗変換回路
    とからなることを特徴とする温度補償型水晶発振器。
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