JPH1126511A - バンプ付きワークの実装方法 - Google Patents
バンプ付きワークの実装方法Info
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Abstract
かり基板に実装できるバンプ付きワークの実装方法を提
供することを目的とする。 【解決手段】 基板1にボンド4を塗布した後、圧着ツ
ール8に保持されたバンプ付きワーク6を基板1に搭載
し、加圧しながら超音波振動を付与する。するとバンプ
7は電極2上の半田部3にめり込んで半田部3に金属間
接合して仮接着される。次に基板1を加熱炉へ送って加
熱し、ボンド4を硬化させれば、バンプ付きワーク6は
基板1にしっかり接着される。
Description
どのバンプ付きワークをボンドで基板に接着するバンプ
付きワークの実装方法に関するものである。
を基板に実装する場合、バンプ付きワークのバンプを基
板の電極に位置合わせしてバンプ付きワークを基板に搭
載した後、バンプ付きワークと基板の間にボンドを注入
し、ボンドを硬化させることにより、バンプ付きワーク
を基板に実装することが行われる。ボンドはバンプ付き
ワークを基板にしっかり接着して実装するために注入さ
れるものである。
方法は、ボンドは、バンプ付きワークを基板に搭載した
後、バンプ付きワークと基板の間に注入されていたた
め、注入作業にかなりの時間を要して生産性があがら
ず、また注入不足によりバンプ付きワークと基板の間に
空隙が生じやすく、この空隙によりボンドの接着力が低
下したり、あるいはヒートサイクルによる空隙内の空気
の熱膨張により硬化したボンドが破壊され、さらには空
隙が基板の電極付近に生じると、その空気により電極が
腐食するなどの問題点があった。
固化させることによりバンプは電極に半田付けされてい
たため、半田付けのためにかなりの時間を要し、生産性
があがらないものであった。
作業性よく、しかもしっかり基板に実装できるバンプ付
きワークの実装方法を提供することを目的とする。
クの実装方法は、基板の上面にボンドを塗布する工程
と、バンプ付きワークのバンプを前記基板の電極上の半
田部に着地させ、高周波振動を付与することによりバン
プの下端部を半田部にめり込ませて仮接着する工程と、
ボンドを加熱することにより硬化させてバンプ付きワー
クを基板に本接着する工程と、を含む。
は、基板の上面にボンドを塗布する工程と、バンプ付き
ワークのバンプを前記基板の電極に着地させ、高周波振
動を付与することによりバンプを電極に仮接着する工程
と、ボンドを加熱することにより硬化させてバンプ付き
ワークを基板に本接着する工程と、を含む。
布するのに先立って、基板の上面をプラズマエッチング
する。
ワークを基板に搭載する前に基板にボンドを塗布するの
で、従来方法のように空隙を生じにくく、信頼性の高い
実装が可能となる。またバンプは高周波振動により半田
部や電極に仮接着されるので、従来方法のように電極上
の半田部を加熱して溶融固化させる必要がなく、それだ
けタクトタイムを短縮して生産性を上げることができ
る。
立って、基板の上面をプラズマエッチングすることによ
り、基板の表面を活性化させ、ボンドの基板に対する接
着力を大巾に増大させ、バンプ付きワークを基板により
しっかり実装することができる。
て説明する。図1は、本発明の一実施の形態の基板の前
処理工程図、図2は同バンプ付きワークの実装工程図で
ある。
形成されている。電極2上には半田部3が形成されてい
る。半田部3は、メッキ法やレベラ法などによりプリコ
ート部として形成されている。この基板1をプラズマ処
理室に収納し、プラズマイオンeをその上面に衝突させ
ることにより、上面をエッチングして活性化させる。以
上のようにして基板1の前処理が終了したならば、基板
1にバンプ付きワークを実装する。次に、バンプ付きワ
ークの実装方法を図2を参照して説明する。
きワークの実装方法を工程順に示している。まず、図2
(a)に示すように、基板1の上面にボンド塗布器5に
よりボンド4を塗布する。このボンド4は熱硬化性樹脂
であり、好ましくはフィラーが混入される。
きワーク6を基板1に搭載する。バンプ付きワーク6の
下面にはバンプ7が突設されている。バンプ付きワーク
6は圧着ツール8の下面に真空吸着して保持されてお
り、バンプ7をボンド4にめり込ませて半田部3に着地
させ、基板1に搭載される。そしてバンプ付きワーク6
は圧着ツール8により基板1に押し付けられ(矢印
A)、その押圧力によりバンプ7の下端部は半田部3に
めり込む。なお半田部3は鉛とすずなどの柔かい合金で
あり、またバンプ7は金などの半田部3との接着性のよ
い導電性金属により形成されている。
せる際には、圧着ツール8に高周波振動を付与し、圧着
ツール8を横方向に超音波振動させる(矢印B)。する
とバンプ7と半田部3の接合部には金属間接合が進行
し、バンプ7は半田部3に接着される。この接着力は比
較的小さなものであり、したがってこの接着のことを本
発明では仮接着と称する。このように超音波振動させな
がらバンプ付きワーク6を基板1に押し付けると、この
超音波振動によりボンド4も振動してボンド4はバンプ
付きワーク6の下面全面に十分に廻り込み、またボンド
4中の気泡も追い出される。
1を加熱炉へ送り、ボンド4を加熱して硬化させれば、
バンプ付きワーク6は基板1にしっかり本接着され、実
装は終了する(図2(c))。この場合、基板1の表面
は前処理でプラズマエッチングして活性化されているの
で、ボンド4は基板1に強固に接着する。
付きワークの実装工程図である。図3(a)において、
ボンド塗布器5により基板1の上面にボンド4を塗布す
る。この基板1の電極2には、半田部は形成されていな
い。この電極2としては、バンプ7と同じ材質の金、も
しくは表面が金メッキされたものが金属間接合を得やす
く好適である。またこの基板1も、好ましくは、図1に
示す前処理によりプラズマエッチングを行い、これによ
り基板1の表面を活性化させるとともに、電極2の表面
をクリーニングしておく。
真空吸着して保持し、バンプ(金バンプ)7をボンド4
にめり込ませて電極2に着地させ(図3(b))、バン
プ付きワーク6を基板1に押し付けながら(矢印A)、
超音波振動を付与する(矢印B)。するとバンプ7の下
面は電極2にこすりつけられて若干扁平となり、金属間
接合によりバンプ7は電極2に仮接着される(図3
(c))。この場合、上記前処理により電極2をプラズ
マクリーニングすることにより、その表面の酸化膜もし
くは有機物は除去されるので、バンプ7はよりしっかり
電極2に接着される。このように超音波振動させながら
バンプ付きワーク6を基板1に押し付けると、この超音
波振動によりボンド4も振動してボンド4はバンプ付き
ワーク6の下面前面に十分に廻り込み、またボンド4中
の気泡も追い出される。
1を加熱炉へ送り、ボンド4を加熱して硬化させれば、
バンプ付きワーク6は基板1にしっかり本接着され、実
装は終了する(図3(d))。
載する前に、基板にボンドを塗布するので、従来方法の
ように空隙を生じにくく、信頼性の高い実装が可能とな
る。またバンプは高周波振動により半田部や電極に仮接
着されるので、従来方法のように電極上の半田部を加熱
して溶融固化させる必要がなく、それだけタクトタイム
を短縮して生産性を上げることができる。
立って、基板の上面をプラズマエッチングすることによ
り、基板の表面を活性化させ、ボンドの基板に対する接
着力を大巾に増大させ、バンプ付きワークを基板により
しっかり実装することができる。またプラズマエッチン
グにより電極表面の酸化膜を除去し、バンプをよりしっ
かり接着することができる。
装工程図
実装工程図
Claims (3)
- 【請求項1】基板の上面にボンドを塗布する工程と、バ
ンプ付きワークのバンプを前記基板の電極上の半田部に
着地させ、高周波振動を付与することによりバンプの下
端部を半田部にめり込ませて仮接着する工程と、ボンド
を加熱することにより硬化させてバンプ付きワークを基
板に本接着する工程と、を含むことを特徴とするバンプ
付きワークの実装方法。 - 【請求項2】基板の上面にボンドを塗布する工程と、バ
ンプ付きワークのバンプを前記基板の電極に着地させ、
高周波振動を付与することによりバンプを電極に仮接着
する工程と、ボンドを加熱することにより硬化させてバ
ンプ付きワークを基板に本接着する工程と、を含むこと
を特徴とするバンプ付きワークの実装方法。 - 【請求項3】基板の上面にボンドを塗布するのに先立っ
て、基板の上面をプラズマエッチングすることを特徴と
する請求項1または2記載のバンプ付きワークの実装方
法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18202497A JP3376861B2 (ja) | 1997-07-08 | 1997-07-08 | バンプ付きワークの実装方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP18202497A JP3376861B2 (ja) | 1997-07-08 | 1997-07-08 | バンプ付きワークの実装方法 |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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JP2002269550A Division JP3726795B2 (ja) | 2002-09-17 | 2002-09-17 | バンプ付きワークの実装方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH1126511A true JPH1126511A (ja) | 1999-01-29 |
JP3376861B2 JP3376861B2 (ja) | 2003-02-10 |
Family
ID=16111015
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18202497A Expired - Lifetime JP3376861B2 (ja) | 1997-07-08 | 1997-07-08 | バンプ付きワークの実装方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
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Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2001078131A1 (en) * | 2000-04-06 | 2001-10-18 | Cintech Ad Venture Pte Ltd | Process and assembly for applying an adhesive to a substrate |
WO2002015654A1 (fr) * | 2000-08-04 | 2002-02-21 | Toray Engineering Co., Ltd. | Procede de fixation et dispositif de fixation |
WO2003001858A1 (en) * | 2001-06-20 | 2003-01-03 | Toray Engineering Co., Ltd. | Method and device for installation |
JP2003023025A (ja) * | 2001-07-10 | 2003-01-24 | Fujitsu Ltd | 電気的相互接続方法 |
JP2003209138A (ja) * | 2002-01-11 | 2003-07-25 | Sony Chem Corp | 半導体装置の製造方法及びエアー圧送式ディスペンサー |
US6723627B1 (en) | 1999-10-08 | 2004-04-20 | Nec Corporation | Method for manufacturing semiconductor devices |
JP4691759B2 (ja) * | 2000-07-11 | 2011-06-01 | 日立化成工業株式会社 | 基板の接続方法 |
WO2017195517A1 (ja) * | 2016-05-09 | 2017-11-16 | 日立化成株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
-
1997
- 1997-07-08 JP JP18202497A patent/JP3376861B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6723627B1 (en) | 1999-10-08 | 2004-04-20 | Nec Corporation | Method for manufacturing semiconductor devices |
WO2001078131A1 (en) * | 2000-04-06 | 2001-10-18 | Cintech Ad Venture Pte Ltd | Process and assembly for applying an adhesive to a substrate |
JP4691759B2 (ja) * | 2000-07-11 | 2011-06-01 | 日立化成工業株式会社 | 基板の接続方法 |
WO2002015654A1 (fr) * | 2000-08-04 | 2002-02-21 | Toray Engineering Co., Ltd. | Procede de fixation et dispositif de fixation |
WO2003001858A1 (en) * | 2001-06-20 | 2003-01-03 | Toray Engineering Co., Ltd. | Method and device for installation |
JP2003023025A (ja) * | 2001-07-10 | 2003-01-24 | Fujitsu Ltd | 電気的相互接続方法 |
JP4672199B2 (ja) * | 2001-07-10 | 2011-04-20 | 富士通株式会社 | 電気的相互接続方法 |
JP2003209138A (ja) * | 2002-01-11 | 2003-07-25 | Sony Chem Corp | 半導体装置の製造方法及びエアー圧送式ディスペンサー |
WO2017195517A1 (ja) * | 2016-05-09 | 2017-11-16 | 日立化成株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JPWO2017195517A1 (ja) * | 2016-05-09 | 2018-11-22 | 日立化成株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
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