JPH11258771A - 露光データ作成方法、露光データ作成装置、及び、記録媒体 - Google Patents

露光データ作成方法、露光データ作成装置、及び、記録媒体

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JPH11258771A
JPH11258771A JP6545498A JP6545498A JPH11258771A JP H11258771 A JPH11258771 A JP H11258771A JP 6545498 A JP6545498 A JP 6545498A JP 6545498 A JP6545498 A JP 6545498A JP H11258771 A JPH11258771 A JP H11258771A
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正明 宮島
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芳雄 伊藤
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Abstract

(57)【要約】 【課題】ショット数を少なくして露光時間の短縮を図る
ことのできる露光データ作成方法を提供すること。 【解決手段】設計パターンが表現不可形状である場合
に、その表現不可形状を表現可能形状に補正可能か否か
を判定する。その判定結果に基づいて、補正可能と判定
した場合に表現不可形状を表現可能形状に補正した後、
その表現可能形状を分割ブロックパターンの形状に補正
可能か否かを判定する。その判定結果に基づいて、補正
可能と判定した場合に表現可能形状を分割ブロックパタ
ーンの形状に補正する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路の
設計パターンを露光媒体に対して露光するために用いら
れる露光データを作成する露光データ作成方法、露光デ
ータ作成装置、及び、記録媒体に関するものである。
【0002】近年の半導体集積回路(LSI)において
は、大規模化及び高集積化が進められ、そのLSIのパ
ターンを露光する際のショット数、即ちLSIを作成す
るために必要な露光データのデータ量も増大している。
ショット数の増加は露光時間の長時間化、ひいてはLS
Iの製造時間の長時間化を招くことから、ショット数を
低減して露光時間を短くすることが要求されている。
【0003】
【従来の技術】図43は、電子ビーム(EB)露光装置
の概略構成図である。EB露光装置は、プレート11及
びステンシルマスク(又はブロックマスクという)12
を備えている。プレート11には、所定面積の矩形形状
の開口13が形成されている。図44に示すように、ス
テンシルマスク12には、複数の第1透過孔14と複数
のブロック領域15が形成されている。第1透過孔14
は、所定面積の矩形形状に形成されている。
【0004】ブロック領域15には、第2透過孔16又
は第3透過孔17が形成されている。第2透過孔16の
形状は、LSIのレイアウトパターンデータから共通部
分を抽出した「繰り返しパターン」の形状に形成されて
いる。繰り返しパターンには、複数種類のパターンが含
まれる。この第2透過孔16が形成されたブロック領域
を「繰り返しブロック」という。
【0005】第3透過孔17の形状は、斜辺を含む「分
割パターン」の形状に形成されている。分割パターン
は、LSIのレイアウトパターンデータから斜辺を含む
レイアウトパターンを、ブロック領域14の大きさに対
応して斜辺を含むように分割したパターンである。この
第3透過孔17が形成されたブロック領域を「分割ブロ
ック」という。
【0006】露光装置は、図43の第1,第2電磁偏向
器19,20を制御し、プレート11により成形したビ
ームとステンシルマスク12の第1〜第3透過孔14〜
16との重なり具合を変え、各透過孔を透過するビーム
の断面形状、即ち露光パターンを制御する。そして、露
光装置は、第3電磁偏向器21を制御して透過ビームを
偏向させると共に、ステージ22をX,Y軸方向に移動
させ、該ステージ22上に載置された露光媒体としての
ウェハ23に所望のパターンを露光する。
【0007】露光装置は、第1透過孔14を透過したビ
ームにより、矩形形状のパターンを露光する。また、露
光装置は、プレート11により成形したビームと第1透
過孔14の重なり具合を変えることにより、ウェハ23
上に露光される矩形パターンの大きさを制御する。これ
により、露光装置は、可変矩形方式による露光方法を提
供する。
【0008】露光装置は、第2透過孔15を透過したビ
ームにより、複数種類のパターンをを含む繰り返しパタ
ーンを一度のショットにて露光する。また、露光装置
は、第3電磁偏向器21,ステージ22を制御し、第2
透過孔15を透過したビームにより同一形状の繰り返し
パターンを複数露光する。これにより、露光装置は、
「繰り返しブロック」を用いたブロック露光による露光
方法を提供する。このブロック露光は、ショット数を少
なくして露光時間を短縮する。
【0009】又、露光装置は、第3透過孔16を透過し
たビームにより、斜辺を含む分割パターンを一度のショ
ットにて露光する。露光装置は、分割パターンを組み合
わせることにより、所望の形状のパターンを露光する。
これにより、露光装置は、「分割ブロック」を用いたブ
ロック露光による露光方法を提供する。
【0010】一般に、図45上段に示すように、斜辺を
有するパターン24を図43のウェハ23に露光する場
合、可変矩形露光を行う露光装置はパターン24をショ
ット分割し、図45左下に示すごとく複数の矩形パター
ン25を露光する。即ち、この露光装置は、1つのパタ
ーン24を複数の矩形パターン25に分割して露光す
る。このことは、ショット数を増加させ、露光時間の長
時間化を招く。また、矩形パターン25によるショット
分割は、基のパターン24の斜辺が階段状に露光され
る。この斜辺の段差を小さくするためには矩形パターン
25の幅を狭くする必要があるが、これにより基のパタ
ーン24を矩形パターン25に分割する分割数が多くな
るため、ショット数を更に増加させる。
【0011】そこで、図45右下に示すように、基のパ
ターン24に含まれる斜辺と同じ傾きの斜辺を有する直
角三角形状の第3透過孔17aを図44のステンシルマ
スク12に形成する。露光装置は、この第3透過孔17
aの形状に基づいて、基のパターン24を三角形のパタ
ーン26a,26bと矩形のパターン27a,27bに
ショット分割する。このときの分割数は、左側の矩形パ
ターン25のみによるショット分割の分割数に比べて少
ない。即ち、ショット数が少ない。
【0012】露光装置は、第3透過孔17aを透過した
ビームにより三角形状のパターン26aを、図43のプ
レート11を透過したビームと第3透過孔17aの重な
り具合を変え、小さな三角形状のパターン26bを露光
する。また、露光装置は、プレート11を透過したビー
ムと図44の第1透過孔14の重なり具合を変え、矩形
状のパターン27a,27bを露光する。これにより、
基のパターン24に含まれる斜辺が第3透過孔17aの
斜辺にて露光されるため、斜辺の精度が良くなる。
【0013】LSIの露光データは、図示しない露光デ
ータ作成装置により作成され、上記の露光装置に供給さ
れる。露光データ作成装置は、LSIのレイアウトパタ
ーンの形状が表現可能形状か表現不可形状かを判断す
る。表現可能形状は露光装置にて露光可能な形状であ
り、表現不可形状は露光装置にて露光不可能な形状であ
る。
【0014】露光装置は、表現可能形状のレイアウトデ
ータに対応する露光データを上記の繰り返しパターン,
分割パターンをそのまま、又は分割パターン,矩形パタ
ーンによりショット分割して露光する。このレイアウト
データの表現可能形状は水平,垂直な辺を含む図形であ
り、例えば図46に示すように、矩形、直角三角形、平
行四辺形、台形等のパターン29a〜29nを含む。ま
た、分割ブロックに搭載される第3透過孔17の形状も
表現可能形状である。従って、水平,垂直な辺を含まな
い任意図形は表現不可形状である。
【0015】表現不可形状は露光装置にて露光不可能で
あるため、露光データ作成装置は、表現不可形状のパタ
ーンデータを露光装置における表現可能形状にショット
分割して露光データを作成する。
【0016】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、レイア
ウトデータから露光データを作成する際に、誤差が含ま
れる場合がある。即ち、露光データ作成装置は、LSI
のレイアウトデータを基に、サイジングやシュリンク等
の図形処理,露光装置が扱うデータのグリッド(座標
値)にレイアウトデータの座標値を合わせる丸め処理等
を施して露光データを作成する。これらの処理により作
成される露光データは、基のレイアウトデータに対して
誤差を含む場合がある。この露光データに含まれる誤差
により表現可能形状であったレイアウトデータの座標値
がずれることにより、レイアウトデータの形状が分割ブ
ロックを利用することができない表現不可形状となる。
特に、45度の倍角ではない斜辺含むレイアウトパター
ンの場合、そのレイアウトパターンに基づく第3透過孔
16をステンシルマスク12に形成しておいても、僅か
な誤差により斜辺の傾きが変化してしまい、表現不可形
状となる。
【0017】上記により、第3透過孔17を利用する事
ができなくなる。すると、露光データ作成装置は、表現
不可形状のレイアウトデータに基づく露光データに対し
て、矩形パターンを用いたショット分割処理を実施し、
矩形パターンによる露光データを作成する。これによ
り、露光装置におけるショット数が増加し、1枚のウェ
ハに対する露光時間が長くなる。
【0018】本発明は上記問題点を解決するためになさ
れたものであって、その目的はショット数を少なくして
露光時間の短縮を図ることのできる露光データ作成方
法、露光データ作成装置、及び、記録媒体を提供するこ
とにある。
【0019】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1に記載の発明は、露光媒体に半導体集積回
路を作成するための設計パターンを予め形状が設定され
た分割ブロックパターンを搭載したマスクを用いて露光
するブロック露光のための露光データを作成する露光デ
ータ作成方法であって、前記設計パターンが露光データ
を作成する際にパターンを短冊状の複数の矩形パターン
に分割するショット分割を必要とする表現不可形状であ
る場合に、その表現不可形状を前記ショット分割が不要
な表現可能形状に補正可能か否かを判定する第1判定ス
テップと、前記第1判定ステップにおける判定結果に基
づいて、補正可能と判定された場合に前記表現不可形状
を表現可能形状に補正する第1補正ステップと、前記補
正された表現可能形状を分割ブロックパターンの形状に
補正可能か否かを判定する第2判定ステップと、前記第
2判定ステップにおける判定結果に基づいて、補正可能
と判定された場合に前記表現可能形状を分割ブロックパ
ターンの形状に補正する第2補正ステップと、前記分割
ブロックパターンのデータに基づいて露光データを作成
する露光データ作成ステップとを含む。
【0020】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の露光データ作成方法において、前記第1判定ステップ
は、前記表現不可形状と前記表現可能形状とを形状比較
し、前記表現不可形状を前記表現可能形状に変更するの
に必要とする変化量を計算するステップと、前記変化量
と予め設定された誤差範囲値を比較し、その比較結果に
基づいて前記表現不可形状を前記表現可能形状に補正可
能か否かを判定するステップとを含む。
【0021】請求項3に記載の発明は、請求項1又は2
に記載の露光データ作成方法において、前記第2判定ス
テップは、前記分割ブロックパターンの形状の大きさを
前記表現可能形状の大きさに対応させ、その対応する大
きさの形状と前記表現可能形状とを比較し、前記表現可
能形状と前記分割ブロックパターンの形状の間の相違値
を計算するステップと、前記相違値と予め設定された誤
差範囲値を比較し、その比較結果に基づいて前記表現可
能形状を前記分割ブロックパターンの形状に補正可能か
否かを判定するステップとを含む。
【0022】請求項4に記載の発明は、請求項1乃至3
のうちの何れか1項に記載の露光データ作成方法におい
て、前記設計パターンの形状は三角形形状であり、前記
第1判定ステップにおいて、前記三角形形状の設計パタ
ーンを直角三角形の表現可能形状に補正可能か否かを判
定し、前記第2判定ステップにおいて、前記直角三角形
の表現可能形状を、直角三角形の分割ブロックパターン
の形状に補正可能か否かを判定するようにした。
【0023】請求項5に記載の発明は、請求項1乃至3
のうちの何れか1項に記載の露光データ作成方法におい
て、前記設計パターンの形状は四角形形状であり、前記
第1判定ステップにおいて、前記四角形形状の設計パタ
ーンを平行四辺形の表現可能形状に補正可能か否かを判
定し、前記第2判定ステップにおいて、前記平行四辺形
の表現可能形状を、平行四辺形の分割ブロックパターン
の形状に補正可能か否かを判定するようにした。
【0024】請求項6に記載の発明は、請求項1乃至3
のうちの何れか1項に記載の露光データ作成方法におい
て、前記設計パターンの形状は四角形形状であり、前記
第1判定ステップにおいて、前記四角形形状の設計パタ
ーンを平行四辺形の表現可能形状に補正可能か否かを判
定し、前記第2判定ステップにおいて、前記平行四辺形
の表現可能形状を、直角三角形の分割ブロックパターン
の形状に補正可能か否かを判定するようにした。
【0025】請求項7に記載の発明は、請求項1乃至3
のうちの何れか1項に記載の露光データ作成方法におい
て、前記設計パターンの形状は四角形形状であり、前記
第1判定ステップにおいて、前記四角形形状の設計パタ
ーンを台形の表現可能形状に補正可能か否かを判定し、
前記第2判定ステップにおいて、前記台形の表現可能形
状を、直角三角形の分割ブロックパターンの形状に補正
可能か否かを判定するようにした。
【0026】請求項8に記載の発明は、請求項1乃至7
のうちの何れか1項に記載の露光データ作成方法におい
て、前記第2補正ステップは、前記表現可能形状を前記
第2判定ステップにおいて前記表現可能形状の大きさに
前記分割ブロックパターンの大きさを対応させた形状に
変更し、その変更後の形状を前記分割ブロックパターン
を用いて露光するための分割パターンデータを作成する
ようにした。
【0027】請求項9に記載の発明は、請求項1乃至8
のうちの何れか1項に記載の露光データ作成方法におい
て、前記第2判定ステップの判定結果に基づいて、補正
不可能と判定された場合に、前記表現可能形状を前記分
割ブロックパターンの形状の大きさに縮小した縮小パタ
ーンを作成し、その縮小パターンが前記分割ブロックパ
ターンの形状に補正可能か否かを判定し、その判定結果
に基づいて、補正可能と判定された場合に、前記表現可
能形状を前記分割ブロックパターンの形状で分割した分
割ブロックパターンデータを作成するステップを含む。
【0028】請求項10に記載の発明は、請求項1乃至
8のうちの何れか1項に記載の露光データ作成方法にお
いて、前記第2判定ステップの判定結果に基づいて、補
正不可能と判定された場合に、前記表現可能形状と前記
分割ブロックパターンの形状の相違値が前記誤差範囲値
以内となる分割用の縮小パターンを作成し、その縮小パ
ターンにより前記表現可能形状を分割した分割ブロック
パターンデータを作成するステップを含む。
【0029】請求項11に記載の発明は、露光媒体に半
導体集積回路を作成するための設計パターンを予め形状
が設定された分割ブロックパターンを搭載したマスクを
用いて露光するブロック露光のための露光データを作成
する露光データ作成装置であって、前記設計パターンが
露光データを作成する際にパターンを短冊状の複数の矩
形パターンに分割するショット分割を必要とする表現不
可形状である場合に、その表現不可形状を前記ショット
分割が不要な表現可能形状に補正可能か否かを判定する
第1判定手段と、前記第1判定手段における判定結果に
基づいて、補正可能と判定された場合に前記表現不可形
状を表現可能形状に補正する第1補正手段と、前記補正
された表現可能形状を分割ブロックパターンの形状に補
正可能か否かを判定する第2判定手段と、前記第2判定
手段における判定結果に基づいて、補正可能と判定され
た場合に前記表現可能形状を分割ブロックパターンの形
状に補正する第2補正手段と、前記分割ブロックパター
ンのデータに基づいて露光データを作成する露光データ
作成手段とを備えた。
【0030】請求項12に記載の発明は、請求項11に
記載の露光データ作成装置において、前記第1判定手段
は、前記表現不可形状と前記表現可能形状とを形状比較
し、前記表現不可形状を前記表現可能形状に変更するの
に必要とする変化量を計算する手段と、前記変化量と予
め設定された誤差範囲値を比較し、その比較結果に基づ
いて前記表現不可形状を前記表現可能形状に補正可能か
否かを判定する手段とを備えた。
【0031】請求項13に記載の発明は、請求項11又
は12に記載の露光データ作成装置において、前記第2
判定手段は、前記分割ブロックパターンの形状の大きさ
を前記表現可能形状の大きさに対応させ、その対応する
大きさの形状と前記表現可能形状とを比較し、前記表現
可能形状と前記分割ブロックパターンの形状の間の相違
値を計算する手段と、前記相違値と予め設定された誤差
範囲値を比較し、その比較結果に基づいて前記表現可能
形状を前記分割ブロックパターンの形状に補正可能か否
かを判定する手段とを備えた。
【0032】請求項14に記載の発明は、請求項11乃
至13のうちの何れか1項に記載の露光データ作成装置
において、前記第2補正手段は、前記表現可能形状を前
記第2判定ステップにおいて前記表現可能形状の大きさ
に前記分割ブロックパターンの大きさを対応させた形状
に変更し、その変更後の形状を前記分割ブロックパター
ンを用いて露光するための分割パターンデータを作成す
るようにした。
【0033】請求項15に記載の発明は、請求項11乃
至14のうちの何れか1項に記載の露光データ作成装置
において、前記第2判定手段の判定結果に基づいて、補
正不可能と判定された場合に、前記表現可能形状を前記
分割ブロックパターンの形状の大きさに縮小した縮小パ
ターンを作成し、その縮小パターンが前記分割ブロック
パターンの形状に補正可能か否かを判定し、その判定結
果に基づいて、補正可能と判定された場合に、前記表現
可能形状を前記分割ブロックパターンの形状で分割した
分割ブロックパターンデータを作成する手段を備えた。
【0034】請求項16に記載の発明は、請求項11乃
至14のうちの何れか1項に記載の露光データ作成装置
において、前記第2判定手段の判定結果に基づいて、補
正不可能と判定された場合に、前記表現可能形状と前記
分割ブロックパターンの形状の相違値が前記誤差範囲値
以内となる分割用の縮小パターンを作成し、その縮小パ
ターンにより前記表現可能形状を分割した分割ブロック
パターンデータを作成する手段を備えた。
【0035】請求項17に記載の発明は、記録媒体に
は、請求項1乃至10のうちのいずれか1項に記載のス
テップよりなるプログラムを記録した。(作用)従っ
て、請求項1に記載の発明によれば、設計パターンが露
光データを作成する際にパターンを短冊状の複数の矩形
パターンに分割するショット分割を必要とする表現不可
形状である場合に、その表現不可形状をショット分割が
不要な表現可能形状に補正可能か否かが判定される。そ
の判定結果に基づいて、補正可能と判定された場合に表
現不可形状を表現可能形状に補正される。補正された表
現可能形状を分割ブロックパターンの形状に補正可能か
否かが判定され、その判定結果に基づいて、補正可能と
判定された場合に表現可能形状を分割ブロックパターン
の形状に補正される。これにより、露光データのデータ
量が少なくなる。
【0036】請求項2に記載の発明によれば、表現不可
形状と表現可能形状とが形状比較され、表現不可形状を
表現可能形状に変更するのに必要とする変化量が計算さ
れる。その変化量と予め設定された誤差範囲値が比較さ
れ、その比較結果に基づいて表現不可形状を表現可能形
状に補正可能か否かが判定される。
【0037】請求項3に記載の発明によれば、分割ブロ
ックパターンの形状の大きさを表現可能形状の大きさに
対応させ、その対応する大きさの形状と表現可能形状と
が比較され、表現可能形状と分割ブロックパターンの形
状の間の相違値が計算される。その相違値と予め設定さ
れた誤差範囲値が比較され、その比較結果に基づいて表
現可能形状を分割ブロックパターンの形状に補正可能か
否かが判定される。
【0038】請求項4に記載の発明によれば、設計パタ
ーンの形状は三角形形状であり、第1判定ステップにお
いて、三角形形状の設計パターンを直角三角形の表現可
能形状に補正可能か否かが判定され、第2判定ステップ
において、直角三角形の表現可能形状を、直角三角形の
分割ブロックパターンの形状に補正可能か否かが判定さ
れる。
【0039】請求項5に記載の発明によれば、設計パタ
ーンの形状は四角形形状であり、第1判定ステップにお
いて、四角形形状の設計パターンを平行四辺形の表現可
能形状に補正可能か否かが判定され、第2判定ステップ
において、平行四辺形の表現可能形状を、平行四辺形の
分割ブロックパターンの形状に補正可能か否かが判定さ
れる。
【0040】請求項6に記載の発明によれば、設計パタ
ーンの形状は四角形形状であり、第1判定ステップにお
いて、四角形形状の設計パターンを平行四辺形の表現可
能形状に補正可能か否かが判定され、第2判定ステップ
において、平行四辺形の表現可能形状を、直角三角形の
分割ブロックパターンの形状に補正可能か否かが判定さ
れる。
【0041】請求項7に記載の発明によれば、設計パタ
ーンの形状は四角形形状であり、第1判定ステップにお
いて、四角形形状の設計パターンを台形の表現可能形状
に補正可能か否かが判定され、第2判定ステップにおい
て、台形の表現可能形状を、直角三角形の分割ブロック
パターンの形状に補正可能か否かが判定される。
【0042】請求項8に記載の発明によれば、第2補正
ステップにおいて、表現可能形状を、その表現可能形状
の大きさに分割ブロックパターンの大きさを対応させた
形状に変更され、その変更後の形状を分割ブロックパタ
ーンを用いて露光するための分割パターンデータが作成
される。
【0043】請求項9に記載の発明によれば、第2判定
ステップの判定結果に基づいて、補正不可能と判定され
た場合に、表現可能形状を分割ブロックパターンの形状
の大きさに縮小した縮小パターンが作成され、その縮小
パターンが分割ブロックパターンの形状に補正可能か否
かが判定され、その判定結果に基づいて、補正可能と判
定された場合に、表現可能形状を分割ブロックパターン
の形状で分割した分割ブロックパターンデータが作成さ
れる。
【0044】請求項10に記載の発明によれば、第2判
定ステップの判定結果に基づいて、補正不可能と判定さ
れた場合に、表現可能形状と分割ブロックパターンの形
状の相違値が誤差範囲値以内となる分割用の縮小パター
ンが作成され、その縮小パターンにより表現可能形状を
分割した分割ブロックパターンデータが作成される。
【0045】請求項11に記載の発明によれば、第1判
定手段は、設計パターンが露光データを作成する際にパ
ターンを短冊状の複数の矩形パターンに分割するショッ
ト分割を必要とする表現不可形状である場合に、その表
現不可形状をショット分割が不要な表現可能形状に補正
可能か否かを判定する第1補正手段は、第1判定手段に
おける判定結果に基づいて、補正可能と判定された場合
に表現不可形状を表現可能形状に補正する。第2判定手
段は、補正された表現可能形状を分割ブロックパターン
の形状に補正可能か否かを判定する。そして、第2補正
手段は、第2判定手段における判定結果に基づいて、補
正可能と判定された場合に表現可能形状を分割ブロック
パターンの形状に補正する。これにより、露光データの
データ量が少なくなる。
【0046】請求項12に記載の発明によれば、第1判
定手段には、表現不可形状と表現可能形状とを形状比較
し、表現不可形状を表現可能形状に変更するのに必要と
する変化量を計算する手段と、変化量と予め設定された
誤差範囲値を比較し、その比較結果に基づいて表現不可
形状を表現可能形状に補正可能か否かを判定する手段と
が備えられる。
【0047】請求項13に記載の発明によれば、第2判
定手段には、分割ブロックパターンの形状の大きさを表
現可能形状の大きさに対応させ、その対応する大きさの
形状と表現可能形状とを比較し、表現可能形状と分割ブ
ロックパターンの形状の間の相違値を計算する手段と、
相違値と予め設定された誤差範囲値を比較し、その比較
結果に基づいて表現可能形状を分割ブロックパターンの
形状に補正可能か否かを判定する手段とが備えられる。
【0048】請求項14に記載の発明によれば、第2補
正手段は、表現可能形状を、第2判定ステップにおいて
表現可能形状の大きさに分割ブロックパターンの大きさ
を対応させた形状に変更し、その変更後の形状を分割ブ
ロックパターンを用いて露光するための分割パターンデ
ータを作成する。
【0049】請求項15に記載の発明によれば、第2判
定手段の判定結果に基づいて、補正不可能と判定された
場合に、表現可能形状を分割ブロックパターンの形状の
大きさに縮小した縮小パターンが作成され、その縮小パ
ターンが分割ブロックパターンの形状に補正可能か否か
が判定され、その判定結果に基づいて、補正可能と判定
された場合に、表現可能形状を分割ブロックパターンの
形状で分割した分割ブロックパターンデータが作成され
る。
【0050】請求項16に記載の発明によれば、第2判
定手段の判定結果に基づいて、補正不可能と判定された
場合に、表現可能形状と分割ブロックパターンの形状の
相違値が誤差範囲値以内となる分割用の縮小パターンが
作成され、その縮小パターンにより表現可能形状を分割
した分割ブロックパターンデータが作成される。
【0051】請求項17に記載の発明によれば、記録媒
体には、請求項1乃至9のうちのいずれか1項に記載の
ステップよりなるプログラムが記録され提供される。
【0052】
【発明の実施の形態】以下、本発明を具体化した一実施
の形態を図1〜図42に従って説明する。図3は、露光
データ作成装置の概略構成図である。露光データ作成装
置31は、中央演算処理装置(以下、CPUという)3
2、メモリ装置33、MT装置34、端末装置35、デ
ィスク装置36を備え、各装置33〜36はCPU32
に接続されている。
【0053】ディスク装置36には、図1に示す露光デ
ータ作成処理のプログラムデータが予め記憶されてい
る。その露光データ作成処理のプログラムデータは、図
3の記録媒体としての磁気テープ(MT)37に記録さ
れている。磁気テープ37は、MT装置34にセットさ
れ、CPU32はMT装置34により磁気テープ37か
らプログラムデータを読み出し、ディスク装置36に格
納する。そして、CPU32は、端末装置35の操作に
基づいて起動され、図1,2の各ステップに従って露光
データ作成処理を実行する。
【0054】図3のディスク装置36には、図1に示す
第1データファイル41が記憶されている。第1データ
ファイル41には、例えば図示しないCAD装置により
回路設計及びレイアウト設計されたメモリ等の繰り返し
の多いパターンを含む半導体装置(LSI)チップの設
計データが予め格納されている。図3のCPU32は、
データフィル41から設計データであるパターンデータ
を入力し、そのパターンデータに基づいて図1に示され
る露光データ作成処理を実行する。
【0055】また、図3中のディスク装置36には、図
1に示す第2〜第7データファイル42〜47が格納さ
れる。CPU32は、図1に示されるフローチャートの
ステップS1〜S8に従って露光データ作成処理を実行
し、その処理において作成した各データを第2〜第7デ
ータファイル42〜47に格納する。
【0056】即ち、図1に示されるステップS1は処理
データ入力処理(処理データ入力手段)であって、図3
中のCPU32は、データフィル41からパターンデー
タを基データとして入力する。
【0057】次に、図1に示されるステップS2におい
て、CPU32は、全てのパターンデータに対して、所
定の図形処理、例えば、OR処理、サイジング処理、リ
サイズ処理等のように、LSIの露光データを作成する
上で必要となる図形処理を施す。また、CPU32は、
5角形以上の多角形のレイアウトデータに対してパター
ン分割処理を施し、三角形のレイアウトデータと四角形
のレイアウトデータに分割する。そして、CPU32
は、処理後のレイアウトデータを中間データとしてディ
スク装置36上の第2データファイル42に格納する。
中間データの格納を終了すると、CPU32は、ステッ
プS2からステップS3に移る。
【0058】次に、図1に示されるステップS3におい
て、CPU32は、第2データファイル42から中間デ
ータを入力する。中間データの入力を終了すると、CP
U32は、ステップS3からステップS4に移る。
【0059】ステップS4は繰り返しデータ抽出処理
(繰り返しデータ抽出手段)であって、図3中のCPU
32は、入力した中間データから繰り返し性のあるレイ
アウトパターンデータを認識及び抽出する。そして、C
PU32は、抽出したレイアウトパターンデータを繰り
返しブロックデータとして図1中の第4データファイル
44に格納する。
【0060】また、CPU32は、入力した中間データ
から繰り返しブロックデータを除くレイアウトパターン
データを第1パターンデータとして第3データファイル
43に格納する。そして、繰り返しブロックデータ,第
1パターンデータの格納を終了すると、CPU32は、
図1に示されるステップS4からステップS5に移る。
【0061】ステップS5は分割ブロックデータ入力処
理であって、図3中のCPU32は、図44のステンシ
ルマスク12に搭載する分割ブロックパターンの形状デ
ータを入力する。形状データの入力を終了すると、CP
U32は、ステップS5からステップS6に移る。
【0062】ステップS6は、形状補正処理(形状補正
手段)であり、先ずCPU32は、第3データファイル
43に格納された第1パターンデータを入力する。次
に、CPU32は、第1パターンデータの形状認識を行
い、第1パターンデータの形状が表現可能形状か表現不
可形状かを判断する。その判断結果に基づいて、CPU
32は、表現不可形状の第1パターンデータを表現可能
形状のデータに補正する。
【0063】詳しくは、CPU32は、先ず第1パター
ンデータの形状を表現可能形状への補正が可能かを判定
する。その判定結果に基づいて、CPU32は、補正可
能な場合に、第1パターンデータの形状を表現可能形状
に補正し、補正後のデータを第2パターンデータとして
第5データファイル45に格納する。
【0064】次に、CPU32は、第2パターンデータ
と、ステップS5にて入力した分割ブロックパターンの
形状データとを比較する。その比較結果に基づいて、C
PU32は、第2パターンデータの形状を分割ブロック
パターンの形状に補正可能か否かを判断する。
【0065】補正可能な場合、CPU32は、第2パタ
ーンデータの形状を分割ブロックパターンの形状に補正
し、その補正後のデータを分割ブロックパターンデータ
として第6データファイル46に格納する。このよう
に、分割ブロックパターンに補正することにより、分割
ブロックを用いた露光が可能となる。これにより、矩形
パターンにショット分割する場合に比べて、斜辺を精度
良く露光することができるとともに、ショット数が少な
くなる。上記した表現可能形状への補正が可能か否かを
判定した判定結果に基づいて、第1パターンデータの形
状を表現可能形状に補正不可能な場合、図3中のCPU
32は、図1のステップS6からステップS7に移る。
そのステップS7はショット分割処理であって、CPU
32は、第1パターンデータを矩形パターンにてショッ
ト分割する。CPU32は、ショット分割により生成し
たデータを第2パターンデータとして第5データファイ
ル45に格納する。
【0066】全ての第1パターンデータに対して補正処
理又はショット分割処理を施すと、図3中のCPU32
は、図1のステップS6,S7からステップS8に移
る。ステップS8は露光データ作成処理である。ここ
で、図3中のCPU32は、第4〜第6データファイル
44〜46から各パターンデータを読み込み、各データ
を露光データに変換する。そして、CPU32は、その
露光データを図1の第7データファイル47に格納す
る。その後、CPU32は露光データ作成処理を終了す
る。
【0067】第7データファイル47に格納された露光
データは、露光媒体としてのウェハ23を露光する場合
に利用される。即ち、図22に示す露光装置において、
第7データファイル47に格納された露光データに基づ
いて、第1〜第3電磁偏向器19〜21及びステージ2
2が制御され、ウェハ23の所定位置に所望の露光パタ
ーンが露光される。
【0068】表現不可形状を分割ブロックパターンの形
状に補正することにより、矩形パターンによるショット
分割を行う場合に比べてショット数が少なくなる。これ
により、ウェハ1枚当たりの露光時間が短縮される。
【0069】次に、図1中のステップS6における形状
補正処理を、図2に示すフローチャートのステップS1
1〜S20に従って詳述する。先ず、図2に示されるス
テップS11〜S20は図1中のステップS6における
形状補正処理のサブステップである。先ず、図3中のC
PU32は、図2中のステップS11で第3データファ
イル43に格納された第1パターンデータを読み込む。
そのデータの読み込みを終了すると、CPU32は図2
のステップS11からステップS12に移る。
【0070】ステップS12は形状認識処理(形状認識
手段)であり、図3のCPU32は、ステップS11で
入力した1つのパターンデータに対する形状認識処理を
行う。この形状認識処理において、CPU32は、入力
した第1パターンデータの形状が三角形か四角形かを判
断する。第1パターンデータの形状によって、補正処理
の方法が異なるからである。CPU32は、第1パター
ンデータの形状を認識すると、図2のステップS12か
らステップS13に移る。
【0071】ステップS13は矩形判定処理(矩形判定
手段)であり、図3のCPU32は、ステップS12に
おいて認識した第1パターンデータの形状が矩形か否か
を判定する。矩形は表現可能形状である。従って、CP
U32は、矩形形状の第1パターンデータに対して形状
補正処理を行う必要がない。そのため、CPU32は、
第1パターンデータの形状が矩形の場合、次の第1パタ
ーンデータを読み込むためにステップS13からステッ
プS20に移る。そして、CPU32は、第1パターン
データの形状が矩形ではない場合にその第1パターンデ
ータに対する形状補正処理を行うためにステップS13
からステップS14に移る。
【0072】ステップS14は変化量計算処理(変化量
計算手段)であり、図3のCPU32は、表現可能形状
への補正が可能か否かを判断するための補正判定値とす
る変化量を求める。変化量は、第1パターンデータの形
状を表現可能形状に変形した場合に、元の第1パターン
データの形状と変形後の形状の差である。パターンデー
タの形状は、辺の座標値、辺の角度等によりに示され
る。尚、本実施形態では第1パターンデータの辺の座標
値と表現可能形状の辺の座標値の差を変化量とする。
【0073】そして、CPU32は、第1パターンデー
タに含まれる各辺のうち、その第1パターンデータの形
状に応じた辺を特定する。特定する辺は、第1パターン
データの形状が三角形の場合、最も大きな角度の内角を
構成する2辺であり、その形状が四角形の場合には相対
向する2辺である。CPU32は、特定した辺を水平
(X軸と平行)又は垂直(X軸に対して垂直であってY
軸と平行)に変更するときの変化量を求める。
【0074】例えば、第1パターンデータの形状が図4
(a)に実線で示す三角形の場合、第1パターンデータ
は、辺A,B,Cのデータを含む。辺A,B,Cは、両
端の座標値(=各頂点の座標値)にてそれぞれの位置が
指定される。従って、第1パターンデータは、辺A〜C
を示す座標値(=各頂点の座標値)を格納するための領
域を含む。
【0075】図4(a)において、辺A〜Cのうち、最
も大きな角度の内角を構成する2辺は辺A,Bである。
そして、図4(a)では、辺Aは水平である。従って、
図3のCPU32は、形状補正処理において、第1パタ
ーンデータの形状を、図4(a)に一点差線で示す直角
三角形の表現可能形状に補正する。この場合、CPU3
2は、辺Bが辺Aと直角をなすように、辺B,Cに挟ま
れた頂点T1を表現可能形状の頂点T2まで各辺B,C
を移動させる。
【0076】そして、第1パターンデータの頂点T1の
座標値(x1,y1)と、表現可能形状の頂点T2の座
標値(x2,y2)の差ΔX(=x1−x2),Δy
(=y1−y2)を辺Bにおける変化量とする。そし
て、この辺Bにおける変化量を、変化量BΔx,BΔy
として表す。尚、辺Aが水平ではない場合、CPU32
は、辺Bと同様に辺Aにおける変化量AΔx,AΔyを
求める。
【0077】また、第1パターンデータの形状が図4
(b)に実線で示す四角形の場合、第1パターンデータ
は辺A,B,C,Dのデータを含む。図3のCPU32
は、形状補正処理において、第1パターンデータの形状
を、図4(b)に一点鎖線で示す四角形(図4(b)で
は平行四辺形)の表現可能形状に補正する。この場合、
CPU32は、辺A,B,Dを移動させると共に、辺
A,Cを平行にする。従って、図4(b)に示す形状の
第1パターンデータの場合、辺A,Cの右端点の座標値
のY軸方向の差Δyが変化量となる。
【0078】また、変化量として第1パターンデータの
辺の角度と表現可能形状の辺の角度の差(図4(a)に
示す角度θ)、第1パターンデータの辺と表現可能形状
の辺に挟まれた領域の面積(図4(a)にハッチングに
て示した領域の面積)を用いても良い。
【0079】図3中のCPU32は、図2のステップS
11において読み込んだ第1パターンデータに対する変
化量を求めると、図2のステップS14からステップS
15に移る。
【0080】ステップS15は第1補正判定処理(第1
補正判定手段)であり、図3中のCPU32は、ステッ
プS14にて求めた第1パターンデータの変化量と予め
設定した誤差範囲値により、第1パターンデータの形状
が表現可能形状に補正可能か否か判定する。誤差範囲値
は、変形後の形状の第1パターンデータに基づいて実際
のパターンを形成した場合に、そのパターンがLSIの
性能に影響を与えない範囲の値である。
【0081】例えば、補正後の第1パターンデータに基
づいて形成した実際の配線パターンが設計上の第1パタ
ーンデータの形状よりもはるかに大きく隣接するパター
ン等に近づいた場合、両パターン間の信号が干渉する。
また、実際のパターンの幅が第1パターンデータのそれ
よりも極端に狭くなると、そのパターンを通過する信号
が大きく減衰する。これらは、LSIの性能に影響を与
える。
【0082】従って、第1パターンデータの変化量が所
定の範囲値内にある時、その第1パターンデータに基づ
いて形成される実際の配線パターン等は、LSIの性能
に影響を与えない。このような範囲を示す値が誤差範囲
値である。
【0083】図3中のCPU32は、第1パターンデー
タの変化量が誤差範囲値以内である場合、その第1パタ
ーンデータの形状を表現可能形状に補正可能であると判
定する。その場合、CPU32は、補正処理を行うため
に図2のステップS15からステップS16へ移る。
【0084】一方、CPU32は、第1パターンデータ
の変化量が誤差範囲値を越えている場合、その第1パタ
ーンデータの形状を表現可能形状に補正不可能であると
判定する。その場合、CPU32は、第1パターンデー
タをショット分割するために図2のステップS15から
ステップS7へ移る。
【0085】ステップS16は第1補正処理(第1補正
手段)であり、図3中のCPU32は、第1パターンデ
ータの形状を表現可能形状に補正する。そして、CPU
32は、補正後の第1パターンデータを第2パターンデ
ータとして第5データファイル45に格納する。
【0086】具体的には、CPU32は、第1パターン
データに含まれる各辺の座標値を格納するための領域
に、表現可能形状を構成する辺の座標値を格納する。例
えば、図4(a)に示す形状の場合、第1パターンデー
タに含まれる辺B,Cの座標値(x1,y1)が格納さ
れた領域に座標値(x2,y2)を格納する。そして、
この座標値(x2,y2)を含む第1パターンデータを
第2パターンデータとして図2の第5データファイル4
5に格納する。第2パターンデータの格納を終了する
と、図3中のCPU32は、ステップS16からステッ
プS17に移る。
【0087】ステップS17は相違値計算処理(相違値
計算手段)であり、図3中のCPU32は、第2パター
ンデータの形状をブロックパターンの形状に補正可能で
あるか否かを判定するために用いる相違値を計算する。
相違値は、第2パターンデータの形状とブロックパター
ンの形状の差分であり、本実施形態では上記した変化量
と同様に、両図形の頂点の座標値の差である。尚、変化
量と同様に、相違値に角度、面積が用いられても良い。
【0088】この相違値計算処理について詳述すれば、
先ず、図3中のCPU32は、第5データファイル45
に格納した第2パターンデータを読み込む。そして、C
PU32は、第2パターンデータの形状に類似した形
状、又は組み合わせにより第2パターンデータの形状を
表現することができる形状のブロックパターンを選択す
る。
【0089】例えば、第2パターンデータの形状が直角
三角形の場合、CPU32は、その直角三角形と相似し
た直角三角形の透過孔を有するブロックパターンを選択
する。第2パターンデータの形状が平行四辺形の場合、
CPU32はその平行四辺形と相似した平行四辺形の透
過孔を有するブロックパターンを選択する。平行四辺形
は、直角三角形を組み合わせることにより表現可能であ
る。従って、CPU32は、組み合わせにより平行四辺
形を表現することができる直角三角形の透過孔を有する
ブロックパターンを選択する。
【0090】図6は、登録された分割ブロックパターン
を示す。各分割ブロックパターンは、それぞれ所定の形
状の透過孔(図のハッチング部分)を有している。そし
て、各ブロックパターンには、それぞれ固有のブロック
番号が付けられている。このブロック番号は、図5に示
す分割ブロックパターンデータ52の領域52aに格納
される。そして、図43に示すブロック露光装置は、分
割ブロックパターンデータ52の領域52aに格納され
たブロック番号に基づいて図44に示すステンシルマス
ク12に搭載されたブロック領域15のうち、該当する
透過孔17が形成されたブロック領域15を選択する。
これにより、ブロック番号に対応する形状のパターンが
図43のウェハ23に露光される。尚、露光データに
は、図5に示す分割ブロックパターンデータ52以外
に、繰り返しブロックデータ51、パターンデータ53
が含まれる。
【0091】次に、CPU32は、選択したブロックパ
ターンの大きさを、第2パターンデータの大きさと同じ
にする。具体的には、CPU32は、選択したブロック
パターンのデータをX,Y方向に拡大又は縮小し、その
X,Y方向のサイズを第2パターンデータの形状のX,
Y方向のサイズと同じにする。そして、CPU32は、
拡大又は縮小したブロックパターンの各辺の座標値と、
第2パターンデータの各辺の座標値の差を計算する。
【0092】ステップS18は第2補正判定処理(第2
補正判定手段)であり、図3中のCPU32は、第2パ
ターンデータの形状が分割ブロックパターンデータの形
状に補正可能か否かを判定する。このとき、CPU32
は、ステップS17において求めた第2パターンデータ
の相違値と予め設定した誤差範囲値とを比較する。そし
て、CPU32は、相違値が誤差範囲値内の場合に第2
パターンデータの形状を分割ブロックパターンデータの
形状に補正可能であると判定する。その場合、CPU3
2は、補正処理を行うために図2のステップS18から
ステップS19へ移る。
【0093】一方、CPU32は、第2パターンデータ
の相違値が誤差範囲値を越えている場合、その第2パタ
ーンデータの形状を分割ブロックパターンデータの形状
に補正不可能であると判定する。そして、CPU32
は、ステップS18からステップS20に移る。
【0094】この場合、CPU32は、図1のステップ
S8において第2パターンデータを露光データにデータ
変換し、その露光データを第7データファイル47に格
納する。この露光データは形状を示すデータであるた
め、露光データのデータ量はショット分割した場合のデ
ータ量に比べて少ない。そして、露光データは、入力し
たデータから所定の矩形パターンに矩形分割した分割デ
ータを作成し、その作成した分割データに基づいて露光
を行う。
【0095】ステップS19は第2補正処理(第2補正
手段)であり、図3中のCPU32は、ステップS18
において補正可能と判断した第2パターンデータの形状
を分割ブロックパターンデータの形状に変更する補正処
理を行う。そして、補正処理後のデータを分割ブロック
パターンデータとして第6データファイル46に格納す
る。
【0096】このとき、CPU32は、第2パターンデ
ータのデータ形式を分割ブロックパターンデータのデー
タ形式に変更し、第6データファイル46に格納する。
図5は、露光データ作成処理にて扱われる各データのデ
ータ形式を示す。
【0097】繰り返しブロックデータ51は、図44の
「繰り返しブロック」である第2透過孔16が形成され
たブロック領域を用いて繰り返し性のあるパターンを露
光するためのデータである。分割ブロックデータ52
は、図44の分割ブロックである第3透過孔17が形成
されたブロック領域を用いてパターンを露光するための
データである。第1パターンデータは、繰り返しブロッ
クデータとならない、即ち繰り返しブロックを用いるこ
とができない形状のパターンを露光するためのデータで
ある。第2パターンデータは、分割ブロックパターンデ
ータとはならない、即ち、分割ブロックを用いることが
できない形状のパターンを露光するためのデータであ
る。
【0098】繰り返しブロックデータ51は、ステンシ
ルマスク上に搭載されている繰り返しブロックの番号、
ブロックの種類、チップ上の配置位置のデータを格納す
るための領域51a〜51dを有する。
【0099】分割ブロックパターンデータ52は、ステ
ンシルマスク上に搭載されている分割ブロックの番号と
ブロックの種類、その分割ブロックで露光されるパター
ンデータの情報(ブロックの形状、配置位置、大きさ)
を格納するための領域52a〜52fを有する。
【0100】パターンデータ53は、第1,第2パター
ンデータであり、パターンの形状、配置位置、パターン
の大きさのデータを格納するための領域53a〜53d
を有する。
【0101】図3中のCPU32は、パターンデータ5
3の領域53a〜53dに格納されたデータを分割ブロ
ックパターンデータ52の領域52c〜52fに格納す
るとともに、分割ブロックパターンデータ52に固有の
領域52a,52bにそれぞれ対応する情報を格納す
る。
【0102】即ち、CPU32は、分割ブロックパター
ンデータ52の領域52aに、図2のステップS17に
おいて選択したブロック番号を格納する。CPU32
は、領域52bに分割ブロックを示す情報を格納し、領
域52cに露光する第1パターンデータの形状を示す情
報を格納する。更に、CPU32は、パターンデータ5
3の領域53b〜53dに格納された配置座標(x、
y)とパターンの大きさをそれぞれ分割ブロックパター
ンデータ52の領域52d〜52fに格納する。
【0103】上記のステップS14〜S19の処理を、
図7〜図10に従って説明する。先ず、第1パターンの
形状が三角形の場合を、図7,図8に従って説明する。
図7(a)は、図2のステップS11において第3デー
タファイル43から読み出された三角形の第1パターン
61を示す。先ず、図3中のCPU32は、第1パター
ン61に対する変化量を求める。この第1パターン61
の場合、最も大きな角度の内角を構成する辺A,Bを特
定する。そして、CPU32は、辺A,Bにおける変化
量AΔx,AΔy、BΔx,BΔyを求める。ここで、
第1パターン61において、辺Aは水平であるため、C
PU32は、辺Aにおける変化量AΔx,AΔyを共に
「0」とする。
【0104】次に、CPU32は、ステップS15にお
いて求めた辺Bにおける変化量BΔx,BΔyが誤差範
囲値内であるか否かを判定し、その判定結果に基づいて
第1パターンデータ61を図7(b)に一点鎖線で示す
表現可能形状の第2パターンデータ61aに補正する。
【0105】次に、CPU32は、第2パターン61a
の形状に類似した形状の透過孔を有する分割ブロックパ
ターンを選択する。この場合、CPU32は、図6に示
す番号「2」の分割ブロックパターンBPを選択する。
この分割ブロックパターンBP(2)を図7(b)に点
線で示す。尚、括弧内の数字は、選択した番号「2」を
示す。
【0106】次に、CPU32は、第2パターン61a
の形状を分割ブロックパターンBP(2)の形状に補正
可能か否かを判定するために両形状の相違値を求める。
図7(b)の場合、CPU32は、透過孔領域62の大
きさを拡大した拡大パターン63を生成する。この拡大
パターン63の底辺の長さは、辺Aの長さと一致する。
そして、CPU32は、辺B1とその辺B1に対応する
拡大パターン63の辺のY軸方向の長さの差(=Δy)
を相違値として求める。CPU32は、相違値Δyが誤
差範囲値内であるため、図2のステップS18において
第2パターンの形状を分割ブロックパターンBP(2)
の形状に補正可能であると判定し、ステップS19の第
2補正処理を実施する。このようにして、図7(c)に
示すように、元の第1パターン61を分割ブロックパタ
ーンBP(2)を用いて露光することとする。
【0107】この第2補正処理において、CPU32
は、図8に示すデータ形式にて分割ブロックパターンデ
ータを図2の第6データファイル46に格納する。即
ち、CPU32は、領域64aに選択したブロックパタ
ーンデータBP(2)の番号「2」を、領域64bにブ
ロックの種類である「分割」を示す情報を、領域64c
にパターン形状である「三角形」を示す情報を格納す
る。更に、CPU32は、領域64d,64eに第2パ
ターンを配置するX座標,Y座標を、領域64fに第2
パターンの大きさを示す情報を格納する。
【0108】次に、第1パターンの形状が四角形の場合
を、図9,図10に従って説明する。図9(a)は、図
2のステップS11において第3データファイル43か
ら読み出された四角形の第1パターン71を示す。先
ず、図3中のCPU32は、第1パターン71に対する
変化量を求める。この第1パターン71の場合、CPU
32は、垂直又は水平な辺とその辺に対向する辺を特定
する。
【0109】図9(a)において、辺Dが垂直である。
従って、CPU32は、辺B,Dを特定する。CPU3
2は、辺Bを垂直に補正可能であるか否かを判定するた
めに、辺Bにおける変化量BΔxを求める。そして、C
PU32は、求めた変化量BΔxと誤差範囲値とを比較
し、第1パターン71を表現可能形状に補正可能か否か
を判定する。
【0110】次に、CPU32は、第1パターン71を
表現可能形状の内の平行四辺形に補正可能か否かを判定
する。CPU32は、辺Bを垂直に補正した場合におけ
る斜辺の辺A,Cの相違値を求める。この場合、CPU
32は、図9(b)に示すように、辺A,Cの一端を重
ね合わせ、他端の座標値の差を相違値Δy1を求める。
CPU32は、求めた相違値Δy1が誤差範囲値以下で
あれば第1パターン71の形状を平行四辺形に補正し、
相違値Δy1が誤差範囲値以上のであれば台形に補正す
る。
【0111】次に、CPU32は、第2パターン72の
形状に類似した形状の透過孔を有する分割ブロックパタ
ーンを選択する。この場合、CPU32は、図6に示す
番号「11」の分割ブロックパターンBPを選択する。
この分割ブロックパターンBP(11)を図9(c)に
点線で示す。
【0112】次に、CPU32は、第2パターン72の
形状を分割ブロックパターンBP(11)の形状に補正
可能か否かを判定するために両形状の相違値を求める。
図9(c)に示すように、CPU32は、透過孔領域7
3の大きさを拡大した拡大パターン74を生成する。C
PU32は、拡大パターン74の左辺の長さを、辺Dの
長さと一致させる。CPU32は、辺A1(又は辺C
1)におけるY軸方向の差(=Δy2)を相違値として
求める。CPU32は、相違値Δy2が誤差範囲値内で
あるため、図2のステップS18において第2パターン
の形状を分割ブロックパターンBP(11)の形状に補
正可能であると判定し、ステップS19の第2補正処理
を実施する。このようにして、図9(d)に示すよう
に、第2パターン72を分割ブロックパターンBP(1
1)を用いて露光することとする。
【0113】この第2補正処理において、CPU32
は、図10に示すデータ形式にて分割ブロックパターン
データを図2の第6データファイル46に格納する。即
ち、CPU32は、領域75aに選択した分割ブロック
パターンBP(11)の番号「11」を、領域75bに
ブロックの種類である「分割」を示す情報を、領域75
cにパターン形状である「平行四辺形」を示す情報を格
納する。更に、CPU32は、領域75d,75eに第
2パターンを配置するX座標,Y座標を、領域75fに
パターンの大きさを示す情報を格納する。
【0114】ステップS20は終了判定処理(終了判定
手段)であり、図3中のCPU32は、全ての第1パタ
ーンデータに対する形状補正処理を終了したか否かを判
定する。CPU32は、まだ処理を行っていない第1パ
ターンデータが存在している場合、図2のステップS2
0からステップS11に移る。そして、CPU32は、
ステップS11において、次の第1パターンデータを第
3データファイル43から読み込む。
【0115】即ち、CPU32は、ステップS11から
ステップS20のループを繰り返し実行する。そして、
CPU32は、全ての第1パターンデータに対して補正
処理を実施した場合、形状補正処理を終了する。
【0116】次に、図2中のステップS14〜S19の
各処理を、第1パターンデータの形状に対応して詳述す
る。 [第1パターンデータの形状が三角形の場合]先ず、第
1パターンデータの形状が三角形の時の形状補正処理
を、図11のフローチャート及び図12〜図16に従っ
て詳述する。
【0117】(1)第1パターンデータの形状が図12
(a)に示す形状の場合。 図11のステップS21〜S23は、図2のステップS
14のサブステップであり、変化量計算処理である。ま
た、図11のステップS24,S25は、図2のステッ
プ15のサブステップであり、第1補正判定処理であ
る。更に、図11のステップS26〜S29は、図2の
ステップS16〜S19にそれぞれ対応している。
【0118】先ず、図11のステップS21において、
図3中のCPU32は、図12(a)に示す三角形形状
の第1パターン81の内角の内、最も大きい角度を構成
している辺Aと辺Bを求める。次に、ステップS22に
おいて、CPU32は、辺Aの変化量AΔx,AΔyを
求める。この時、辺Aは水平であるため、CPU32
は、変化量AΔyを「0」とする。更に、CPU32
は、辺Aの端点を水平方向に移動させないため、変化量
AΔxを「0」とする。同様に、ステップS23におい
て、CPU32は、辺Bの変化量BΔx,BΔyを求め
る。
【0119】ステップS24において、CPU32は、
辺A,Bの変化量AΔy,BΔxが共に誤差範囲値以下
であるため、第1パターン81が表現可能形状に補正可
能であると判断する。そして、CPU32は、ステップ
S24からステップS25に移る。そのステップS25
において、CPU32は、辺Bを垂直に補正した時に辺
Aと辺Bが構成する内角が90度となるため、ステップ
S25からステップS26に移る。
【0120】ステップS26において、CPU32は、
第1パターン81の形状から辺Bを垂直にした直角三角
形の形状に補正変更した第2パターン81a(図12
(b)参照)を生成する。更に、CPU32は、補正変
更後の第2パターンの形状を示すデータを第2パターン
データとして図11の第5データファイル45に格納す
る。そして、CPU32は、ステップS26からステッ
プS27に移る。
【0121】次に、ステップS27において、CPU3
2は、補正により生成した第2パターン81aに類似す
る分割ブロックパターンを選択する。この場合、CPU
32は、図6中のブロック番号2の分割ブロックパター
ンBPを選択する。そして、CPU32は、第2パター
ン81aの形状と選択した分割ブロックパターンBP
(2)の形状との比較を行う。
【0122】この時、図12(c)に示すように、CP
U32は、分割ブロックパターンBP(2)の透過孔の
形状を補正後の第2パターン81aの大きさまで拡大し
た拡大パターン81bを生成する。そして、CPU32
は、生成した拡大パターン81bと第2パターン81a
を重ね合わせて、先端の差分Δyを求める。この差分Δ
yを相違値と呼ぶ。
【0123】ステップS28において、CPU32は、
求めた相違値(=Δy)が誤差範囲値以内であるため第
2パターン81aを分割ブロックパターンBP(2)の
形状に補正可能であると判定する。その判定結果に基づ
いて、CPU32は、ステップS28からステップS2
9へ移る。
【0124】ステップS29において、CPU32は、
図12(d)に示すように、第2パターン81aの斜辺
の傾きを分割ブロックパターンBP(2)と同じ傾きに
補正変更する。そして、CPU32は、補正変更した第
2パターン81aのための分割ブロックパターンデータ
82(図13参照)を作成する。CPU32は、分割ブ
ロックパターンデータ82を図11の第6データファイ
ル46に格納する。そして、分割ブロックパターンデー
タの格納を終了すると、CPU32は、形状補正処理を
終了する。
【0125】(2)第1パターンデータの形状が図14
(a)に示す形状の場合。 図11のステップS21において、図3中のCPU32
は、図14(a)に示す三角形形状の第1パターン83
の内角のうち、最も大きい角度を構成している辺Aと辺
Bを求める。次に、CPU32は、ステップS22にお
いて辺Aの変化量AΔx,AΔyを求め、ステップS2
3において辺Bの変化量BΔx,BΔyを求める。
【0126】ステップS24において、CPU32は、
辺Aの変化量AΔx,AΔyが共に誤差範囲値より大き
いため、第1パターン83の形状を表現可能形状に補正
不可能と判断する。そして、CPU32は、図11のス
テップS24からステップS7に移る。
【0127】ステップS7において、CPU32は、図
14(b)に示すように、第1パターン83を複数の短
冊状の矩形パターン84にショット分割する。そして、
CPU32は、複数の矩形パターン84のパターンデー
タを第2パターンデータとして図11の第5データファ
イル45に格納する。そして、第2パターンデータの格
納を終了すると、CPU32は、形状補正処理を終了す
る。
【0128】(3)第1パターンデータの形状が図15
(a)に示す形状の場合。 図11のステップS21において、図3中のCPU32
は、図15(a)に示す三角形形状の第1パターン85
の内角のうち、最も大きい角度を構成している辺Aと辺
Bを求る。次に、CPU32は、ステップS22におい
て辺Aの変化量AΔx,AΔyを求め、ステップS23
において辺Bの変化量BΔx,BΔyを求める。
【0129】ステップS24において、CPU32は、
辺Aの変化量AΔxと辺Bの変化量BΔyが共に誤差範
囲値以内であるため、第1パターン85の形状を表現可
能形状に補正可能と判定する。その判定結果に基づい
て、CPU32は、ステップS24からステップS25
に移る。そのステップS25において、CPU32は、
辺Bを水平な辺B1に補正したとき、辺Aと辺B1が構
成する内角は90度であるため、ステップS25からス
テップS26に移る。
【0130】ステップS26において、CPU32は、
辺A,B1を含む直角三角形に形状を変更した第2パタ
ーン85a(図15(b)参照)を生成する。そして、
CPU32は、生成した第2パターン85aのパターン
データを第2パターンデータとして図11の第5データ
ファイル45に格納する。そして、CPU32は、ステ
ップ26からステップ27に移る。
【0131】次に、ステップS27において、CPU3
2は、第2パターン85aに類似したブロック番号8の
ブロックパターンBP(図6参照)を選択する。そし
て、CPU32は、図15(c)に示すように、分割ブ
ロックパターンBP(8)を拡大した拡大パターン85
bを生成し、その拡大パターンと第2パターン85aを
比較して相違値Δxを求める。
【0132】ステップS28において、CPU32は、
ステップS27において求めた相違値Δxが誤差範囲値
以内であるため、第2パターン85aを分割ブロックパ
ターンBP(8)の形状に補正可能であると判定する。
その判定結果に基づいて、CPU32は、ステップS2
8からステップS29へ移る。
【0133】ステップS29において、CPU32は、
図15(d)に示すように、第2パターン85aの斜辺
の傾きを分割ブロックパターンBP(8)と同じ傾きに
補正変更する。そして、CPU32は、補正変更した第
2パターン85bのための分割ブロックパターンデータ
86(図16参照)を生成する。CPU32は、分割ブ
ロックパターンデータ86を図11の第6データファイ
ル46に格納する。
【0134】[第1パターンデータの形状が四角形であ
り、四角形の分割ブロックパターンに補正する場合]次
に、第1パターンデータの形状が四角形の時の形状補正
処理を詳述する。
【0135】第1パターンデータの形状が四角形の場
合、補正に用いる分割ブロックパターンの形状に対応し
て処理が異なる。先ず、平行四辺形の分割ブロックパタ
ーンを用いる場合を、図17のフローチャート及び図1
8〜図21に従って説明する。
【0136】図17のステップS31,S32は、図2
のステップS14のサブステップであり、変化量計算処
理である。また、図17のステップS33〜S39は、
図2のステップS15のサブステップであり、第1補正
判定処理である。更に、図17のステップS40,S4
4は、図2のステップS16のサブステップであり、第
1補正処理である。また、図17のステップS41〜S
43は、図2のステップS17〜S19にそれぞれ対応
している。
【0137】(1)第1パターンデータの形状が図18
(a)に示す形状の場合。 先ず、図17のステップS31において、図3中のCP
U32は、図18(a)に示す四角形形状の第1パター
ン91を構成する4つの辺A〜Dの変化量AΔx,AΔ
y、BΔx,BΔy、CΔx,CΔy、DΔx,DΔy
を求める。
【0138】次に、ステップS32において、CPU3
2は、辺B,Dを判定の対象とし、各辺B,Dの変化量
BΔx,DΔxが誤差範囲値以下か否かを判定する。次
に、ステップS33において、CPU32は、辺Bの変
化量BΔxと辺Dの変化量DΔxが共に誤差判定値以下
であるため、第1パターン91を表現可能形状に補正可
能であると判定する。更に、CPU32は、補正可能な
辺の組み合わせが辺Bと辺Dであるため、ステップS3
3からステップS34に移る。
【0139】ステップS34において、CPU32は、
辺Bを垂直な辺B1に補正した第2パターン91a(図
18(b)参照)を生成する。次に、ステップS36に
おいて、CPU32は、第2パターン91aの形状が平
行四辺形形状に類似しているか否かを認識するために辺
Aと辺Cの傾斜方向が同じであるか否かを判定する。こ
の場合、辺A,Cは傾斜方向が同じであるため、CPU
32は、図17のステップS36からステップS38へ
移る。
【0140】ステップS38において、CPU32は、
斜辺である辺A、辺Cを、図18(c)に示すように、
一端(左端)を重ね合わせた時の他端(右端)の座標値
の差を相違値Δyとしてを求める。
【0141】ステップS39において、CPU32は、
求めた相違値Δyが誤差範囲値以内であるため、第2パ
ターン91aを平行四辺形に補正可能と判定し、ステッ
プS39からステップS40へ移る。
【0142】ステップS40において、CPU32は、
辺Cの傾きを辺Aの傾きに一致させ、第2パターン91
aの形状を平行四辺形形状に補正変更した第3パターン
91b(図18(d)参照)を生成する。そして、CP
U32は、生成した第3パターン91bの形状を示すパ
ターンデータを第2パターンデータとして図17の第5
データファイル45に格納する。
【0143】次に、ステップS41において、CPU3
2は、補正により生成した第3パターン91bに類似し
た形状の分割ブロックパターンを選択する。この場合、
CPU32は、図6中のブロック番号12の分割ブロッ
クパターンBPを選択する。そして、CPU32は、第
3パターン91bの形状と選択した分割ブロックパター
ンBP(12)の形状との比較を行う。
【0144】この時、分割ブロックパターンBP(1
2)の透過孔形状を第3パターン91bの大きさまで拡
大した拡大パターン91cを生成し、その拡大パターン
91cと第3パターン91bを重ね合わせ、図18
(e)に示すように先端(右端)の差分である相違値Δ
yを求める。
【0145】次に、図17のステップS42において、
CPU32は、求めた相違値Δyと誤差範囲値を比較す
る。この場合、相違値Δyが誤差範囲値以内であるた
め、CPU32は第3パターン91bの形状を分割ブロ
ックパターンBP(12)の形状に補正可能と判定し、
ステップS42からステップS43へ移る。
【0146】ステップS43において、CPU32は、
図18(f)に示すように、第3パターン91bの斜辺
の傾きを分割ブロックパターンBP(11)と同じに補
正変更した補正パターン(この場合は拡大パターン91
cと同じ形状であるため同じ符号を付す)91cを生成
する。そして、CPU32は、補正パターン91cのデ
ータを、パターンデータ形式から図19に示す分割パタ
ーンデータ用のデータ形式に変更したデータ92を生成
し、その変更後のデータ92を分割ブロックパターンデ
ータとして図17の第6データファイル46に格納す
る。
【0147】(2)第1パターンデータの形状が図20
(a)に示す形状の場合。 先ず、図17のステップS31において、図3中のCP
U32は、図20(a)に示す四角形形状の第1パター
ン93を構成するから4つの辺A〜Dの変化量を求め
る。この第1パターン93は平行四辺形であるため、C
PU32はステップS32,S33,S34,S36の
各処理を実行した後、ステップS36からステップS3
8へ移る。
【0148】ステップS38において、CPU32は、
斜辺である辺Aと辺Cを図20(b)に示すように左端
を重ねた時の右端における相違値Δyを求める。この相
違値Δyは誤差範囲値より大きいため、CPU32は、
ステップS39において平行四辺形への補正が不可能と
判定し、ステップS39からステップS44へ移る。
【0149】ステップS44において、CPU32は、
台形形状のパターンデータとして第1パターン93のパ
ターンデータを図17の第5データファイル45に格納
する。
【0150】(3)第1パターンデータの形状が図21
(a)に示す形状の場合。 先ず、図17のステップS31において、図3中のCP
U32は、図21(a)に示す四角形形状の第1パター
ン94を構成する4つの辺A〜Dの変化量を求める。
【0151】次に、ステップS32において、CPU3
2は、変化量AΔy(=0)のみが誤差範囲値以内であ
るため、第1パターン94を表現可能形状に補正不可能
と判定する。その判定結果に基づいて、CPU32は、
ステップS33からステップS7へ移る。
【0152】ステップS7において、CPU32は、表
現不可形状である第1パターン94を図21(b)に示
すようにショット分割して複数の矩形パターン95を生
成する。そして、CPU32は、全ての矩形パターン9
5のデータを第2パターンデータとして図17の第5デ
ータファイル45に格納する。
【0153】[第1パターンデータの形状が四角形であ
り、直角三角形の分割ブロックパターンの形状に補正す
る場合]次に、直角三角形の分割ブロックパターンを用
いる場合を、図22のフローチャート及び図23〜図2
6に従って説明する。尚、図22のフローチャートに示
す処理において、図17のフローチャートと同じ処理に
ついては同じ符号を付し、その詳細な説明を省略する。
【0154】図22のステップS31,S32は、図2
のステップS14のサブステップであり、変化量計算処
理である。また、図22のステップS33〜S39は、
図2のステップS15のサブステップであり、第1補正
判定処理である。更に、図22のステップS40,S4
4は、図2のステップS16のサブステップであり、第
1補正処理である。また、図22のステップS51,S
52は、図2のステップS17のサブステップであり、
相違値計算処理である。更にまた、図22のステップS
42,S53は、図2のステップS18,S19にそれ
ぞれ対応している。
【0155】(1)第1パターンに対する第1補正処理
後の形状が図23(a)に示す形状の場合。 図22のステップS31〜S39の各処理は、図17の
それらの処理と同じであるため説明を省略する。そし
て、ステップS40において、図3中のCPU32は、
図23(a)に示すように、第1補正処理を施した平行
四辺形形状の第1パターン101を生成する。
【0156】次に、図22のステップS51において、
図23(a)に示すように、CPU32は、第1パター
ン101の斜辺である辺Aを含む第1直角三角形101
aを発生させる。CPU32は、この第1直角三角形1
01aと類似した図6中のブロック番号4の分割ブロッ
クパターンBPを選択する。
【0157】図23(b)に示すように、CPU32
は、選択した分割ブロックパターンBP(4)の透過孔
形状の大きさを、第1直角三角形101aの大きさに拡
大した拡大パターン101cを生成する。CPU32
は、拡大パターン101cと第1直角三角形101aを
形状比較し、相違値AΔyを求める。
【0158】次に、ステップS52において、図23
(a)に示すように、CPU32は、第1パターン10
1の斜辺である辺Cを含む第2直角三角形101bを発
生させる。CPU32は、この第2直角三角形101b
と類似した形状の図6中のブロック番号2の分割ブロッ
クパターンBPを選択する。図23(c)に示すよう
に、CPU32は、選択した分割ブロックパターンBP
(2)の透過孔形状の大きさを、第2直角三角形101
bの大きさに拡大した拡大パターン101dを生成す
る。CPU32は、拡大パターン101dと第2直角三
角形101bを形状比較し、相違値CΔyを求める。
【0159】ステップS42において、CPU32は、
ステップS51,52において求めた相違値AΔy,C
Δyが誤差範囲値以内であるため、第1パターン101
を分割ブロックパターンの形状に補正可能であると判定
する。その判定結果に基づいて、CPU32は、ステッ
プS42からステップS53へ移る。
【0160】ステップS53において、CPU32は、
図23(d)に示すように、第1パターン101を分割
ブロックパターンBP(4),BP(2)の透過孔形状
と相似の直角三角形形状の分割パターン102,103
にパターン分割する。そして、CPU32は、各分割パ
ターン102,103のデータ102a,103aを、
パターンデータ形式から図24に示す分割ブロックパタ
ーン形式に変更し、その変更後のデータを分割ブロック
パターンデータとして図22の第6データファイル46
に格納する。
【0161】尚、図22のステップS53におけるパタ
ーン分割処理により、分割の具合によって図23(d)
に示す矩形形状のパターン104が生じる場合がある。
この場合、CPU32は、生じた矩形形状のパターン1
04のデータ104aを第2パターンデータとして図2
2の第5データファイル45に格納する。
【0162】(2)第1パターンデータの形状が図25
(a)に示す形状の場合。 この場合、CPU32は、ステップS51,S52にお
いて、第1パターン105を斜辺である辺B,Dを含む
第1,第2直角三角形105a, 105bを生成する。
そして、CPU32は、生成した第1,第2直角三角形
105a,105bの類似した図6中のブロック番号
5,1の分割ブロックパターンBPをそれぞれ選択す
る。
【0163】そして、CPU32は、図25(c)、
(b)に示すように、それぞれ第1,第2直角三角形1
05a,105bを選択した分割ブロックパターンBP
(5)、BP(1)の透過孔形状を拡大した形状の拡大
パターン106,107と形状比較する。その比較結果
に基づいて、CPU32は、図23(d)に示すよう
に、第1,第2直角三角形105a,105bを補正し
た補正パターン106.107を生成する。そして、C
PU32は、補正パターン106,107の分割ブロッ
クパターンデータ106a,107a(図26参照)を
図22の第6データファイル46に格納する。また、C
PU32は、図23(d)の補正パターン106,10
7に含まれない矩形パターン105cのパターンデータ
105ca(図26参照)を第2パターンデータとして
図22の第5データファイル45に格納する。
【0164】[第1パターンデータの形状が四角形であ
り、台形の分割ブロックパターンの形状に補正する場
合]次に、台形の分割ブロックパターンを用いる場合
を、図27のフローチャート及び図28〜図31に従っ
て説明する。尚、図27のフローチャートに示す処理に
おいて、図17,22のフローチャートと同じ処理につ
いては同じ符号を付し、その詳細な説明を省略する。
【0165】図27のステップS31,S32は、図2
のステップS14のサブステップであり、変化量計算処
理である。また、図27のステップS33〜S37,S
63は、図2のステップS15のサブステップであり、
第1補正判定処理である。更に、図27のステップS6
1,S64は、図2のステップS16のサブステップで
あり、第1補正処理である。また、図27のステップS
51,52は、図2のステップS17のサブステップで
あり、相違値計算処理である。更にまた、図27のステ
ップS42,S62は、図2のステップS18,S19
にそれぞれ対応している。
【0166】(1)第1パターンデータの形状が図28
(a)に示す形状の場合。 先ず、図27のステップS31において、図3中のCP
U32は、図28(a)に示す四角形形状の第1パター
ン111を構成する4つの辺A〜Dの変化量AΔx,A
Δy、BΔx,BΔy、CΔx,CΔy、DΔx,DΔ
yを求める。
【0167】次に、ステップS32において、CPU3
2は、辺A,Cを判定の対象とし、各辺A,Cの変化量
AΔy,CΔyが誤差範囲値以下か否かを判定する。次
に、ステップS33において、CPU32は、辺Aの変
化量AΔyと辺Cの変化量CΔyが共に誤差判定値以下
であるため、第1パターン111を表現可能形状に補正
可能であると判定する。その判定結果に基づいて、CP
U32はステップS33からステップS35に移る。
【0168】ステップS35において、CPU32は、
辺Cを水平な辺C1に補正した第2パターン111a
(図28(b)参照)を生成する。次に、ステップS3
7において、CPU32は、第2パターン111aの形
状が台形形状か否かを認識するために辺Bと辺Dの傾斜
方向が同じであるかを判定する。この場合、辺B,Dは
傾斜方向が異なるため、CPU32は、第2パターン1
11aを台形と判定し、図27のステップS37からス
テップS61へ移る。
【0169】ステップS61において、CPU32は、
補正変更した台形形状の第2パターン111aを生成す
る。そして、CPU32は、生成した第2パターン11
1aの形状を示すパターンデータを第2パターンデータ
として図27の第5データファイル45に格納する。
【0170】次に、ステップS51において、図28
(b)に示すように、CPU32は、第2パターン11
1aの辺Bを含む第1直角三角形111bを生成する。
CPU32は、この第1直角三角形111bと類似した
図6中のブロック番号7の分割ブロックパターンBPを
選択する。
【0171】図28(c)に示すように、CPU32
は、選択した分割ブロックパターンBP(7)の透過孔
形状の大きさを第1直角三角形111bの大きさに拡大
した拡大パターン112を生成する。CPU32は、拡
大パターン112と第1直角三角形111bを形状比較
し、相違値BΔy2を求める。
【0172】次に、ステップS52において、図28
(b)に示すように、CPU32は、第2パターンデー
タ111aの辺Dを含む第2直角三角形111cを生成
する。CPU32は、この第2直角三角形111cと類
似した図6中のブロック番号3の分割ブロックパターン
BPを選択する。
【0173】図28(c)に示すように、CPU32
は、選択した分割ブロックパターンBP(3)の透過孔
形状の大きさを第2直角三角形111cの大きさに拡大
した拡大パターン113を生成する。CPU32は、拡
大パターン113と第2直角三角形111cを形状比較
し、相違値DΔx2を求める。
【0174】ステップS42において、CPU32は、
ステップS51,52において求めた相違値BΔy2,
DΔx2が誤差範囲値以内であるため、第2パターン1
11aを分割ブロックパターンの形状に補正可能である
と判定する。その判定結果に基づいて、CPU32は、
ステップS42からステップS62へ移る。
【0175】ステップS62において、CPU32は、
図28(d)に示すように、第2パターン111aを分
割ブロックパターンBP(3),BP(7)の透過孔形
状と相似の直角三角形形状の分割パターン113,11
2にパターン分割する。そして、CPU32は、各分割
パターンのデータを、パターンデータ形式から図29に
示す分割ブロックパターン形式に変更した分割ブロック
パターンデータ113a,112aをそれぞれ生成す
る。そして、CPU32は、両データ113a,112
aを図27の第6データファイル46に格納する。
【0176】尚、図27のステップS62におけるパタ
ーン分割処理により、図28(d)に示す矩形形状のパ
ターン111dが残る。CPU32は、矩形パターン1
11dのデータ111da(図29参照)を第2パター
ンデータとして図27の第5データファイル45に格納
する。
【0177】(2)第1パターンの形状が図30(a)
に示す形状の場合。 先ず、図27のステップS31において、図3中のCP
U32は、図30(a)に示す四角形形状の第1パター
ン114を構成する4つの辺A〜Dの変化量AΔx,A
Δy、BΔx,BΔy、CΔx,CΔy、DΔx,DΔ
yを求める。この第1パターン114は、辺A,Cが平
行である台形形状であるため、CPU32は、ステップ
S32,S33,S53,S37,S61の各処理を実
行した後、ステップS51へ移る。
【0178】ステップS51,S52において、図30
(b)(c)に示すように、CPU32は、辺B,Dを
含む第1,第2直角三角形114a,114bを生成す
る。しかしながら、第1,第2直角三角形114a,1
14bに類似した分割ブロックパターンは存在しない。
そのため、CPU32は、各直角三角形114a,11
4bの各辺における相違値を求めることができない。そ
のため、CPU32は、ステップS42における判定処
理により形状補正処理を終了する。
【0179】この場合、図27のステップS61におい
て、台形形状の第1パターン114のデータ第2パター
ンデータとして第5データファイル45に格納されてい
る。これにより、第1パターン114は、露光装置にて
第2パターンデータに基づいてショット分割され所望の
パターンが露光される。
【0180】(3)第1パターンデータの形状が図31
(a)に示す形状の場合。 先ず、図27のステップS31において、図3中のCP
U32は、図31(a)に示す四角形形状の第1パター
ン115を構成する4つの辺A〜Dの変化量AΔx,A
Δy、BΔx,BΔy、CΔx,CΔy、DΔx,DΔ
yを求める。この第1パターン115の場合、誤差範囲
以内である変化量はAΔyだけであるので、CPU32
はステップS33において表現可能形状に補正不可能と
判定し、ステップS33からステップS7へ移る。
【0181】ステップS7において、CPU32は、表
現不可形状である第1パターン115を図31(b)に
示すようにショット分割して複数の矩形パターン116
を生成する。そして、CPU32は、全ての矩形パター
ン116のデータを第2パターンデータとして図27の
第5データファイル45に格納する。
【0182】[ブロック分割による補正処理を行う第1
の場合]次に、分割ブロックパターンを用いてブロック
分割により補正処理を行う第1の場合を、図32のフロ
ーチャート及び図33〜図36に従って説明する。尚、
図27のフローチャートに示す処理において、図17,
22のフローチャートと同じ処理については同じ符号を
付し、その詳細な説明を省略する。
【0183】図32のステップS71〜S74は、図2
のステップS12,S14〜S16にそれぞれ対応して
いる。また、図32のステップS75,S78は、図2
のステップS17のサブステップであり、相違値計算処
理である。更に、図32のステップS76,S79は、
図2のステップS18のサブステップであり、第2補正
判定処理である。また、図32のステップS77,S8
0,S81は、図2のステップS19のサブステップで
あり、第2補正処理である。
【0184】(1)第1パターンに対する第1補正処理
後の形状が図33(a)に示す形状の場合。 先ず、図32のステップS71において、図3中のCP
U32は、第1パターンの形状認識を行い、その結果に
基づいて、第1パターンが矩形形状以外の場合にステッ
プS72における変化量計算処理を実行し変化量を求め
る。
【0185】次に、ステップS73において、CPU3
2は、ステップS72において求めた変化量に基づい
て、第1パターンの形状を表現可能形状に補正可能か否
かを判定する。そして、その判定結果に基づいて、補正
可能な場合にCPU32はステップS75における第1
補正処理を実行する。その第1補正処理により補正され
た第1パターン121の図形を図33(a)に示す。
【0186】次に、図32のステップS75において、
図3中のCPU32は、第1パターン121の形状に類
似した図6中のブロック番号19の分割ブロックパター
ンBPを選択する。そして、図33(b)に示すよう
に、CPU32は、選択した分割ブロックパターンBP
(19)の透過孔パターンを拡大した拡大パターン12
2を生成する。CPU32は、拡大パターン122と第
1パターン121を形状比較し、下端の座標値の差を第
1相違値Δx1として求める。次に、ステップS76に
おいて、CPU32は、第1相違値Δx1と誤差範囲値
を比較する。この時、相違値Δx1は誤差範囲値より大
きいので、CPU32はステップS76からステップS
78に移る。
【0187】ステップS78において、CPU32は、
ステップS75における処理とは逆に、第1パターン1
21を分割ブロックBP(19)のパターンと同じ大き
さに縮小した縮小パターン122を生成する。そして、
CPU32は、図33(c)に示すように、縮小パター
ン123と分割ブロックBP(19)の透過孔パターン
を比較し、第2相違値Δx2を求める。
【0188】次に、ステップS79において、CPU3
2は、ステップS78において求めた第2相違値Δx2
と誤差範囲値を比較する。この場合、相違値Δx2は誤
差範囲値以内であるため、CPU32はステップS79
からステップS80へ移る。
【0189】ステップS80において、CPU32は、
図33(d)に示すように、第1パターン121を分割
ブロックBP(19)のパターン124のサイズで分割
するパターン分割を行う。更に、CPU32は、パター
ン分割した複数のパターン124のための分割ブロック
パターン124a(図34参照)を生成する。CPU3
2は、分割ブロックパターンデータ124aを図32の
第6データファイル46に格納する。
【0190】(2)第1パターンに対する第1補正処理
後の形状が図35(a)に示す形状の場合。 先ず、CPU32は、図32のステップS71〜S74
の各処理を実行し、図35(a)に示す第1パターン1
25を生成する。
【0191】次に、ステップS75において、CPU3
2は、第1パターン125の形状に類似した図6中のブ
ロック番号1の分割ブロックBPを選択する。そして、
図35(b)に示すように、CPU32は、選択した分
割ブロックBP(1)の透過孔パターンを拡大した拡大
パターン126を生成する。
【0192】CPU32は、拡大パターン126と第1
パターン125を形状比較し、右端の座標値の差を第1
相違値Δy1として求める。次に、ステップS76にお
いて、CPU32は、第1相違値Δy1と誤差範囲値を
比較する。この時、相違値Δy1は誤差範囲値より大き
いので、CPU32はステップS76からステップS7
8に移る。
【0193】ステップS78において、CPU32は、
ステップS75における処理とは逆に、第1パターン1
25を分割ブロックBP(1)の透過孔パターンと同じ
大きさに縮小した縮小パターン127を生成する。そし
て、CPU32は、図35(c)に示すように、縮小パ
ターン127と分割ブロックBP(1)の透過孔パター
ンを比較し、第2相違値Δy2を求める。
【0194】次に、ステップS79において、CPU3
2は、ステップS78において求めた第2相違値Δy2
と誤差範囲値を比較する。この場合、相違値Δy2は誤
差範囲値以内であるため、CPU32はステップS79
からステップS80へ移る。
【0195】ステップS80において、CPU32は、
図35(d)に示すように、第1パターン125を分割
ブロックBP(1)のパターン128と矩形パターン1
29で分割するパターン分割を行う。更に、CPU32
は、パターン分割した複数のパターン128のための分
割ブロックパターンデータ128aと、矩形パターン1
29のためのパターンデータ129aを生成する。CP
U32は、分割ブロックパターンデータ128aを図3
2の第6データファイル46に格納し、パターンデータ
129aを第2パターンデータとして第5データファイ
ル45に格納する。
【0196】[ブロック分割による補正処理を行う第2
の場合]次に、分割ブロックパターンを用いてブロック
分割により補正処理を行う第2の場合を、図37のフロ
ーチャート及び図38〜図41に従って説明する。尚、
図37のフローチャートに示す処理において、図32の
フローチャートと同じ処理については同じ符号を付し、
その詳細な説明を省略する。
【0197】図37のステップS71〜S76は、図2
のステップS12,S14〜S18にそれぞれ対応して
いる。また、図37のステップS77,S80,S81
は、図2のステップS19のサブステップであり、第2
補正処理である。
【0198】(1)第1補正処理後の形状が図38
(a)に示す三角形形状の場合。 先ず、CPU32は、図32のステップS71〜S74
の各処理を実行し、図38(a)に示す第1パターン1
31を生成する。
【0199】次に、ステップS75において、CPU3
2は、第1パターン131の形状に類似した図6中のブ
ロック番号10の分割ブロックBPを選択する。そし
て、図38(b)に示すように、CPU32は、選択し
た分割ブロックBP(10)の透過孔パターンを拡大し
た拡大パターン132を生成する。
【0200】CPU32は、拡大パターン132と第1
パターン131を形状比較し、右端の座標値の差を第1
相違値Δx1として求める。次に、ステップS76にお
いて、CPU32は、第1相違値Δx1と誤差範囲値を
比較する。この時、相違値Δx1は誤差範囲値より大き
いので、CPU32はステップS76からステップS8
2に移る。
【0201】ステップS82において、CPU32は、
図38(c)に示すように、第1パターン131と分割
ブロックBP(10)の透過孔形状のパターン133の
相違値Δx2が誤差範囲値を越えた位置で第1パターン
131を分割する。即ち、CPU32は、分割ブロック
パターンBP(10)の透過孔形状に基づくパターン1
33の大きさを、そのパターン133と第1パターン1
31との相違値が誤差範囲値を越えないように決定す
る。
【0202】次に、ステップS83において、CPU3
2は、ステップS82において分割したパターン133
のための分割ブロックパターンデータ133a(図39
参照)を生成する。CPU32は、分割ブロックパター
ンデータ133aを図37の第6データファイル46に
格納する。
【0203】尚、図38(c)に示すように、CPU3
2は、上記のように第1パターン131を分割する際に
矩形パターン134を用いて分割する。CPU32は、
この矩形パターン134のパターンデータ134a(図
39参照)を第2パターンデータとして図37の第5デ
ータファイル45に格納する。
【0204】(2)第1補正処理後の形状が図40
(a)に示す四角形形状の場合。 先ず、CPU32は、図32のステップS71〜S74
の各処理を実行し、図40(a)に示す第1パターン1
35を生成する。
【0205】次に、ステップS75において、CPU3
2は、第1パターン135の形状に類似した図6中のブ
ロック番号14の分割ブロックBPを選択する。そし
て、図40(b)に示すように、CPU32は、選択し
た分割ブロックBP(14)の透過孔パターンを拡大し
た拡大パターン136を生成する。
【0206】CPU32は、拡大パターン136と第1
パターン135を形状比較し、右端の座標値の差を第1
相違値Δy1として求める。次に、ステップS76にお
いて、CPU32は、第1相違値Δy1と誤差範囲値を
比較する。この時、相違値Δy1は誤差範囲値より大き
いので、CPU32はステップS76からステップS8
2に移る。尚、第1パターン135を分割ブロックパタ
ーンBP(14)の大きさに縮小した縮小パターン13
7においても、相違値が誤差範囲値以上であるため、図
32に示す補正処理においてはCPU32は補正不可能
と判定する。
【0207】ステップS82において、CPU32は、
図40(c)に示すように、第1パターン135と分割
ブロックBP(14)の透過孔形状のパターン138の
相違値が誤差範囲値を越えた位置で第1パターン135
を分割する(図40(d)参照)。即ち、CPU32
は、分割ブロックパターンBP(14)の透過孔形状に
基づく縮小パターン138の大きさを、その縮小パター
ン138と第1パターン135との相違値が誤差範囲値
を越えないように決定する。次に、ステップS83にお
いて、CPU32は、ステップS82において分割した
パターン138のための分割ブロックパターン138a
を生成する。そして、CPU32は、分割ブロックパタ
ーンデータ138aを図37の第6データファイル46
に格納する。
【0208】以上記述したように、本実施の形態によれ
ば、以下の効果を奏する。 (1)設計パターンが表現不可形状である場合に、その
表現不可形状を表現可能形状に補正可能か否かを判定す
る。その判定結果に基づいて、補正可能と判定した場合
に表現不可形状を表現可能形状に補正した後、その表現
可能形状を分割ブロックパターンの形状に補正可能か否
かを判定する。その判定結果に基づいて、補正可能と判
定した場合に表現可能形状を分割ブロックパターンの形
状に補正するようにした。これにより、露光データのデ
ータ量が少なくなるため、露光装置におけるショット時
間を短くすることができる。
【0209】(2)表現不可形状と表現可能形状とを形
状比較して変化量を求め、その変化量と予め設定された
誤差範囲値を比較して表現不可形状を表現可能形状に補
正可能か否かを判定するようにした。その結果、判定の
ための時間を短縮することができ、露光データの作成に
要する時間を短くすることができる。
【0210】(3)分割ブロックパターンの形状の大き
さを表現可能形状の大きさに対応させて相違値を求め、
その相違値と予め設定された誤差範囲値を比較して表現
可能形状を分割ブロックパターンの形状に補正可能か否
かを判定するようにした。その結果、判定のための時間
を短縮することができ、露光データの作成に要する時間
を短くすることができる。
【0211】(4)表現可能形状を分割ブロックパター
ンの形状に補正不可能と判定した場合に、表現可能形状
を分割ブロックパターンの形状の大きさに縮小した縮小
パターンを作成し、その縮小パターンが分割ブロックパ
ターンの形状に補正可能か否かを判定する。そして、そ
の判定結果に基づいて、補正可能と判定した場合に、表
現可能形状を縮小パターンの形状で分割した分割ブロッ
クパターンデータを作成するようにした。その結果、多
くの種類のパターンから分割ブロックパターンデータを
生成することができるため、露光データのデータ量が少
なくなり、露光装置におけるショット時間を短くするこ
とができる。
【0212】(5)表現可能形状を分割ブロックパター
ンの形状に補正不可能と判定した場合に、表現可能形状
と分割ブロックパターンの形状の相違値が誤差範囲値以
内となる分割用の縮小パターンを作成し、その縮小パタ
ーンにより表現可能形状を分割した分割ブロックパター
ンデータを作成するようにした。その結果、多くの種類
のパターンから分割ブロックパターンデータを生成する
ことができるため、露光データのデータ量が少なくな
り、露光装置におけるショット時間を短くすることがで
きる。
【0213】尚、本発明は前記実施形態の他、以下の態
様で実施してもよい。 ○上記実施の形態では、四角形形状のパターンの一部を
分割した直角三角形を生成し、その三角形が補正可能か
否かを判定するようにしたが、三角形形状のパターンを
複数の直角三角形に分割した後、その複数の直角三角形
が補正可能か否か判断するようにしてもよい。例えば、
図42に示す三角形形状のパターン141〜144は、
上記各処理では表現可能形状に補正不可能と判定され
る。しかしながら、各パターン141〜144において
点線にてそれぞれ直角三角形141a,141b〜14
4a,144bに分割する。これらの直角三角形141
a〜144bは表現可能形状である。これにより、更に
各直角三角形141a〜144bが分割ブロックパター
ンに補正可能であり、露光データのデータ量を少なくす
ると共に露光時間を短縮することができる。
【0214】また、図14(a)の三角形形状の第1パ
ターン83は、図の点線から辺Aを含む三角形形状のパ
ターンと、辺Bを含む直角三角形パターンに分割する。
これにより、辺Bを含むパターンは表現可能形状である
ため更に分割ブロックパターンに補正が可能である。こ
れにより、露光データのデータ量を少なくすると共に露
光時間を短縮することができる。
【0215】○上記実施形態では、四角形をその2つの
斜辺を含む三角形状のパターンに分割した時に、2つの
パターンをともの補正可能な場合において分割ブロック
パターンの形状に補正するようにしたが、一方のパター
ンのみに対して補正判定を行うようにしても良い。
【0216】○上記実施の形態では、出力する分割ブロ
ックパターンデータの領域に格納するブロック種類を
「分割」としたが、分割ブロックパターン形状と一致し
ている場合には繰り返しブロックパターンデータ形式と
して出力しても良い。これにより、露光装置におけるシ
ョット分割の際にショット分割の判定及び計算が不要と
なり、露光時間の短縮が図られる。
【0217】○上記実施形態では、表現不可形状に対す
るショット分割処理を露光データ作成装置にて行うよう
にしたが、露光装置にて行うようにするべく露光データ
を作成する処理構成としても良い。逆に、表現可能形状
に対するショット分割を露光装置にて行うようにするべ
く露光データを作成したが、露光データ作成装置31に
て表現可能形状のショット分割を行い、その処理後のデ
ータを露光データに変換して露光装置に供給する構成と
してもよい。
【0218】○上記実施形態では、露光媒体としてウェ
ハ23にLSIのレイアウトパターンを露光する場合に
ついて説明したが、露光媒体としてはウェハ以外の物で
もよく、例えば、LCDやPDP等に用いられる基板に
パターンを露光する場合に用いてもよい。
【0219】○上記実施形態のプログラムを記録した記
録媒体は、コンピュータソフトウエアを記録できるもの
ならどのようなものでもよい。具体的には、半導体メモ
リ、フロッピ−デイスク(FD)、ハードディスク(H
D)、光ディスク(CD,DVD)、光磁気ディスク
(MO,MD)、相変化ディスク(PD)、磁気テープ
等が含まれる。
【0220】
【発明の効果】以上詳述したように、請求項1〜10に
記載の発明によれば、ショット数を少なくして露光時間
の短縮を図ることの可能な露光データ作成方法を提供す
ることができる。
【0221】請求項11〜16に記載の発明によれば、
ショット数を少なくして露光時間の短縮を図ることの可
能な露光データ作成装置を提供することができる。請求
項17に記載の発明によれば、ショット数を少なくして
露光時間の短縮を図ることの可能なプログラムを記録し
た記録媒体を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 露光データ作成処理の概略フローチャート。
【図2】 補正処理の詳細なフローチャート。
【図3】 露光データ作成装置の概略構成図。
【図4】 (a)(b)は、誤差範囲値を示す説明図。
【図5】 データ形式を示す説明図。
【図6】 登録されたブロックの形状を示す説明図。
【図7】 (a)〜(c)は、三角形に対する補正処理
の説明図。
【図8】 図7(c)のパターンデータを示す説明図。
【図9】 (a)〜(d)は、四角形に対する補正処理
の説明図。
【図10】 図9(d)のパターンデータを示す説明
図。
【図11】 三角形のパターンに対する補正処理のフロ
ーチャート。
【図12】 (a)〜(d)は、三角形に対する補正処
理の説明図。
【図13】 図12(d)のパターンデータを示す説明
図。
【図14】 (a),(b)は、三角形に対する補正処
理の説明図。
【図15】 (a)〜(d)は、三角形に対する補正処
理の説明図。
【図16】 図15(d)のパターンデータを示す説明
図。
【図17】 四角形のパターンに対する補正処理のフロ
ーチャート。
【図18】 (a)〜(f)は、四角形に対する補正処
理の説明図。
【図19】 図18(f)のパターンデータを示す説明
図。
【図20】 (a)〜(d)は、四角形に対する補正処
理の説明図。
【図21】 (a)〜(d)は、四角形に対する補正処
理の説明図。
【図22】 四角形のパターンに対する補正処理のフロ
ーチャート。
【図23】 (a)〜(d)は、四角形に対する補正処
理の説明図。
【図24】 図24(d)のパターンデータを示す説明
図。
【図25】 (a)〜(d)は、四角形に対する補正処
理の説明図。
【図26】 図25(d)のパターンデータを示す説明
図。
【図27】 四角形のパターンに対する補正処理のフロ
ーチャート。
【図28】 (a)〜(d)は、四角形に対する補正処
理の説明図。
【図29】 図28(d)のパターンデータを示す説明
図。
【図30】 (a)〜(c)は、四角形に対する補正処
理の説明図。
【図31】 (a),(b)は、四角形に対する補正処
理の説明図。
【図32】 分割ブロックへの補正処理を示すフローチ
ャート。
【図33】 (a)〜(d)は、分割ブロックへの補正
処理の説明図。
【図34】 図33(d)のパターンデータを示す説明
図。
【図35】 (a)〜(d)は、分割ブロックへの補正
処理の説明図。
【図36】 図35(d)のパターンデータを示す説明
図。
【図37】 分割ブロックへの補正処理を示すフローチ
ャート。
【図38】 (a)〜(c)は、分割ブロックへの補正
処理の説明図。
【図39】 図38(c)のパターンデータを示す説明
図。
【図40】 (a)〜(d)は、分割ブロックへの補正
処理の説明図。
【図41】 図40(d)のパターンデータを示す説明
図。
【図42】三角形のパターンを表現可能形状に分割する
説明図。
【図43】 ブロック露光装置の概略構成図。
【図44】 ステンシルマスクの平面図。
【図45】 従来の露光データ作成処理を示す説明図。
【図46】 表現可能パターンの形状を示す説明図。
【符号の説明】
S14 第1判定ステップとしての変化量計算処理 S15 第1判定ステップとしての第1判定処理 S16 第1補正ステップとしての第1補正処理 S17 第2判定ステップとしての相違値計算処理 S18 第2判定ステップとしての第2判定処理 S19 第2補正ステップとしての第2補正処理

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 露光媒体に半導体集積回路を作成するた
    めの設計パターンを予め形状が設定された分割ブロック
    パターンを搭載したマスクを用いて露光するブロック露
    光のための露光データを作成する露光データ作成方法で
    あって、 前記設計パターンが露光データを作成する際にパターン
    を短冊状の複数の矩形パターンに分割するショット分割
    を必要とする表現不可形状である場合に、その表現不可
    形状を前記ショット分割が不要な表現可能形状に補正可
    能か否かを判定する第1判定ステップと、 前記第1判定ステップにおける判定結果に基づいて、補
    正可能と判定された場合に前記表現不可形状を表現可能
    形状に補正する第1補正ステップと、 前記補正された表現可能形状を分割ブロックパターンの
    形状に補正可能か否かを判定する第2判定ステップと、 前記第2判定ステップにおける判定結果に基づいて、補
    正可能と判定された場合に前記表現可能形状を分割ブロ
    ックパターンの形状に補正する第2補正ステップと、 前記分割ブロックパターンのデータに基づいて露光デー
    タを作成する露光データ作成ステップとを含む露光デー
    タ作成方法。
  2. 【請求項2】 前記第1判定ステップは、 前記表現不可形状と前記表現可能形状とを形状比較し、
    前記表現不可形状を前記表現可能形状に変更するのに必
    要とする変化量を計算するステップと、 前記変化量と予め設定された誤差範囲値を比較し、その
    比較結果に基づいて前記表現不可形状を前記表現可能形
    状に補正可能か否かを判定するステップとを含む請求項
    1に記載の露光データ作成方法。
  3. 【請求項3】 前記第2判定ステップは、 前記分割ブロックパターンの形状の大きさを前記表現可
    能形状の大きさに対応させ、その対応する大きさの形状
    と前記表現可能形状とを比較し、前記表現可能形状と前
    記分割ブロックパターンの形状の間の相違値を計算する
    ステップと、 前記相違値と予め設定された誤差範囲値を比較し、その
    比較結果に基づいて前記表現可能形状を前記分割ブロッ
    クパターンの形状に補正可能か否かを判定するステップ
    とを含む請求項1又は2に記載の露光データ作成方法。
  4. 【請求項4】 前記設計パターンの形状は三角形形状で
    あり、 前記第1判定ステップにおいて、前記三角形形状の設計
    パターンを直角三角形の表現可能形状に補正可能か否か
    を判定し、 前記第2判定ステップにおいて、前記直角三角形の表現
    可能形状を、直角三角形の分割ブロックパターンの形状
    に補正可能か否かを判定するようにした請求項1乃至3
    のうちの何れか1項に記載の露光データ作成方法。
  5. 【請求項5】 前記設計パターンの形状は四角形形状で
    あり、 前記第1判定ステップにおいて、前記四角形形状の設計
    パターンを平行四辺形の表現可能形状に補正可能か否か
    を判定し、 前記第2判定ステップにおいて、前記平行四辺形の表現
    可能形状を、平行四辺形の分割ブロックパターンの形状
    に補正可能か否かを判定するようにした請求項1乃至3
    のうちの何れか1項に記載の露光データ作成方法。
  6. 【請求項6】 前記設計パターンの形状は四角形形状で
    あり、 前記第1判定ステップにおいて、前記四角形形状の設計
    パターンを平行四辺形の表現可能形状に補正可能か否か
    を判定し、 前記第2判定ステップにおいて、前記平行四辺形の表現
    可能形状を、直角三角形の分割ブロックパターンの形状
    に補正可能か否かを判定するようにした請求項1乃至3
    のうちの何れか1項に記載の露光データ作成方法。
  7. 【請求項7】 前記設計パターンの形状は四角形形状で
    あり、 前記第1判定ステップにおいて、前記四角形形状の設計
    パターンを台形の表現可能形状に補正可能か否かを判定
    し、 前記第2判定ステップにおいて、前記台形の表現可能形
    状を、直角三角形の分割ブロックパターンの形状に補正
    可能か否かを判定するようにした請求項1乃至3のうち
    の何れか1項に記載の露光データ作成方法。
  8. 【請求項8】 前記第2補正ステップは、前記表現可能
    形状を前記第2判定ステップにおいて前記表現可能形状
    の大きさに前記分割ブロックパターンの大きさを対応さ
    せた形状に変更し、その変更後の形状を前記分割ブロッ
    クパターンを用いて露光するための分割パターンデータ
    を作成するようにした請求項1乃至7のうちの何れか1
    項に記載の露光データ作成方法。
  9. 【請求項9】 前記第2判定ステップの判定結果に基づ
    いて、補正不可能と判定された場合に、前記表現可能形
    状を前記分割ブロックパターンの形状の大きさに縮小し
    た縮小パターンを作成し、その縮小パターンが前記分割
    ブロックパターンの形状に補正可能か否かを判定し、そ
    の判定結果に基づいて、補正可能と判定された場合に、
    前記表現可能形状を前記分割ブロックパターンの形状で
    分割した分割ブロックパターンデータを作成するステッ
    プを含む請求項1乃至8のうちの何れか1項に記載の露
    光データ作成方法。
  10. 【請求項10】 前記第2判定ステップの判定結果に基
    づいて、補正不可能と判定された場合に、前記表現可能
    形状と前記分割ブロックパターンの形状の相違値が前記
    誤差範囲値以内となる分割用の縮小パターンを作成し、
    その縮小パターンにより前記表現可能形状を分割した分
    割ブロックパターンデータを作成するステップを含む請
    求項1乃至8のうちの何れか1項に記載の露光データ作
    成方法。
  11. 【請求項11】 露光媒体に半導体集積回路を作成する
    ための設計パターンを予め形状が設定された分割ブロッ
    クパターンを搭載したマスクを用いて露光するブロック
    露光のための露光データを作成する露光データ作成装置
    であって、 前記設計パターンが露光データを作成する際にパターン
    を短冊状の複数の矩形パターンに分割するショット分割
    を必要とする表現不可形状である場合に、その表現不可
    形状を前記ショット分割が不要な表現可能形状に補正可
    能か否かを判定する第1判定手段と、 前記第1判定手段における判定結果に基づいて、補正可
    能と判定された場合に前記表現不可形状を表現可能形状
    に補正する第1補正手段と、 前記補正された表現可能形状を分割ブロックパターンの
    形状に補正可能か否かを判定する第2判定手段と、 前記第2判定手段における判定結果に基づいて、補正可
    能と判定された場合に前記表現可能形状を分割ブロック
    パターンの形状に補正する第2補正手段と、 前記分割ブロックパターンのデータに基づいて露光デー
    タを作成する露光データ作成手段とを備えた露光データ
    作成装置。
  12. 【請求項12】 前記第1判定手段は、 前記表現不可形状と前記表現可能形状とを形状比較し、
    前記表現不可形状を前記表現可能形状に変更するのに必
    要とする変化量を計算する手段と、 前記変化量と予め設定された誤差範囲値を比較し、その
    比較結果に基づいて前記表現不可形状を前記表現可能形
    状に補正可能か否かを判定する手段とを備えた請求項1
    1に記載の露光データ作成装置。
  13. 【請求項13】 前記第2判定手段は、 前記分割ブロックパターンの形状の大きさを前記表現可
    能形状の大きさに対応させ、その対応する大きさの形状
    と前記表現可能形状とを比較し、前記表現可能形状と前
    記分割ブロックパターンの形状の間の相違値を計算する
    手段と、 前記相違値と予め設定された誤差範囲値を比較し、その
    比較結果に基づいて前記表現可能形状を前記分割ブロッ
    クパターンの形状に補正可能か否かを判定する手段とを
    備えた請求項11又は12に記載の露光データ作成装
    置。
  14. 【請求項14】 前記第2補正手段は、前記表現可能形
    状を前記第2判定ステップにおいて前記表現可能形状の
    大きさに前記分割ブロックパターンの大きさを対応させ
    た形状に変更し、その変更後の形状を前記分割ブロック
    パターンを用いて露光するための分割パターンデータを
    作成するようにした請求項11乃至13のうちの何れか
    1項に記載の露光データ作成装置。
  15. 【請求項15】 前記第2判定手段の判定結果に基づい
    て、補正不可能と判定された場合に、前記表現可能形状
    を前記分割ブロックパターンの形状の大きさに縮小した
    縮小パターンを作成し、その縮小パターンが前記分割ブ
    ロックパターンの形状に補正可能か否かを判定し、その
    判定結果に基づいて、補正可能と判定された場合に、前
    記表現可能形状を前記分割ブロックパターンの形状で分
    割した分割ブロックパターンデータを作成する手段を備
    えた請求項11乃至14のうちの何れか1項に記載の露
    光データ作成装置。
  16. 【請求項16】 前記第2判定手段の判定結果に基づい
    て、補正不可能と判定された場合に、前記表現可能形状
    と前記分割ブロックパターンの形状の相違値が前記誤差
    範囲値以内となる分割用の縮小パターンを作成し、その
    縮小パターンにより前記表現可能形状を分割した分割ブ
    ロックパターンデータを作成する手段を備えた請求項1
    1乃至14のうちの何れか1項に記載の露光データ作成
    装置。
  17. 【請求項17】 請求項1乃至10のうちのいずれか1
    項に記載のステップよりなるプログラムを記録した記憶
    媒体。
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