JPH11150445A - 発振検出回路 - Google Patents
発振検出回路Info
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- JPH11150445A JPH11150445A JP9313018A JP31301897A JPH11150445A JP H11150445 A JPH11150445 A JP H11150445A JP 9313018 A JP9313018 A JP 9313018A JP 31301897 A JP31301897 A JP 31301897A JP H11150445 A JPH11150445 A JP H11150445A
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Abstract
手段により差動増幅器に流れる電流を制限することによ
り、発振信号の振幅が小さい場合でも消費電流を少なく
する。 【解決手段】 差動増幅器1の第1の入力端子であるト
ランジスタ4のゲートに基準電圧を、第2の入力端子で
あるトランジスタ5のゲートに発振信号を入力し、その
出力に応じてコンデンサ11の電位を変化させ、その電
位に基づいて発振信号の発振状態を検出しているので、
第1の入力端子への基準電圧を変えることにより容易に
発振検出レベルを変更できる。また、トランジスタ7に
より差動増幅器1に流れる電流を制限するので、発振信
号の振幅が小さい場合でも消費電流を小さくできる。
Description
のである。
のとしては、特開平7−193428号公報に開示され
ているものがある。これは発振部の出力を入力するCM
OSインバータの反転電位(しきい値)を発振の検出レ
ベルとして用いるものである。
る。
号が入力する際、発振開始時等でその発振信号の電圧レ
ベルがインバータ101の反転電位よりも小さい場合、
インバータ101の出力は“1”となり、PチャネルM
OSトランジスタ102はオフする。よって、コンデン
サ103は充電されず、インバータ104は非検出信号
である“1”を出力する。
の反転電位を越えると、インバータ101の出力は
“0”となり、トランジスタ102がオンし、コンデン
サ103が充電される。
レベルがインバータ101の反転電位を繰り返し越える
と、コンデンサ103は徐々に充電されインバータ10
4の出力が反転し検出信号“0”が発生する。
振信号が大振幅である場合、インバータ101に貫通電
流が流れる時間は短い。
号が小振幅である場合、インバータ101に貫通電流が
流れる時間が長くなり、設計上低消費電流化が求められ
る場合に問題となる。
はそれを構成するトランジスタの大きさにより決まるの
で、しきい値を変更する場合、トランジスタの大きさを
変更して対応しなければならなかった。
の第1の入力端子に基準電圧を、第2の入力端子に発振
信号を入力し、その出力に応じて容量素子の電位を変化
させ、その電位に基づいて発振信号の発振状態を検出し
ているので、第1の入力端子への基準電圧を変えること
により容易に発振検出レベルを変更できる。
れる電流を制限するので、発振信号の振幅が小さい場合
でも消費電流を小さくできる。
第1の入力端子と発振信号を入力する第2の入力端子と
を有した差動増幅器と、上記差動増幅器に流れる電流を
制限する電流制限手段と、上記差動増幅器の出力に応じ
て容量素子の充電または放電を制御する制御回路と、上
記容量素子の電位に基づいて、上記第2の入力端子に入
力する発振信号の所望の発振状態を検出する検出回路と
を備えている。
具体的に説明する。
ネルMOSトランジスタ2、3、NチャネルMOSトラ
ンジスタ4、5からなる。トランジスタ4のゲートは第
1の入力端子を構成し、電圧源6が発生する基準電圧を
入力する。トランジスタ5のゲートは第2の入力端子を
構成し、図示しない発振器からの発振信号を端子Xを介
して入力する。7は電流制限手段を構成するNチャネル
MOSトランジスタである。8は制御回路で、電源間に
接続されたPチャネルMOSトランジスタ9とNチャネ
ルMOSトランジスタ10とからなる。11はコンデン
サ、12、13はインバータ、14はNチャネルMOS
トランジスタ、15はPチャネルMOSトランジスタで
ある。なお、インバータ12は検出回路を構成する。
り、差動増幅器1に流れる電流を制御してこの差動増幅
器1のオンオフを制御するとともに、コンデンサ11に
充電されている電荷の放電も制御するものである。
力し、これにより電圧源6内のPチャネルMOSトラン
ジスタ6aがオフするとともに、トランジスタ14がオ
ンし、コンデンサ11に充電されている電荷を放電して
コンデンサ11を初期化する。したがって、このとき、
すなわちスタンバイ時、インバータ12の入力が“0”
になるので、その出力側の端子Yは“1”を出力する。
なお、このとき、インバータ13からの反転出力“0”
によりトランジスタ7がオフし、差動増幅器1に電流が
流れなくなる。よって、スタンバイ時、差動増幅器1に
無駄な電流が流れなくなり低消費電流化が図れる。ま
た、インバータ13からの反転出力“0”によりトラン
ジスタ15がオンし、これに伴いトランジスタ9がオフ
する。また、電圧源6がオフしているのでトランジスタ
10もオフとなる。よって、コンデンサ11への充電動
作は停止する。したがって、スタンバイ時にコンデンサ
11を無駄に充電してしまう不都合が解消でき、低消費
電流化が図れる。
すると、トランジスタ14がオフし、コンデンサ11の
初期化が停止し、また電圧源6がオンしてトランジスタ
4のゲートに基準電圧を出力するとともにトランジスタ
10をオンする。インバータ13からの反転出力“1”
によりトランジスタ7が動作し、トランジスタ15がオ
フするので、差動増幅器1が動作可能な状態となる。
発振信号の電圧レベルが基準電圧により設定されるしき
い値を越えると、トランジスタ9がオンし、コンデンサ
11を充電する。
が経過し、発振の振幅が大きくなり、発振信号の電圧レ
ベルが基準電圧により設定されるしきい値を繰り返し越
えるとコンデンサ11は徐々に充電されインバータ12
の出力が反転し検出出力“0”が発生する。逆に、端子
Xを介して入力する発振出力の電圧レベルがそのしきい
値を越えない場合、トランジスタ9はオフとなり、コン
デンサ11は充電されず、インバータ12は検出出力
“0”を出力しない。
合、トランジスタ4のゲートに入力する基準電圧を変え
ることにより、簡単にしきい値を変更できる。さらに基
準電圧はICの他の回路ブロックからの信号により調整
することも可能であるし、IC外部から直接電圧を与え
て電圧を調整するようにしてもよい。例えば、図2に示
したように電源間に複数の抵抗16〜16を直列に接続
し、その抵抗16同士の接続点の中の1つ端子を図1に
示したトランジスタ4のゲートに接続するようにし、他
の接続点はそれぞれトランジスタ17〜17を介して電
源と接続し、トランジスタ17のゲートをIC内の他の
回路ブロックからの2値信号またはIC外部からの2値
信号で制御することによりデジタル的に調整するように
してもよい。また、図3に示すように電源間に抵抗18
とトランジスタ19とを接続し、その接続点を図1に示
したトランジスタ4のゲートに接続するようにし、トラ
ンジスタ19のゲートをIC内の他の回路ブロックから
のアナログ信号またはIC外部からのアナログ信号で制
御することにより、アナログ的に比較基準電圧を調整す
るようにしてもよい。
ではない。例えば図4(a)(b)(c)に示したよう
なものを用いてもよい。なお、同図において、20は能
動負荷、21、22は抵抗、23、24はPチャネルM
OSトランジスタ、25、26はNチャネルMOSトラ
ンジスタであり、前図と同一番号のものは、同一のもの
とする。
準電圧を変えることにより容易に発振検出レベルを変更
でき、また電流制限手段により差動増幅器に流れる電流
を制限するので、発振信号の振幅が小さい場合でも消費
電流を小さくできる。
Claims (1)
- 【請求項1】 基準電圧を入力する第1の入力端子と発
振信号を入力する第2の入力端子とを有した差動増幅器
と、 上記差動増幅器に流れる電流を制限する電流制限手段
と、 上記差動増幅器の出力に応じて容量素子の充電または放
電を制御する制御回路と、 上記容量素子の電位に基づいて、上記第2の入力端子に
入力する発振信号の所望の発振状態を検出する検出回路
とを備えたことを特徴とする発振検出回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31301897A JP3564976B2 (ja) | 1997-11-14 | 1997-11-14 | 発振検出回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP31301897A JP3564976B2 (ja) | 1997-11-14 | 1997-11-14 | 発振検出回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11150445A true JPH11150445A (ja) | 1999-06-02 |
JP3564976B2 JP3564976B2 (ja) | 2004-09-15 |
Family
ID=18036242
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP31301897A Expired - Fee Related JP3564976B2 (ja) | 1997-11-14 | 1997-11-14 | 発振検出回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP3564976B2 (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100598088B1 (ko) * | 1999-06-03 | 2006-07-07 | 삼성전자주식회사 | 반도체 장치의 발진 검출 회로 |
-
1997
- 1997-11-14 JP JP31301897A patent/JP3564976B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR100598088B1 (ko) * | 1999-06-03 | 2006-07-07 | 삼성전자주식회사 | 반도체 장치의 발진 검출 회로 |
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Publication number | Publication date |
---|---|
JP3564976B2 (ja) | 2004-09-15 |
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